「Defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(294ページ目) - Weblio英語例文検索

When data is read out by retry and temperature in writing is the prescribed temperature or less, it is discriminated as non-defect of media, read-out data is not stored in a spare region, but rewritten in the same sector from which read out.例文帳に追加

リトライによってデータが読み出せた場合、温度が書き込み時の温度が所定温度以下の場合は、メディア欠陥ではないと判定し、読み出されたデータは、スペア領域に記憶されることなく、読み出された同一セクタに書き直される。 - 特許庁

To provide an aluminum die casting product and a manufacturing method therefor, and a compressor for freezing or air-conditioning, wherein the loss of air-tightness caused by a shrinkage cavity defect generated in the time of die-casting formation is prevented.例文帳に追加

ダイカスト成形時に発生する引け巣欠陥に起因する機密性の喪失を防止することができる、アルミダイカスト製部品およびその製造方法ならびに冷凍ないし空調用圧縮機を提供することを目的とする。 - 特許庁

In the reflection light detection type defect detection process, the surface of the electrophotographic photoreceptor is irradiated with light, reflection light reflected by the electrophotographic photoreceptor is received by a light receiving means and the defective part of the electrophotographic photoreceptor is detected.例文帳に追加

反射光検出式欠陥検出工程は、電子写真感光体の表面に光を照射し、電子写真感光体で反射される反射光を受光手段で受光して電子写真感光体の欠陥部を検出する。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a uniform sheet-like molding without defect in the molding having excellent releasability even by laminating, and smoothing the front surface and the releasing surface (rear surface) of the molding and a method for manufacturing an electronic component.例文帳に追加

薄層化しても剥離性に優れ、且つシート状成形体の表面、剥離面（裏面）とも平滑にし、またシート状成形体内部にも欠陥のない均一なシート状成形体の製法および電子部品の製法を提供する。 - 特許庁

In the same way, a pressure in the rotor chamber 10 is kept at a higher pressure than that in the gear chamber 9 when viewed from the fourth oil seal 23, thereby eliminating a defect that oil in the gear chamber 9 leaks into the rotor chamber 10 through the fourth oil seal 23.例文帳に追加

同様に、第４オイルシール２３からみて、ギヤ室９内よりもロータ室１０内の圧力が高く保たれることになり、ギヤ室９のオイルが第４オイルシール２３を介してロータ室１０に漏れる不具合もない。 - 特許庁

When it is detected by a quantity of light sensor 79 that the light emitting element of the light emitting element array Lb has the pixel defect, light emission of the light emitting element array Lb is stopped by a Y driver 77, and the light emitting element array Lb is made a spare array.例文帳に追加

光量センサ７９により発光素子列Ｌｂの発光素子に画素欠陥があることが検出されると、Ｙドライバ７７により発光素子列Ｌｂの発光を停止させ、発光素子列Ｌｂを予備列とする。 - 特許庁

The seeping of the sealing material toward the display area Dd in joining substrates is suppressed with the parallel detouring part 7a, and a malfunction of display defect production caused by access of the seeping to the display area Dd is prevented.例文帳に追加

この平行迂回部分７ａにより、基板接合時におけるシール材料の表示領域Ｄd に向かう沁み出しが抑制され、沁み出しが表示領域Ｄd に進入して表示不良を発生させる不具合が防止される。 - 特許庁

The light irradiated the surface to be inspected of the laminate substrate and reflected therefrom is captured, and in a photography image which is thus obtained, a difference in the light and shade of the contrast for the background is distinguished, thus deciding the existence of a void defect.例文帳に追加

貼り合わせ基板の被検査面に照射した光の該被検査面からの反射光を捕捉し、得られた撮影像において、バックグラウンドに対するコントラストの濃淡の違いを識別することにより、ボイド欠陥の有無を判定する - 特許庁

To obtain a sound cast slab in which pushing flaw on the cast slab caused by a seal material, such as an expand metal, whisker-state iron powder, used in the unsteady part at the starting time of continuous casting and a joint part of different kinds of steels, etc. is eliminated and the surface defect is not developed.例文帳に追加

