「Defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(289ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a pressure-sensitive adhesive for a pressure-sensitive adhesive layer in a volume hologram laminate without much causing a spotted hologram defect in the volume hologram layer when the volume hologram laminate is stored in a pressurized state as in storage or the like.例文帳に追加

本発明は、保管時等の加圧された状態での保存によっても体積ホログラム層に斑状のホログラム欠陥が生じることの少ない体積ホログラム積層体における粘着剤層用粘着剤の提供を課題とする。 - 特許庁

In the method, a stain defect enhancing filter enhances the stain defects, surrounded by luminance comparison pixels S1-S32, based on the average of luminance differences between an object pixel O and two luminance comparison pixels which are set on point-symmetry positions.例文帳に追加

本発明のシミ欠陥強調フィルタは、点対称位置でセットとされた２つの輝度比較画素の対象画素Ｏに対する輝度差の平均値などに基いて、輝度比較画素Ｓ１〜Ｓ３２で囲まれたシミ欠陥を強調する。 - 特許庁

To provide a retaining wall with a sound absorbing function, which combines excellent sound insulating properties with excellent sound absorbing properties by effectively utilizing the excellent sound insulating properties of a heavyweight concrete structure and improving the sound absorbing properties as its defect.例文帳に追加

重量の大きいコンクリート構造物の優れた遮音性を有効に利用するとともに、その欠点である吸音性を改善することにより、優れた遮音性と吸音性を兼備した吸音機能付き擁壁を提供する。 - 特許庁

Hereby, the ratio of reflected light from the auxiliary member 2 for observation in the light in the specific wavelength band received by the imaging part 1 is reduced, and an intensity change of the reflected light caused by the defect of the optically transparent film A becomes clear.例文帳に追加

このため、撮像部１で受光される特定波長域の光における、観察用補助部材２からの反射光の割合が低減し、光透過性フィルムＡの欠陥に起因する反射光の強度変化が明りょうになる。 - 特許庁

To provide a nanoimprint stamper having novel structure capable of following simultaneously both a warpage and a surface protrusion (foreign matter) different in shape wavelengths of a substrate to be transferred, and allowing uniform transfer of reduced defect.例文帳に追加

被転写基板の形状の波長が大きく異なる反り及び表面突起（異物）の双方に同時に追従し、欠陥が少なく均一な転写を行うことができる新規な構造を有するナノインプリント用スタンパを提供する。 - 特許庁

The difference detection circuit 11 compares two image signals and if the difference is larger than a specified value, a defect judging section 12 judges the chip defective based on the difference signal and the optimal threshold of a threshold register 14.例文帳に追加

差分検出回路１１では、２つの画像信号を比較し、その差が一定以上であるときには、その差分信号としきい値レジスタ１４の最適しきい値とに基づいて、欠陥判定部１２によって欠陥を判定する。 - 特許庁

This device has a scanning microscope type scanning optical system provided with a laser 1, a light deflector 2 and a condenser lens 3, and a lens 5 Fourier-transforms a phase defect transmission image of a photomask (reticle) 4 formed of scanning micro condensing spots, in the device.例文帳に追加

レーザ１、光偏向器２、集光レンズ３を備えた走査型顕微鏡方式の走査光学系を有し、レンズ５が走査微小集光スポットの作るフォトマスク（レチクル）４の位相欠陥透過像をフーリエ変換像に変換する。 - 特許庁

The result of data processing is inputted/processed in a controller 7 and is tracked synchronizing with the pulse from a pulse generator 9 connected to a measuring roll 8, marking is done to a part where a defect exists by a marking device 12.例文帳に追加

データ処理の結果は制御装置７に入力されて処理され、メジャリングロール８に結合されたパルス発信器９からのパルスに同期してトラッキングされ、マーキング装置１２により、欠陥が存在する部分にマーキングが施される。 - 特許庁

To provide an image forming apparatus made inexpensive, having simple constitution, realizing the agreement of the relative parallelism and inclination of a plurality of image carriers, guaranteeing parallelism with the laser scanning line of an exposure device and preventing an image defect such as color slurring from occurring.例文帳に追加

