「Defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(295ページ目) - Weblio英語例文検索

Reconfiguring the TS signals improves the C/N deterioration to eliminate a defect of applying power amplification to deteriorated signals and retransmitting the amplified deterioration signals even on the occurrence of the deterioration in the signals on a propagation path or from the relaying apparatus.例文帳に追加

ＴＳ信号を再構成することにより、Ｃ／Ｎ劣化を改善し、これにより伝搬路上又は中継装置で信号の劣化が発生しても、これを電力増幅して再送出してしまうような不具合を解消する。 - 特許庁

When experiencing a defect in brake, one of the three-way valves 20 and 22 is switched into the second state and the brake system in downstream is exposed to atmosphere, so that a brake actuator 16 or 18 does not operate.例文帳に追加

そして、ブレーキ失陥を体験するときには、三方向バルブ２０及び２２の一方を第２の状態に切り替え、その下流に位置するブレーキ系統を大気開放してブレーキアクチュエータ１６又は１８が作動しないようにする。 - 特許庁

To provide a polyurethane urea resin adhesive that has a moderate adhesion power which the conventional polyurethane adhesives could never attain, by improving the defect, the poor removableness, of an acrylic resin adhesive.例文帳に追加

本発明はアクリル樹脂系粘着剤の再剥離性の不足という欠点を改善し、従来のポリウレタン樹脂系粘着剤では達成できなかった中粘着力を有するポリウレタンウレア樹脂粘着剤を提供するものである。 - 特許庁

For example, when linear defective patterns 1, 2 and cursor patterns 3, 4 are superimposed, a linear defect is easily distinguished from the cursor or the background picture because the linear defective pattern is superimposed through parts where the cursor pattern is cut off.例文帳に追加

例えば、線欠陥パターン１、２とカーソルパターン３，４を重ね合わせたときに、カーソルパターンが切れている部分を通して、線欠陥パターンを重ね合わせることができるために、線欠陥とカーソルまたは背景画面との区別がつきやすい。 - 特許庁

To provide a bonding SOI wafer manufacturing method with less defect density in an epitaxial layer in the case where epitaxial growth is performed on a surface of an SOI layer of a bonded wafer manufactured by using an ion implantation peeling method.例文帳に追加

イオン注入剥離法を用いて作製した貼り合わせウエーハのＳＯＩ層の表面上にエピタキシャル成長を行った場合に該エピタキシャル層の欠陥密度が少ない貼り合わせＳＯＩウエーハの製造方法を提供すること。 - 特許庁

To prevent a defect of an organic electroluminescent display device from being caused by contaminations in a laser transfer process by performing dry cleaning to eliminate the contaminations present on a transfer layer on a donor substrate.例文帳に追加

乾式洗浄を行い、ドナー基板の転写層上に存在する汚染物を除去することによって、レーザ転写工程中において汚染物による有機電界発光表示装置の欠陥を防止することを目的とする。 - 特許庁

When defect of warp is detected immediately after start operation of the loom, operation of the loom is continued and stop motion of the loom is started after a plurality of picks necessary for separation of the stopping bar from start operation of the loom pass through and the loom is kept in stopping state.例文帳に追加

織機の起動直後、経糸不良が検出された時に、織機の運転を継続し、織機起動時から停止段の離間に必要な複数ピックの経過後に織機の停止動作を開始し、織機を停止状態させる。 - 特許庁

The part having been unable to be acquired can efficiently be acquired because decode processing is applied to only the part unable to be acquired by applying again scan processing to the part unable to be decoded due to a temporary operation defect or the like of a scanner.例文帳に追加

スキャナ装置の一時的な動作不良などによって復号化できなかった部分について再度スキャン処理を行うことによって取得できない部分だけを復号化処理するので効率良く取得することができる。 - 特許庁

Further, a bead 9 is arranged on the center inside part 2c of one side of the part 2c to be scrap, in drawing, the inside part of the slit is not bent downward, thus, the defect in charging at a succeeding process is not generated.例文帳に追加

また、スクラップとなる部分２ａの一辺の中央部内側部分２ｃ上にビード９を設置して行うと、絞り成形時にスリットの内側部分が下方に折れ曲がらず、後工程での投入不良が発生しない。 - 特許庁