連続鋳造の開始時や異鋼種の継ぎ目等の非定常部で使用されるエキスパンドメタル、ウィスカー状鉄粉などのシール材に起因する鋳片での押し込み疵をなくし、表面欠陥のない健全な鋳片を得る。 - 特許庁

To provide a manufacturing method with which a generation of such a defect as a crack or the like of a joined part due to a tube expansion is prevented, resulting in a joined body of carbon steel pipes having an excellent mechanical characteristics after expanded, and a tube expansion method for the joined body of the carbon steel pipes.例文帳に追加

拡管にともなう接合部の割れ等欠陥の発生を防止でき、拡管後の機械的性質の優れた炭素鋼管接合体の製造方法および炭素鋼管接合体の拡管方法を提供すること。 - 特許庁

Inspection processes 31, 32, etc., and 3N are provided for every prescribed manufacturing processes 21, 22, etc., and 2N of a wafer 1, and a historical defect list 8 is created in an analysis unit 6 by each time inspection results 51, 52, etc., and 5N are obtained from the respective inspection processes 31, 32, etc., and 3N.例文帳に追加

ウエハ１の所定の製造工程２_1,２_2,……,２_N 毎に検査工程３_1,３_2,……,３_Nを設け、夫々の検査工程３_1,３_2,……,３_Nから検査結果５_1,５_2,……,５_Nが得られる毎に、解析ユニット６で欠陥来歴リスト８が作成される。 - 特許庁

Thereby, defect conditions such as generation of scratches caused by pinch rollers 25, 25 when the tensile force of the metallic belt plate W becomes excessive, or generation of a braking flaw because the tensile force becomes too small, can be avoided.例文帳に追加

これにより、金属帯板Ｗの張力が過大になってデコイラ１２のピンチローラ２５，２５により擦り傷が発生したり、金属帯板Ｗの張力が過小になって折り傷が発生したりする不具合が未然に回避される。 - 特許庁

The present invention allows inspection of a more minute defect.例文帳に追加

本発明は、被検査物体で散乱，回折、または反射された光の、波長，光量，光量の時間変化、および偏光の少なくとも１つを模擬した光を発生する光源装置を有し、前記光を表面検査装置の光検出器に入射させる - 特許庁

To provide an electrophotographic device by which image defect caused by toner melting does not occur even under a severe environment, toner can easily separate from a photoreceptor, so that good cleaning performance can be obtained, and a high quality image can be obtained in an electrophotographic process.例文帳に追加

電子写真プロセスにおいて、苛酷な環境下においてもトナー融着による画像欠陥が生じず、また、感光体からトナーが離れやすく良好なクリーニング性が得られ高品質な画像が得られる電子写真装置の提供。 - 特許庁

In the system, a production plan is prepared at first (S101), and in the case of producing an original film based on the production plan, the thickness and defect data of respective places of the film are simultaneously and automatically collected (S103).例文帳に追加

システムにおいて、まず生産計画が作成され（Ｓ１０１）、生産計画に基づいたフィルムの原反の生産が行なわれるときに、同時に自動的にフィルムの各場所における厚みおよび欠点データを収集する（Ｓ１０３）。 - 特許庁

To provide a manufacturing method of a branched tube by which an inner face protrusion as a defect of a low melting point metal filling method excellent in workability is easily removed and the branched tube having an uniform branching property and high quantity is manufactured at a low cost.例文帳に追加

加工性に優れた低融点金属充填加工法の欠点である内面突起を容易に除去し、分岐特性の均一な高品質の分岐管を安価に製造することのできる分岐管の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide an electroplating liquid which suppresses the occurrence of defect of a copper plated layer caused by the dissolution of a seed layer serving as an electrode in the formation of a copper wiring layer by electroplating method, and an electroplating method using the plating liquid.例文帳に追加

銅配線層を電解メッキ法で形成する際に電極となるシード層の溶解に起因する銅メッキ層の欠陥の発生を抑制する電解メッキ液及び該メッキ液を用いた電解メッキ方法を提供する。 - 特許庁

To provide a polishing pad which exhibits a stable polishing characteristic by securing good dimensional stability, and improves polishing speed and suppresses occurrence of defect caused by a polishing agent after polishing by increasing a water absorption rate.例文帳に追加

