「Defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(253ページ目) - Weblio英語例文検索

To allow a mobile phone to be used as a personal computer while maintaining functions of the mobile phone and to avoid a defect that may be caused when the mobile phone is used as the personal computer.例文帳に追加

携帯電話機としての機能を維持しつつ、携帯電話機をパーソナルコンピュータとして使用することができるようにするとともに、パーソナルコンピュータとして使用したときに発生し得る不具合を回避すること。 - 特許庁

To obtain the manufacturing method of a laminated ceramic electronic part by which a lamination can be cut speedily and precisely and the laminated ceramic electronic part is obtained without defect such as layer exfoliation etc.例文帳に追加

短時間で正確に積層体のカットを行うことができ、かつ層剥がれなどの欠陥のない積層セラミック電子部品を得ることができる積層セラミック電子部品の製造方法を得る。 - 特許庁

To obtain high quality glass with extremely few defect such as undissolved silica sand and a heterogeneous composition through a short dissolving time, and to realize reduction of energy consumption and miniaturizing of production facilities.例文帳に追加

短時間の溶解で未溶解珪砂および不均質組成などの欠陥の極めて少ない高品質のガラスを得ることができ、かつ、消費エネルギーの削減と製造設備の小型化を実現することができる。 - 特許庁

Such a part as a crystal defect 8, e. g. dislocation, is generated by giving irregularities on a substrate 1 is limited to its level difference portion, and a GaN crystal having good quality in other portions is obtained.例文帳に追加

基板１に凹凸をつけることにより転位などの結晶欠陥８を発生させる箇所をその段差部分に限定し、それ以外の部分では良質なＧａＮ結晶を得ることができる。 - 特許庁

The change of characteristic amount of an object to be inspected is statistically analyzed to automatically change the threshold of the defect extraction, whereby the generation of false information due to variation in the manufacturing process can be restrained.例文帳に追加

検査対象物の特徴量の変化量を統計的に解析し、欠陥抽出のしきい値を自動的に変化させることで製造工程のバラツキによる虚報の発生をおさえた。 - 特許庁

A Frenkel defect of higher than heat balancing density is introduced in the N^- drift layer 1 and the sum of the lifetime of electrons and the lifetime of holes in the N^- drift layer 1 is 0.1 to 60 μs.例文帳に追加

Ｎ^-ドリフト層１には熱平衡密度以上のフレンケル欠陥が導入されており、Ｎ^-ドリフト層１における電子のライフタイムと正孔のライフタイムとの和が０．１μｓ以上６０μｓ以下となっている。 - 特許庁

In forming an electron tube stem by press-molding, position deflection of the wells 5 can be prevented, so a pitch circle of the wells 5 can be kept round, thereby a leakage defect by the electron tube stem 1 can be prevented.例文帳に追加

プレス成形により電子管ステム１を形成する際にウエルズ５の位置ずれを防止できるため、ウエルズ５のピッチサークルを真円に保つことができ、電子管ステム１によるリーク不良を防止できる。 - 特許庁

To provide a method of producing a cellulose ester film to be used for a polarizing plate, which is excellent in hot moisture durability, high in strength, minimized in foreign matter defect, and excellent in view angle characteristics.例文帳に追加

本発明の目的は、熱湿耐久性に優れ、強度が強く、異物欠陥が少なく、かつ視野角特性に優れた偏光板に用いられるセルロースエステルフィルムの製造方法を提供することである。 - 特許庁

Thus, even when the liquefied gas fuel under the very high pressure is supplied to the chamber interior 13, the high pressure does not act on the coil support member 22 so as to avoid a defect of external leakage of the liquefied gas fuel.例文帳に追加

このため、非常に高い圧力の液化ガス燃料が室内１３に供給されても、その高い圧力はコイル支持部材２２に作用せず、液化ガス燃料が外部に漏れる不具合はない。 - 特許庁

The inspection device includes a sensor 20 having an excitation core 21 and a detecting coil for detecting a defect occurring in the deck plate 101, and a travel carrier 2 for supporting this sensor 20 and scanning the deck plate 101.例文帳に追加

デッキプレート１０１に発生する欠陥を検出するための励磁コア２１及び検出コイルを備えたセンサ２０と、このセンサ２０を支持しデッキプレート１０１を走査する走行台車２とを設ける。 - 特許庁

To provide a polishing composition capable of polishing a quickly polishing target material even if grain diameter of alumina is small, and reducing surface defect of the polishing target material after being polished.例文帳に追加

