「Defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(290ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a method of diagnosing a fault of a charged particle beam lithography system using a defect inspection device, the method correctly sensing the fault caused in the charged particle beam lithography system in an initial stage.例文帳に追加

欠陥検査装置を用いた荷電粒子ビーム描画装置の故障診断方法であって、荷電粒子ビーム描画装置に不良が生じた場合にそれを初期段階で正しく検知することのできる方法を提供する。 - 特許庁

To provide a drum maintenance system which meters a release agent at the time of printing a front side of a duplex printing job in order to reduce an oil on the front side of a printed matter which causes an image-quality defect well known as a "duplex dropout".例文帳に追加

「両面ドロップアウト」として公知の画質欠陥の原因となる印刷物の表側上のオイルを減らすために、両面印刷ジョブの表側印刷の際に剥離剤を計量するドラムメンテナンスシステムを提供する。 - 特許庁

To provide a magnetic transfer method capable of prompting cleaning of a master disk by monitoring existence of an air stagnant part between adhesion surfaces of the master disk for transfer and a transfer object and determining an adhesion defect caused by dirt of a protrusion of the master disk.例文帳に追加

転写用原盤と被転写体との密着面間の“エア溜り”の有無をモニターし、原盤の突起汚れに起因する密着不良を判断して、原盤のクリーニングを促すことのできる磁気転写方法を提供する。 - 特許庁

To manufacture a laminated body which has little warpage, is excellent in transparency and adhesiveness of a resin substrate and a functional layer, can obtain excellent performance by the functional layer respectively, has little optical distortion, little surface defect, and an excellent appearance.例文帳に追加

反りが少なく、透明性、樹脂基材と機能性層との密着性に優れ、また機能層によりそれぞれ優れた性能が得られ、さらに光学歪が少なく、表面欠陥が少なく外観に優れた積層体を製造する。 - 特許庁

To provide a thermal recording material which minimizes an image defect caused by color development failure due to the intrusion of a foreign substance between a thermal head and the thermal recording material, also minimizes a surface imperfection caused by the fouling of the thermal head and the generation of streaks caused by trapped foreign substances.例文帳に追加

サーマルヘッドとの間に異物が挟まることによる未発色の画像欠陥、サーマルヘッドへの汚れによる面状欠陥、および異物トラップによるスジの発生が少なく抑えられる感熱記録材料を提供する。 - 特許庁

To provide a one-dimensional array ultrasonic probe or a two-dimensional array ultrasonic probe using a composite piezoelectric member composed of a solid-solution-based piezoelectric-single-crystal and a resin, wherein the ultrasonic probe is fabricated by including a cutting process without causing a working defect when cutting, and to provide a method of manufacturing the ultrasonic probe.例文帳に追加

固溶系圧電単結晶と樹脂との複合圧電体を用いて、切断時の加工不良が生じない一次元及び二次元アレイ超音波プローブ及び当該超音波プローブの製造方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a temper rolling method which can reduce a length of a stretch rate defect portion by making a stretch rate of a following steel sheet reach a set stretch rate in a short period of time after a welding point of a precedent steel sheet and the following steel sheet passes through a mill.例文帳に追加

先行鋼板と後行鋼板の溶接点通過後に、後行鋼板の伸び率を設定伸び率まで短時間で到達させて、伸び率不良部の長さを低減することが可能な調質圧延方法を提供する。 - 特許庁

To solve the problem that when a paper cup is molded by overlaying a print layer, a gloss resin layer, and a mat resin layer in order on the outer surface of a paper layer of the paper cup, the print layer, gloss resin layer, and mat resin layer are scraped off to create a grave defect.例文帳に追加

紙カップの紙層の外側に印刷層、グロス樹脂層とマット樹脂層を順次設けた紙カップを成形すると、印刷層、グロス樹脂層、マット樹脂層が削られ、重大な欠点となり問題となってしまう。 - 特許庁

To provide a device early detecting that a brake device is under the condition where the temperature of a friction braking member is rapidly rising in short period of time, possibly reaching an overheated state, caused by a defect in a feed path of compressed air.例文帳に追加

