「Defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(257ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a method which can suppress the generation frequency of a spike defect even when high-density NH3 is supplied for liquid-phase epitaxial growth of an N-doped GaP layer with high N density.例文帳に追加

Ｎ濃度の高いＮドープＧａＰ層を液相エピタキシャル成長するために高濃度のＮＨ_３を供給してもスパイク欠陥の発生頻度を抑制することができる方法を提供する。 - 特許庁

To provide an image processing apparatus capable of preventing the lowering of the speed of readout from an HDD due to a rereading operation even in case of a defect in access to the HDD due to vibration or deterioration with time.例文帳に追加

振動や経時変化によりＨＤＤへのアクセス不良が発生しても、再読み込み動作によるＨＤＤからの読み出し速度の低下を抑えることができる画像処理装置を提供する。 - 特許庁

After calculating the chain resistance R by two terminal resistance measuring process, the current wave form is observed by chain pattern while scanning a laser beams for calculating the defect numbers x by the positive-negative frequency of the current wave form.例文帳に追加

２端子抵抗測定法でチェーン抵抗Ｒを求めた後、レーザービームを走査しながらチェーンパターンでの電流波形を観測し、電流波形が正負に変化した回数から欠陥数ｘを求める。 - 特許庁

To obtain a current source circuit stably supplying a reference current to the other circuit even if a fault such as a lattice defect occurs on a bipolar element while forming the bipolar element.例文帳に追加

バイポーラ素子の形成過程で、バイポーラ素子に格子欠陥等の不具合が生じても、安定的に基準電流を他の回路に供給することができる電流源回路を得ることを目的とする。 - 特許庁

In the case where the light emitting element Gw in the light emitting element array LB has the pixel defect, normal-density pixels Dc appear mixing with low-density pixels Da and Dc among a pixel group Bc of the image carrier.例文帳に追加

発光素子列ＬＢの中の発光素子Ｇｗに画素欠陥がある場合には、像担持体の画素群Ｂｃでは、濃度の薄い画素Ｄａ、Ｄｃに正常な濃度の画素Ｄｃが混在する。 - 特許庁

Even if the image defect is caused by the vibration due to the opening/closing of the pressing plate in the midst of the image forming operation, the user can recover the page with the defective image by carrying out the aforesaid control.例文帳に追加

これらの制御を行うことで画像形成中に圧板の開閉によって起こる振動で画像不良が引き起こされたとしても、画像不良のあったページをユーザがリカバリすることが可能となる。 - 特許庁

To prevent a highly precisely-finished molded surface from being scratched by collision of both molding faces of the upper and lower molds with each other even if the supply of a glass material falls into defect by any possibility.例文帳に追加

万が一、ガラス素材の供給不良が起こったとしても、上金型及び下金型の成形面同士が衝突して高精度に仕上げられた成形面にキズが付くことを防止する。 - 特許庁

To provide a fixing device which prevents an image defect and prevents the potential of a fixing roller from being made excessively high to cause leakage discharge by constructing a fixing bias with an inexpensive constitution by a self-bias.例文帳に追加

セルフバイアスにより安価な構成で定着バイアスを築き、画像不良の防止と、定着ローラ電位が過度に高くなってリーク放電が発生するのを防止する定着装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor storage device capable of surely holding a current flowing via an equalizing circuit at a fixed limiting current when short-circuit defect of a bit line and a word line occurs.例文帳に追加

ビット線とワード線のショート欠陥が発生する場合、イコライズ回路を介して流れる電流を一定の制限電流に確実に保持することが可能な半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To provide a magnetic carrier causing no image defect such as white void and giving high image density and excellent dot reproducibility in a developing system of rotating a developing sleeve and a photoreceptor in the forward direction.例文帳に追加

現像スリーブと感光体を順方向回転させて現像する方式においても白抜けなどの画像欠陥がなく、高画像濃度で、ドット再現性に優れる磁性キャリアを提供することにある。 - 特許庁

In one embodiment, the method includes a defect counting step of detecting impurities contained in the silica particles by optically counting defective parts on the surface of the precision component before the solving step after the cleaning process.例文帳に追加

ある態様では、洗浄工程後、溶解ステップ前に、精密部品の表面にある欠陥部位を光学的にカウントして、シリカ微粒子に含まれる不純物を検出する欠陥カウントステップを備えている。 - 特許庁

To provide a leakage inspection device for plastic bottles, which prevents misdetections where a nondefective is detected as being a defective product, which is caused by imperfect sealing that is a defect which spool-type electromagnetic valves have.例文帳に追加

