「Defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(294ページ目) - Weblio英語例文検索

To enable an ejection head to be inexpensively washed without using an expensive functional liquid as much as possible when a delivering defect is generated in a liquid delivering apparatus, and to attain full recovery by washing even the interior of the delivering head.例文帳に追加

液体吐出装置において、吐出不良発生時に、高価な機能液をできるだけ使用することなく吐出ヘッドを安価に洗浄可能とするとともに、吐出ヘッドの内部まで洗浄して十分な復旧を図る。 - 特許庁

The reception state analyzer 4 sequentially dials a predetermined channel which becomes a reception object and acquires reception state information, and estimates the cause of the reception defect of the digital broadcast signal based on the reception state information per channel.例文帳に追加

受信状態解析部４は、受信対象となる所定のチャンネルを順次選局して受信状態情報を取得し、チャンネルごとの受信状態情報に基づいてデジタル放送信号の受信不良の原因を推定する。 - 特許庁

To provide a silicon carbide power element that has a low ON voltage suppressed over a wide temperature range without being influenced by a crystal defect etc., and has low ON loss and avoids surge breakdown, or a method of manufacturing the same.例文帳に追加

結晶欠陥等の影響を受けることなく広い温度範囲においてオン電圧を抑制し、低オン損失やサージ破壊回避が実現された炭化珪素パワー素子またはその製造方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To improve defect occurring due to the difference in physical properties between stainless steel and resin when stainless steel used for a metal case and resin used for a gasket are integrally bent or blanked out.例文帳に追加

金属ケースに用いるステンレスと、ガスケットに使用する樹脂を一体化した状態で折り曲げ加工および打抜き加工を行う際に、ステンレスと樹脂の物性の相異により生じる不具合を改善することを目的とする。 - 特許庁

To provide a thermal treatment method capable of manufacturing a high-quality semiconductor device, a method for manufacturing a substrate, and a method for manufacturing a SIMOX substrate by reducing a slip dislocation defect occurring in the substrate during thermal treatment.例文帳に追加

熱処理中に発生する基板のスリップ転位欠陥発生を少なくし、高品質な半導体装置を製造することができる熱処理方法、基板の製造方法及びＳＩＭＯＸ基板の製造方法を提供する。 - 特許庁

Since the waveguide of the photodiode 52 is wide, a light waveguide region may be protected even when a defect is caused in the vicinity of a side face of a core 20, and hence, the reliability of the photodiode 52 may be improved.例文帳に追加

フォトダイオード５２における導波路幅を広げることで、コア２０の側面付近に欠陥が生じた場合でも光の導波領域を保護することができるため、フォトダイオード５２の信頼性を向上させることができる。 - 特許庁

Occurrence of various defects in cells caused by stress in die-bonding and defect expansions in operating are suppressed by using a semiconductor layer divided by the first recess, as a semiconductor carrier to achieve high breakdown voltage and high reliability.例文帳に追加

第１の凹部により分断された半導体層を半導体支持体として活用して、ダイボンディング時のストレスによるセル内の各種欠陥の発生と稼働時の欠陥拡張とを抑制し、高耐圧と高信頼性を実現する。 - 特許庁

As a result, a deformation and a failure of the ceramic member 11 started from outer periphery of blazing layer 21 can be prevented, because there are no notched part, no stress concentration, or no filling defect of blazing filler on the outer periphery surface of bonding surface.例文帳に追加

この結果、接合面の外周縁に切欠溝が存在せず、応力集中もロー材層の充填不良箇所もないから、ロー材層２１の外周縁が起点となってその変形やセラミック部材１１の破損も防止できる。 - 特許庁

To provide a position detecting mechanism for a mobile object excellent in maintenance by a simple mechanism and strong by preventing engagement of falling foreign matter by arranging a pinion on a lower side of a rack and eliminating a defect such as broken damage to a rotary shaft.例文帳に追加

ラックの下側にピニオンを配置し落下異物の噛み込みを防止すると共に、回転軸の折損等の欠点を無くし、且つ簡単な機構で保守性に優れた頑丈な移動体の位置検出機構の提供を目的する。 - 特許庁