圧縮空気の供給経路の不備に起因して摩擦制動部材の温度が短時間に急上昇して過熱状態に達してしまう状況下であることを、早期に検知することが可能な装置の提供。 - 特許庁

To provide an illumination unit that widely spreads a range of outgoing light to the front side of a light guide plate while using an LED having such a defect as point-lighting, and is improved in performance effect by utilizing the point-lighting.例文帳に追加

点光りという欠点を有したＬＥＤを用いながらも、導光板の正面への出射光範囲を広く拡散させるとともに、点光りを有効利用して演出効果を高めるようにしたイルミネーションユニットを提供する。 - 特許庁

To provide an analysis element chip that is unlikely to have a defect in a metal thin film even when the metal thin film is placed in a high-humidity environment so as to keep active a physiological active substance fixed to a surface of the metal thin film.例文帳に追加

金属薄膜の表面に固定された生理活性物質の活性を維持するために当該金属薄膜が多湿環境下におかれても、金属薄膜に欠陥が生じ難い分析素子チップを提供することを課題とする。 - 特許庁

Brightness, a shape and an area of the defect are determined from the obtained image, and then the results are output.例文帳に追加

トリミングした画像のＦＦＴ画像でメッシュの空間周波数に相当する領域を０に置き換えてメッシュ周波数を除去した後、ＩＦＦＴ処理を施し、得られた画像から欠陥の輝度、形状、面積の判定を行い、結果を出力する。 - 特許庁

Furthermore, even after physical reformatting is performed, a defective cluster, if any, in the spare area 15 can still be recognized as a defect and the control operation can be performed so that a replacement cluster is not re-allocated to the defective cluster (i.e., the defective cluster is not used).例文帳に追加

また、物理再フォーマットを行った後も、スペア領域１５中の欠陥クラスタに対して欠陥であることを認識して、そこを交替クラスタとして再割り当てしない（使用しない）ように制御することができる。 - 特許庁

Consequently, there is not a risk that the low-melting-point fusible alloy 2 between the pair of lead conductors 1, 1 has a defect in blowout due to a rise in ambient temperature of the temperature fuse or is unevenly distributed on the lead conductor 1 to one side along the width.例文帳に追加

このため、温度ヒューズの周囲の温度上昇によって一対のリード導体１、１間の低融点可溶合金２が溶断不良する虞がなく、リード導体１上において幅方向一方に偏在する虞がない。 - 特許庁

To provide a system and a method for determining quality of polarization film textile stuff with which costs and time necessary for an optional check can be reduced and such textile stuff as to be expected to exhibit high defect flow rate.例文帳に追加

追加検査に要される費用及び時間を低減することができ、欠陥流出率が高く現われると予想される原反を自動選別することができる偏光フィルム原反の品質判定システム及び方法を提供する。 - 特許庁

To provide a bed in which a cover of a cloth can be fixed without separately arranging fixing members in a bed frame, there is no problem of an appearance defect even though the cover shrinks by washing or others, and the cover can be easily attached and detached compared to conventional ones.例文帳に追加

ベッドフレームに別途固定部材等を設けることなく布地製のカバーの固定が可能で、洗濯等によりカバーが縮んでも外観不良の問題がなく、従来と比べてカバーの着脱が容易なベッドを提供すること。 - 特許庁

A encapsulation section 14 encapsulates the packet determined as defect and the packet determined as normal by the queue controller 13 when determined that one of the packets multiplexed by the queue controller 13 is defective.例文帳に追加

カプセリング部１４は、キュー制御部１３によって多重されたパケットの一方が異常であると判定された場合には、異常であると判定されたパケットと、キュー制御部１３によって正常であると判定されたパケットとをカプセリングする。 - 特許庁

The array substrate 10 is divided into three inspection blocks 10C, 10D, 10E, and total three scanning signal lines 2 are selected each from each inspection block, and reinspected simultaneously, and thereby a pixel address of a defect candidate is specified.例文帳に追加

次に、アレイ基板１０を３個の検査ブロック１０Ｃ，１０Ｄ，１０Ｅに分割し、各検査ブロックから１本ずつ合計３本の走査信号線２を選択して同時に再検査し、これにより不良候補の画素アドレスを特定する。 - 特許庁

