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Defectを含む例文一覧と使い方

該当件数 : 18303件



例文

To provide a manufacturing method of a piezoelectric vibrating element capable of preventing a frequency adjustment defect due to inflow of an adhesive into a vibration portion during bonding and fixation of a partition plate to a piezoelectric wafer having a plurality of vibration portions formed.例文帳に追加

複数の振動部を形成した圧電ウェハに仕切板を接着固定する際の接着剤が振動部に流入することにより発生する周波数調整不良を防止できる圧電振動素子の製造方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

By combining the design intention information 6 and the hot spot information 7, an inspection place of high occurrence possibility of systematic defects with respect to the characteristic of the semiconductor integrated circuit, and the defect inspection time can be significantly shortened.例文帳に追加

これら設計意図情報6とホットスポット情報7を組み合わせることによって、半導体集積回路の特性に対して、システマティックな欠陥が発生可能性の高い検査場所を限定し、欠陥検査時間を大幅に短縮することができる。 - 特許庁

To obtain a multi-junction solar cell capable of having high power generation efficiency by forming a solar cell less having a crystal defect by relieving stress due to a difference in lattice constant with respect to a lattice mismatch type multi-junction solar cell.例文帳に追加

格子不整合系の多接合型太陽電池において、格子定数の差に起因した応力を緩和して結晶欠陥の少ない太陽電池セルを形成し、高い発電効率を得ることが可能な多接合型の太陽電池を得ること。 - 特許庁

To provide a display apparatus having a superior characteristic such as high precision in durability by using an insulating base of a tape-carrier semiconductor package which has high elasticity and mechanical strength, and which does not cause distortion and connection defect due to thermal history.例文帳に追加

高い弾性率と機械的強度を有し、熱履歴による歪や接続不良を起こさないテープキャリア型半導体パッケージの絶縁基材を使用することで、耐久性で高精度などの優れた特性を有する表示機器を提供する。 - 特許庁

例文

To provide a method of evaluating an epitaxial wafer capable of detecting, with high sensitivity, defects resulting from dislocation, fine crystalline defect, and polishing which occurs on the surface of an epitaxial layer formed on an epitaxial wafer, and to provide a method of manufacturing the epitaxial wafer.例文帳に追加

エピタキシャルウェーハに形成されたエピタキシャル層の表面に生じる、転位や微細な結晶欠陥や研磨に起因した欠陥をより高感度に検出できるエピタキシャルウェーハの評価方法及びエピタキシャルウェーハの製造方法を提供する。 - 特許庁


例文

The machine base control part 96 determines whether or not to allow the piecing device 92 to perform piecing based on a detecting result of the yarn detecting sensor 34 when the yarn is cut by the cutter 10 when a yarn defect is detected by the yarn clearer 11.例文帳に追加

機台制御部96は、ヤーンクリアラ11により糸欠陥が検出されてカッター10により糸が切断されたときに、糸検出センサ34の検出結果に基づいて、糸継装置92に糸継を行わせるか否かを判断する。 - 特許庁

To provide a structure for reinforcing an existing steel frame member having a rib plate for stiffening a flange, the structure that is capable of preventing occurrence of a structural defect, increasing resilience and fatigue strength of the member and serving excellent workability, and provide a method for the reinforcement.例文帳に追加

フランジを補剛するためのリブプレートを有する既設鉄骨部材を補強するにあたって、構造欠陥の発生を防止しつつ、その耐力、疲労強度の向上を図ることができるうえ、作業性にも優れた構造、方法を提供すること。 - 特許庁

To provide an image-forming apparatus for avoiding problems of "toner scattering" or "transfer failure" in performing "frameless print", and for solving problems of image defect and attachment of toner to an edge part caused by shaving off a toner image by a front edge of a transfer material in a conveying direction.例文帳に追加

「縁なし印刷」を行う際に、「トナーの飛び散り」や「転写抜け」の問題を防止しつつ、転写材の搬送方向先端によってトナー像が削り取られることによる画像欠損やエッジ部へのトナーの付着の問題を提供する。 - 特許庁

