1153万例文収録!

「Defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(247ページ目) - Weblio英語例文検索


小窓モード

プレミアム

ログイン
設定

設定


セーフサーチ:オン

不適切な検索結果を除外する

不適切な検索結果を除外しない

セーフサーチについて

Defectを含む例文一覧と使い方

該当件数 : 18303



例文

An image processor 14 detects a defect of the inspection area determined by the imaging inspection area determination part based on a picked-up image and sends the inspection result to a display control device 4.例文帳に追加

画像処理装置14は、撮像画像に基づいて、撮像検査領域判定部によって判定された検査領域の欠陥を検出し、検査結果を表示制御装置4に送る。 - 特許庁

The state of the fitting of the temperature sensing part 13 to the metal mold can visually be confirmed through the through hole 15 to prevent a defect in contacting when the thermocouple 11 is fitted to the metal mold.例文帳に追加

感温部13の金型への取付状況を透孔15を通して目視で確認でき、熱電対11の金型への取付における接触不良が防止できる。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a substrate for a mask blank suitable as a substrate for a reflective mask blank which is requested to have defect quality of extremely high level by decreasing the number of projection-shaped defects.例文帳に追加

凸状欠陥数を低減させ、非常に高いレベルの欠陥品質を要求される反射型マスクブランク用基板として好適なマスクブランク用基板の製造方法を提供する。 - 特許庁

To easily extract a defect position and identify a position especially in inspection of wirings in fine, large-scaled and multiple shapes in a semiconductor device by an absorption current method.例文帳に追加

吸収電流法による半導体装置の特に、微細・大規模・多様形状の配線の検査において、欠陥箇所の抽出・位置同定を容易に行うことを可能とする。 - 特許庁

例文

To obtain a screen printing apparatus which can prevent defect of displaying by transferring a mesh pattern of a screen printing plate when a seal pattern is formed by screen printing from occurring and can stably manufacture a liquid crystal panel.例文帳に追加

スクリーン印刷によるシールパターン形成時のスクリーン版のメッシュパターンの転写による表示不良を防ぎ安定的に液晶パネルを製造することのできるスクリーン印刷装置を得る。 - 特許庁


例文

A defective pixel address storage unit 320 stores the position information of a defective pixel and pixel defect information indicating whether the defective pixel is included in a defective pixel group or not, while making them associate with each other.例文帳に追加

欠陥画素アドレス記憶部320には欠陥画素の位置情報とこの欠陥画素が欠陥画素群に含まれるか否かの画素欠陥情報とを関連付けて記憶する。 - 特許庁

To set heat treatment conditions under which a base wafer and an activated wafer each of which has an oxide film 3 are surely bonded to each other without producing the defect of slip of atoms on the wafers.例文帳に追加

それぞれ酸化膜3が形成されたベースウェーハ1と活性ウェーハ2を確実に、かつ、ウェーハ原子のスリップ移動欠陥を起させずに貼り合せる熱処理条件を設定する。 - 特許庁

To provide a carriage stop position adjusting apparatus which eliminates a read defect by eliminating an image read position shift due to, for example, misalignment of an optical axis through easy adjusting operation.例文帳に追加

画像読取装置において、簡単な調整作業で、例えば光軸ずれに基づく画像読取位置ずれをなくして読取不良を解消するキャリッジ停止位置調整装置を提供する。 - 特許庁

To the compact memory 14, defect information indicating that a tested memory 62 has a defective part, is written according to failure data written in a divided address space of the data storage memory 12.例文帳に追加

コンパクトメモリ14には、データ格納メモリ12の分割アドレス空間に書き込まれたフェイルデータに基づいて、被試験メモリ62に不良箇所があることを示す不良情報が書き込まれる。 - 特許庁

例文

The color conversion matrix generating device can suitably adjust a color conversion matrix causing a defect such as change in hue and deterioration in gray scale.例文帳に追加