To suppress the reading defect of a horizontal thin line and the generation of moire, in an image reading apparatus which supplies constant current to a plurality of light sources, which emit light in mutually different colors, as drive current to read an image of an original.例文帳に追加

互いに色の異なる光を発生する複数の光源に一定電流を駆動電流として供給して原稿の画像を読み取る画像読取装置において、横細線の読取不良やモアレの発生を抑制すること。 - 特許庁

To provide an electrophotographic photoreceptor that forms a satisfactory output image where a positive ghost image is decreased, and at the same time, solves defect images such as a spot and fogging at a high level.例文帳に追加

ポジゴースト画像が低減された良好な出力画像が作成可能であり、同時にポチ、カブリ等の画像欠陥の解消とポジゴーストの改善を、高いレベルで両立させる事が可能な電子写真感光体を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing an electrophotographic photoreceptor having at least a photosensitive layer on an aluminum support, free from an image defect due to leakage from the initial time to the time after duration.例文帳に追加

アルミニウム支持体上に少なくとも感光層を設ける電子写真感光体の製造方法において初期から耐久後までリークによる画像欠陥のない電子写真感光体を製造する製造方法を提供する。 - 特許庁

By using this inspection apparatus, any white skipped area is deleted from the image data by irradiation with intense light to conduct defect inspection.例文帳に追加

ソルダレジストが塗布された部分の回路パターンを得るためには、照射する光を強くする必要があるが、ソルダレジストを塗布しなかった部分は白飛びになってしまい、ソルダレジストがある部分と無い部分を検査するための検査装置が必要であった。 - 特許庁

To provide a defect analysis method of a silicon single crystal, by which distribution of crystal defects in a silicon single crystal can be easily analyzed even in pulling a silicon single crystal by MCZ (Magnetic Czochralski) method in which a magnetic field is applied in a horizontal direction.例文帳に追加

水平方向に磁場を印加するＭＣＺ法によるシリコン単結晶の引上げにおいても、シリコン単結晶の結晶欠陥の分布を容易に解析することが可能なシリコン単結晶の欠陥解析方法を提供する。 - 特許庁

To provide a colored resin composition which suppresses a reduction in voltage retention of a liquid crystal and display defect due to a material which comes into indirect and direct contact with a liquid crystal layer while satisfying the demand for high transmission and high density.例文帳に追加

高透過、高濃度の要求を満たしつつ、液晶層と間接的、直接的に接触する材料に起因する液晶の電圧保持率低下ならびに表示不良を抑制した着色樹脂組成物を提供する。 - 特許庁

To reduce a charge trouble and to sample only an object without mixing a peripheral base material as the analyzing pretreatment of a minute insulating material sample or the like with a size of about 1 μm becoming the defect cause of a device or the like.例文帳に追加

デバイス等の不良原因となる１μmほどの微小絶縁物試料等の分析前処理として、帯電の支障を少なくし、周辺の基材を混合することなく目的物のみをサンプリングすることを目的とする。 - 特許庁

To solve the problem that when an SOI substrate is used and a trench element isolation structure is applied, an oxide film at a trench corner part becomes thin during oxidation of a trench sidewall to generate a crystal defect reaching a semiconductor layer in an element region owing to stress concentration.例文帳に追加

SOI基板を用いてトレンチ素子分離構造を適用した場合、トレンチ側壁の酸化時にトレンチコーナー部の酸化膜が薄膜化し、応力集中により素子領域の半導体層に達する結晶欠陥が発生する。 - 特許庁

To provide a coating method for reducing ununiformity of coating by separation of a coating liquid and defect by mixing of a foreign matter and forming a coating film of high quality on a substrate even with a simple constitution being excellent in practical use, and a coating apparatus.例文帳に追加

実用性に優れた簡易な構成でありながら、塗工液の分離による塗布ムラや異物混入による欠陥を低減し、高品質の塗膜を基材上に形成する塗工方法と塗工装置を提供する。 - 特許庁