To provide a bearing device for a wheel, capable of attaining weight and size reductions, high rigidity and long service life of bearings, improvement of service life of a forging molding die by enhancing forgeability of a hub wheel and prevention of generation of a forging defect during forging work.例文帳に追加

軽量・コンパクト化を図りつつ、高剛性化と軸受の長寿命化を図ると共に、ハブ輪の鍛造性を良好にして鍛造の金型寿命の向上と鍛造加工時の鍛造傷の発生を防止した車輪用軸受装置を提供する。 - 特許庁

例文

To overcome the problem in a circuit pattern inspection apparatus using an electrode contactlessly or capacitively coupled to the conductor pattern, wherein it is difficult to determine a defect since an obtained inspection signal value is small if a conductor pattern to be inspected is microfabricated.例文帳に追加

導体パターンに非接触で容量結合した電極を用いた回路パターン検査装置においては、検査対象の導電パターンの微細化が進むと共に、得られる検査信号値が小さくなり、欠陥の判定が難しくなっている。 - 特許庁

例文

The defect detection device 50 for detecting defects in a weak pin 30 includes a carbon rod 53, a soft holding tube 55 for holding the carbon rod 53, and lead wires 57A, 57B connected to a shaft end of the carbon rod 53.例文帳に追加

弱点ピン30の欠損を検出する欠損検出素子50であって、炭素棒53と、前記炭素棒53を収容する軟質性の収容管55と、前記炭素棒53の軸端に接続されるリード線57A、57Bとを備える。 - 特許庁

To provide a lighting device capable of suppressing a defect in lighting of a semiconductor light-emitting element array due to breaking of a bonding wire for connecting a semiconductor light-emitting group embedded in a sealing member in series to form the semiconductor light-emitting element array.例文帳に追加

封止部材に埋設される半導体発光素子群を直列接続して半導体発光素子列とするためのボンディングワイヤが断線すること等による半導体発光素子列の点灯不良を抑制できる照明装置を提供する。 - 特許庁

To provide a fine granular austenitic stainless steel sheet in which a stress-corrosion cracking as a defect is eliminated, and good workability is also obtained by regulating average crystal grain diameter to ≤10 μm in Ni content of ≤8% and the characteristics of the crystal grain boundary.例文帳に追加

8%以下のNi量で平均結晶粒径を10μm以下かつ結晶粒界の性格を規定して,欠点である応力腐食割れを克服し,加工性との両立を図った微細粒オーステナイト系ステンレス鋼板を提供する。 - 特許庁

To provide an end tab for welding, which stabilizes generation of an arc in the end tab, eliminates the necessity for cutting and finishing after welding, and further restrains generation of a weld defect by deleting a thermal conductivity difference between a base material and the end tab.例文帳に追加

溶接後の切断や仕上げ作業を不要とするとともに、エンドタブ内においてアーク発生を安定させ、さらに、母材との熱伝導率の差を解消して、溶接欠陥の発生を抑えることのできる溶接用エンドタブを提供する。 - 特許庁

Accordingly, an adjacent defective pixel conventionally treated under defect correction or the like as an abnormal pixel can be utilized as a normal pixel, thus enabling improvement of image quality of an obtained radiograph image without losing pixel information of an analyte.例文帳に追加

そのため、異常画素として欠陥補正されるなどして扱われていた隣接欠陥画素を正常画素として利用できるので、被検体の画素情報を失うことなく、取得された放射線画像の画質を向上させることができる。 - 特許庁

A focus deviation detection device according to the present invention detects the focus deviation of an imaging device in a surface defect inspection device inspecting surface defects based on image data that is produced by imaging the surface of a test subject being transported with the imaging device.例文帳に追加

本発明の焦点ズレ検出装置は、搬送される被検査体の表面を撮像装置により撮像した画像データに基づいて、表面欠陥を検査する表面欠陥検査装置において、撮像装置の焦点ズレを検出する。 - 特許庁

To provide a recording and playback device, display device and computer program which can cope with image quality deterioration of a broadcast program caused by a reception sensitivity defect of a broadcast wave, in more simplified structure, even after the end of analog television broadcasting.例文帳に追加

