「Defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(256ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a method for modifying a silicon carbide single crystal substrate, by which the specific dislocation defect such as basal plane dislocation or spiral dislocation is reduced, and to provide an apparatus for modifying a silicon carbide single crystal substrate.例文帳に追加

基底面転位、螺旋転位などの特定の転位欠陥を低減させることができる炭化ケイ素単結晶基板の改質方法、及び炭化ケイ素単結晶基板の改質装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a semiconductor device that suppresses generation of a crystal defect in a semiconductor substrate and forms an element isolation structure sufficiently exhibiting element isolation performance.例文帳に追加

半導体基板に結晶欠陥が発生することを抑制することができ、素子分離性能を十分に発揮する素子分離構造を形成できる半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a manufacturing method for an epitaxial wafer that can form a silicon epitaxial layer substantially without defect, an epitaxial wafer manufactured by the method, and a manufacturing method for an imaging device.例文帳に追加

欠陥のほとんどないシリコンエピタキシャル層を形成できるエピタキシャルウェーハの製造方法、当該方法により製造されたエピタキシャルウェーハ及び撮像用デバイスの製造方法を提供することを目的とする - 特許庁

To eliminate influences of disturbance light noise intruding into a detection optical system from a peripheral environment of a transparent substrate with a large thickness upon inspecting a defect in the substrate, and improve detection accuracy of defects.例文帳に追加

板厚の大きい透明な基板の欠陥の検査において、基板の周辺環境から検出光学系に入り込む外乱光ノイズの影響を無くし、欠陥の検出精度を向上させる。 - 特許庁

Then, a conductive route is formed beforehand on the electron acceleration layer 4, and an electron emission part consisting of a physical defect which corresponds to an outlet of the conductive route is formed on the deposition 106.例文帳に追加

そして、電子加速層４には予め導電経路が形成され、堆積物１０６には導電経路の出口に相当する物理的な欠陥よりなる電子放出部が形成されている。 - 特許庁

To provide a semiconductor device which has a flat pixel electrode for suppressing liquid crystal alignment defect and which includes a capacitive element capable of obtaining sufficient capacitance without decreasing opening ratio.例文帳に追加

液晶の配向不良を抑制するために画素電極を平坦化し、開口率を下げずに十分な容量を得られる容量素子を有する半導体装置を実現することを課題とする。 - 特許庁

To directly and early detect a defect such as a thickness reduction and a crack occurring in piping or a device for composing a plant while the plant is operated, and to monitor the soundness of the piping or the device.例文帳に追加

プラントの運転中に、このプラントを構成する配管または機器に生じた減肉やき裂等の欠陥を直接的に且つ早期に検出して、配管または機器の健全性を監視できること。 - 特許庁

To provide a pattern forming method with the excellent exposure latitude (EL) and focus margin (DOF) capable of reducing the line width irregularity (LWR) and residual defect, a chemically amplified resist composition and a resist film.例文帳に追加

露光ラチチュード（ＥＬ）及びフォーカス余裕度（ＤＯＦ）に優れ、線幅バラツキ（ＬＷＲ）及び残渣欠陥を低減できるパターン形成方法、化学増幅型レジスト組成物及びレジスト膜を提供する。 - 特許庁

To provide a mold for molding wood by which the occurrence of a defect such as a crack is prevented even if wood having a complicated three-dimensional shape is compression-molded, and thereby an yield can be improved.例文帳に追加

複雑な３次元形状を有する木材を圧縮成形する際にも割れ等の不具合の発生を防止し、歩留まりを向上させることができる木材成形用金型を提供する。 - 特許庁

To provide a liquid crystal display device capable of suppressing an occurrence of a display defect even if the configuration includes a difference between a potential connected to the outside and an average potential of a drive waveform of a liquid crystal.例文帳に追加

外部接続する電位と、液晶の駆動波形の平均電位との間に相違がある構成であっても、表示不良の発生を抑制することのできる液晶表示装置を提供する。 - 特許庁

An Si substrate where an SiGeC crystal is deposited is subjected to heat annealing, thus relieving the SiGeC crystal, at the same time, depositing an SiC microcrystal for reducing defect density, and hence manufacturing the thin, relaxation buffer layer with less defects.例文帳に追加

SiGeC結晶を堆積したSi基板を熱アニールすることで、SiGeC結晶を緩和させると同時に、SiC微結晶を析出させて欠陥密度を低減し、薄くても欠陥の少ない緩和バッファ層を製造する。 - 特許庁