スプール型電磁弁の持つ欠点であるシール性が不完全であることが原因で起こる良品を不良品と判定する誤検出を防止することができるペットボトルのリーク検査装置を提供する。 - 特許庁

The voltage based on the ultrasonic wave is measured at a plurality of locations on the piping 11, and the location is sought where the voltage shows the maximum value based on the voltage to specify that the location is where the defect is.例文帳に追加

該超音波に基づく電圧を配管１１の複数箇所にて測定し、その電圧に基づいて電圧の最大値を示す箇所を求め、該箇所が欠陥の位置であると特定する。 - 特許庁

Thus, this improves the insulation and lowers the probability of occurrence of short circuit at the crossing parts of the rescue wiring and the signal lines to improve the probability of correction of the defect in the display area.例文帳に追加

これにより絶縁性を向上しレスキュー配線と信号線の交差部での短絡の発生確率を低下させ、表示領域の欠陥の修正が可能となる確率を向上できる。 - 特許庁

To provide a resist removing device wherein a series of stages until cleaning and drying stages after photoresist is removed are efficiently performed with low defect by using the same device in a resist mask method.例文帳に追加

レジストマスク法において、フォトレジスト除去後の洗浄及び乾燥工程までの一連の工程を、同一装置によって低欠陥で且つ効率よく行うレジスト除去装置を提供することである。 - 特許庁

Sub-pixels are driven by the pixel driving TFTs 33 which suppress variation in defect density among the active layers 33c and are relatively low in threshold voltage, so the display unevenness and power consumption are suppressed.例文帳に追加

活性層33cの欠陥密度のばらつきを抑制しかつ閾値電圧が相対的に低い画素駆動用ＴＦＴ33によって副画素を駆動するので、表示むらおよび消費電力を抑制できる。 - 特許庁

To obtain a battery having good discharge performance and charge/discharge cycle characteristics by using a binder exhibiting good binding force and less susceptible to cause coating defect of an electrode in the field mainly of secondary battery.例文帳に追加

主に二次電池の分野で、結着力が良好、かつ電極に塗工欠陥を作りにくいバインダーを用いることで、放電性能、充放電サイクル特性などの良好な電池を得ること。 - 特許庁

To provide a method for producing metallic particles for an anisotropic conductive film having high hardness, small in the defect of contact and having a uniform shape instead of the conventional conductive particles in which resin particles are applied by Au plating.例文帳に追加

従来の樹脂粒子にAuメッキを施した導電粒子に代わる、高硬度で、接触不良が少ない均一な形状を有する異方性導電膜用金属粒の製造方法を提供する。 - 特許庁

To prevent a surface defect of a product made of a billet to contrive the enhancement in a yield by eliminating a scale lump remaining in a deep groove part in carrying out scarfing of the billet.例文帳に追加

鋼片をスカーフィングする際の深掘れ部に残留するスケール塊を除去することにより、その鋼片からなる製品の表面欠陥を防止して歩留まり向上を図ることを課題とする。 - 特許庁

Thereby, the temperature gradient in the crystal is appropriately controlled from immediately after the start of pulling, and a single crystal 9 having a desired defect region can be produced efficiently in a high yield.例文帳に追加

これにより、引き上げの開始直後から結晶内温度勾配を適正に制御して、所望の欠陥領域を有する単結晶９を、効率よく、高い歩留りで製造することができる。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a semiconductor substrate that forms an epitaxial layer of a high quality having a low defect density on a silicon layer or a silicon substrate by using a small number of steps at a low cost.例文帳に追加

シリコン層又はシリコン基板上に、欠陥密度が低く高品質なエピタキシャル層を、少ない工程で低コストに形成することが可能な半導体基板の製造方法を提供する。 - 特許庁

In the method and the device, defect and error in operations of VSLI simulation and a circuit are discriminated by forming the test and by using the test, and the performance is evaluated by using genetic algorithm.例文帳に追加

テストを生成し、該テストを使用して、ＶＬＳＩシミュレーション及び回路の動作上の欠陥及び誤りを識別し、及び遺伝的アルゴリズムを使用して性能を評価する、方法及び装置。 - 特許庁

The surface of the SiC substrate 4 manufactured by this method has a defect density of ≥1.1×10^2 defects/cm^2 and ≤1.0×10^9 defects/cm^2.例文帳に追加

また、上記製造方法により得られたＳｉＣ基板４であって、その表面の欠陥密度が１．１×１０^2個／ｃｍ^2以上１．０×１０^9個／ｃｍ^2以下であるＳｉＣ基板４である。 - 特許庁

