Defectを含む例文一覧と使い方
該当件数 : 18303件
To correctly and rapidly specify a suspected part with a fault by detecting a defect which is experienced by a user.例文帳に追加
本発明は、ユーザが体験する不具合を検出でき、障害の被疑箇所の特定を正確かつ迅速に行うことができる故障検出システム及びその故障検出装置及びマネージャ装置及びセンタ装置を提供することを目的とする。 - 特許庁
To provide a mirror electron projection type ( including an MPJ type (also including an SEPJ type)) electron beam inspection device which is made possible to optimize a condition and a pattern defect inspection method and system by using the above electron beam inspection device.例文帳に追加
条件出しができるようにした写像投影型(MPJ型(SEPJ)型も含む))電子線検査装置並びにこれら電子線検査装置を用いたパターン欠陥検査方法及びそのシステムを提供することにある。 - 特許庁
To form a mounted board which has low resistivity and is highly reliable without a defect of short-circuiting between electrodes, even when a resin circuit board of a poor flatness of the board itself naturally is mounted with a semiconductor device with a short distance between electrode terminals.例文帳に追加
元々基板自体の平坦度の悪い樹脂回路基板と電極端子間の距離が短い半導体装置を実装する場合でも、電極間ショート欠陥をなくして低抵抗で信頼性の高い実装体を形成する - 特許庁
In one embodiment, this light-emitting element contains a substrate, a nucleating layer arranged on the substrate, a defect-reducing structure arranged above the nucleating layer, and an n-type group III nitride semiconductor layer arranged above the structure.例文帳に追加
一実施形態において、発光素子は、基板、基板上に配置された核形成層、核形成層の上方に配置された欠陥低減構造、及び、欠陥低減構造の上方に配置されたn型III族窒化物半導体層を含む。 - 特許庁
To provide a method of accurately detecting a defect in a short time even if a component being an inspecting object is a component having a complicated shape or a component having a plurality of kinds of defects.例文帳に追加
検査対象となる部品が複雑な形状を有する部品であったり複数種類の欠陥を有する部品であったりしても、短時間で精度良く欠陥を検出することができる欠陥検出方法を提供すること。 - 特許庁
To provide a high strength porous body to obtain a metal ceramic composite material by a pressure infiltration method, and to manufacture a metal-ceramic composite material which is inexpensive and has high rigidity without causing crack, the formation of a metal-enriched layer or infiltration defect.例文帳に追加
加圧浸透法により金属−セラミックス複合材料を得るための高強度の多孔体を提供し、クラックやメタルリッチ層、浸透不良が生じず、低コストで剛性の高い金属-セラミックス複合材料の作製を可能とする。 - 特許庁
(II) Cases in which the buyer may request the goods received be exchanged for other goods If there are any defects in the delivered goods which are traded in the market, the buyer may demand the exchange of such goods for defect-free products. 例文帳に追加
(2)買主が落札商品を他の商品と交換してもらうことができる場合市場に流通している商品で引き渡した商品に欠陥がある場合等で、買主は欠陥のない商品との交換を主張できる。 - 経済産業省
Specifically, if a user demands the Vendor fulfill its obligations within a specified (reasonable) time period, which is reasonable, and if the Vendor fixes the program.s defect or provides a functioning replacement within the specified period, then the user may not terminate the contract. 例文帳に追加
したがって、ベンダーに対し、相当の期間を定めて履行を催告し、これに対してベンダーからその期間内にプログラムの修補又は代物の提供がなされた場合は、契約を解除することはできないと解される。 - 経済産業省
To provide a gas hardening mold or a self-hardening mold with which sufficient strength is realized before using the mold and excellent collapsibility is displayed after using the mold and also, the development of gas defect in a casting can advantageously be restrained.例文帳に追加
使用前においては充分な強度を実現し、且つ使用後においては優れた崩壊性を発揮すると共に、鋳物におけるガス欠陥の発生を有利に抑制し得るガス硬化鋳型又は自硬性鋳型を提供すること。 - 特許庁
To provide a defect inspecting device for an electronic circuit extensively reducing costs by using an inexpensive component that can be used in various types of ICs many times instead of conventional sockets used per respective IC.例文帳に追加