寸法安定性を良好に確保することにより安定的な研磨特性を発現しつつ、吸水率を高めることにより、研磨速度を向上し、研磨後の被研磨材でのディフェクト発生を低減した研磨パッドを提供すること。 - 特許庁

To provide a printing cleaning sheet which keeps a balance of adhesive power and an absorbing amount of a solvent to a request for higher removal performance by solving a defect of a cleaning sheet caused by traditional material characteristics of an adhesive.例文帳に追加

従来の粘着剤の材料特性に起因するクリーニングシートの欠点を解消し、より高い除去性能の要求に対して粘着力と溶剤吸収量のバランスを取った印刷用クリーンニングシートを提供する。 - 特許庁

To provide an idling start/stop device for a vehicle free from malfunction owing to wiring defect and capable of being safely and easily mounted while preventing decrease of brake stepping force caused by engine stop in operation of the device.例文帳に追加

車両のアイドリング始動・停止装置において、装置作動時のエンジン停止によるブレーキの踏力低下を防ぎ、かつ配線不良などによる誤動作のない、安全で簡単に取り付けが可能な装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a positive photosensitive composition suitable when an exposure light source at ≤160 nm, in particular, F_2 excimer laser light (at 157 nm) is used, and specifically, to provide a positive photosensitive composition having little development defect.例文帳に追加

１６０ｎｍ以下、特にＦ_２エキシマレーザー光（１５７ｎｍ）の露光光源の使用に好適なポジ型レジスト組成物を提供することであり、具体的には現像欠陥の少ないポジ型感光性組成物を提供することにある。 - 特許庁

To provide a single crystal silicon in an ingot or wafer form, which contains an axially symmetric region in which vacancies are the predominant intrinsic point defect and which is substantially free of agglomerated vacancy intrinsic point defects, and to provide a method of producing the same.例文帳に追加

空孔が優勢な真性点欠陥の、凝集空孔真性点欠陥を実質的に有さない軸対称領域を含んで成りインゴットまたはウエハ形態の単結晶シリコン、およびその製造方法を提供する。 - 特許庁

Therefore, the developer 16A accompanied by the photosensitive web 12 never contacts with the fixing solution 20A, and a defect such as bleeding or burr at the silver line edge part of the conductive material by local runaway of developing can be suppressed.例文帳に追加

このため、感光ウエブ１２に同伴した現像液１６Ａが定着液２０Ａに接触することがなく、現像の局部暴走による導電性材料の銀線エッジ部のにじみ、ギザギザ等の欠陥の発生を抑制することができる。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a semiconductor device, wherein a joint leak caused by the crystal defect of a semiconductor substrate is suppressed, even when a contact of a one-side-elongated square shape is formed for lower resistance of the contact.例文帳に追加

コンタクトの低抵抗化のため、一方向に長い矩形状のコンタクトが形成される場合にも、半導体基板の結晶欠陥に起因した接合リークを抑制することができる半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide an image forming device which is prevented from decreasing in its operation rate owing to printing operation disabled by not only an open or short circuit of a temperature detecting circuit itself, but also deterioration of solder in the circuit, a connector defect, etc.例文帳に追加

温度検知回路そのもののオープン，ショートのみならず、回路中の半田の劣化、コネクタ不良などの原因でプリント動作をまったく不許可にしてしまうことによる稼働率の低下を防いだ画像形成装置を提供する。 - 特許庁

To manage a buried pipe sufficiently by surely and directly grasping the occurrence of a defect such as corrosion or a damage of the buried pipe and its generation position, and to perform measurement simply without requiring a load.例文帳に追加

埋設管の腐食や損傷等の欠陥の発生、およびその発生位置を確実に直接的に把握して、その埋設管の管理を十分に行うことができ、また測定も労力を要さず簡単に行うことができるようにする。 - 特許庁

Thus, since the first and the second substrates are adhered with each other before they are conveyed, deviation in a position and the like are not generated and the liquid crystal display panel having satisfactory quality without any image defect and image unevenness can be manufactured.例文帳に追加