To provide a method and a device for insulation testing, which make it possible to inspect all defect parts where sounding winging coils are abnormally close to laminate coarse (at intervals of <1 mm) through nondestructive inspection in a mass-production process.例文帳に追加

健全な巻線コイルがラミネートコアに異常接近（１ｍｍ以内）した状態にある欠陥部分を、非破壊検査により量産工程で全数検査を可能にした絶縁試験方法および装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To eliminate the defect of eligibility of the nom of a target caused by the overlapped display of the names of targets in an area with concentrated targets in a conventional display method for a digital map, without decreasing the quantity of information.例文帳に追加

従来のディジタル地図の表示方法では、目標物が密集したエリアにおいて目標物の名称が重なって表示され判読できないという課題があり、情報量の減少無しにこの欠点の解消を図る。 - 特許庁

To provide a polyester film having a good optical performance, without having an unevenness or a defect on using it as a member of an LCD, a PDP (plasma display panel), an organic EL, a projection display, etc., realizing a high luminance, and capable of giving a high quality image.例文帳に追加

ＬＣＤ、ＰＤＰ、有機ＥＬ、プロジェクションディスプレイなどの部材として使用した際に、ムラや欠陥がなく、高度な輝度を実現し、高品質な画像を与えることができる、光学的性能の良好なポリエステルフィルムを提供する。 - 特許庁

To provide a coating method in which energy consumed in a coating line is reduced and a space required for constructing the coating line is cut down while the coating defect of parts constructing an automobile body is suppressed.例文帳に追加

自動車ボディを構成する部材の塗装不具合を抑制しながら、塗装ラインで消費されるエネルギーを低減するとともに、塗装ラインの構築に要するスペースを縮小することができる塗装方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a pattern defect detection device that detects a fluorescent image, a diffusion light image, and a reflection light image of a substrate formed by laminating dry films so as to easily detect various defects occurring in an exposure process.例文帳に追加

ドライフィルムが積層された基板の蛍光イメージと散乱光イメージ、そして反射光イメージをさらに検出して、露光工程で発生する様々な欠陥を容易に検出できるようにしたパターン欠陥検出装置を提供する。 - 特許庁

Accordingly, since the sticking force of the target toner image formed on the inter-image part with regard to the photosensitive body is weakened, cleaning is facilitated and the cleaning defect on the target image is prevented from occurring, even dispensing with any supplemental charge removing means.例文帳に追加

そのため、インターイメージ部に形成されたターゲットのトナー像の感光体に対する付着力が弱まるため、何らの付加的な除電手段を配置しなくとも、クリーニングが容易になり、ターゲット像のクリーング不良が発生しなくなる。 - 特許庁

To provide an antimony phosphate-based glass composition containing no lead oxide, having satisfactory weatherability and a low melting temperature, meltable in an ordinary atmosphere, and useful also as a sealing glass, by eliminating the defect of the conventional phosphate-based glass.例文帳に追加

従来のリン酸塩系ガラスの欠点を解決し、酸化鉛を含まず、低融点で耐候性がよく、通常雰囲気で溶融することができ、封着ガラスとしても有用であるアンチモンリン酸塩系ガラス組成物の提供を課題とする。 - 特許庁

Since the viscous material is supplied to the inside of the metallic pipe with nearly a set flow rate just after starting of manufacture, a defect caused by the absence or the shortage of the viscous material is nearly prevented.例文帳に追加

製造開始直後から、金属管の内部に粘性物質をほぼ設定の流量でもって供給することが可能となり、粘性物質が無いあるいは粘性物質の不足による不良発生をほぼ防止することができる。 - 特許庁

Then erroneous recording or erroneous erasing is prevented when focus control is out of order owing to a disturbance vibration or the physical defect of a disk, etc., or when the signal is recorded over the plurality of layers of the information surfaces.例文帳に追加

これらにより、外乱振動やディスクの物理的欠陥等によってフォーカス制御が乱れた場合や、複数層の情報面にわたって信号を記録する場合に、誤記録あるいは誤消去を防止することができる。 - 特許庁