従来のような個々のIC毎に使用するソケットに代えて、多種類のICに何度でも使用できる安価な部品を使用することで、コストを大幅に低減できるようにした電子回路の欠陥検査装置を提供するものである。 - 特許庁
To solve a problem of defect being generated due to the lack of a tapered part pressed by a polishing cloth and to prevent peeling from the tapered part when performing mirror polishing of SOI wafer having a bonding interface on the tapered part of a bevel surface.例文帳に追加
ベベル面のテーパー部に接着界面を有するSOIウェーハの鏡面研磨を行っていく上で、研磨布に押圧されたテーパー部が欠落して不良が発生する問題を克服し、テーパー部からの剥離を防ぐこと。 - 特許庁
To provide a wet honing method capable of suppressing the generation of the aggregate of an abrasive material due to the scale in a polishing liquid and sufficiently suppressing the occurrence of depression defects and honing flaws to be the cause for a coating film defect.例文帳に追加
研磨液中の水垢に起因する研磨材凝集物の発生を抑制し、塗膜欠陥の原因となる凹み欠陥、ホーニング傷の発生を十分に抑制することが可能な湿式ホーニング方法を提供すること。 - 特許庁
To provide an image forming method and an image forming apparatus preventing an image defect such as central blanking or character scattering by improving the transferability of toner in an image forming system using an intermediate transfer body.例文帳に追加
本発明は、中間転写体を用いた画像形成方式のトナーの転写性を改善し、中抜けや文字チリ等の画像欠陥を発生させない画像形成装置、画像形成方法を提供することを課題目的にする。 - 特許庁
Hereby, the shape of the specific circuit wiring can be sought, or a defect such as a disconnection, a short-circuit or a chipping of the circuit wiring 101 can be detected based on the generated image data and image data for showing the circuit wiring in design.例文帳に追加
これにより、特定の回路配線の形状を探したり、生成された画像データ及び設計上の回路配線を示す画像データに基づいて、回路配線101の断線、短絡、欠け等の不良を検出したりできる。 - 特許庁
The distinction between the loss of consideration which a person may rightly incur by defect of prudence or of personal dignity, and the reprobation which is due to him for an offence against the rights of others, is not a merely nominal distinction. 例文帳に追加
ある人が思慮分別や個人的尊厳の欠如によって当然敬意を払われなくなることと、他人の権利を侵害したために当然受けるべき非難との間の区別は、単に名目上の区分というわけではありません。 - John Stuart Mill『自由について』
The metal ring inspection apparatus having a defect inspection section for inspecting the surface defects of a metal ring after performing both of or one of perimeter correction and perimeter measurement comprises a determination reference generation means (threshold value selection section 49) for generating generating criteria for inspecting defects at the defect inspection section, on the basis of perimeter correction information or perimeter measurement information or other pieces of information related to the information.例文帳に追加
周長補正と周長測定の両方又はいずれか一方を行った後の金属リングの表面欠陥を検査する欠陥検査部を有する金属リング検査装置において、前記欠陥検査部における欠陥検査のための判定基準を、周長補正情報又は周長測定情報若しくはそれらの情報に密接に関連する他の情報に基づいて発生する判定基準発生手段(しきい値選択部49)を備えたことを特徴とする。 - 特許庁
The invention includes a defect diagnosis means 5 which diagnoses the defect state of the reforming apparatus by calculating the temperature difference between temperature of the reforming apparatus measured by a temperature sensor 6 for measuring the reforming apparatus and temperature of an outlet of burner burning exhaust gas reforming apparatus detected by a temperature sensor 47 for detecting an outlet temperature of reforming burner burning exhaust gas reforming apparatus, and combining the temperature difference with predetermined reference data.例文帳に追加
本発明は、改質装置温度測定用温度センサ6により検出した改質装置温度と改質装置バーナ燃焼排ガス改質装置出口温度測定用温度センサ47により検出した改質装置バーナ燃焼排ガス改質装置出口温度の温度差を演算し、この温度差を予め決められた照合データと照合することによって改質装置の劣化状態を診断する劣化診断手段5を有することを特徴とするものである。 - 特許庁