To provide a game machine causing no electric connection defect in opening/closing work of a door by surely connecting various types of control boards mutually, and capable of favorably retaining a control state by suppressing the generation of electromagnetic noise.例文帳に追加

各種制御基板同士を確実に接続してドアの開閉作業などに際して電気的接続不良を生じることがなく、電磁ノイズの発生を抑制して制御状態を良好に維持できる遊技機を提供する。 - 特許庁

For example, as shown in a microphotograph of Fig. 1, a cleavage surface of a DAST (4-dimethylamino-N-methyl-4-stilbazolium tosylate) crystal has a cleavage surface in a direction parallel to an axis (a) and parallel to a (001) plane and the linear defect exists here.例文帳に追加

例えば、図１の顕微鏡写真に示すように、ＤＡＳＴ結晶の劈開面は、ａ軸と平行方向および（００１）面と平行方向に劈開面を有しており、ここに前記直線状欠陥が存在する。 - 特許庁

To attain a defect inspection method for improving inspection sensitivity to a short circuit of the bottom between wirings and detecting even a pattern short circuit which is a miniaturized pattern at the bottom between a plurality of wirings arranged in parallel, by improving inspection sensitivity to a short circuit at the bottom between the wirings.例文帳に追加

配線間の底部のショートに対する検査感度を向上させ、微細化されたパターンであり、平行に並んだ複数の配線間の底部におけるパターンショートであっても検出可能な欠陥検査方法を実現する。 - 特許庁

In addition, because for a synthetic resin layer 51 covering a rail 45, the steel ground of the holder 22 is exposed excluding a thread separating portion, the defect that a needle thread is caught in a passage of reeling thread at the time of thread passing and thread is broken can also be prevented.例文帳に追加

さらに、軌条４５を被覆する合成樹脂層５１は、糸分け部を除いて、内かま２２の鋼地が露出しているので、糸越し時に糸道に上糸が引っかかってしまって、糸が切れるといった不具合も防止できる。 - 特許庁

Three-dimensional image data are obtained through operation from pieces of two-dimensional image data obtained by picking up an image more than one and the mean value of height, the volume, the plain-view shape, etc., of the cream solder 280 are found to detect a defect in printing.例文帳に追加

複数回の撮像による複数の２次元像データから演算により３次元像データを取得し、クリーム半田３８０の高さの平均値，体積，平面視の印刷形状等を求め、印刷不良を検出する。 - 特許庁

To provide a wireless communication system having different zones that eliminates a defect of impossibility of comparing and discriminating base station reception S/N levels among the different zones when base stations of the different zones receive a radio wave from a mobile station at the same time.例文帳に追加

異なるゾーンを有する無線システムにおいて、移動局からの電波を異なるゾーンの基地局が同一に受信したとき、異なるゾーン間の基地局受信Ｓ／Ｎレベルの比較判定ができない欠点を除去する。 - 特許庁

The dispersion compensation waveguides 5 is composed of an ordinary waveguide 6 and a photonic crystal defect waveguide 7 which is responsible for the dispersion compensation, and the length of every waveguide 7 is made different from one another so that the dispersion compensation amount is made different.例文帳に追加

分散補償導波路５は、通常導波路６と分散補償を担うフォトニック結晶欠陥導波路７で構成され、導波路７の長さを１本１本変えて、分散補償量を異ならせた構成とする。 - 特許庁

To provide a panel free from a display defect, wherein transition to bend alignment is easily and stably expanded to all pixels in the panel, after the transition to the bend alignment from a spray alignment of a pixel is generated.例文帳に追加

OCB方式の液晶表示装置において、走査信号線、映像信号線、共通電極配線等により、スプレイ配向からベンド配向への転移の広がりが止まってしまい、パネル内全ての画素が転移せず、未転移の画素が発生する。 - 特許庁

Also, the defect of cracking can be prevented from occurring in and near the stopper surface 12a without causing an increase in the weight of the front end structure of the vehicle and that in production cost by complicating the front end structure of the vehicle.例文帳に追加

また、車両の前端構造を複雑にして車両の前端構造の重量増及び製造原価上昇を招くことなく、ストッパ面１２ａ及びその近傍に亀裂が発生する等の不具合が生じることを防止できる。 - 特許庁