To provide a method for producing a non-silicone-based peelable substrate excellent in peelable properties to an adhesive surface, hardly causing problems such as electric contact defect caused by a silicone, and capable of leaving a large remaining adhesive force of the pressure-sensitive adhesive face after the peeling.例文帳に追加

粘着面に対する剥離性能にすぐれ、かつシリコ—ンによる電気接点不良などの問題がなく、しかも剥離後の粘着面の残留接着力の大きい非シリコ—ン系剥離性基材の製造方法を提供する。 - 特許庁

The polycrystalline layer thus obtained has high electron emission efficiency, low defect density, and high withstand voltage compared to the conventional silicon layer.例文帳に追加

強電界ドリフト層６が酸窒化した多孔質多結晶シリコン層よりなるので、電子放出効率が高く、また、酸化した多孔質多結晶シリコン層により形成されている場合に比べて欠陥密度が減少し、絶縁耐圧が高くなる。 - 特許庁

A flaw detection result diagnostic device 14 performs arithmetic processing for identifying a defect signal and a virtual image signal by taking a correlation between a plurality of guide wave inspection images to a different frequency, imaged by the flaw detection result imaging device 13.例文帳に追加

探傷結果診断装置１４は、探傷結果映像化装置１３により映像化された、異なる周波数に対する複数のガイド波検査映像の相関を取り、欠陥信号と虚像信号とを識別する演算処理を行う。 - 特許庁

To provide an inspection device and its method requiring no pin to be brought into contact with circuit wiring in supply of an inspection signal to the circuit wiring and allowing detection of a minute defect indistinguishable by a naked eye.例文帳に追加

回路配線に検査信号を供給するにあたり、該回路配線に接触するピンを不要とし、また、肉眼により識別できないような微細な欠陥をも検出し得る検査装置及び検査方法を提供すること。 - 特許庁

To solve a problem, wherein, when a laminated glass having a plastic film inserted therein is prepared by grasping a transparent plastic film with interlayers and inserting the plastic film into between two glass plates, crease appears on the plastic film, resulting in an appearance defect.例文帳に追加

透明なプラスチックフィルムを中間膜で挟持し、これを２枚のガラス板の間に挿入してプラスチックフィルム挿入合せガラスを作製するときに、プラスチックフィルムにシワが生じ、外観欠陥になるという問題が生じる。 - 特許庁

To provide an image output device having a speedy fault diagnosis function by making it possible to grasp user's unexpected usage state or the like in a market if the occurrence of defect, in a once marketed device, is reported from the user.例文帳に追加

一旦市場に出た装置において、ユーザから不具合発生の報告があった場合、市場におけるユーザの予期せぬ使用状況等を把握できるようにして、迅速な故障診断機能を持った画像出力装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method and a system for forming a test and a test vector, for confirming performance and operation of simulated VLSI and silicon- based VLSI, and discriminating error and defect in logic layout, circuit spectrum manufacture or the like.例文帳に追加

シミュレートされたVLSI及びシリコンベースのVLSIの性能及び動作を確認し、及びロジック、レイアウト、回路スペクトル、作製その他における誤り及び欠陥を識別するための、テスト及びテストベクトルを生成する方法及びシステムを提供すること。 - 特許庁

When the designed circuit pattern is exposed and transferred on a wafer via an exposing device, a defect occurring systematically dependently on the characteristic or the like of the exposing device is predicted previously by simulation and is stored as hot spot information 7.例文帳に追加

また、露光装置を介して、設計された回路パターンをウエハ上に露光転写する際に、露光装置の特性等によってシステマティックに発生する欠陥を、あらかじめシミュレーションによって予測し、ホットスポット情報７として記憶する。 - 特許庁

To provide a processing device using a square chisel without a defect of such infavorable processability as taking a long time for forming mortises of predetermined depths since the mortises are formed by boring by a drill while the square chisel is pressed to a horizontal suspension material.例文帳に追加

角ノミをそれぞれ横架材に押し付けながらドリルでボーリングしてほぞ穴を形成しているので、深さのほぞ穴を形成するのに時間がかかり、作業性が悪いという問題を無くした角ノミ加工機を提供する。 - 特許庁