アルミナの粒径が小さくても迅速に研磨対象物を研磨することができ、尚かつ研磨後の研磨対象物の表面欠陥を低減することができる研磨用組成物を提供する。 - 特許庁

Information on the defect generated in the component supplied to the market is received and stored as temporary registration data, and formal registration is made with a registration data base after specified processing is performed.例文帳に追加

市場に供給した部品に発生した不具合に関する情報を受信し、前記情報を仮登録データとして格納し、所定の処理を実行した後に本登録データベースに本登録を行う。 - 特許庁

To eliminate defect occurrence by a phosphor part edge sealing and a terminal part edge sealing of a flexible circuit board, to shorten the sealing process time, to enlarge pixel region, to eliminate image defects, and to enhance durability.例文帳に追加

蛍光体端部封止およびフレキシブル回路基板の端子部端部封止での欠陥発生をなくし、封止工程時間を短縮し、画素領域を拡大し、画像欠陥をなくし、耐久性を高める。 - 特許庁

To suppress the occurrence of deadline delay as little as possible concerning an ordered production system by performing scheduling by calculating the required time while considering the occurrence of any assembly defect in a production process.例文帳に追加

生産工程における組立不良の発生を考慮した所要時間算出をしてスケジューリングすることにより、注文生産方式において、納期遅れの発生を可及的に抑止すること。 - 特許庁

To provide a variable display structure in which a high display quality is achieved without needing high precision printing and low cost manufacturing is possible and without having a defect such as optical leakage.例文帳に追加

高精度の印刷を必要とすることなく高い表示品質を得ることができ、低コストの生産を可能にし、光漏れなどの不具合を生じにくくできる可変表示構造を提供すること。 - 特許庁

To not only detect a manufacture defect (failure) of an integrated circuit but also make specifiable its generation position, even in the case where an output from the scan path is compressed and stored or where the number of scan paths is large.例文帳に追加

スキャンパスからの出力が圧縮格納される場合や、スキャンパス数が多い場合であっても、集積回路の製造不良（故障）を検出するだけでなく、その発生位置の特定を可能にする。 - 特許庁

To use the intensity differences between a target pixel and eight surrounding comparison pixels separated by a repetitive pitch, extract minute defect regions with the low intensity difference from a captured image of an inspected object, and to inspect the defects.例文帳に追加

被検査対象物の撮像画像から、注目画素と繰り返しピッチ離れた周囲８箇所の比較画素の輝度差を用いて、輝度差の低い微少欠陥部分を抽出し欠陥検査を行う。 - 特許庁

Since the polysilicon layer between the SiN sidewalls is made into silicide, the gate insulating film is prevented from being damaged and the insulating withstand pressure defect of the gate electrode is prevented like a conventional case when the electrode is made into silicide.例文帳に追加

ＳｉＮサイドウォールの間のポリシリコン層をシリサイド化しているので、シリサイド化に際して、従来のように、ゲート絶縁膜が損傷を受け、ゲート電極の絶縁耐圧不良が生じようなことはない。 - 特許庁

To provide an alternate embodiment improving the conventional defect that adhesive properties of a barrier layer to OSG is not allowable, when the barrier layer is disposed between OSG and copper.例文帳に追加

ＯＳＧと銅の間にバリア層を設ける場合、ＯＳＧに対するバリア層の接着性が許容し得ないものであるという従来技術の欠点を改良する代替の実施形態を提供する。 - 特許庁

To eliminate an image defect by avoiding the collision of addenda between gears caused by switching rotary driving and developing driving and softening an impact caused by the collision, whereby the occurrence of vibration and transfer deviation is restrained.例文帳に追加

ロータリー駆動と現像駆動の切り替えによる歯車間の歯先の衝突の回避、衝突による衝撃の緩和を図り、振動、転写ズレの発生等を低減し、画像不良をなくすようにする。 - 特許庁

To provide an instrument for measuring a defect of periodic structure in a inspected object, without depending on a method of detecting diffraction light of specified order, when the diffraction light of the each order is generated at a small angle.例文帳に追加

各次数の回折光が小さい角度で生じる場合、特定の次数の回折光を検出する方法によらず、被検査物の周期構造の欠陥を検出する装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a toner which can be fixed at low temperature, which has excellent offset resistance, which stably gives an image with high image quality even when used under high humidity or low humidity conditions, and which induces no image defect over time.例文帳に追加