To provide a titanium material for sputtering in which a cast ingot is used as a starting raw material, and this titanium material has clean macro-structure and fine micro-structure and the defect on a surface layer is little and good upsetting forgeability is provided.例文帳に追加

溶解インゴットを出発原料として、清浄なマクロ組織、微細なミクロ組織を備え、表層欠陥が少なく、良好な据え込み鍛造性を具備するスパッタリング用チタン材を提供。 - 特許庁

To provide a semiconductor device capable of applying a sufficient voltage and current stress to each contact for reliability evaluation and detecting a defect of electric isolation in a contact chain.例文帳に追加

信頼性評価のために各コンタクトに十分な電圧、電流ストレスを印加することが可能であり、コンタクトチェーン内の電気的分離不良を検出することが可能な半導体装置を提供する。 - 特許庁

To provide a manufacturing technique of a semiconductor integrated circuit apparatus utilizing a defect modification technique of a reflection-type mask which uses an extreme ultra violet light (EUV) with a wavelength near 13.5 nm as an exposure light source.例文帳に追加

波長が１３．５ｎｍ付近の極端紫外(Extreme Ultra Violet：ＥＵＶ)光を露光光源とする反射型マスクの欠陥修正技術を利用した半導体集積回路装置の製造技術を提供する。 - 特許庁

The manufacturing method of an electrophotographic photoreceptor includes at least the inspection process 101, and the inspection process includes at least a defect detection process 102 of detecting a defective part of an electrophotographic photoreceptor.例文帳に追加

電子写真感光体の製造方法は検査工程１０１を少なくとも含み、検査工程は電子写真感光体の欠陥部を検出する欠陥検出工程１０２を少なくとも含む。 - 特許庁

To provide a land pattern inspection method and inspection device capable of detecting a minute defect of a land which can not be detected by a method for measuring diameters of a through hole with a radial length measuring instrument.例文帳に追加

スルーホールの直径を放射状の測長子で計測する方法では検出できないような、ランドの微細な欠陥を検出できるランドパターン検査方法及び検査装置を提供すること。 - 特許庁

A semiconductor inspecting apparatus contacts two probes with wirings 3 or pads 4 disposed at both sides of a wiring system having the defect position 8, grounds one of the probes 2, and connects the other probe to an amplifier 1.例文帳に追加

欠陥箇所８を有する配線系の両側にある配線３またはパッド４に２本のプローブ２を接触させ、プローブ２のうちの１本は接地させ、他の一本は増幅器７と接続する。 - 特許庁

To provide an intermediate transfer belt that can stably form a favorable toner image having no image defect without causing any separating discharge between the intermediate transfer belt and a recording medium during secondary transfer.例文帳に追加

２次転写時に中間転写ベルトと記録部材との間で剥離放電を発生させずに、画像欠陥のない良好なトナー画像を安定して形成する中間転写ベルトを提供する。 - 特許庁

The first sector scanning image information 205 in the thickness direction including image information of a defect existing in the inspection object is generated, based on a reflecting echo generated by the first sector scanning.例文帳に追加

被検査体内に存在する欠陥の画像情報を含む、その厚み方向における第１セクタ走査画像情報２０５を、第１セクタ走査で生じる反射エコーに基づいて作成する。 - 特許庁

To carry out highly accurate valve timing control while reducing a defect due to noise in a valve timing controller for an internal combustion engine having a plurality of variable phase mechanisms controlled by a single control circuit.例文帳に追加

一つの制御回路により複数の可変位相機構を制御する内燃機関のバルブタイミング制御装置において、ノイズによる不具合を抑制しつつ、高精度なバルブタイミング制御を実行する。 - 特許庁

To prevent the elution of any impurities, such as metal ion from voids or the development of rust, even in the case the fine voids, such as cast defect, exist on the surface of a casting part.例文帳に追加

鋳造部品の表面に鋳造欠陥等の微細な空孔があっても、この空孔から金属イオン等の何らかの不純物が溶出したり、または発錆したりすることがないようにする。 - 特許庁

If there is no defect in the sealant, the light from the semiconductor element 1 is never incident into the lens 5, and if there are any defects in the sealant, scattered light generated by the defects is incident into the lens 5.例文帳に追加

封止体に欠陥がない場合には半導体素子１からの光はレンズ５に入射せず、封止体に欠陥がある場合にはその欠陥によって生じる散乱光がレンズ５に入射する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device in which an epitaxial growth layer of which the depth is controlled and the generation of crystal defect is suppressed is prepared, thereby the improvement of property is attained.例文帳に追加