To suppress an operation defect and an image defect due to production of a toner aggregate accompanying toner liquid replenishment by preventing toner aggregation by improving dispersibility and fluidity of supplied toner liquid when the toner liquid is supplied from a toner container to a liquid developer tank, maintaining and improving mixing property with a liquid developer in a developing tank, and maintaining and improving toner liquid replenishing property by preventing a duct from being clogged with the toner aggregate.例文帳に追加
トナー液をトナーコンテナから現像液タンクに補給する際に、補給されるトナー液の分散性・流動性を高めてトナー凝集を防いで、現像液タンクにおける現像液との混合性の維持・向上や、トナー凝集物による管路の目詰まりを防いでトナー液補給性の維持・向上等を図り、トナー液補給に伴うトナー凝集物の生成に起因する動作不良や画像不良の発生を抑えた画像形成装置を提供することを目的とする。 - 特許庁
An optical information recording and reproducing apparatus using holography includes an optical pickup, a phase conjugate optical system, a disc cure optical system, and a defect discrimination optical system; and an optical detector that receives light emitted from the defect discrimination optical system and transmitted through or reflected from an optical information recording medium.例文帳に追加
そのため、光情報記録媒体についたゴミや傷、もしくは光情報記録媒体の内部にある、気泡や不純物等の欠陥の有る位置で記録や再生を行おうとすると、欠陥や光情報記録媒体、光情報記録再生装置による光の拡散、反射により記録再生位置近辺の記録媒体が変質してしまい記録可能量の低下といった影響を与えてしまう、そのため欠陥部分での記録や再生は情報記録媒体の信頼性を低下させる。 - 特許庁
To provide an on-vehicle network apparatus capable of avoiding the occurrence of system-down of a whole vehicle on the occurrence of a defect in a gateway unit and allowing the vehicle to continue driving while continuing the control unchanged from that in a ordinary state with respect to the driving.例文帳に追加
ゲートウェイユニットに不具合が発生した場合に、車両全体のシステムダウンを回避するとともに、走行に関して通常時と変わらぬ制御を持続して走行を続けることが可能である車載ネットワーク装置を提供すること。 - 特許庁
To make it possible to carry out re-bonding quickly and easily without a defect even if there exists a fragile structure below or a low heat-resistant component in the vicinity, by improving the correcting method of the solder bonding for electric wiring of a minute electronic device.例文帳に追加
微小な電子デバイスの電気配線用ソルダーボンディングの修正方法を改良して、下方に脆弱な構造物が有ったり、付近に耐熱性の低い部品が有ったりしても、不具合無く、迅速容易に再ボンディングできるようにする。 - 特許庁
To provide a color filter manufacturing method and a defect removing apparatus for a color filter, capable of removing defects, irrespective of the kind and size of defects, and then, capable of manufacturing a color filter with sufficient yield.例文帳に追加
本発明は、欠陥の種類および大きさによらず除去することが可能であり、歩留まり良くカラーフィルタを製造することができるカラーフィルタの製造方法およびカラーフィルタの欠陥除去装置を提供することを主目的とするものである。 - 特許庁
The sliding bearing bush (2) and the pin (5) are vibrating mutually and relatively with the axial line (9) for prescribed time and with a prescribed force and mutually moved, and the sliding bearing bush (2) is inspected, after loading test regarding the defect of the sliding layer (3).例文帳に追加
滑り軸受ブッシュ(2)とピン(5)とがブッシュ軸線(9)と互いに相対的に所定時間に所定力によって振動するよう互いに移動され、そして滑り軸受ブッシュ(2)が負荷テスト後に滑り層(3)の損傷に関して検査される。 - 特許庁
To provide a developer quantity control blade making an excellent image obtainable, and preventing the image defect from occurring even after a printing endurance, even when the image formation processing in the image forming device of an electrophotographic system or an electrostatic recording is made speeding up.例文帳に追加
電子写真方式や静電記録の画像形成装置における画像形成処理が高速化しても、良好な画像を得ることができ、かつ印刷耐久後にも画像不良を起こさない現像剤量規制ブレードを提供すること。 - 特許庁
To solve problems that a step of arraying a first mask step and a second mask step is not easy and a defect is caused when a double patterning step for overcoming the limit of resolution of exposure equipment is performed in a fine pattern forming method of a semiconductor device.例文帳に追加
