「Defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(261ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a bodysuit intended for solving a defect of limited local figure correction by a local patch method and presenting effect of the whole figure correction of the upper half of the body.例文帳に追加

本発明は、ボディスーツおいて、「局部的当て布」方式による、限定された局部的な体型補整の欠陥を解決し、上半身部の全体的な体型補整の効果を現出することを目標とする。 - 特許庁

To provide a motor control system for reducing the cost of switching elements and those of the entire control system, without the need for taking into consideration the defect of rush current generated due to the transition between charging and discharging of a filter capacitor.例文帳に追加

フィルタキャパシタの充放電の遷移により突入電流が発生する欠点を考慮する必要がなく、スイッチ素子と全制御システムのコストを削減できるモーターの制御システムを提供する。 - 特許庁

Then, the method further includes steps of then determining rough suitable range of the focusing conditions and the dose conditions from the evaluated result (S13), and obtaining an image by using a defect inspecting device for the chip in the determined suitable range (S14).例文帳に追加

次いで、評価結果から、フォーカス条件とドーズ条件のラフな適切範囲を決定し（Ｓ１３）、決定された適切範囲内のチップについて、欠陥検査装置を用いて画像を得る（Ｓ１４）。 - 特許庁

To provide a developer carrier capable of obtaining a high-quality image where the defect of image quality such as the lowering of image density, ghost, scattering, a white stripe, blotch and solid white fogging is not caused over a long term.例文帳に追加

画像濃度低下・ゴースト・飛び散り・白スジ・ブロッチ・ベタ白かぶりといった画質不良の発生しない高品質の画像を、長期に亘って得ることができる現像剤担持体を提供することにある。 - 特許庁

To provide a TFT array substrate in which generation of light leakage is controlled, and a liquid crystal display employing that TFT array substrate in which deterioration in display characteristics and generation of spot defect are controlled.例文帳に追加

光リークの発生が抑制されたＴＦＴアレイ基板及びそのＴＦＴアレイ基板を用いた表示特性の劣化及び点欠陥の発生が抑制された液晶表示装置を提供すること。 - 特許庁

To provide an electrostatic charging member which obviates the occurrence of the electrostatic charging defect occurring in the nonuniformity and residual stress in the local molding of double layer films as well as a process cartridge and electrophotographic device having this electrostatic charging member.例文帳に追加

複層膜の局所的な成形の不均一や残留ひずみに起因する帯電不良が生じない帯電部材、その帯電部材を有するプロセスカートリッジ及び電子写真装置の提供。 - 特許庁

To correctly predict whether or not inclusions and bubbles forming a surface defect are present in a slab, and to predict the quality of a surface layer of a cast slab taking into consideration generation of defects caused by degradation of cleanliness of molten steel.例文帳に追加

スラブに表面欠陥となり得る介在物・気泡が存在するか否かを適確に予測し、溶鋼の清浄度低下による欠陥の発生も考慮して鋳片表層の品質を予測すること。 - 特許庁

To provide an alignment layer for an LCD which avoids the electro-optic defect region produced by nonuniform rubbing treatment and prevents the damage by electrostatic charge and the contamination of microparticles.例文帳に追加

不均一なラビング処理により生じる電気光学的欠陥領域を回避するとともに、静電帯電による損傷および微小粒子の汚染を防止した、ＬＣＤ用配向膜を提供する。 - 特許庁

In the event of dye comparison, difference images between an image of an inspection chip and images of left and right chips are threshold-determined by threshold processing parts 52a and 52b, respectively, by using the second threshold to find a defect candidate on the inspection chip.例文帳に追加

ダイ比較の場合には、閾値処理部５２ａ，５２ｂにおいて、検査チップの画像と左右のチップの画像との差画像をそれぞれ第二の閾値で閾値判定し、検査チップの欠陥候補を求める。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a semiconductor light emitting device in which the occurrence of crystal defect or dislocation based on the mismatching of lattice constant or the difference of thermal expansion coefficient is suppressed as much as possible and the crystal can be cleaved.例文帳に追加

格子定数の不整合や熱膨張係数の相違に基づく結晶欠陥や転位の発生を極力抑え、かつ、劈開することができる半導体発光素子の製法を提供する。 - 特許庁

To provide an image forming apparatus and an image forming method which are free from image defect caused by faulty transfer and faulty electrification even when the apparatus is shipped in such a state that a cartridge is attached to an apparatus main body.例文帳に追加