レイアウトに依存することなく深さが制御されかつ結晶欠陥の発生が抑えられたエピタキシャル成長層が設けられ、これにより特性の向上が図られた半導体装置を提供する。 - 特許庁

Thus, fine defects in the recessed part on the substrate 9, which is difficult to be detected by an ordinary defect inspection device for performing inspection, by irradiating the substrate with light can be detected with high accuracy.例文帳に追加

これにより、基板に光を照射して検査を行う通常の欠陥検査装置では検出が困難な基板９上の微小な凹部内の欠陥を高精度に検出することができる。 - 特許庁

To provide a developing device capable of preventing imaging defect (ghost) and sticking of toner onto a developing roller, a color image forming apparatus mounted with the developing device, and a two-component developer.例文帳に追加

画像欠陥（ゴースト）の発生や現像ローラへのトナー付着等を防止することができる現像装置、これを搭載したカラー画像形成装置、並びに２成分現像剤を提供することである。 - 特許庁

To provide a new technology capable of further efficiently using ground heat of underground water, by eliminating a defect by a conventional vertical well and a horizontal well requiring a wide site.例文帳に追加

従来型縦型井戸によるものや広い敷地を必要とする水平井戸によるものの欠点を解消し、一段と効率的に地下水の地熱を利用可能とする新たな技術を提供する。 - 特許庁

To provide an organic photoreceptor which has an extremely high moire resistance and, moreover, can obtain high quality image without the occurrence of image defect such as black spot.例文帳に追加

本願発明の目的は、極めて高い耐モアレ特性を有する有機感光体を黒ポチ等の画像欠陥の発生なく実現する高画質の画像を得ることのできる有機感光体を得ることである。 - 特許庁

To provide a water-tree observation method in which a treelike electrical defect inside a cross-linking polyethylene insulating layer on a cross-linking polyethylene insulated power cable can be detected automatically and with high accuracy.例文帳に追加

架橋ポリエチレン絶縁電力ケーブルの架橋ポリエチレン絶縁層内のトリー状電気的欠陥部分を自動的に、且つ高精度で検出することができる水トリー観察方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a method to manufacture a flexible abrasive product capable of remarkably reduce waste material and performing die cutting with high reliability to minimize a defect, the polished product and a manufacturing device.例文帳に追加

屑材料を大幅に低減でき、欠点を最小にする信頼性の高い打抜きが達成される柔軟な研磨製品を製造する方法、そのような研磨製品、並びに製造装置の提供。 - 特許庁

For determining whether the uncertain defective line is a defect, the average luminance of the uncertain defective line is compared with that of a line, comprising a plurality of normal, adjacent pixels.例文帳に追加

その不確かな欠陥ラインを欠陥かどうか判定するために、不確かな欠陥ラインの平均輝度と、隣接する複数の正常画素からなるラインの平均輝度とを比較して欠陥かどうかを判定する。 - 特許庁

To provide an SOS (silicon on sapphire) substrate low in the defect density of a surface even in an extremely thin silicon film by solving a problem that defective density increases due to incompatibility in a lattice constant between silicon and sapphire.例文帳に追加

シリコンとサファイアとの格子定数の不適合に起因して欠陥密度が増大する問題を克服し、極めて薄いシリコン膜においても表面の欠陥密度が低いＳＯＳ基板を提供する。 - 特許庁

To efficiently separate a signal from a pattern from a signal from a defect, in a technique for inspecting a micro circuit pattern using an image formed by irradiation with a white light, a laser beam or an electron beam.例文帳に追加

白色光・レーザ光・あるいは電子線を照射して形成された画像を用いて微細な回路パターンを検査する技術において、パターンからの信号と欠陥からの信号を効率的に分離する。 - 特許庁

Each probe sensor head is constituted such that a probe part of supplying an electric current to an electrode and a sensor part of determining open/short defect by detecting the electric current supplied to the line are integrally formed.例文帳に追加

プローブセンサーヘッドは、電極に電流を供給するプローブ部と、配線に供給された電流を検出してオープン／ショート欠陥を判別するセンサー部とが一体となって構成されている。 - 特許庁

To output azimuth of a moving body which will not be influenced by offset or drift of an angular velocity sensor, even when GPS azimuth operation cannot be executed, caused by signal reception defect or the like from a GPS satellite.例文帳に追加