半導体素子の微細パターン形成方法に関し、露光装備の解像度の限界を克服するため二重パターニング(Double Patterning)工程を行うことにおいて、第1マスク工程と第2マスク工程を整列する工程が容易でなく不良が発生する。 - 特許庁
To provide an easily introducible image input method and its device eliminating the existence of a moving mechanism, improving the speed of response and reducing power consumption, and a surface defect detecting device for detecting minute irregularities on a surface.例文帳に追加
移動機構を廃し、応答速度向上および消費電力の削減を行ない、また、容易に導入可能な画像入力方法およびその装置、さらには表面の微小凹凸を検出可能な表面欠陥検出装置を提供すること。 - 特許庁
The apparatus 10 uses a cross-scan filter, it filters a signal reflected from the surface S of the workpiece in a cross-scan direction, and it efficiently removes an important noise part in the reflected signal used to detect the defect of the workpiece W.例文帳に追加
該装置10は、クロススキャン・フィルタを使用して、クロススキャン方向において、該ワークピース表面Sから反射された信号をフィルタし、該ワークピースWの欠陥を検出するために使用される反射信号の重大なノイズ部分を効率的に除去する。 - 特許庁
The server device 3, receiving the vehicle information and the dialogue information, performs driving diagnosis processing by excluding the vehicle information detected while a defect is detected in the vehicle, on the basis of the vehicle information and the dialogue information.例文帳に追加
そして、車両情報およびダイアグ情報を受信したサーバ装置3は、車両情報およびダイアグ情報をもとに、車両の不具合が検出されているときに検出された車両情報を除外して運転診断処理を行う。 - 特許庁
To provide a method of evaluation of perfume for evaluating the aptitude of a perfume based on the change of the brain blood flow during eating or smelling the meal added with the perfume by solving the defect based on the function evaluation etc., by using the optical topography.例文帳に追加
官能評価等に基づく欠点を解決し、光トポグラフィ装置を使用し、香料を添加した飲食物を飲食または嗅いだときの脳血流の変化に基づいて香料の適性を評価する香料の評価方法を提供すること。 - 特許庁
At this time, on the surface side of the substrate, the epitaxial growth proceeds by a CVD method, the gas of SiC sublimated from the vicinity 12b of the back surface of the substrate is recrystalized in the vicinity 12a of the surface of the substrate and the micropipe defect 11 is clogged.例文帳に追加
そして、基板表面側はCVD法によりエピタキシャル成長が進行しており、基板裏面近傍12bから昇華したSiCの昇華ガスは、基板表面近傍12aにて再結晶化し、マイクロパイプ欠陥11が閉塞する。 - 特許庁
To provide a defect-inspecting apparatus that dispenses with the rotating mechanism of a color filter inside a camera, eliminates the rotation waiting time of the filter, minimizes image capturing and image data transfer of a high-resolution camera, and reduces the inspection time.例文帳に追加
カメラ内部にカラーフィルタの回転機構を不要にして、フィルタの回転待ち時間が無くなるようにすると共に、高解像度カメラの画像撮像と撮像データ転送は最小限にし、検査時間の短縮を実現した欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁
The article 62 is then inspected under ultraviolet rays 72, a very fine defect incapable of being detected by naked eyes unless it is detected by ultraviolet rays is confirmed as a repair-needing region, and a repair alloy 76 is automatically and/or manually applied on the region.例文帳に追加
次に、物品62を紫外線72の下で検査し、紫外線によらなければ肉眼では検出できない非常に細かな欠陥を要補修領域として確認し、これらの領域に補修合金76を自動及び/又は手動施工する。 - 特許庁
To provide scarfing equipment for billet which is provided with a roller 7 on the side of a nozzle unit facing a billet 20 and can prevent the damage of a shoe and the defect on steel product surfaces caused by the contact of the shoe 3 and the billet 20.例文帳に追加
ノズルユニットの鋼片20に面する側にローラー7を設けた鋼片の溶削装置において、シュー3と鋼片20との接触に起因するシューの損傷や鋼材表面欠陥を防止することのできる鋼片の溶削装置を提供する。 - 特許庁
The zigzag defect 15c is irradiated with light at a wavelength the alignment layer can absorb, so as to be heated up to a temperature equal to or higher than the phase transition temperature of an SmA phase, and then gradually cooled to a temperature equal to or lower than the phase transition temperature of the SmC phase.例文帳に追加