低コストかつ、簡単な構成で、複数の像担持体の相対的な平行と傾きを合わせ、かつ、露光装置のレーザー走査線との平行も保証でき、色ずれ等の画像不良が発生しない画像形成装置の提供。 - 特許庁

The high-quality polycrystalline semiconductor film can control a grain boundary, a grain size, and a crystal orientation and can reduce the roughness of a film generated in the process of crystallization, and a crystal defect.例文帳に追加

本願発明によれば、絶縁体基板上に、粒界、粒径、結晶方位を制御でき、結晶化の仮定で生じる膜のラフネスと結晶欠陥を低減した高品質の多結晶半導体膜を有する半導体装置を得ることが出来る。 - 特許庁

To provide a defect inspection apparatus for speeding up inspection with high resolution for a technique in inspecting defects, foreign materials, residues, and steps, etc., using electron beam for a pattern on a wafer in a manufacturing process for a semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置の製造過程にあるウェハ上パターンの欠陥、異物、残渣および段差等を電子ビームにより検査する技術において、高分解能で、かつ検査速度の高速化を実現する欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a developing device in which such a defect that density irregularities occur on an output image is reduced because toner is sufficiently stirred and mixed into developer in a developer circulation path and to provide a process cartridge and an image forming apparatus.例文帳に追加

現像剤の循環経路にてトナーが現像剤中に充分に撹拌・混合されて、出力画像上に濃度ムラが発生する不具合が軽減される、現像装置、プロセスカートリッジ、及び、画像形成装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method for heating a steel slab, which can prevent surface defects on the steel slab, to solve such problems as crack generation on the steel slab and defect generation on the product surface.例文帳に追加

本発明は、鋼片の表面割れを起こし、製品表面に欠陥を生じるという問題を解決するためになされたもので、鋼片の表面の欠陥を防止できる鋼片の加熱方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide an oil feeder of a valve gear capable of supplying an appropriate quantity of lubricating oil for a rolling bearing and cam nose on a cam shaft while eliminating concern for lubricating defect due to plugging of a foreign substance.例文帳に追加

異物の詰まりに起因する潤滑不良の懸念を排除しつつ、カム軸上の転がり軸受及びカムノーズに対して適切な量の潤滑油を供給することが可能な動弁機構の給油装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method for enabling visual, intuitive recognition of the behavior of bulk micro defect (BMD) by displaying the behavior of BMD by computer simulation as the image represented by the infra-red tomographic method.例文帳に追加

コンピュータシミュレーションによって得られる酸素析出物（ＢＭＤ）の挙動を、赤外線トモグラフ法で得られる画像イメージで表示することによって、ＢＭＤの挙動を直感的、視覚的に理解することを可能にする方法を提供する。 - 特許庁

According to such a liquid crystal device 1, connection resistance in upper and lower conduction terminals electrically connecting the TFT array substrate 10 and the counter substrate 20 to each other can be eliminated and reduction of a conduction defect is made possible.例文帳に追加

このような液晶装置１によれば、ＴＦＴアレイ基板１０及び対向基板２０間を電気的に接続する上下導通端子における接続抵抗をなくすことができ、及び導通不良の低減が可能となる。 - 特許庁

A transmission circuit 61 transmits a test signal for a defect detection of a mobile telephone 21, and a reception circuit 64 receives the transmitted test signal through a reception antenna 83, a coaxial connector 82, and a coaxial connector 47.例文帳に追加

送信回路６１は、携帯電話機２１の不具合検出用の試験用信号を送信し、受信回路６４は、送信された試験用信号を、受信アンテナ８３、同軸コネクタ８２及び同軸コネクタ４７を介して受信する。 - 特許庁

To easily and visually detect a defect on the order of ppm and the beginning of discontinuity generated in the inner electrode of an FPC, that electrically connects an external circuit to display cells.例文帳に追加