カートリッジを本体に装着した状態で出荷した場合でも、転写不良、帯電不良による画像不良が発生しない画像形成装置と画像形成方法を提供することである。 - 特許庁

To provide an ultrasonically inspecting device capable of more precisely detecting a defect of an object to be inspected including a multilayer structure with a simple method, clearly visualizing, and precisely inspecting, and a method therefor.例文帳に追加

多層構造を含む被検体等の欠陥を、簡単な手法でより正確に検出し、明瞭に映像化して精度よく検査できる超音波検査装置および超音波検査方法を提供する。 - 特許庁

A controller 7 collects the information on a kind and degree of the defect as well as positions in the width and longitudinal direction, etc., these are sent to a host computer 15 as the information pertinent to a coil of the thin steel sheet 1.例文帳に追加

制御装置７は、欠陥の種類、程度、欠陥の幅方向位置、長さ方向位置等の情報をまとめ、当該薄鋼板１のコイルに付随する情報として上位計算機１５に送る。 - 特許庁

In the method, an electromagnetic wave 2 having the wavelength transmitted through the elongate member 1 and absorbed partially is irradiated, and the defect of the elongate member is detected from a change of the transmission intensity of the electromagnetic wave 3 transmitted through the elongate member.例文帳に追加

細長部材１を透過しかつ一部吸収される波長の電磁波２を照射し、細長部材を透過した前記電磁波３の透過強度の変化から細長部材の欠陥を検出する。 - 特許庁

Consequently, connection failure occurring at the connection boundary of respective chips can be detected by shifting the connection boundary position of the sections, and inspection accuracy employing the Die to Die defect inspection method is enhanced.例文帳に追加

これにより、区画の接続境界の位置をずらして各々のチップの接続境界で生じる接続不良を検出することができ、Die to Dieの欠陥検査手法を用いた検査精度を向上させる。 - 特許庁

To provide a new method and a device capable of observing with sufficient accuracy an internal defect or an internal structure of a sample without depending on the thickness or the material king of the sample.例文帳に追加

試料の厚さや材料種類などに依存することなく、前記試料の内部欠陥や内部構造を十分な精度で観察することができる新規な方法及び装置を提供する。 - 特許庁

The defect inspection method employs an inspection device having a beam source 1 for irradiating a sample 10 with a charged particle beam 2 and a detector 18 for detecting a charged particle from the sample surface.例文帳に追加

欠陥検査方法は、荷電粒子ビーム２を試料１０に照射するビーム源１と、試料表面からの荷電粒子を検出部する検出部１８とを備える検査装置を用いる。 - 特許庁

To provide a device for polishing a cylinder surface capable of minimizing a surface roughness and a surface defect by constantly disposing a work on an upper side irrelevant to the direction of the recess/projection of the work.例文帳に追加

加工物の凹凸の向きにかかわらず、加工物を常時上側に配置することによって表面あらさ、表面欠陥を最小化することのできるシリンダー面の研磨装置を提供する。 - 特許庁

To provide a display device easily repairable when a line defect has occurred while preventing a deterioration of stability with time due to the degradation of an organic layer by moisture absorption.例文帳に追加

吸湿による有機層の劣化に起因して経時的な安定性が低下するのを防止しつつ、線欠陥が生じてしまった際に容易に修理することの可能な表示装置を提供する。 - 特許庁

To obtain a catalyst composition improved in a filling property into a mold having a complex shape and a skin state, and capable of forming the subject foam having no bubble defect by mixing triethylenediamine with a specific substituted diamino-terminated compound and an imidazole compound.例文帳に追加

複雑な形状等の成形金型での成形時に未充填部分がなくスキン状態が良好で、気泡欠損の発生がない靴底用ポリウレタンフォームの製造法を提供すること。 - 特許庁

The broadcast receiver of this invention is configured to revise a display means of information depending on whether or not the scanning operation is made so that no defect is caused for the information display during the scanning operation.例文帳に追加

本発明の放送受信機はスキャン動作が行われるか否かによって情報の表示方法を変更する構成とし、スキャン動作中の情報の表示に不具合が発生しないようにしている。 - 特許庁

To provide a drawing method capable of reducing a working defect due to no development of a crack, increasing a formable quantity due to the condition hard to develop the crack and increasing the freedom of product design.例文帳に追加

割れが発生しないので加工不良が減少し、また、割れが発生しにくいことにより成形可能量が増し、そのため製品設計の自由度も増す絞り成形方法を提供する。 - 特許庁

To set an appropriate recording condition to perform recording in response to an inspection result by inspecting not only a difference in the composition and structure state of a recording film in an optical disk but a defect, stain, bend, or distortion, etc., before video-recording.例文帳に追加