アナログテレビジョン放送が終了した後においてもより簡単な構造にて、放送波の受信感度不良に起因する放送番組の画質の悪化に対応することが出来る記録再生装置、表示装置及びコンピュータプログラムを提供する。 - 特許庁

To prevent stray light, such as lens-reflected light reaching an image surface from disturbing the inspection sensitivity in a dark field defect detection method by high elevation angle illumination for detecting groove bottom short-circuit defects or scratch, after the completion of etching.例文帳に追加

エッチング完了後の溝底ショート欠陥やスクラッチを検出するための高仰角照明による暗視野欠陥検出方法において、レンズ反射光などの迷光が像面に到達することによる検査感度を阻害することを防止する。 - 特許庁

This invention relates to a method and a device with at least two incorporated sensors 140A and 140B which detect a defect, such as the breakage and the shift of the substrate 106 caused along lengths of at least two parallel ends of the substrate 106 being moved.例文帳に追加

移動中の基板106の少なくとも2つの平行な端部の長さに沿った、破損やずれ等の基板の欠陥の存在を検出する少なくとも2つのセンサ140A、140Bを組み込んだ装置及び方法を提供する。 - 特許庁

An x-ray imaging device has an adjacent defect correction unit 55 that replaces each adjacent defective pixel in which a pixel value obtained between a plurality of adjacent pixels fluctuates temporally, to an pixel value averaged by pixel values of adjacent defective pixels.例文帳に追加

X線撮像装置は、隣接する複数の画素間で得られる画素値が時間的に変動する隣接欠陥画素を、この隣接欠陥画素の各画素値で平均化した画素値にそれぞれ置き換える隣接欠陥補正部55を備えている。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a stencil mask for ion implantation which improves an ion implantation accuracy by reducing a defect of the stencil mask for ion implantation such as a deflection of a membrane caused by heating of an ion beam to have excellent heat resistance and durability.例文帳に追加

イオンビームの発熱に起因したメンブレンの撓みというイオン注入用ステンシルマスクの欠陥を低減し、優れた耐熱性や耐久性を有してイオン注入精度を向上するイオン注入用ステンシルマスクの製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a capacitor discharge stud welding method causing no joining defect at a welding part obtained when carrying out welding by using aluminum or aluminum alloy at one of a base material and a stud bolt and using copper or copper alloy at the other.例文帳に追加

母材およびスタッドボルトのうちのいずれか一方にアルミニウムまたはアルミニウム合金を用い、他方に銅または銅合金を用いて溶接するときに、得られる溶接部の接合不良のないキャパシタディスチャージスタッド溶接方法を提供する。 - 特許庁

To provide an etching method for copper or copper alloy that is used for manufacturing a printed wiring board, having a fine wiring pattern, with an excellent yield and without causing a short-circuit defect when executing etching by an etchant containing a banking agent.例文帳に追加

バンキング・エージェントを含むエッチング液によりエッチングを行った場合、微細な配線パターンを有するプリント配線板を、ショート欠陥を発生させることなく、良好な歩留まりで製造する銅又は銅合金のエッチング方法を提供する。 - 特許庁

To provide an epitaxial substrate for a back-illuminated image sensor and a manufacturing method thereof, capable of suppressing metal contaminations and reducing occurrence of a white spot defect of the image sensor, by maintaining a sufficient gettering performance in a device process.例文帳に追加

デバイス工程中、十分なゲッタリング能力を維持することで、金属汚染を抑制し、イメージセンサの白傷欠陥の発生を低減させることができる裏面照射型イメージセンサ用エピタキシャル基板およびその製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a nonaqueous electrolyte secondary battery capable of preventing discharge and leakage accompanying gasification of electrolyte at the time of high temperature caused by electrical defect and spouting of the electrolyte accompanying internal pressure rise due to gas generation caused by electrolysis or the like.例文帳に追加