To provide a polyester film having a thickness of ≥50μm, suitable as a part of devices such as LCD, PDP, organic EL and projection display, free from optical defect and polarization unevenness and having good optical properties.例文帳に追加

ＬＣＤ、ＰＤＰ、有機ＥＬ、プロジェクションディスプレイなどの部材等に好適に用いられる厚み５０μｍ以上のポリエステルフィルムにおいて、光学欠陥や偏光ムラがなく、光学的性質に良好なポリエステルフィルムを提供する。 - 特許庁

To provide an illuminating device and an examining device for glass bottles that permit the optimal positioning of ring illumination for detecting any defect in the top face of a glass bottle mouth and examination of both the top face and the side face at the same examining station.例文帳に追加

ガラス壜の口天面の欠けを検出するためのリング照明を最適な位置に設置でき、口天面と口側面とを同一の検査ステーションで検査できるガラス壜の照明装置及び検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method and an apparatus for the inspection of a substrate and a cover glass, in which a defect such as a crack or the like on the substrate and a crack on the cover glass covering the substrate can be inspected without dispersion and without visually inspecting the substrate and the cover glass.例文帳に追加

基板のクラック等の欠陥、及び基板を覆うカバ−ガラスのクラックを、該基板及びカバ−ガラスを目視検査することなく、ばらつきなく検出できる、基板とカバ−ガラスの検査方法及び装置を提供することである。 - 特許庁

The use of the historical defect list enables to obtain accurately within a short period of time, a selection of each manufacturing process with defects, a variation of defects in the manufacturing process, and the analysis result of a growth process and the like.例文帳に追加

従って、かかる欠陥来歴リストを用いることにより、欠陥の発生した製造工程毎の選別や製造プロセスでの欠陥の変化，成長過程などの解析結果を短時間でかつ正確に得ることが可能となる。 - 特許庁

To provide an array substrate and an inspection method for efficiently finding a defect in a manufacture stage by addition of minimum inspection circuits and eliminating function decline as a finished product after an inspection is ended.例文帳に追加

最小限の検査回路の付加により製造段階での欠陥を効率的に発見すると共に、検査終了後には完成品としての機能低下を招くことのない、アレイ基板および検査方法の提供を目的とする。 - 特許庁

To provide an image processor and an image processing method capable of surely detecting a pixel defect that later occurs due to changes over time and temperature characteristics of an imaging element and the reflection of foreign matters attached to the imaging element.例文帳に追加

撮像素子の経時変化や温度特性により後発的に発生する画素欠陥及び撮像素子に付着した異物の写り込みを確実に検出することができる画像処理装置及び画像処理方法を提供する。 - 特許庁

As to a 1st PLL circuit for producing a wobble synchronizing clock synchronized with the wobble signal period, the constitution to hold the oscillating frequency is adopted on the header area (and defect area), etc., where the appropriate wobble signal is not to be obtained.例文帳に追加

ウォブル信号周期に同期したウォブル同期クロックを生成する第１ＰＬＬ回路について、適正なウォブル信号が得られないとされるヘッダ領域（及びディフェクト領域）などでは、その発振周波数をホールドする構成を採る。 - 特許庁

When the reception defect occurs, the program is continuously viewed by selecting and switching a channel having the same channel number with the branch number for a different broadcasting signal to be transmitted from the different transmission equipment.例文帳に追加

受信不良状態が発生した場合には、異なる送出設備から送出される放送信号の異なる枝番をもつ同一のチャンネル番号のチャンネルを選局切り換えることで継続した番組視聴が可能となる。 - 特許庁

To provide an internal defect detecting method for a structure requiring no new expense for heating or cooling, dispensing with a technique for uniform heating or cooling, and hardly generating a detection error even in a very small temperature difference.例文帳に追加

加熱・冷却のために新たな費用を必要とせず、また均一加熱もしくは冷却のための技術も不要であり、かつ、わずかな温度差であっても検出誤差が生じにくい、構造体内部欠陥の検出方法を提供する。 - 特許庁