To provide flocculating-caking resistant fly ash in which occurrence of a carrying-out defect accident due to flocculating and caking of fly ash particles can be suppressed by suppressing flocculating-caking of the fly ash by a simple method in which production cost is suppressed without mixing additives to the fly ash from the outside.例文帳に追加

フライアッシュに外部からの添加物を混合することなく、製造コストを抑えた簡便な方法により、フライアッシュの凝集固結を抑制することで、居着きを抑制できる耐凝集固結フライアッシュを提供する。 - 特許庁

The electron beam emitted from an electron gun 11 is throttled narrow and scans a sample formed with a film and detects the defect existing inside the film of the sample by detecting the reflected electrons or the secondary electrons emitted from the scanning point.例文帳に追加

電子銃１１から放出された電子線を細く絞り、膜形成された試料上を走査し、走査点から放出された反射電子又は二次電子を検出して試料の膜内部に存在する欠陥を検出する。 - 特許庁

To provide a simple evaluation method for a defect of a fluoride crystal affecting an optical characteristic, a fluorite of high durability and transmittance required for a vacuum-ultraviolet lithography device or the like, and to provide a manufacturing method therefor.例文帳に追加

光学特性に影響を与えるフッ化物結晶の欠陥の簡便な評価法を提供し、特に真空紫外光リソグラフィ装置などに要求される高耐久・高透過率蛍石、及びその製造法を提供する。 - 特許庁

To provide electronic parts with bump electrodes and its manufacturing method in which an open defect is adequately reduced in the manufacturing method, while there is provided a surface protecting insulation films having a substantial thickness and bump portions with sufficient heights.例文帳に追加

充分な膜厚の表面保護用絶縁膜および充分な高さのバンプ部を具備しつつ、製造過程においてオープン不良の発生が適切に低減されるバンプ電極付き電子部品、および、その製造方法を提供すること。 - 特許庁

To provide an antenna that uses aluminum and is inexpensive and practical by eliminating a pattern precision defect of an aluminum pattern layer, formed by chemical etching, which is caused when the material of a metal pattern layer is changed from copper to inexpensive aluminum.例文帳に追加

金属パターン層の材質を銅から安価なアルミニウムに代えると生じる、ケミカルエッチングで形成したアルミニウムパターン層のパターン精度不良を解消して、アルミニウムを用いた安価でしかも実用可能なアンテナを提供する。 - 特許庁

To provide a substance and a method of forming a hetero structure, which form a hetero structure of a nano scale, with a metal oxide, especially crystalline metal oxide compound, and suppress formation of defect and damage of a crystalline structure and extract characteristics of the metal oxide.例文帳に追加

金属酸化物、特に、結晶性金属酸化物を用いるナノスケールのヘテロ構造を、欠陥の形成や結晶構造の損傷を抑制し、該金属酸化物の特性を引き出す物質とその製造法を得ること目的とする。 - 特許庁

To provide an electrophotographic device by which image defect caused by toner melting does not occur even under a severe environment, toner can easily separate from a photoreceptor, so that good cleaning performance can be obtained, and a high quality image can be obtained in an electrophotographic process.例文帳に追加

電子写真プロセスにおいて、苛酷な環境下においてもトナー融着による画像欠陥が生じず、また、感光体からトナーが離れやすく良好なクリーニング性が得られ高品質な画像が得られる電子写真装置の提供。 - 特許庁

In the system, a production plan is prepared at first (S101), and in the case of producing an original film based on the production plan, the thickness and defect data of respective places of the film are simultaneously and automatically collected (S103).例文帳に追加

システムにおいて、まず生産計画が作成され（Ｓ１０１）、生産計画に基づいたフィルムの原反の生産が行なわれるときに、同時に自動的にフィルムの各場所における厚みおよび欠点データを収集する（Ｓ１０３）。 - 特許庁

To provide a manufacturing method of a branched tube by which an inner face protrusion as a defect of a low melting point metal filling method excellent in workability is easily removed and the branched tube having an uniform branching property and high quantity is manufactured at a low cost.例文帳に追加