グザグ欠陥部15cに対して配向膜が吸収可能な波長の光を照射してSmA相の相転移温度以上の温度まで加熱した後に、SmC相の相転移温度以下の温度まで、徐々に降温させる。 - 特許庁
When the occurrence of a valve closure defect in the hot water feed valve 14 is detected by a float switch 12, the drain valve 20 is opened and water is drained and the hot water feed valve 14 is driven to be forcibly opened and closed several times for several seconds each.例文帳に追加
給湯弁14に閉弁不良が生じたことがフロートスイッチ12によって検知されると、排水弁20が開弁されて排水されるとともに、給湯弁14が数秒ずつ数回にわたって強制的に開閉駆動される。 - 特許庁
To provide a lead frame continuum and a manufacturing method of lead frames in which an easily manufacturable dot group having high read accuracy is formed in each lead frame or a lead frame group and a defect of lead frames produced, especially, on a reel-to-reel basis is found early.例文帳に追加
読み取り精度が高くしかも製造も容易なドット群を各リードフレーム又はリードフレーム群に形成し、特に、リールトゥリールで生産されるリードフレームの不良を早期に発見するリードフレーム連続体及びリードフレームの製造方法を提供する。 - 特許庁
To improve detection accuracy of short circuit accident more than conventional one by adapting this invention to an image display of an active matrix type by an organic EL element, in an image display, a defect detecting method, and a short circuit accident restoring method.例文帳に追加
本発明は、画像表示装置、欠陥検出方法及び短絡事故の修復方法に関し、例えば有機EL素子によるアクティブマトリックス型の画像表示装置に適用して、短絡事故の検出精度を従来に比して向上する。 - 特許庁
In a defect detecting test of a magnetic disk about one embodiment, after data are written in an object data track (DTr_m, DTr_1), data are written in adjacent data track (DTr_m-1, DTr_1+1), and data are read out from the object data track.例文帳に追加
本発明の一形態にかかる磁気ディスクの欠陥検出テストは、対象データ・トラック(DTr_m、DTr_l)にデータを書き込んだ後に隣接データ・トラック(DTr_m−1、DTr_l+1)にデータを書き込み、そして、対象データ・トラックを読み出す。 - 特許庁
To provide an electron beam exposure mask of a constitution, wherein the exposure mask is provided with a plurality of split masks and even though a defect is caused in the split masks, a required pattern can be exposed by an electron beam exposure, an exposure method using this mask and an aligner.例文帳に追加
複数の分割マスクを配設した露光用マスクにおいて、分割マスクに欠陥が生じていても所要のパターンを電子線露光により露光することが可能な電子線露光用マスクと露光方法及び露光装置を提供する。 - 特許庁
When one sub light emitting element EL1 has a short-circuit defect, this is disconnected from the pixel 2 and the remaining sub light emitting element EL2 is supplied with the driving current to continue to emit light with the luminance corresponding to the video signal.例文帳に追加
一つのサブ発光素子EL1に短絡欠陥がある場合、これを画素2から切り離して、駆動電流を残りのサブ発光素子EL2に供給し、以って残りのサブ発光素子EL2で映像信号に応じた輝度の発光を維持する。 - 特許庁
To provide an inkjet recording material which has excellent ink absorption/color development properties and also excellent coating properties demonstrated by the low incidence of bleeding and a defect-free surface without generated fine cracks under high humidity circumstances, when an aqueous dye ink is used for printing.例文帳に追加
水性染料インクで印字したときのインク吸収性、発色性に優れ、高湿環境下での滲みの発生が少なく、更に微細な亀裂が生じず表面欠陥のない塗布性に優れたインクジェット記録材料を提供すること。 - 特許庁
To provide a method capable of stably manufacturing a single crystal in which the total surface in a crystal diameter direction is a defect-free region over the total range of the crystal growth axis direction when the single crystal is grown by a CZ method.例文帳に追加
CZ法により単結晶を育成する際に、結晶成長軸方向の全域に渡って結晶径方向の全面が無欠陥領域となる単結晶を安定して製造することのできる単結晶の製造方法を提供する。 - 特許庁