To provide an MIS field effect transistor using metallic oxide the defect of which is not caused easily and which resists hydrogen and water as a gate insulating film, and to provide a method for manufacturing the transistor.例文帳に追加

欠陥が誘起され難くかつ水素や水分の耐性が強い金属酸化物をゲート絶縁膜として用いたＭＩＳ型電界効果トランジスタ及びその製造方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide an epitaxial wafer in which any epitaxial defect does not occur in an epitaxial layer, and strong gettering capability is obtained in the neighborhood of the lower part of an epitaxial layer, and to provide a manufacturing method thereof.例文帳に追加

エピタキシャルウェーハにおいて、エピタキシャル層にエピ欠陥が形成されることがなく、かつエピタキシャル層下部近傍に強力なゲッタリング能力を備えたエピタキシャルウェーハおよびその製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a video audio signal reproducing apparatus wherein an AV decoder and a transport stream decoder can reproduce a video frame of a TS packet for particular reproduction without causing a defect to a ring buffer.例文帳に追加

特殊再生用ＴＳパケットの映像フレームをリングバッファの破錠なくＡＶデコーダおよびトランスポートストリームデコーダにて再生することができる映像音声信号再生装置を提供する。 - 特許庁

Decoding and playback of moving picture data can smoothly and consecutively be executed without incurring a defect such as extremely slowed-down object motions by omitting decoding of the non-referenced images.例文帳に追加

非参照画面のデコードを省略することにより、オブジェクトの動きが極端に遅くなるなどの不具合を招くことなく、動画像データのデコードおよび再生をスムーズに継続して実行することができる。 - 特許庁

To detect the presence or absence of a structural defect of one or more stacked permeable membranes of a body under test such as a fuel cell with a helium leak detector in a short time with high sensitivity.例文帳に追加

燃料電池のような透過膜を1段以上積層した被試験体の透過膜の構造欠陥の有無を、ヘリウムリークディテクタを用いて短時間で感度よく検出することができるように構成する。 - 特許庁

To eliminate distortion of the shape of a columnar electrode even if a defect in exposure of a plating resist film for columnar electrode formation etc., is caused in a method of manufacturing a semiconductor device called CSP.例文帳に追加

ＣＳＰと呼ばれる半導体装置の製造方法において、柱状電極形成用メッキレジスト膜等に露光不良が生じても、柱状電極の形状が歪にならないようにする。 - 特許庁

To reduce a processing cost by holding a result (PASS/FAIL) for each check item inside and shortening a processing time when defect check is performed and classification processing of defective category is performed in a test of an integrated circuit.例文帳に追加

集積回路のテストに際して、不良チェックを行って不良カテゴリの分類処理を行う場合、チェック項目毎に結果（PASS／FAIL）を内部に保持させ、処理時間を短縮し、処理コストを低減する。 - 特許庁

For instance, width between sidewalls on the linear defect center side of the structure on lattice points between both the sides holding the linear defects between them is gradually narrowed in accordance with the increase of distances from the end of the structure.例文帳に追加

例えば、前記線欠陥を挟む両側の格子点上の構造体の線欠陥中央側の側壁間の幅を、当該構造体の前記端からの距離が大きいほど狭くする。 - 特許庁

Using wax-containing toner, a prescribed image pattern is formed at the margin of the leading end as the non-image forming region of photomedia, thus occurrence of a separation defect in a fixing device is prevented.例文帳に追加

フォトメディアの非画像形成領域である先端余白に、ワックス成分を含有したトナーを用いて所定の画像パターンを形成することで、定着装置での分離不良の発生を防止する。 - 特許庁

To provide a paper guide device, preventing deposition and growth of toner adhering on the guide rib surface for guiding paper, thereby restraining the occurrence of an image defect such as a linear scratch.例文帳に追加

用紙を案内する案内リブ表面で、トナーの堆積、成長を未然に防止し、線状の擦痕といった画像不良の発生を抑制することが可能な用紙案内装置を提供する。 - 特許庁

The computer processes the repair order and semi-automatically or automatically transmits mail denoting the customer information of the customer and defect information to the mobile phone of a person in charge of repair via the Internet.例文帳に追加

コンピュータはその修理オーダーを処理し、当該顧客の顧客情報および不具合情報をインターネットを介して修理担当者の携帯電話機に半自動または自動的にメール送信する。 - 特許庁

To provide a manufacturing method for a substrate in which patterns can be formed on both surfaces of a substrate without generating a defect in a surface of the substrate or a pattern such as a conductive film formed there.例文帳に追加