上記の色変換行列作成装置によれば、色相が変わったり、階調性が悪くなったりするなどの不具合が生じるような色変換行列を、適切に調整することが可能となる。 - 特許庁

例文

To provide an organic electroluminescent element which has high emission efficiency, no pixel defect, superior heat resistance, and a long life, and to provide a material for an organic electroluminescent element with which the above organic electroluminescent element is achieved.例文帳に追加

発光効率が高く、画素欠陥が無く、耐熱性に優れ、長寿命である有機エレクトロルミネッセンス素子及びそれを実現する有機エレクトロルミネッセンス素子用材料を提供する - 特許庁

By reducing the separating electrification between a glass and a blanket through the roughening of the surface of a glass substrate, the amount of charge on the surface of the substrate at printing is lowered and consequently the feathering defect is reduced.例文帳に追加

ガラス基板の表面を粗面化してガラスとブランケットの間の剥離帯電を減少させ、印刷時の基板表面の帯電量を低くしてひげ欠陥を減少させる。 - 特許庁

To provide an equipment load plan preparation device, a method therefor, a program therefor and a recording medium, for finding a defect in an equipment load plan as a result of load calculation.例文帳に追加

本発明は、負荷計算の結果の設備負荷計画に不具合が生じた場合にそれを発見し得る設備負荷計画作成装置、該方法、該プログラムおよび記録媒体を提供する。 - 特許庁

To provide an optical disk device provided with a detection mechanism capable of clearly distinguishing a defect of an optical disk from a shock to the optical disk caused by a disturbance, to recognize them.例文帳に追加

光ディスクのディフェクトと、外乱等による光ディスクのショックとを明確に区別して認識できる検出機構を備え、誤記録を防止するようにした光ディスク装置を提供する。 - 特許庁

To provide a transfer blade equipped with a coating layer, causing no image defect and no wear of a blade edge and effectively preventing the coating layer from being peeled and wrinkled in cutting work.例文帳に追加

コーティング層を備えた転写ブレードであって、画像不良やブレードエッジの磨耗がなく、かつ、切断加工時のコーティング層の剥離、しわ発生も有効に防止できるものを提供する。 - 特許庁

A first direct projection method measurement, a second direct projection method measurement and a transmission method measurement are executed by using the ultrasonic probe, and evaluation of the defect is executed based on the results.例文帳に追加

そして、この超音波プローブを用いて、第1の直射法測定と第2の直射法測定と透過法測定とを行い、これらの結果に基づいて欠陥の評価を行う。 - 特許庁

To eliminate such a defect that the character, etc. of a recording surface stand out on the surface of a transferred metal foil, when the metal foil is transferred to obtain a scratch layer, instead of a kneading type scratch layer.例文帳に追加

練り込みタイプのスクラッチ層に代えて、金属箔を転写してスクラッチ層とする際に、転写された金属箔の表面に記録面の文字等が浮き出す欠点を解消する。 - 特許庁

In a control block 31, the presence or absence of a defect of the inspecting pattern is detected based on the comparison result of the data for pattern inspection with preset pattern reference data.例文帳に追加

そして、制御ブロック31にて、予め設定されているパターン基準データと前記パターン検査用データとの比較結果に基づき前記被検査パターンの欠陥の有無を検出する。 - 特許庁

To provide a fixing device, and the like, capable of preventing generation of a high temperature region on the surface of a pressure roll so as to restrain image defect and image gloss fluctuation in the heat pressure fixing system.例文帳に追加

熱圧力定着方式において、加圧ロールの表面に高温領域の発生を防ぎ、画像欠陥や画像Gloss変動が抑制された定着装置等を提供する。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a semiconductor device having a high-dielectric-constant film free from an oxygen defect so as to highly integrate the semiconductor device and to secure a capacitance value of a capacitor of a memory device.例文帳に追加