To provide a display medium or a display device for suppressing deterioration of images due to long period preservation by suppressing lowering of display contrast and occurrence of display defect due to lack of charged particles capable of drive and having excellent display responsiveness.例文帳に追加
駆動可能な帯電粒子の不足による表示コントラストの低下および表示欠陥の発生を抑制し、表示応答性が良く、且つ長期保存による画像の劣化を抑制することができる表示媒体または表示装置を提供すること。 - 特許庁
To provide a method for manufacturing a transfer mask (stencil mask) that reduces a defect of a warpage caused in a transfer mask fabricated by using an SOI wafer due to a compressive stress of an etching stopper layer and has excellent transfer accuracy.例文帳に追加
SOIウェハを用いて作製される転写マスク(ステンシルマスク)に発生するエッチングストッパ層の圧縮応力に起因した反りという転写マスクの欠陥を低減し、優れた転写精度を有する転写マスクの製造方法を提供する。 - 特許庁
To provide an electronic apparatus equipped with an active matrix display device, in which the occurrence of an invisible defect caused by an electrostatic discharge damage of a dummy pixel region formed on the periphery of an effective display region is avoided, and as a result, production yield is improved.例文帳に追加
有効表示領域周辺に形成されたダミー画素領域の静電破壊により、視覚されない不良となることを回避し、生産効率を向上したアクティブマトリクス表示装置を具備してなる電子機器を提供することを課題とする。 - 特許庁
To provide an NAND type flash memory semiconductor device that suppresses an increase in the inverted leakage of a HV type transistor while suppressing the generation of a crystalline defect in an LV type transistor of a peripheral circuit, and also to provide a method of controlling the semiconductor device.例文帳に追加
周辺回路部のLV系トランジスタでの結晶欠陥の発生を抑制しつつ、HV系トランジスタでの反転リークなどの増加を抑制できるようにするNAND型フラッシュメモリの半導体装置と製造方法を提供する。 - 特許庁
To prevent problems such as abnormal shutdown of the device or generation of defect products etc., and to realize a power save operation even when manufacturing products with various lengths.例文帳に追加
長短が混在する線長を呈する製品を製造する場合であっても、装置の異常停止又は製品不良等の不具合の発生を未然に抑制しながら、省電力運転を実現し得る自動切断圧着装置を提供することをを課題とする。 - 特許庁
To provide a semiconductor device capable of improving characteristics in a transistor with a strain silicon layer as a channel region by forming the high-quality strain silicon layer, where a crystalline defect is reduced on a silicon germanium layer, and to provide a method for manufacturing the semiconductor device.例文帳に追加
シリコンゲルマニウム層の上に結晶欠陥を低減した高品質の歪みシリコン層を形成することにより、歪みシリコン層をチャネル領域とするトランジスタの特性を改善できる半導体装置及び半導体装置製造方法を提供する。 - 特許庁
To provide an electrophotographic photoreceptor which can form a film hardly causing irregularity of film thickness or film quality with respect to a cylindrical base body, can suppress the generation of film stripping and hardly causes image irregularity and a microscopic image defect at a low cost.例文帳に追加
円筒状基体に対して膜厚や膜質のムラの少ない膜を形成できるようにするとともに膜剥がれが生じることを抑制し、画像ムラや微小な画像欠陥の少ない電子写真感光体を低コストで提供できるようにする。 - 特許庁
To provide an aqueous dispersion for chemical mechanical polishing which has both a high polishing speed and high flattening characteristics and reduces metal contamination of a wafer without causing a defect on a metal film nor insulating film, and to provide a chemical polishing method using the aqueous dispersion.例文帳に追加
金属膜や絶縁膜に欠陥を引き起こすことなく、高い研磨速度と高平坦化特性を両立し、ウエハの金属汚染の少ない化学機械研磨用水系分散体、およびそれを用いた化学機械研磨方法を提供する。 - 特許庁
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原題:”On Liberty” 邦題:『自由について』 | This work has been released into the public domain by the copyright holder. This applies worldwide. Copyright on Japanese Translation (C) 2004 Ryoichi Nagae 永江良一 本翻訳は、この著作権表示を付すかぎりにおいて、訳者および著者に一切断ることなく、商業利用を含むあらゆる形で自由に利用し複製し配布することを許諾します。 改変を行うことも許諾しますが、その場合は、この著作権表示を付すほか、著作権表示に改変者を付加し改変を行ったことを明示してください。 |
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