電気的異常による高温時の電解液のガス化に伴う放出及び漏れ、並びに電気分解等によって発生するガスによる内圧上昇に伴う電解液の噴出等を防止する非水電解液二次電池を提供する。 - 特許庁

A frequency component determined by the calculated number of bladder grooves is removed from the frequency components subjected to the Fourier expansion, inverse Fourier expansion of the residual frequency components is performed, and defect detection processing is performed on the basis of the image subjected to the inverse Fourier expansion.例文帳に追加

フーリエ展開された周波数成分から、算出されたブラダーグルーブの本数で決まる周波数成分を除去し、残余の周波数成分を逆フーリエ展開し、逆フーリエ展開された画像に基づいて欠陥検出処理を行う。 - 特許庁

To provide a developing device which stabilizes developing performance by enhancing trace performance of the second developer carrier with respect to an image carrier rotating at high speed and reducing fluctuations in an opposed interval, and can suppress developing defect and a scattering of toner.例文帳に追加

高速回転する像担持体に対する第2の現像剤担持体のトレース性能を高めて対向間隔の変動を減らし、これにより現像性能を安定させて現像不良やトナーの飛散を抑制できる現像装置を提供する。 - 特許庁

To provide a support for guided bone regeneration, which has such rigidity that a desired shape can be retained in a bone defect area and is provided with openings through which an extracellular liquid can penetrate but a cell constituting a soft tissue cannot penetrate.例文帳に追加

骨欠損領域において所望の形状を保持できるような剛性を有するとともに、細胞外液は透過できるものの、軟組織を構成する細胞は透過できないような開口穴を有する骨誘導再生用支持体を提供する。 - 特許庁

In the defect detection method for a fuel cell material, defects of the fuel cell materials are detected by using a displacement sensor, a transmission type photoelectric sensor, a CCD (charge-coupled device) line sensor, and/or a reflection-type photoelectric sensor.例文帳に追加

本発明は、変位センサー、透過型光電センサー、CCD(チャージ・カップルド・デバイス)ラインセンサーおよび/または反射型光電センサーにより、燃料電池材料の欠陥を検出することを特徴とする燃料電池材料の欠陥検出方法である。 - 特許庁

Since the first grooves 1a and the second grooves 1b are not made to cross directly, a crack 104 exceeding the limit rarely occurs at each cross point 2, and the chip 10b obtained by this cleaving method rarely has damages such as a corner defect at the corner 3.例文帳に追加

第一溝1aと第二溝1bとを直接交差させないことで、交差部2に過剰なクラック104が導入されにくく、本発明劈開方法を用いて得られたチップ10bは、角部3に欠けなどの損傷が生じにくい。 - 特許庁

To provide a photosensitive resin laminate which has a photosensitive resin layer of uniform thickness, causes no wear of film, reduces a waste generated from substrate and protective layer and is few in defect of conductor pattern, and a TAB substrate and a flexible wiring plate using the same.例文帳に追加

感光性樹脂層の膜厚が均一で膜減りすることがなく、支持体や保護層による廃棄物を削減し、導体パターンの欠陥の少ない感光性樹脂積層体及びそれを用いたTAB基板及びフレキシブル配線板を提供する。 - 特許庁

A recognition rule is read (ST1), plural degeneration FBM is prepared (ST2), after a defective recognition object is selected (ST3), the prescribed region is selected based on setting of defective size (ST4), and a defect rate in the prescribed region is calculated (ST5).例文帳に追加

認識ルールを読み込んで(ST1)複数の縮退FBMを作成し(ST2)、認識対象不良を選択(ST3)した後、不良サイズの設定に基づいて所定領域を選択し(ST4)、所定領域内の不良率を計算する(ST5)。 - 特許庁

The information recording medium has a 1st spare area 102 including spare sectors to substitute for bad sectors, a defect management information area 101 for managing the substitution of the spare sectors for the bad sectors, and a volume space 100a where user data can be recorded.例文帳に追加

情報記録媒体は、欠陥セクタを代替するスペアセクタを含む第1スペア領域102と、欠陥セクタからスペアセクタへの代替を管理する欠陥管理情報領域101と、ユーザデータを記録可能なボリューム空間100aとを備えている。 - 特許庁