基板の表面又はそこに形成された導電膜等のパターンに不良を発生せることなくその基板の両面にパターン形成を行うことができる基板の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a bit map data generating apparatus and a method for an IC tester, capable of generating bit map data at high speed without reading out data itself recorded in a defect analysis memory.例文帳に追加

不良解析メモリに記録されたデータ自体を外部に読み出すことなく、高速にビットマップデータを作成することのできるＩＣ試験装置のビットマップデータ作成装置および方法を提供すること。 - 特許庁

To provide an image forming apparatus for suppressing an image defect in a stripe state accompanied by unevenness of toner electrified amount without making structure on an intermediate transfer belt side complicated and without causing scattering of a toner image.例文帳に追加

中間転写ベルト側の構造を複雑化したり、トナー像の飛び散りを発生したりすることなく、トナー帯電量ムラを伴うスジ状の不良画像を抑制できる画像形成装置を提供する。 - 特許庁

Thereby, in the each pixel 20R1, 20G1, 20B1 for R, G, B; pixel pattern density of corresponding pixel circuit become equal one another, and a pattern defect rate is reduced as a whole pixel circuit.例文帳に追加

これにより、Ｒ，Ｇ，Ｂ用の各画素２０Ｒ１，２０Ｇ１，２０Ｂ１において、対応する画素回路の画素パターン密度が互いに均等となり、画素回路全体としてのパターン欠陥率が低減する。 - 特許庁

METHOD FOR CONNECTING WIRING ELECTRODES, MANUFACTURING METHOD AND DEFECT CORRECTING METHOD FOR LIQUID CRYSTAL DISPLAY DEVICE SUBSTRATE, AND METHOD FOR MANUFACTURING LIQUID CRYSTAL DISPLAY DEVICE, AND PROCESSING DEVICE USED THEREFOR例文帳に追加

配線電極の接続方法、液晶表示装置用基板の製造方法と液晶表示装置用基板の欠陥修正方法、および液晶表示装置の製造方法、並びにそれに用いる加工装置 - 特許庁

The break down defect can be reduced by providing dummy wirings supplying no signal at both ends of the plurality of TCP drivers connecting the liquid crystal display panel to the bus circuit board.例文帳に追加

液晶表示パネルとバス回路基板との間を接続する複数個のＴＣＰドライバーの両端に、信号を供給しないダミー配線を設けることにより、断線する不良を低減することができる。 - 特許庁

Furthermore, after the second conductive silicon carbide epitaxial film 3 is grown, a surface layer 6 high at least in the seed defect density is removed in the second conductive silicon carbide epitaxial film 3.例文帳に追加

また、第２導電型の炭化珪素エピタキシャル膜３を成長させた後、この第２導電型の炭化珪素エピタキシャル膜３における少なくとも種欠陥密度が高い表層６を除去する。 - 特許庁

A hole pattern or the like free from a development defect, the pattern having a crosslinked hardened layer 5 on the surface of the resist pattern and having a size less than the resolution limit of the exposure wavelength is formed by developing the coating layer 4.例文帳に追加

被覆層４を現像することにより、レジストパターン表面に架橋、硬化層５を有し、露光波長の解像限界以下のサイズを有する、現像欠陥のないホールパターンなどが形成される。 - 特許庁

This reticle repair method has a pattern transfer section comprising an electron beam scattering body and is a method of correction processing of the pattern defect of the reticle 13 used in exposure by electron beams.例文帳に追加

本発明に係るレチクルリペア方法は、電子線散乱体から構成されたパターン転写部を有し、電子線で露光する時に用いるレチクル１３のパターン欠陥を修正加工する方法である。 - 特許庁

When a defect state in the RF signals is detected to produce an on state of the detection signal DFCT, a hold circuit 230 holds the preceding data from the jitter detection circuit 210.例文帳に追加

一方、ＲＦ信号のディフェクト状態が検出され、検出信号ＤＦＣＴがオンした場合には、ホールド回路２３０は、ジッタ検出回路２１０からの直前のデータをホールドした状態となる。 - 特許庁

To provide a semiconductor package and a semiconductor device for suppressing the defect of a package resin forming the body of the semiconductor package and preventing the generation of a cause being a malfunction in the semiconductor device.例文帳に追加

半導体パッケージの躯体をなすパッケージ樹脂の欠損を抑制し、半導体装置において不具合となる要因の発生を未然に防止する半導体パッケージおよび半導体装置を提供する。 - 特許庁