光ディスクの記録膜の組成、構造の状態の違いだけでなく、傷、汚れ、反り、歪などを録画前に調査し、この結果に応じて適切な記録条件を設定して記録する。 - 特許庁

To provide an optical disk device exactly detecting a defect even when an SN (Signal to Noise) ratio of a signal included in light reflected from an optical disk is not satisfactory and to provide a control method of the optical disk device.例文帳に追加

光ディスクからの反射光に含まれる信号のＳＮ比が悪い場合でも的確にディフェクト検出することができる光ディスク装置および光ディスク装置の制御方法を提供する。 - 特許庁

To provide a defect inspecting device that imparts proper illumination to a surface to be inspected with an object to be inspected which is bent and a surface to be inspected which is bent, and that suppresses the problems of conventional technologies.例文帳に追加

検査対象物の屈曲した被検査面や湾曲した被検査面に対して適正な照明を与えるとともに、従来技術の問題点を抑制する欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide an intermediate transfer medium or transfer member which obviates the occurrence of an image defect and the occurrence of leakage even under a high voltage and obviates the occurrence of the tear of a belt even if images are outputted for a long period of time.例文帳に追加

画像欠陥が発生せず、高電圧下でもリークの発生がなく、また長時間画像出力してもベルト裂けが発生しない、中間転写体又は転写部材を提供する。 - 特許庁

To provide a method for correcting black matrix in color filter with which the corrected part of defect in a black matrix in a color filter exhibits light shielding properties enough for black matrix and the corrected part causes no defective display.例文帳に追加

カラーフィルタのブラックマトリクスにおける欠陥の修正部分が、ブラックマトリクスとして充分な遮光性を発揮し、修正部分が表示不良を起こすことが無い修正方法を提供する。 - 特許庁

To provide a wireless base station apparatus and a resource assignment control method for solving a problem of a defect of prior arts that setup is disabled in spite of presence of idle resources resulting from wasteful assignment of resources by a CH card of a call processing control section of a wireless base station apparatus.例文帳に追加

無線基地局装置の呼処理制御部でのＣＨカードにおいてリソースの割り当て方に無駄ができ、空きがあるにも拘わらず呼設定不可となってしまう不都合を回避する。 - 特許庁

To prevent an image forming apparatus in which a defect in end fixation in the beginning of printing and a rise in temperature of a non-paper-feed part in continuous printing irrespective of parameters of the surface roughness, thickness, etc., of a recording material.例文帳に追加

画像形成装置において、記録材の表面粗さや厚み等のパラメータに関わらず、プリント初期における端部定着不良と連続プリントにおける非通紙部昇温を防止する。 - 特許庁

The width of the current aperture of the current narrowing layer 14 is not larger than the diameter (D) of a circle drawn by connecting the center of the holes that are nearest the point defect, wherein the diameter D of the circle is 10.6λ or smaller.例文帳に追加

電流狭窄層１４の電流開口の幅が、点欠陥に最も近接する円孔中心を結ぶ円の直径（Ｄ）以下であり、円の直径Ｄが１０．６λ以下である。 - 特許庁

To solve such problem that it is hard to generate a write discharge itself in a conventional driving method and the write discharge not completed easily causes a write defect in the case of a short write time even through it is generated.例文帳に追加

従来の駆動方法では書き込み放電そのものが発生しにくく、また、書き込み放電が発生しても、書き込み時間が短ければ放電が完了せず、書き込み不良が発生しやすい。 - 特許庁

An object to be inspected is imaged by an imaging unit 20, and the featured values of the picture of a defective site extracted by the defect extracting part 50 are extracted and digitized by a feature extracting part 60.例文帳に追加

撮像装置２０により検査対象物を撮像し、欠陥抽出部５０により抽出された欠陥部位の画像の特徴量を特徴抽出部６０により抽出して数値化する。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a nitrided component, which can increase the depth of a nitrided region, simultaneously enhance the hardness of the nitrided region, and is less prone to cause a defect such as a crack even in a stress-concentrated zone such as the bottom of a recessed part.例文帳に追加

窒化深さを増加させつつ硬さも高めることができ、かつ、凹部底等の応力集中部においてもクラック等の欠陥が生じにくい窒化部品の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a device for removing foreign matter in a snout capable of manufacturing a high-quality plated steel plate in which surface defect is suppressed by discharging the foreign matter sticking on an inner wall surface of the snout to the outside of the snout.例文帳に追加