半導体装置の高集積化と供に、メモリ装置のキパシタで容量値の確保のために、酸素欠損のない高誘電率膜を形成する装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

To allow a defect such as a molding sink to be hardly produced, even when a retainer 10c including protrusion portions 17c on both sides of column portions 15c is made by injection molding of synthetic resin.例文帳に追加

柱部15c、15cの両側に凸部17c、17cを備えた保持器10cを、合成樹脂を射出成形する事により造る場合でも、引け等の欠陥が生じにくくする。 - 特許庁

The obtained heat image is obtained to have properties so that the heat image may be used to calibrate phase shift from a given stack layer, or that the heat image may be used to specify a defect within a stacked die.例文帳に追加

得られた熱画像は、既知のスタックレイヤからの位相シフトを較正するのに用いられるよう、またはスタックダイ中の欠陥を特定するのに用いられるよう、その特性が得られる。 - 特許庁

To provide a disk tray loading mechanism in which a gear or the like is not damaged and no operational defect occurs even when steep load is operated on a disk tray under driving or stopping outside a casing.例文帳に追加

筐体外部にて駆動中又は停止中のディスクトレイに急激な負荷が作用した場合にも、ギア等の破損及び動作不良を起こさないディスクトレイローディング機構を提供する。 - 特許庁

To provide a graphite mold for resin molding which is so excellent in moldability as to hardly cause a defect such as a weld, a short or a burn in a molded article and which has a short cycle time and is lightweight and inexpensive in the cost.例文帳に追加

成形品にウェルド、ショート、焼け等の欠陥の生じにくい成形性に優れ、サイクル時間が短く、軽量でコストの安い樹脂成形用黒鉛型を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device such that while a defect due to an inter-wiring short is securely prevented in spite of microfabrication, EM resistance can be improved more, and to provide a manufacturing method thereof.例文帳に追加

微細化によっても配線間ショートによる不良の発生を確実になくしつつ、EM耐性をより向上することができる半導体装置及びその製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide an image processor capable of changing a setting value of a print parameter related to a drawing instruction when a defect occurs in a print image to be printed.例文帳に追加

印刷対象の印刷イメージに不具合が発生している場合に、描画に関する命令にかかわる印刷パラメータの設定値を変更することのできる画像処理装置を提供する。 - 特許庁

No air leak flowing through the defective portion is determined based on the measured value in the flowmeter 3, when no defect exists in the worked metal sheet 2, so that the metal sheet is determined as a non-defective.例文帳に追加

また、被加工金属板2に欠損が存在しない場合は、欠損部分にエアリークが流通しないことを流量計3の計測値により判定して良品の判定を行う。 - 特許庁

To provide a method and an apparatus for nondestructively inspecting the back or buried defect of an object to be inspected, or material characteristics with high sensitivity by an electromagnetic method.例文帳に追加

本発明は、電磁気的手法により被検査物の裏面あるいは埋没欠陥、または材料特性を高感度に非破壊検査する方法と、そのための装置を提供するものに関する。 - 特許庁

The control part is provided with a decision means which discriminates a defect in connection of the cable from communication abnormality using a communication line or voltage variation of a ground line provided to the cable.例文帳に追加

コントロール部にはケーブルの接続不良を、通信線を利用した通信異常か、ケーブルに設けられた接地線の電圧変動によって判別する判別手段が設けられる。 - 特許庁

To provide a barrier substrate for an organic EL element which can make an excellent image display without a defect such as a dark spot, and to provide an organic EL display device.例文帳に追加

本発明は、ダークスポット等の欠陥のない良好な画像表示が可能な有機EL素子用バリア性基板および有機EL表示装置を提供することを主目的とする。 - 特許庁

To provide a method for production of a rare earth vanadate single crystal which has no crystal defect, has high quality, is large-sized platy and is suitable for use in a semiconductor laser-excited solid-state laser.例文帳に追加