低温定着が可能であり、耐オフセット性に優れ、高湿下及び低湿下で使用しても高い画像品質が安定して得られ、経時において画像欠陥を生じさせないトナーを提供する。 - 特許庁

In this repair method, irradiation of charged particle beam is selectively performed at least two times to a black defect part 13 generated on the transfer pattern, and correction of the transfer pattern is performed.例文帳に追加

このリペア方法は、該転写パターンに生じた黒欠陥部１３に少なくとも２回の荷電粒子線の照射を選択的に行うことにより該転写パターンの修正を行うものである。 - 特許庁

To provide a radiation image processing unit that applies pixel defect correction of a linear prediction type to a radiation image including grid pattern information so as to suppress artifacts due to a defective pixel when an image pickup element includes the defective pixel.例文帳に追加

撮像素子に欠陥画素が含まれるとき、グリッド縞情報を含む放射線画像に対して線形予測型の画素欠陥補正を施し、上記欠陥画素によるアーチファクトを抑える。 - 特許庁

This allows all redundant memory lines to be available for laser repair, if needed, but also allows a redundant memory line to be selected for post repair after it has been determined that the redundant memory line is defect-free.例文帳に追加

これはあらゆる冗長メモリラインをレーザーリペア用に使用できるようにするだけでなく、必要であれば、その冗長メモリラインが不良でないと決定された後、ポストリペア用にも使われるようにする。 - 特許庁

To decrease a defect rate of products and to improve productivity by suppressing a trouble on gas permeability and generation of deformation and strain, and by make it possible to keep a good moldability for a long time continuous use.例文帳に追加

通気性についての支障や、変形、歪みの発生を抑えて、良好な成形性を長期の連続使用においても可能とし、製品不良率の低減や生産性の向上に資するものとする。 - 特許庁

To provide a carrier for electrostatic charge image development suppressing generation of image defect by having high fluidity; and to provide a method for manufacturing the same, a two-component developer, and an image forming method.例文帳に追加

高い流動性を有することにより、画像欠陥の発生が抑制される静電荷像現像用キャリアおよびその製造方法、二成分現像剤並びに画像形成方法の提供。 - 特許庁

Thereby, the manufacturing method of the field emission element is obtained in which the field emission element having a high luminance and overall uniform emission distribution and no defect at field emission portion is obtained.例文帳に追加

したがって、高輝度と全体的に均一な発光分布を示すことはもとより、電界放出部分での欠陥のない電界放出素子が得られる電界放出素子の製造方法である。 - 特許庁

To provide a cutter unit of a label printer for eliminating a cutting defect by preventing adhering and accumulating of adhesive for cutting edges of a movable blade and a fixed blade when cutting an adhesive label.例文帳に追加

粘着ラベルの切断時における可動刃と固定刃刃先に対する粘着剤の付着蓄積を防止し、切断不良の解消を図ったラベルプリンタのカッターユニットの提供を課題とする。 - 特許庁

To prevent the occurrence of an alignment defect in consequence of exertion of a locally excessive pressure to substrates to be aligned in a manufacturing method and manufactured apparatus for liquid crystal display devices.例文帳に追加

液晶表示装置の製造方法及び製造装置において、貼り合わされる基板に対して局所的に過大な圧力が加わることに起因する配向不良の発生を防止することができる。 - 特許庁

By this method, even if pixel electrodes of red, green, blue are arranged in delta arrangement, display of red, green, blue can be performed, a simple picture test can be realized, and a test having high detecting capability for defect can be performed.例文帳に追加

この方法により、赤，緑，青の画素電極とがデルタ配列に配置されていても、赤，緑，青の表示が可能となり簡易画像検査を実現でき、不良検出力の高い検査ができる。 - 特許庁

To provide a paper guide device, removing toner adhering to be deposited on the surface of a guide rib for guiding paper by simple constitution, thereby restraining the occurrence of an image defect such as a linear scratch.例文帳に追加

用紙を案内する案内リブ表面に付着、堆積したトナーを簡便な構成により除去し、線状擦痕等の画像不良の発生を抑制することが可能な用紙案内装置を提供する。 - 特許庁

To provide a hologram recording and reproducing apparatus enabling self diagnosis via a medium and self diagnosis without via a medium, in which it is easy to detect a defect in parts for recording and reproduction.例文帳に追加

この発明は、ホログラム記録再生装置に関し、媒体を介さない自己診断と媒体を介した自己診断を可能とし、記録再生用部品の不具合の検出を容易に行うことを課題とする。 - 特許庁