To provide a sodium-chloride type transition metal carbide single crystal substrate that increases lattice matching property with a (0001) or (000-1) plane of a nitride semiconductor crystal such as GaN and that allows epitaxial growth of a nitride semiconductor crystal with little defect.例文帳に追加

GaNなどの窒化物半導体結晶の(0001)又は(000-1)面との間の格子整合性を高めて、低欠陥の窒化物半導体結晶をエピタキシャル育成可能な岩塩型遷移金属炭化物単結晶基板を提供する。 - 特許庁

To provide an optical communication module that suppresses initial stage defect due to contamination of an optical element, that has a high photosensitivity when using a silicon based photo diode or a gallium arsenide based photo diode, and that enables near infrared light to be used for communication.例文帳に追加

光素子の汚染による初期不良を抑え、さらにシリコン系のフォトダイオードやガリウム砒素系のフォトダイオードを用いた場合に受光感度が高い、近赤外の光を通信用に使用可能とする光通信モジュールを提供する。 - 特許庁

To prevent an image defect in a stripe state occurring because developer (toner) T adhering to an electrifying member 2 is discharged at a position corresponding to the paper edge of a medium to be recorded in a cleaner-less system image forming apparatus.例文帳に追加

クリーナレスシステムの画像形成装置において、帯電部材２に付着した現像剤（トナー）Ｔが被記録媒体の紙コバに対応する位置で吐き出されて発生するスジ状の画像不良を防止することを目的とする。 - 特許庁

To provide the configuration of a semiconductor device for suppressing any influence due to defect factor impurity such as carbon, nitride or oxygen in a semiconductor device including point defects for adjusting a reverse recovery time and a method for manufacturing this semiconductor device.例文帳に追加

逆回復時間を調整するための点欠陥を含む半導体デバイスにおいて、炭素，窒素または酸素などの欠陥要因不純物による影響を抑えるための半導体デバイスの構成とその製造方法を提供する。 - 特許庁

Thus, lowering of the display contrast and display defect due to the lack of the charged particles 31 capable of drive are suppressed by performing proper refresh operation, and since migration of the charged particles is prompted, responsiveness of the images is improved.例文帳に追加

したがって、適宜リフレッシュ動作を行うことにより、駆動可能な帯電粒子３１の不足による表示コントラストの低下や表示欠陥が抑制され、且つ帯電粒子の泳動が速やかになるので、画像の応答性が向上する。 - 特許庁

Accordingly, after completion of the brazing, the generation of the brazing defect that the gap is left between the bending curved face of the bending part 41a and the tip side corner part of the separator 31 can be prevented from occurring.例文帳に追加

したがって、ろう付けが完了した後に、折り曲げ部４１ａの曲げ曲面とセパレータ３１の先端側角部との間に隙間が残存してしまうといったろう付け不良が発生することを未然に防止することができる。 - 特許庁

To realize a liquid crystal display device and inspection method therefor, capable of strictly and quantitatively detecting and discriminating defect and defective states of a liquid crystal panel, a signal driver, etc., without necessitating an external inspection device.例文帳に追加

外部に検査装置を必要とすることなく、液晶表示パネルや信号ドライバ等の欠陥や不良状態を厳密かつ定量的に検出、判定することができる液晶表示装置及びその検査方法を提供する。 - 特許庁

To obtain defect-free, smooth and excellent circumferential weld bead by the pulse arc welding or DC arc welding using non-consumable electrode on a groove joint of thick tubular members in which bead joint for each multilayer sequence welding and each welding pass is required.例文帳に追加

多層盛溶接及び溶接パス毎のビード継ぎが必要な厚板管材の開先継手に対して、非消耗性電極のパルスアーク溶接又は直流アーク溶接により欠陥のない平滑で良好な円周溶接ビードを得る。 - 特許庁

Since this flavonoid reacts with ultraviolet rays to emit fluorescence, it is accurately judged whether the fresh defect is present on the skins of the agricultral products 14 by irradiating the agricultural products 14 with light of the ultraviolet region from the light source 20.例文帳に追加

このフラボノイドは紫外線に反応して蛍光発光するため、光源２０から紫外線領域の光を農産物１４に照射することにより、農産物１４の表皮に生傷があるか否かを正確に判定することができる。 - 特許庁