To provide a defect inspection device of a high resolution realizing the increase of inspection speed in a technology of inspecting defects of patterns, foreign matters, remnants, steps or the like on a wafer in the course of manufacturing process by electron beams.例文帳に追加

半導体装置の製造過程にあるウェハ上パターンの欠陥、異物、残渣および段差等を電子ビームにより検査する技術において、高分解能で、かつ検査速度の高速化を実現する欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

In the case of forming a thin film transistor, impurities are implanted to the crystallized silicon film and after that, heat treatment is performed on the crystallized silicon film, whereby a defect density in a channel formation region is reduced and the doped impurities can be activated.例文帳に追加

薄膜トランジスタを作製する場合には、結晶化された珪素膜に不純物をドーピングした後に、加熱処理を行うことで、チャネル形成領域の欠陥密度を減らし、ドーピングされた不純物を活性化させることができる。 - 特許庁

In a process 16, while using the defect distribution which is determined as a function of film thinning quantities in the process 15, TDDB at an arbitrary voltage and an arbitrary temperature are predicted concerning the insulating film of an arbitrary area.例文帳に追加

過程１６は、過程１５で薄膜化量の関数として確定された欠陥分布を用いて、任意の面積の絶縁膜について任意の印加電圧及び任意の温度における経時絶縁破壊特性を予測する。 - 特許庁

To specify a defect position without wrong detection from an image taken in first magnification, and to enable imaging in second magnification, in a method for observing many defects in a short time by using an image acquisition means, concerning defects of a sample.例文帳に追加

試料上の欠陥を，画像取得手段を用いて短時間に多数の欠陥観察を行う方法において，第１の倍率で撮像した画像から誤検出なく欠陥位置を特定し，第２の倍率での撮像を可能とする。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a wafer carrier whose structure is improved so that not only the carrier has an excellent abrasion resistance and a remarkably extended use life but also it avoids occurrence of a defect at edges of a wafer when the wafer is subjected to both-side polishing operation.例文帳に追加

耐摩耗性に優れて使用寿命が画期的に延びるだけでなく、ウェーハの両面研磨時にウェーハのエッジに欠陥が発生しないようにその構造が改善されたウェーハキャリアの製造方法を提供する。 - 特許庁

In the above case, even when a defect (a wear or a deformation) is detected in any of the plurality of contact probes 26, it is enough to replace a unit including the defective contact probe 26 so that the maintainability can be improved as compared to the existing ones.例文帳に追加

この場合、複数のコンタクト・プローブ２６のいずれかに不良（摩耗、変形）が発見されても、該不良のコンタクト・プローブ２６が含まれるユニットのみを交換すれば良いため、従来よりもメンテナンス性を向上させることができる。 - 特許庁

The two-dimensional photonic crystal 3 is so disposed that a space is formed between the photonic crystal 3 and an upper face of the core 11, and that the defect waveguide part 96 and the core 11 are parallel one over the other, and are bonded to upper faces of the pedestals 2 at a normal temperature.例文帳に追加

２次元フォトニック結晶３は、コア１１の上面との間に空間が形成され、かつ欠陥導波路部９６とコア１１が上下に平行に重なるように配置され、台座２の上面に常温接合されている。 - 特許庁

The drawing force generating in molding is absorbed by the ductile adhesive 6 and alleviated to prevent distortion, cracks from being caused on the printed layer 3 or defect such as deterioration or the like of image density of the drawn part from being caused.例文帳に追加

成形時に発生する延伸力は、上記延性接着剤６によって吸収緩和され、印刷層３に歪みやひびわれ、あるいは延伸部分の画像濃度の低下等の欠陥が生ずることが防止される。 - 特許庁

When it is detected by a quantity of light sensor 79 that the light emitting element of the light emitting element array Lb has the pixel defect, light emission of the light emitting element array Lb is stopped by a Y driver 77, and the light emitting element array Lb is made a spare array.例文帳に追加

光量センサ７９により発光素子列Ｌｂの発光素子に画素欠陥があることが検出されると、Ｙドライバ７７により発光素子列Ｌｂの発光を停止させ、発光素子列Ｌｂを予備列とする。 - 特許庁

The seeping of the sealing material toward the display area Dd in joining substrates is suppressed with the parallel detouring part 7a, and a malfunction of display defect production caused by access of the seeping to the display area Dd is prevented.例文帳に追加