加工性に優れた低融点金属充填加工法の欠点である内面突起を容易に除去し、分岐特性の均一な高品質の分岐管を安価に製造することのできる分岐管の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide an electroplating liquid which suppresses the occurrence of defect of a copper plated layer caused by the dissolution of a seed layer serving as an electrode in the formation of a copper wiring layer by electroplating method, and an electroplating method using the plating liquid.例文帳に追加

銅配線層を電解メッキ法で形成する際に電極となるシード層の溶解に起因する銅メッキ層の欠陥の発生を抑制する電解メッキ液及び該メッキ液を用いた電解メッキ方法を提供する。 - 特許庁

To provide a polishing pad which exhibits a stable polishing characteristic by securing good dimensional stability, and improves polishing speed and suppresses occurrence of defect caused by a polishing agent after polishing by increasing a water absorption rate.例文帳に追加

寸法安定性を良好に確保することにより安定的な研磨特性を発現しつつ、吸水率を高めることにより、研磨速度を向上し、研磨後の被研磨材でのディフェクト発生を低減した研磨パッドを提供すること。 - 特許庁

In a second inspection, the polarized light is rotated by 90° by the same structure, and only the rotated light is passed resultingly through the polarizers as a result of a stress on the inside of the bolt to be image-focused on the camera as a defect.例文帳に追加

第２の検査においては、偏光された光が、同じ構造によって９０°回転され、その結果、ボトル内の応力の結果として回転された光のみが、偏光器を通過し、欠陥としてカメラ上に結像する。 - 特許庁

In printed wiring board wiring inspecting equipment performing wiring inspection of a printed wiring board, nets in the two-dimensional or three-dimensional proximity relation are extracted, and inspection is performed by previously restricting a portion on which shortcircuit defect is apt to be generated.例文帳に追加

プリント配線板の布線検査を実施するプリント配線板布線検査装置において、２次元或いは３次元的に近接関係にあるネットを抽出し、短絡不良の発生し易い箇所を予め絞り込み検査する。 - 特許庁

To facilitate information copying and enhance a defect resulting from a difference of a recording capacity when information is recorded to a recording medium with a large storage capacity and e.g. copied to a recording medium with a small recording capacity.例文帳に追加

記憶容量の大きな記録メディアに情報を記録し記録容量の小さな記録メディアに対して例えば情報のコピーを行なう場合、情報のコピーが容易であり記録容量の違いからくる不具合を改善する。 - 特許庁

To provide a method and a device for correcting a mask defect which realize the reduction of liquid chemicals for use in washing and the facilitation of discrimination between foreign matters and black defects to thereby realize efficient correction of mask defects with a high reliability.例文帳に追加

洗浄に使用する薬液を減少させることができ、かつ、異物および黒欠陥の判定を容易にして、効率的かつ信頼性のあるマスク欠陥修正装置およびマスク欠陥修正方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for producing a solution of resin composition, having high productivity and sufficiently inhibiting contamination of impurities, a possible factor of defect in a production process, to reduce the content of the impurities as much as possible, and an apparatus for production.例文帳に追加

生産性が高く、製造過程においてディフェクト要因となり得る異物の混入を十分に抑制することができ、異物含有量を極力低減させて樹脂組成物溶液の製造方法、及び製造装置を提供する。 - 特許庁

A checking apparatus calculates the degree of a blur of image data of a device pattern of the semiconductor wafer with a CPU 31 in an image processor 3, and corrects the degree of the blur so as to properly detect the defect.例文帳に追加

画像処理部３内のＣＰＵ３１により、画像撮像部２で撮像された半導体ウェハのデバイスパターンである画像データのぼけの度合いを計算し、このぼけの度合いを欠陥が適切に検出できるように補正する。 - 特許庁

To provide a method for producing a sputtering target where, in a sputtering film deposition stage using an Nb sputtering target, the frequency in the generation of abnormal discharge causing the trouble in a device, the defect in a product or the like can be reduced.例文帳に追加

Ｎｂスパッタリングターゲットを用いたスパッタ成膜工程において、装置トラブルや製品不良等の原因となる異常放電の発生回数を減少させることを可能にしたスパッタリングターゲットの製造方法を提供する。 - 特許庁