外部回路と表示セルとを電気的に接続するＦＰＣにおいて、その内部電極に生じたｐｐｍオーダーの不良の検出及び断線が発生し始めていることの検出を目視で容易に行うことができるようにする。 - 特許庁

To provide an image forming apparatus which reliably prevents an image defect caused by local abnormal discharge, prevents decrease in smoothness of a transfer paper sheet and forms a high-quality image without a void and transfer irregularity.例文帳に追加

局所的な異常放電に起因する画像欠陥を確実に防止すると共に、転写紙の平滑度の低下を防止して、白ヌケや転写ムラ等のない高品位な画像が形成できる画像形成装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing an integrated semiconductor laser device which can suppress an defect that a relative positional relation of light emitting points included in respective laser elements in the integrated semiconductor laser device may be deviated in each chip.例文帳に追加

集積型の半導体レーザ装置において、各々のレーザ素子が有する発光点の相対的な位置関係が、チップ毎にばらつくのを抑制することが可能な集積型半導体レーザ装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide an optical scanning device and an image forming apparatus for effectively blocking reflected light produced at a scanning lens by incidence of a light beam emitted to a surface to be scanned and preventing occurrence of image defect caused by the reflected light.例文帳に追加

被走査面に配光されるビーム光の入射により走査レンズで発生する反射光を効果的に遮光し、反射光による画像不良の発生を防止可能な光学走査装置及び画像形成装置を提供する。 - 特許庁

To provide a heat treatment method and a heat treatment apparatus that can activate an implanted impurity while suppressing diffusion of the impurity, and can recover a crystal defect introduced during the impurity implantation.例文帳に追加

注入された不純物の拡散を抑制しつつ活性化を行うことができ、しかも不純物注入時に導入された結晶欠陥の回復をも行うことができる熱処理方法および熱処理装置を提供する。 - 特許庁

To suppress an image defect during transfer caused by AC voltage transmitted from a fixing nip to a transfer nip, while self bias is held by at least either of a pair of rotating bodies forming the fixing nip.例文帳に追加

定着ニップ部の一対の回転体の少なくとも一方にセルフバイアスを保持させつつ、定着ニップ部から転写ニップ部に伝達される交流電圧に起因する転写時の画像不良を抑制することを目的とする。 - 特許庁

To provide a pattern evaluation method and a pattern evaluation device, capable of matching an objective pattern to a reference pattern with high accuracy in the pattern measurement using an SEM image, even when the pattern of the measurement object includes a relatively large defect.例文帳に追加

ＳＥＭ画像を利用したパターン計測において、計測対象のパターンに比較的大きな欠陥が含まれている場合でも、基準パターンとのマッチングを高精度に実施することができるパターン評価方法及びパターン評価装置。 - 特許庁

To provide an index paper piece such as insertion paper capable of confirming whether insertion paper exists even if the insertion paper inserted between flat Japanese writing paper having a defect such as breakage is sandwiched and buried in the flat Japanese writing paper so that it cannot be visually recognized from the outside.例文帳に追加

破損等の欠陥部を有する平判紙に挿入付された差し紙が平判紙に挟まれて埋もれてしまって外側から視認できなくなった場合でも、存否を確認でき差し紙等の指標用紙片を提供する。 - 特許庁

To provide a light curable composition having light curability, usable for lithography, exhibiting good sensitivity and scarcely developing problems such as a pattern form defect after development and corrosion, and to provide a cured product.例文帳に追加

本発明の目的は、光硬化性を有しリソグラフィー可能であり、かつ良好な感度を有し、現像工程後のパターン形状不良や、腐食などの問題を生じにくい光硬化性組成物および硬化物を提供することである。 - 特許庁

To provide an image forming method by which a coating film having good curability in a deep portion without a pattern defect and having high contrast and high image stability can be formed while preventing a developing solution from directly contacting a substrate.例文帳に追加