この平行迂回部分７ａにより、基板接合時におけるシール材料の表示領域Ｄd に向かう沁み出しが抑制され、沁み出しが表示領域Ｄd に進入して表示不良を発生させる不具合が防止される。 - 特許庁

The light irradiated the surface to be inspected of the laminate substrate and reflected therefrom is captured, and in a photography image which is thus obtained, a difference in the light and shade of the contrast for the background is distinguished, thus deciding the existence of a void defect.例文帳に追加

貼り合わせ基板の被検査面に照射した光の該被検査面からの反射光を捕捉し、得られた撮影像において、バックグラウンドに対するコントラストの濃淡の違いを識別することにより、ボイド欠陥の有無を判定する - 特許庁

To obtain a sound cast slab in which pushing flaw on the cast slab caused by a seal material, such as an expand metal, whisker-state iron powder, used in the unsteady part at the starting time of continuous casting and a joint part of different kinds of steels, etc. is eliminated and the surface defect is not developed.例文帳に追加

連続鋳造の開始時や異鋼種の継ぎ目等の非定常部で使用されるエキスパンドメタル、ウィスカー状鉄粉などのシール材に起因する鋳片での押し込み疵をなくし、表面欠陥のない健全な鋳片を得る。 - 特許庁

Thereby, the block of the FM for which the write instruction for "all zero" has been issued is kept in an erasure state (all one (ALL FFh)), so that the block can be used for relief of a defect block or for writing of data other than "all zero".例文帳に追加

これによって、オールゼロの書き込み命令がなされたＦＭのブロックを消去状態（オールイチ（ＡＬＬ ＦＦｈ））に保てるため、このブロックを、不良ブロックの救済用や、オールゼロ以外の書き込み用で使用することができる。 - 特許庁

To provide an optical pickup device in which the gap between the end face of an optical head such as an SIL or the like and an optical recording medium is stably held in an approximately constant manner even though a recessed and projected section caused by a defect or the like exists on the optical recording medium.例文帳に追加

光記録媒体上にあるデフェクト等による凹凸部が存在しても、ＳＩＬなどの光ヘッド部の端面と光記録媒体との間のギャップを安定して略一定に保持する光学ピックアップ装置を提供する。 - 特許庁

To provide a double chamber container for medical treatment which obviates the occurrence of a sealing defect and pinhole, substantially prevents a medicine housed in a medicine chamber from changing in properties such as moisture absorption and oxidation, even if it is preserved for a long time, and can be easily manufactured.例文帳に追加

複室容器にシール不良やピンホールが生じたり、長期間保存しても薬剤室に収容された薬剤が吸湿や酸化等の変質を受けにくく、製造が容易な医療用複室容器を提供する。 - 特許庁

To provide a highly reliable semiconductor device, having a lamination structure of an insulation film, an adjacent electrically conductive film and a main electrically conductive film, which suppresses the occurrence of defect as exfoliation, cracking or the like in the lamination structure and the occurrence of voids or disconnections due to migration.例文帳に追加

絶縁膜と隣接導電体膜と主導電体膜との積層構造を有する半導体装置において、積層構造でのはく離、クラック等の欠陥を生じにくい信頼性の高い半導体装置を提供する。 - 特許庁

(i) In the case where a consumer contract provides that the business operator is responsible to deliver substitute goods without defects or repair the subject when there exists a latent defect in the material subject of the consumer contract 例文帳に追加

一　当該消費者契約において、当該消費者契約の目的物に隠れた瑕疵があるときに、当該事業者が瑕疵のない物をもってこれに代える責任又は当該瑕疵を修補する責任を負うこととされている場合 - 日本法令外国語訳データベースシステム

To provide an intelligent ultrasonic flaw detection system by utilizing a neural network that automatically inspects defect of an object to be inspected with the analysis of an ultrasonic pulse echo waveform from the object.例文帳に追加

本発明の課題は、検査対象物からの超音波のパルスエコー波形の分析により、自動的に検査対象物の欠陥等を検査することが可能なニューラルネットワークを利用した知能化超音波探傷システムを提供することにある。 - 特許庁