よって、接着剤により第１基板と第２基板とは搬送前に接着されることから、位置ずれ等が発生せず、画像不良及び画像ムラのない品質良好な液晶表示パネルを製造することができる。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a test mask, having several kinds of transmittances and patterns that have different dimensions at various kind of transmittance, and to provide a method for controlling the detection sensitivity of a defect inspection apparatus that uses the test mask.例文帳に追加

数種類の透過率を有し、かつ各々の種類の透過率において寸法の異なるパターンを有するテストマスクにより半透明欠陥に対する欠陥検査装置の検出感度調整することを目的とする。 - 特許庁

To provide a wire feeder for a welding torch, a wire feeder that can reduce weld defect by smoothing wire passage for a welding torch and preventing spatter from depositing on a nozzle inner face or a tip outer face at the tip end of the torch.例文帳に追加

溶接トーチのワイヤの通過を滑らかにし、またトーチ先端のノズル内面やチップ外面にスパッタが付着するのを防止して溶接不良を減少させることができる溶接トーチのワイヤ供給装置を提供すること。 - 特許庁

In a high-magnification inspecting step S4, the high-magnification inspecting image of the visual field region is acquired by positioning the position of the stored crystal defect in the visual field region so as to change an objective distance through the use of a high-power objective lens 14b.例文帳に追加

高倍率検査ステップＳ４では、高倍率の対物レンズ１４ｂを用いて、記憶された結晶欠陥の位置を視野領域の中に位置させて対物距離を変えて、視野領域の高倍率検査画像を取得する。 - 特許庁

To provide a memory device in which data stored in a memory cell array are compared with test data stored in the memory device or inverted data of the test data to detect defect of the memory device and to provide a parallel bit test method of the memory device.例文帳に追加

メモリセルアレイに貯蔵されたデータをメモリ装置の内部に貯蔵されたテストデータまたはテストデータの反転データと比較してメモリ装置の不良を検出するメモリ装置及びこの装置の並列ビットテスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide a MOS type semiconductor device improved in breakdown resistance and having high reliability by suppressing a gain increase of a parasitic transistor caused by photo pattern defect liable to occur due to micronization of a process design rule.例文帳に追加

プロセスデザインルールの微細化に伴って発生しやすくなるフォトパターン欠陥に起因する寄生トランジスタのゲイン増大を抑制して破壊耐量を向上させて信頼性の高いＭＯＳ型半導体装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a cast slab providing fine solidified-structure without developing internal defect, such as internal crack, center segregation, center porosity, by stably forming solidified nuclei in molten steel containing much carbon, reducing an alloy cost and micronizing the solidified structure.例文帳に追加

炭素を多く含む溶鋼中に凝固核を安定して形成し、合金コストを低減し、凝固組織を微細にして内部割れや中心偏析、センターポロシティ等の内部欠陥の無い微細な凝固組織を備えた鋳片を提供する。 - 特許庁

To provide an active matrix substrate in which the occurrence of destruction caused by short circuit among spare wirings or a first protecting circuit connected between scanning lines adjacent to the spare wiring or signal lines is prevented and the generation of display defect is suppressed.例文帳に追加

予備配線同士、あるいは予備配線と隣接する走査線または信号線との間に接続された第１保護回路の短絡破壊を防止し、表示不良の発生を抑えることのできるアクティブマトリクス基板を提供する。 - 特許庁

To achieve carrier for two-component developer, stably maintaining charging quantity of toner, having a coating layer of carrier favorably coated, and outputting a high image quality image without image defect such as adhesion of carrier over a long period of time.例文帳に追加

トナーの帯電量を安定に維持でき、また、キャリアの被覆層が良好にコートされており、長期にわたってキャリア付着等の画像欠陥の少ない高画質画像を出力できる、二成分現像剤用のキャリアを実現する。 - 特許庁

To provide a method for fabricating a semiconductor device in which the occurrence of crystal defect due to synergistic action of concentration of stress in the vicinity of the STI end of a semiconductor substrate and the occurrence of microdefects caused by ion implantation is suppressed.例文帳に追加

半導体基板のＳＴＩ端部近辺での応力集中とイオン注入起因の微少な欠陥の発生との相乗作用による結晶欠陥の発生を抑制する半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