深部硬化性が良好でパターンの欠損がなく、高いコントラスト性と高い画像安定性を有する塗膜を、現像液が基材に直接触れることなく形成することが可能な画像形成方法を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection system capable of highly accurately determining correlation between the distribution pattern of defects in a semiconductor wafer found in a defect inspection, and the distribution pattern in a defective semiconductor chip found in an electric test, in a short time.例文帳に追加

欠陥検査で発見された半導体ウエハの欠陥の分布パターンと、電気的試験で発見された不良半導体チップの分布パターンとの間の相関関係を、極めて高い確度をもって、より高精度に短時間に行う。 - 特許庁

To provide an electronic controller that prevents a current path from having a defect in continuity due to cracking even if a multilayer substrate formed by stacking a substrate having a pattern wired includes metal for heat radiation and an electronic element generating heat.例文帳に追加

パターンが配線された基板を積層した多層基板において、放熱用金属と発熱する電子素子を備えても、クラックの発生による電流経路の導通不良の発生を防ぐ電子制御装置を提供する。 - 特許庁

To provide an array substrate and an inspection method, efficiently finding a defect in a manufacturing stage by adding minimum inspection circuits, and preventing depression as a completed article after the end of inspection.例文帳に追加

最小限の検査回路の付加により製造段階での欠陥を効率的に発見すると共に、検査終了後には完成品としての機能低下を招くことのない、アレイ基板および検査方法の提供を目的とする。 - 特許庁

To provide an image forming apparatus capable of suppressing dew condensation in a conveyance path disposed at the downstream side of fixing means and suppressing deterioration in the state of a paper surface and an image defect without reducing an operation rate of the apparatus.例文帳に追加

装置の稼働率を低下することなく、定着手段の下流側に配置された搬送路の結露を抑制することができ、紙面状態の劣化及び画像不良を抑制することのできる画像形成装置を提供する。 - 特許庁

To detect a defect caused by a secular change of a stamper by classifying defects repetitively caused on a patterned media disk into defects caused by deterioration due to secular change of the stamper and defects caused by a process failure.例文帳に追加

パターンドメディアディスク上に繰り返し発生した欠陥をスタンパの経時的変化による劣化により発生した欠陥と、プロセスの不良により発生した欠陥とを識別して、スタンパの経時変化により発生した欠陥を検出する。 - 特許庁

To provide a manufacturing method of a strong yarn knot in a short stranding part and a device thereof, without an appearance of a defect such as yarn loosens and an end projects, since initial yarn and switching yarn are beautifully separated without being mixed in the stranding part.例文帳に追加

撚り合せ部で元糸と切替糸が混ざらずに綺麗に分かれ、糸が解けたり端末が突出などの欠陥が現れない、短い撚り合せ部で強固な糸結びの製造方法とその装置を提供することである。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a wafer level lens module, having excellent shape accuracy and positional accuracy of a lens element formed on a glass wafer, and preventing adhesion of dust to the lens element and the occurrence of a bubble and defect in a manufacturing process.例文帳に追加

ガラスウエハ上に形成されるレンズ要素の形状精度と位置精度が優れ、製造工程において、レンズ要素への塵埃の付着、気泡や欠けの発生がないウエハレベルのレンズモジュールの製造方法を提供すること。 - 特許庁

To provide an inspection device that measures power generating performance and defect of a solar cell as a member of a solar battery at a high speed with high precision so as to improve the production efficiency and yield of manufacture of the solar battery.例文帳に追加

太陽電池を製造する際の生産効率および歩留まりを向上さるために、太陽電池の構成部材である太陽電池セルの発電性能や欠陥の有無を高速および高精度で測定する検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection apparatus for transmitting a fixed transmit dose through a sample by performing thickness measurement and a defect inspection while fixedly keeping an interval between a radiation source and the sheet-like sample by reducing vertical conveyance swinging in the sample.例文帳に追加

試料の上下方向の搬送振れを減少させることで、放射線源とシート状試料の間隔を一定に保ちながら厚さ測定、欠陥検査をし、一定の透過線量を試料に透過する検査装置を提供する。 - 特許庁