結晶欠陥がなく、高品質かつ大型の板状であり、半導体レーザ励起固体レーザ用途等に好適な希土類バナデイト単結晶を製造する方法を提供する。 - 特許庁

To solve a problem of a conventional memory control method that when the number of defective pixels in existence exceeds a permissible storage capacity of a memory in the detection of the defective pixels defect data as to the defective pixels detected thereafter cannot be stored.例文帳に追加

欠陥検出の際に、存在する欠陥画素数がメモリの記憶許容数を越えている場合、それ以降検出した欠陥画素についての欠陥データを記憶できない。 - 特許庁

To detect a flat-faced defect in a wide flaw detection area without moving a relative position between a transmission probe and a reception probe.例文帳に追加

送信用探触子と受信用探触子との相対位置を動かすことなく広い探傷領域で平坦面状の欠陥を検出することができる超音波レール探傷装置を提供する。 - 特許庁

To provide a fine needle shape projection which has, in particular, a most distal end formed into a micro sharp needle shape, by remedying transfer defect of the fine needle shape projection by injection molding.例文帳に追加

射出成形による微細針形状突起物の転写不良を改善し、特にその最先端部を、ミクロ的に鋭利な針形の形状にした微細針形状突起物を提供する。 - 特許庁

Then, changes in a shape can be grasped precisely and thus the kind of internal defect (gas cavity that is shape-changed by heat treatment and shrinkage cavity that is not shape-changed by heat treatment) can be determined precisely.例文帳に追加

形状変化を精度高く把握でき、ひいては内部欠陥の種類(加熱処理で形状変化するガス巣及び加熱処理で形状変化しない引け巣)を精度高く判定できる。 - 特許庁

To absorb deviation of core at coupling for preventing generation of electrical continuity defect, in an electrical connector installed between a traction vehicle and a traction object vehicle.例文帳に追加

牽引車とこれに牽引される被牽引車との間に設けられる電気コネクタに於て、連結時の芯ずれを吸収できると共に、電気の導通不良が起こらない様にする。 - 特許庁

A form of a pair of redundant row can be specified to replace any one of rows consisting of memory cells having defect in a redundant row decoding circuit.例文帳に追加

本発明によれば、冗長行デコード回路が欠陥を有するメモリセルからなるいずれか1つの行を置換するために一対の冗長行を形態特定させることが可能である。 - 特許庁

The inspection unit 30 is arranged with laminated four inspection parts composed of a thickness measuring device 32, a line width measuring device 33, a superposition measuring device 34, and a macro defect inspecting device 35.例文帳に追加

検査ユニット30には、膜厚測定器32、線幅測定器33、重ね合わせ測定器34およびマクロ欠陥検査器35の4つの検査部を積層して配置している。 - 特許庁

To provide a photosensitive material processor which easily copes with a defect in conveyance, etc., that a photosensitive material encounters while speedily processing the photosensitive material and saving the space.例文帳に追加

感光材料の迅速処理及び省スペース化を図りつつ、感光材料が搬送不良等を生じた際の対処を容易に行える感光材料処理装置を提供すること。 - 特許庁

Thus the strain generated between the layer 14 and the layer 15 is alleviated by a grating constant difference and a thermal expansion coefficient difference, and the crystal defect such as dislocation or the like is suppressed.例文帳に追加

これにより、格子定数差および熱膨張係数差によりクラッド層14とガイド層15との間に生じる歪みが緩和され、転位などの結晶欠陥の発生が抑制される。 - 特許庁

To provide a method by which a thin insulating film having low defect density can be formed at a low temperature, and a method with which a semiconductor device can be manufactured through the use of the method.例文帳に追加

厚さが薄くかつ欠陥密度が低い絶縁膜を低温で形成することができる絶縁膜の作製方法およびそれを用いた半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a mass analysis method allowing highly sensitive analysis, in SEM, of a fine organic foreign body whose size is on the order of micrometers, the body possibly causing a defect in a device and the like.例文帳に追加