To perform retransmission at a low cost to a destination device which can not receive data because of a receiving state defect affected by weather or the like, when the data are distributed to specified plural destinations in a system for performing massive data distribution by utilizing a communication satellite.例文帳に追加

通信衛星を利用した大量データ配信を行うシステムにおいて特定複数の宛先に配信した場合に、天候等の影響により受信状態不良で受信できなかった宛先装置に対して、再送を低いコストで実現する。 - 特許庁

To provide a configuration forf a drive transmission means by which an image defect can be prevented by absorbing the tolerance of respective parts without enlarging the length in the thrust direction of a developing device, so as to always make the position in the thrust direction of a developing roller constant.例文帳に追加

現像装置のスラスト方向の長さを大きくすることなく各部品の公差を吸収し、現像ローラのスラスト方向位置を常に一定とすることで画像不良を防止することが可能な駆動伝達手段の構成を提供すること。 - 特許庁

By calling up the information relating to contamination of the reticle during storage and transfer included in the information relating to the reticle 1, the reticle 1 in a contaminated state that may cause a pattern defect can be prevented from being used in an exposure process by cleaning the reticle.例文帳に追加

このレチクル1に係る情報に含めた保管,移動時のレチクル汚染に関する情報を呼び出すことで、レチクル洗浄を行って、パターン欠陥に結びつく汚染状態のレチクル1を露光処理に使用することを防止できる。 - 特許庁

To reduce a cutting pressure of the cutting blade effected on an object to be cut by improving a blade edge part shape of the cutting blade, to thereby improve productivity and defect rate by surely preventing cracks from occurring in cutting.例文帳に追加

切断刃の刃先部形状を改善することで、切断刃が切断対象物に及ぼす切断圧力を軽減するようにし、それにより切断時におけるクラックの発生を確実に防止して歩留まりを高め生産性を向上させること。 - 特許庁

To provide an electrochromic light control element excellent in heat resistance and in durability which is further maintained over an extended time period, generating no visual defect such as white turbidity inside the element and no variation of performance of the element such as response speed and having high reliability.例文帳に追加

耐熱耐久性に優れ、しかもその耐久性が長期に渡って維持され、素子内部に白濁等の外観上の欠陥が発生したり、応答速度等の素子性能が変化せず、信頼性が高いエレクトロクロミック調光素子の提供。 - 特許庁

To provide an image forming device capable of stably obtaining a high-quality toner image over a long term, and obtaining a high-quality fixed image having no image defect over a long term even in the image forming device of a developing and cleaning simultaneously executing system especially.例文帳に追加

長期に渡って安定して高品位なトナー画像が得られ、特に、現像同時クリーニング方式の画像形成装置においても長期間に渡って画像不良のない高品位な定着画像が得られる画像形成装置を提供すること。 - 特許庁

To clean the surface of a photoreceptor by making good use of the operation of the photoreceptor and an intermediate transfer body, and also, to prevent the defect of image quality due to a scratch on the surface of the photoreceptor even when the operation is performed, regarding the electrophotographic image forming apparatus.例文帳に追加

電子写真方式の画像形成装置において、感光体と中間転写体の動作を利用して感光体表面の清浄化を行いつつ、その場合であっても感光体表面のスクラッチによる画質欠陥発生を未然に防ぐ。 - 特許庁

Since the via hole 15 is filled up with the void-free conductive materials 16, 18, and 19, no void-derived connecting defect occurs between the first front- and rear-surface conductive layers 13 and 12.例文帳に追加

以上のように、内部にボイドが生じない導電材料16、18、19で第1のビア15を充填することにより、第1の表面導電層13と第1の裏面導電層12との間には、ボイドが原因となる接続不良が生じない。 - 特許庁

To provide a surface layer part property measuring method for accurately detecting/discriminating defects doing harm after processes from inspection onward (after rolling and plating processes, for example), a surface layer defect determination method using the same, and a metallic band manufacturing method.例文帳に追加