To restrain a hot spot of emission to the minimum as a big defect inevitably accompanying an electron field emitter formation method necessary for using "assembly of random emitters" such as usage of an emitter paste containing acicular carbons such as nanotubes.例文帳に追加

ナノチューブなどの針状炭素で構成されるエミッタペーストを使用するなど、「ランダムなエミッタの集合」を用いる必要のある電子電界エミッタ形成方法に必ず伴う大きな欠点の放出のホットスポットを最小限に抑えること。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a piezoelectric device that can recover an oxygen defect portion formed on a piezoelectric layer due to plasma during etching and improve performance of the piezoelectric device.例文帳に追加

本発明は、エッチング時のプラズマによって圧電体層に生じた酸素欠損部を回復させることができて圧電デバイスの性能向上を図ることができる圧電デバイスの製造方法を提供することを目的とするものである。 - 特許庁

To provide a piezoelectric vibrator suppressing an occurrence of a defect caused by dispersing and depositing shaving chips of an adjusting film over exciting electrodes in the piezoelectric vibrator with a tuning fork type piezoelectric vibrator element provided in a case.例文帳に追加

音叉型の圧電振動子用素子を筐体内に設けた圧電振動子において、励振電極に調整膜の削り滓が飛散して付着することによる不良の発生を抑えることができる圧電振動子を提供すること。 - 特許庁

To provide lithium titanate nanoparticles in which oxygen defects are generated in lithium titanate by means of the reducing action of carbon, and nitrogen is doped in the oxygen defect sites, and to provide a composite of the lithium titanate nanoparticles and carbon, and to provide a method for producing the composite.例文帳に追加

カーボンの還元作用でチタン酸リチウムに酸素欠損を発生させ、その酸素欠損部に窒素をドープしたチタン酸リチウムナノ粒子、このチタン酸リチウムナノ粒子とカーボンの複合体、及びその製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a photovoltaic device capable of effectively repairing a defect inside a crystalline silicon substrate and at an interface between the crystalline silicon substrate and a silicon semiconductor layer, with no damage on the crystalline silicon substrate.例文帳に追加

結晶シリコン基板内部および結晶シリコン基板とシリコン半導体層との界面における欠陥を、結晶シリコン基板にダメージを与えることなく、有効に修復することができる光起電力装置の製造方法を得ること。 - 特許庁

To provide a manufacturing method of a semiconductor device for manufacturing the semiconductor device having high quality and high reliability by suppressing the enlargement of a void defect when the semiconductor device is formed by using a laminated substrate.例文帳に追加

貼り合わせ基板を用いて半導体装置を形成する場合に、ボイド欠陥の拡大を抑制して高品質且つ高信頼性を有する半導体装置を製造することができる半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

In some embodiments, the present invention provides the method of repairing a cartilage defect in a patient comprising the step of administering into the cartilage or into the area surrounding the cartilage the composition comprising a therapeutically effective amount of the morphogenic protein.例文帳に追加

いくつかの実施形態では、本発明は、軟骨または軟骨周囲領域に治療有効量の形態形成タンパク質を含む組成物を投与する工程を含む、患者の軟骨欠損の修復方法を提供する。 - 特許庁

To prevent the sticking of magnetic carriers and an image defect caused by abnormal remaining potential by surely removing the abnormal remaining potential by simple control even if an emergency shutdown causes the abnormal remaining potential in a photoreceptor drum.例文帳に追加

緊急停止により感光体ドラムに異常な残電位が発生しても、その異常な残電位を簡単な制御で、かつ確実に取り除き、異常な残電位に起因する磁性キャリアの付着や画像不良を防止すること。 - 特許庁

To provide an electronic component mounting device and an electronic component mounting method, which can prevent occurrence of a bonding defect between an electronic component and a substrate, and can further improve mounting precision of the electronic component on the substrate.例文帳に追加

電子部品と基板との間の接合不良の発生を防止することができ、更には電子部品の基板上への装着精度を向上させることができる電子部品実装装置及び電子部品実装方法を提供する。 - 特許庁