Then, when the deviation of an intensity distribution on the two-dimensional power spectrum is expressed numerically, a noise component is removed as a preprocessing, in order to accurately express the characteristic of a defect part (step 105, 106).例文帳に追加

次に、二次元のパワースペクトラム上での強度分布の偏りを数値化するが、欠陥部の特徴を精度よく表すための前処理としてノイズ成分の除去を行う（ステップ１０５、１０６）。 - 特許庁

To provide a woody molded product such as a woody floor material or the like enhanced in strength by mutually bonding wood materials by a thermosetting resin and improved in its defect such as easiness to stain or the like.例文帳に追加

木質材料同士を熱硬化性樹脂で接着することにより木質成形体の強度を向上させると共に汚れ易さ等の欠点を改善した木質床材等を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device suppressing the occurrence of a defect due to the easing of distortion even when an area in which a diffraction grating does not exist is formed between lasers , and to provide a method for manufacturing the same.例文帳に追加

回折格子が存在しない領域をレーザ間に設ける場合であっても歪み緩和による欠陥の発生を抑制することができる半導体装置及びその製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a high quality liquid crystal display panel making a pixel defect inconspicuous by controlling an optical compensation drift to a dot- defective pixel on a thin film transistor type liquid crystal display panel.例文帳に追加

薄膜トランジスタ型液晶表示パネルの点欠陥画素に対する光学補償ズレを、駆動電圧で制御することで、画素欠陥の目立ちにくい高品位な液晶表示パネルを提供する。 - 特許庁

To simplify a sequence of evaluation/test procedures on a semiconductor wafer to finish the procedures in a short period and omit unnecessary defect checks to improve a yield of the semiconductor wafer.例文帳に追加

半導体ウエハについての一連の評価／検査手続を簡略化し、それらを短期間に終了できるようにし、また、不要な不良判定を減らして、半導体ウエハの歩留り向上を図る。 - 特許庁

To prevent the leakage of a filler from a gap between a molding head and a storage pan to thereby effectively suppress the occurrence of the defect of appearance without remarkably deteriorating the press speed and press pressure of the molding head.例文帳に追加

成型ヘッドのプレス速度やプレス圧力を著しく低下させることなく、成型ヘッドと収容皿の隙間から充填物が漏れることを防止し、外観不良の発生を有効に抑制する。 - 特許庁

To provide an inspection device for pattern defects, capable of realizing high reliability stable pattern defect inspection, having high resolution relative to minute patterns by using an ultraviolet laser beam as the light source.例文帳に追加

紫外レーザ光を光源として微細パターンを高解像度で、しかも安定したパターン欠陥検査を高信頼性で実現するようにしたパターン欠陥検査装置を提供することにある。 - 特許庁

A mechanism which increases redundancy of data in the storage network system by duplicately storing the same data in a plurality of devices has the defect that the convenience is spoiled in exchange for reliability improvement.例文帳に追加

ストレージネットワークシステムにおいて同じデータを複数の機器に重複して保存し、データの冗長度を高める仕組みは、信頼性向上と引き替えに利便性を損なうという欠点があった。 - 特許庁

To provide a display device whose power consumption is reduced and in which a display defect is prevented from being generated by stopping clock pulses which are supplied to drivers in a non-display period when display is not performed.例文帳に追加

表示をしない期間にドライバに供給するクロックパルスを非表示期間に停止することにより、消費電力を低減し表示欠陥を防止した表示装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

If the trial write area has a defect, the defective region (or information reproduced from the defective region) is avoided in the OPC operation to eliminate the influence of the defective part.例文帳に追加

また、試し書き領域に欠陥がある場合は、ＯＰＣ動作においてその欠陥領域（又は欠陥領域から再生された情報）が回避されるようにして、欠陥部分の影響が出ないようにする。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a liquid crystal display element that can prevent a defect of a print pattern by forming a print pattern formed on a cliche so that its depth varies with the line width.例文帳に追加

クリシェに形成される印刷パターンを、その線幅によって深さが異なるように形成することによって、印刷パターンの不良を防止できる液晶表示素子の製造方法を提供しようとする。 - 特許庁

To provide a semiconductor device capable of suppressing the movement of foreign substance, detecting conductive foreign substance on printed wiring at high sensitivity, and suppressing increase in a defect rate after shipping the semiconductor device.例文帳に追加

異物の移動を抑え、高感度でプリント配線上の導電性異物を検出することができ、半導体装置出荷後の不良率の増大を抑えることが可能な半導体装置を提供する。 - 特許庁