An ROP pattern data converting part 11 converts the plotting attribute of the plotting object, so that the defect is not caused even when the plotting processing is performed as it is in response to the ROP patterns detected by the ROP pattern detecting part 10.例文帳に追加

ＲＯＰパターン用データ変換部１１では、ＲＯＰパターン検知部１０にて検知されたＲＯＰパターンに応じて、そのまま描画処理を行っても不具合が生じないように描画オブジェクトの描画属性を変換する。 - 特許庁

To provide a manufacturing method of a semiconductor device and a semiconductor device capable of repairing any crystal defect caused in the inner wall layer of a trench formed in a substrate and reducing an interface level of the inner wall layer.例文帳に追加

基板に形成されたトレンチの内壁層に生じる結晶欠陥を修復するとともに、内壁層の界面準位を低減することが可能な半導体装置の製造方法および半導体装置を提供する。 - 特許庁

By having the polyimide orientation film on the TFT array board irradiated with the rays of wavelength of 180 nm or shorter, the defect orientation film on the TFT array board can be completely removed, without giving adverse effects to the characteristics of the TFT.例文帳に追加

本願発明の方法によれば、１８０ｎｍ以下の紫外線を照射することで、ＴＦＴ特性に悪い影響を与えることなく、ＴＦＴアレイ基板上の欠陥配向膜を完全に除去することができる。 - 特許庁

To provide a defect part marking method and a device capable of replacing a marker pen and replenishing ink quickly and continuously, when marking a surface or inside flaw position on the surface of an inspection material such as a thin steel plate.例文帳に追加

薄鋼板等の被検査材表面に、表面または内部の疵位置をマーキングするにあたり、迅速かつ連続にマーカーペンの交換またはインクの補充ができる欠陥部マーキング方法および装置を提供することを課題とする。 - 特許庁

By repeating the adjustment of the length TP and photographing until the brightness of an image obtained by this photographing becomes a predetermined referential state, necessary settings are made for generating an image having brightness suitable for the defect detection.例文帳に追加

この撮影により得た画像の明るさがあらかじめ定めた基準の状態になるまで、ＴＰの長さ調整と撮影とを繰り返すことにより、欠陥の検出に適した明るさの画像を生成するのに必要な設定がなされる。 - 特許庁

To provide a power generating device that prevents driving torque on a driving machine side from being excessive, or, in the event of the occurrence of a defect due to excessiveness of the driving torque, minimizes the influence, and facilitates later maintenance.例文帳に追加

駆動機側の駆動トルクが過大となることを防止し、あるいは、万が一、駆動トルクが過大となりそれによる不具合が発生してもその影響を極力小さくせしめ、後のメンテナンスの容易な発電装置を提供する。 - 特許庁

A defect detecting method for fuel cell material detects defects in cells or half-cells for fuel cells by means of a CCD camera, a laser reflection detector, and/or a contact displacement detector.例文帳に追加

本発明は、ＣＣＤカメラ、レーザー式反射検出機および／または接触式変位検出機により、燃料電池用のセルおよび／またはハーフセルの欠陥を検出することを特徴とする燃料電池材料の欠陥検出方法である。 - 特許庁

To provide a synthetic quartz glass substrate having high flatness to perform fine drawing as well as having a substrate surface with less defect and minimal surface roughness, as a synthetic quartz glass substrate for a photomask used in a photolithography process or the like.例文帳に追加

光リソグラフィー法等で使われるフォトマスク用合成石英ガラス基板として、平坦度が良く微細な描画を行うことができ、かつ基板表面が低欠陥で面粗さの小さい合成石英ガラス基板を提供する。 - 特許庁

Terminal devices 24, 34 connected to the network N transmit the diagnosis result of the self- diagnosis program function of the testing devices 20, 30 to the maintenance information providing server 12 corresponding to user operation, and acquires information on the defect generation spot.例文帳に追加

ネットワークＮに接続された端末装置２４，３４は、ユーザの操作に応じて試験装置２０，３０の自己診断プログラム機能の診断結果をメンテナンス情報提供サーバ１２へ送信して不良発生箇所に関する情報を得る。 - 特許庁