デバイス等の不良原因となる数μm程度の有機微小異物をSEM中で高感度に分析できる質量分析手法を提供することを目的とする。 - 特許庁

The plane lighting device comprises a light guide plate 2, a light source (cold cathode tube) 3, a hot-side socket 4, a cold-side socket 5, an adjusting socket 6, a groove 7, a machine screw hole 8, a frame 9, a defect portion 9a, a reflector 10 and lead wires 11.例文帳に追加

導光板2、光源(冷陰極管)3、ホット側ソッケト4、コールド側ソッケト5、アジャストソッケト6、溝部7、ビス穴8、フレーム9、欠損部9a、リフレクタ10、リード線11。 - 特許庁

To provide a support system which is made efficient by a method wherein an observation operation for confirming the shape of an external appearance defect is narrowed down properly from an enormous number of defects detected by the high sensitivity of a visual inspection apparatus.例文帳に追加

外観検査装置の高感度化により検出された膨大な欠陥数から、外観不良の形状を確認する観察作業を適切に絞り込み、効率化を図ること。 - 特許庁

A judicial precedent has held that liability exists for defects in sales contracts for unspecific goods if any defect is found after the receipt of such goods (Judgment of the Supreme Court of Japan, December 15, 1961). 例文帳に追加

判例は、不特定物売買でも瑕疵のあることが受領後に発見された場合については瑕疵担保責任を認めている(最高裁昭和36年12月15日判決)。 - 経済産業省

If the exhibitor had known of any dent or stain affecting the product but had not mentioned such to the bidders, such special clause is not valid and the exhibitor may not be discharged from liability for defect. 例文帳に追加

出品者自ら知っていたキズや汚れ等につき十分に説明していなかった場合には、このような特約は有効ではなく、担保責任を免れることができない。 - 経済産業省

Where a program, as object of a contract, does not have the usually expected functions or quality judged by the standard based on trade practice, it will be considered that the program has a defect. 例文帳に追加

目的物たるプログラムが、取引の通念に照らし合理的に期待される通常有すべき機能・品質を有していない場合は、原則として、瑕疵に該当すると判断される。 - 経済産業省

To discover properly an irregularity defect or the like generated on the surface of an inspection object having roughness in the degree of visible light, and to apply the method suitably to a manufacture line of a steel plate.例文帳に追加

可視光程度の粗度を有する被検査体の表面に生じた凹凸欠陥等を適切に発見することができ、鋼板の製造ライン上において好適に適用すること。 - 特許庁

When there is an abnormality, according to the conditions of abnormality, a cause such as soldering defect in the related input or output terminal is estimated and abnormality is removed by correction.例文帳に追加

異常があるときには、異常の症状に応じて、関連する入力端子または出力端子のはんだ付け不良などの原因が推定され、修整して異常を取除く。 - 特許庁

例文

Also, since the etching hole corresponding to the transmission part is arranged with a large area, a rubbing defect can be prevented as compared with the conventional case and there is the advantage of improving transmission characteristics.例文帳に追加

また、透過部に対応するエッチングホールが大きい面積で設けられたために、従来と比べてラビングの不良が防止できるので、透過の特性が改善できる長所がある。 - 特許庁




  
Copyright © Japan Patent office. All Rights Reserved.
  
Copyright Ministry of Economy, Trade and Industry. All Rights Reserved.
こんにちは ゲスト さん

ログイン

Weblio会員(無料)になると

会員登録のメリット検索履歴を保存できる!

会員登録のメリット語彙力診断の実施回数増加!

無料会員に登録する
英→日 日→英
こんにちは ゲスト さん

ログイン

Weblio会員(無料)になると

会員登録のメリット検索履歴を保存できる!

会員登録のメリット語彙力診断の実施回数増加!

無料会員に登録する

©2026 GRAS Group, Inc.RSS