検査以降の工程後(例えば、冷延、鍍金工程後)に有害となる欠陥を正確に検出・弁別する表層部性状測定方法及びそれを用いた表層欠陥判定方法、並びに金属帯の製造方法を提供する。 - 特許庁

To prevent a display defect from being caused by parting of an electrode in a pixel when the electrode is provided with an opening or cut portion, or to suppress a decrease in contrast ratio due to a light leak caused by an alignment control structure provided in the pixel.例文帳に追加

画素内の電極に開口部または切欠き部を設けた場合における電極の分断に起因する表示欠陥の発生を防止、あるいは、画素内に設けた配向規制構造による光漏れに起因するコントラスト比の低下を抑制する。 - 特許庁

The semiconductor memory device includes banks #0 to#7, defect relieving circuits 170 to 177 respectively provided for the banks, defective address storing circuits 180 to 183 storing defective addresses, and comparing circuits 190 to 193 comparing an address to which access is required and a defective address.例文帳に追加

バンク#0〜#7と、バンクごとに設けられた不良救済回路170〜177と、不良アドレスを記憶する不良アドレス記憶回路180〜183と、アクセスが要求されたアドレスと不良アドレスとを比較する比較回路190〜193とを備える。 - 特許庁

Accordingly, such a defect due to the conventional technology that the electronic card is damaged as a part of the electronic card is exposed to the outside of the electric connector, or that a terminal of the electric connector for the card is pressed and deformed due to the slanting of the electronic card, is avoided.例文帳に追加

したがって、従来の技術に、電子カードの部分がカード用電気コネクタの外部に露出するため電子カードを損害し、或いは電子カードの傾斜のためカード用電気コネクタの端子をプレスして変形する欠点を回避できる。 - 特許庁

To provide a stainless steel coated electrode which is capable of holding characteristics as a -17 type electrode, preventing hot temperature cracking by a decrease in the Si content of weld metal and preventing a blowhole defect from occurring.例文帳に追加

−17タイプ溶接棒としての特性を保持することができると共に、溶接金属のSi含有量の低減により高温割れを防止することができ、更に気孔欠陥の発生を防止できるステンレス鋼被覆アーク溶接棒を提供する。 - 特許庁

This semiconductor device testing device 100 is provided with a pattern generator 10, a reference clock generator 60, a timing generator 62, a wave-form shaper 70, a signal input/output section 80, a comparing unit 90, and a defect analysis memory section 110.例文帳に追加

本発明の半導体デバイス試験装置100のパターン発生器10は、パターン発生器10、基準クロック発生器60、タイミング発生器62、波形整形器70、信号入出力部80、比較ユニット90、不良解析メモリ部110を備える。 - 特許庁

To provide an electric resistance welded steel pipe for an oil supply pipe, which can be worked to a desired shape of the oil supply pipe without generating any serious defect such as crack even under a severe working condition such as a complicated shape and large elongation.例文帳に追加

複雑形状であるとか、伸び率が大きい等の厳しい加工条件であっても、割れ等の重大な欠点を発生させることなく所望の給油管形状に加工することができる給油管用電縫鋼管を提供すること。 - 特許庁

To provide a method for producing an expensive metal-containing steel with which the expensive metal that is lost is effectively recovered in a surface defect removing process of a cast slab in the expensive metal-containing steel and the cost reduction can be achieved by recycling.例文帳に追加

高価金属含有鋼の鋳片の表面欠陥除去工程において失われていた高価金属を有効的に回収しリサイクルすることによりコストダウンを図ることができる高価金属含有鋼の製造方法を提供する。 - 特許庁

例文

To prevent a defect that a joint can not be recognized by an automatic recognition instrument used in jointing a solder bump to a printed wiring board, because the solder bump is damaged and deformed when pressing the terminal of a checker to the solder bump (outside-connecting terminal).例文帳に追加

検査装置の検査用端子を、はんだバンプ(外部接続用電極端子)に押し付ける時、はんだバンプが傷つき変形し、プリント配線基板に接合する際に用いる自動認識装置で認識できないという不具合を防止する。 - 特許庁




  
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