In this tape polishing device, the width of the tip of the polishing head 5 is equal to or half of the width of the polishing tape 2, and the tip of the polishing head 5 presses the part equal to or less than one side half of the width of the polishing tape 2 to a projecting defect of a substrate.例文帳に追加

このテープ研磨装置では、研磨ヘッド５の先端の幅は研磨テープ２の幅の半分以下であり、研磨ヘッド５の先端は研磨テープ２の幅の片側半分以下の部分を基板の突起欠陥に押し付ける。 - 特許庁

To provide a positive resist composition which is suitably used for a light source for exposure of ≤160, particularly an F_2 excimer laser beam (157 nm), and more specifically to provide a positive resist composition which exhibits sufficient transmissibility when used for the light source of 157 nm and is improved in line edge roughness, development defect and scum.例文帳に追加

１６０ｎｍ以下、具体的にはＦ_２エキシマレーザー光（１５７ｎｍ）の露光光源使用時に十分な透過性を示し、且つラインエッジラフネス、現像欠陥、スカム発生が改善されたポジ型レジスト組成物を提供する。 - 特許庁

To take up a sophisticated web that cannot be taken up with a contact roller being press-contacted against a take-up shaft in a multi-shaft turret winder while providing a fine gap between the web and the take-up shaft, so that defect is not caused at winding and quality is not deteriorated.例文帳に追加

多軸ターレット巻取機においてコンタクトローラを巻取軸に圧接して巻けない高機能性ウエブに対し、巻取軸との間に微少な隙間を設けながら巻替時に不良を生じることなく、かつ高品質に巻取る。 - 特許庁

To provide the length measurement device of a long-length material capable of accurately measuring the carrying amount of the long-length material, detecting the measurement error of a length measurement disk and preventing the perforating position defect of the long-length material or the like.例文帳に追加

長尺材の搬送量を正確に測定するとともに、測長ディスクの測定誤差を検出し得るようにし、長尺材の穿孔位置不良などを未然に防止することができる長尺材の測長装置を提供する。 - 特許庁

Thereby, visibility of the substrate 1 for the magnetic recording medium is enhanced, sensing of the substrate for the magnetic recording medium by a ray such as a laser light is made easy and detection of a defect and the like is made easy in a surface appearance inspection step.例文帳に追加

これにより、磁気記録媒体用基板１の視認性が向上し、レーザ光などの光線による磁気記録媒体用基板の検知が容易になり、さらに、表面外観検査工程において欠陥などの検出が容易になる。 - 特許庁

Further, a plurality of the polarized-component signals different from each other that are detected by the polarized-light detector are compared in a plurality of chips or in an image in a predetermined region, and then a statistical outlier is inspected as a defect in the sample.例文帳に追加

更に、上記偏光検出部で検出される互いに異なる複数の偏光成分信号を複数チップ間あるいは所定領域の画像内で比較して、統計的な外れ値を試料上の欠陥として検査する。 - 特許庁

To provide a magnetic card reader and a magnetic card defect detection method capable of detecting that a magnetic card is defective when a folded or cracked magnetic card or a magnetic card to which a deposit adheres is used by a user.例文帳に追加

折れたり、ひび割れたりした磁気カード、或いは、付着物がついた磁気カードを顧客が使用したとき、磁気カードが不良であることを検出できる磁気カード読み取り装置、磁気カード不良検出方法を提供する。 - 特許庁

The electron beam emitted from an electron gun 11 is throttled narrow and scans a sample formed with a film and detects the defect existing inside the film of the sample by detecting the reflected electrons or the secondary electrons emitted from the scanning point.例文帳に追加

電子銃１１から放出された電子線を細く絞り、膜形成された試料上を走査し、走査点から放出された反射電子又は二次電子を検出して試料の膜内部に存在する欠陥を検出する。 - 特許庁

To provide a simple evaluation method for a defect of a fluoride crystal affecting an optical characteristic, a fluorite of high durability and transmittance required for a vacuum-ultraviolet lithography device or the like, and to provide a manufacturing method therefor.例文帳に追加

光学特性に影響を与えるフッ化物結晶の欠陥の簡便な評価法を提供し、特に真空紫外光リソグラフィ装置などに要求される高耐久・高透過率蛍石、及びその製造法を提供する。 - 特許庁