スナウトの内壁面に付着する異物などをスナウト外に除去し、表面欠陥が抑制された高品質のめっき鋼板が製造できるスナウト内の異物除去装置の提供。 - 特許庁

Then, the system controller of the device performs the retry of a recording operation when the defect detection signal (e) is, for example, a low level and performs a control increasing a laser beam when the dust detection signal (g) is a low level.例文帳に追加

システムコントローラはこれらのディフェクト検出信号（ｅ）が、例えばローレベルである場合に記録動作の再試行を行い、ゴミ検出信号（ｇ）がである場合にレーザ光を増加させる制御を行う。 - 特許庁

To provide a magnetic disk unit and method for checking defect of magnetic disk which can prevent subsequent thermal asperity phenomenon due to protrusions on a magnetic disk.例文帳に追加

後発的に磁気ディスクの表面に生じる突起物によって引き起こされるサーマルアスペリティ現象を防止することが可能な磁気ディスク装置および磁気ディスクの欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a casting mold which enables the full cooling control of poured molten metal, in which an extremely limited amount of foundry sand is used, preventing the occurrence of gas defect in the casting.例文帳に追加

注入された溶融金属の冷却のコントロールが自由自在であり、しかも鋳物砂の使用量が極めて少ない上に鋳物にガス欠陥が生じることのない鋳造用金型を提供する。 - 特許庁

The effective critical area value therefor, defect density in the production line of the target product, and a specified yield model are used to calculate yield of the target product.例文帳に追加

前記対象製品の回路要素別の実効クリティカルエリア値と、前記対象製品の製造ラインにおける欠陥密度と、所定の歩留まりモデルとを用いて、前記対象製品の歩留まりを算出する。 - 特許庁

The fuse for redundancy substitution cuts off a memory cell array part corresponding to an address of a defective part to substitute a memory cell array part having a defect for a memory cell for redundancy according to a result of a pre-wafer-test.例文帳に追加

冗長置換用ヒューズは、プリウェハーテストの結果によって欠陥を有するメモリセルアレイ部分を冗長用メモリセルに置換するために、欠陥部のアドレスに対応するものを切断する。 - 特許庁

To provide a CVD system in which the deposition of products causing the defect of the operation of a pressure control valve is eliminated, and the operation of the pressure control valve can smoothly be performed.例文帳に追加

圧力制御バルブの動作不良を引き起こす原因となっている生成物の堆積を排除して、圧力制御バルブの動作をスムーズに行えるようにしたＣＶＤ装置を提供する。 - 特許庁

To provide an adhesive which excels in moisture resistance and heat resistance, reduces formation of bubbles in curing, does not cause a defect such as cloudiness due to bubbles, and can be applied in assembly and bonding of optical parts.例文帳に追加

耐湿度性および耐熱性にすぐれ、硬化における泡の発生を減じ、泡などによる白濁などの欠点を生じない、光部品の組立、接合に適用できる接着剤を提供する。 - 特許庁

Burn-in of the number of times of burn decided in this number of times deciding test are performed, after that, a function test is performed with the test object device unit, and a burn-in defect rate is monitored (step SP5, SP6).例文帳に追加

この回数決定テストにおいて決定されたバーンイン回数のバーンインを実施し、その後、テスト対象デバイス単位で機能テストを行なって、バーンイン不良率をモニタする（ステップＳＰ５，ＳＰ６）。 - 特許庁

To provide a method for stably and efficiently producing a thermoplastic polyurethane resin porous material without causing no defect such as a void or a pinhole, wherein the porous material has a hundreds μm pore diameter, a higher-order structure and a sharp pore diameter distribution.例文帳に追加

孔径数百μｍの高次構造の熱可塑性ポリウレタン樹脂製多孔質材料を、シャープな孔径分布で、ボイドやピンホールなどの欠陥を発生させることなく、安定かつ効率的に製造する。 - 特許庁

To provide a manufacturing method which enables the detection of a wiring layer, the occurrence of a defect in an immediately after process, the removal of the defective layers until the wiring layer and the reconstruction of layers to shorten a feedback time.例文帳に追加

不良の発生した配線層を直後の工程で発見し、当該配線層まで除去し、その層を再構築することでフィードバック時間を短縮した製造方法を提供する。 - 特許庁

An arithmetic operation part 18 detects the defective pixel of the imaging device 8 based on the picked-up image of the reference plate 14, generates pixel defect information based on the result of the detection, and stores it in a memory 12.例文帳に追加

演算部１８は、基準板１４の撮像画像に基づいて撮像素子８の欠陥画素を検出し、その検出結果に基づいて画素欠陥情報を生成し、メモリ１２に記憶する。 - 特許庁