ＧＰＳ衛星からの信号受信不良等に起因して、ＧＰＳ方位演算ができなくなった場合でも、角速度センサーのオフセットやドリフトの影響を受けない、移動体の方位を出力する。 - 特許庁

To provide a wafer container which hardly generates breakage and storage defect even if external force is applied, and realizes easy handling and management even if a semiconductor wafer or the like is stored one by one.例文帳に追加

外力が加わっても、破損や収納不良が発生しにくく、半導体ウエハ等を一枚づつ収納しても、取扱や管理を容易に行うことが出来るウエハ収納容器を提供する。 - 特許庁

To manufacture a highly reliable plasma display panel at a low cost and with a high yield, by suppressing a dielectric breakdown failure caused by a defect such as air bubbles, contamination and the like in a dielectric layer.例文帳に追加

誘電体層中の気泡やコンタミネーション等の欠陥に起因する絶縁破壊不良を抑止し、信頼性の高いプラズマディスプレイパネルを低コストで歩留まり良く製造することを目的とする。 - 特許庁

To provide a coating device capable of inhibiting generation of coating defect on a film by inhibiting entanglement of a foam into a coating liquid having adjusted coating thickness, and a coating method using it.例文帳に追加

塗布厚が調整された塗布液への気泡の巻込みを抑制することにより、フィルムに対する塗布欠陥の発生を抑制することができる塗布装置及びそれを用いる塗布方法を提供する。 - 特許庁

Under a rapid heating method which uses a lamp as a heat source, the insulating substrate 1 is rapidly heated for a hydrogen to be diffused in the semiconductor thin-film 2, repairing a crystal defect.例文帳に追加

この後水素化工程を行い、熱源にランプを用いた急速加熱法により絶縁基板１を急速に加熱して水素を半導体薄膜２に拡散させ結晶欠陥を修復する。 - 特許庁

To provide a manufacturing process of paper using recycled pulp which reduces a loss of paper quality, operation trouble and machine defect caused by adhesive foreign materials and pitch of waste paper origin included in the recycled pulp.例文帳に追加

再生パルプを用いた紙の製造工程において、再生パルプに含まれる古紙由来の粘着性異物やピッチが原因となる紙の品質低下や操業トラブル、マシン欠陥を低減すること。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a semiconductor electrostatic capacity sensor by which the non-defect rate hardly lowers due to uneven distance or projections in spacing even if the distance between a fixed electrode and a movable electrode is made small.例文帳に追加

固定電極と可動電極との間隔を狭くしても、間隔寸法むらや間隔内突起で良品率が低下しない半導体式静電容量型センサの製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a long-life image display device without causing a display defect by preventing a dielectric breakdown failure between a lower electrode and an upper electrode (upper electrode power feed line) constituting a thin-film type electron source.例文帳に追加

薄膜型電子源を構成する下部電極と上部電極（上部電極給電線）間の絶縁破壊不良を防止して表示欠陥のない長寿命の画像表示装置を提供する。 - 特許庁

To provide a solid state imaging device capable of reducing imaging defect (white spots) and suppressing rises in depletion voltage and shutter voltage, and to provide a method for manufacturing the same.例文帳に追加

撮像欠陥（白点）を低減させるとともに、空乏化電圧の上昇及びシャッター電圧の上昇を抑制することができる固体撮像装置及びその製造方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a photosensitive transfer sheet laminate less liable to interlayer peeling within a photosensitive layer and causing no peeling defect in laminating on a copper-clad substrate or the like, and a method for manufacturing the laminate.例文帳に追加

感光層の内部で層間剥離が生じ難く、銅張り基板などへのラミネート時に剥離欠陥が生じることのない感光性転写シート積層体およびその製造方法の提供。 - 特許庁

To provide a substrate treatment apparatus which suppresses development defect, suppresses degradation of yields, reduces labor in treatment by a post stage device, and heats an exposed substrate.例文帳に追加

現像欠陥を抑えて、歩留りの低下を抑えることができ、さらに後段の装置における処理の手間を軽減させることができる、露光された後の基板を加熱する基板処理装置を提供すること。 - 特許庁

To eliminate a distortion which is the greatest defect of a processing liquid tank made of a synthetic resin with a simple structure, and to prevent a thickness increase as the tank is made large-sized while adopting the processing liquid tank made of the synthetic resin as a basic configuration.例文帳に追加

合成樹脂製の処理液槽を基本構成として、当該合成樹脂製の最大の不具合である歪みを簡単な構造で解消し、大型化に応じて肉厚の増大を防止する。 - 特許庁