「Defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(301ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a CMOS image sensor capable of minimizing the occurrence of defect due to impurity ion implantation at the boundary of an active region and an isolation film beneath the gate electrode of a transistor constituting a CMOS image sensor, and to provide its fabrication process.例文帳に追加

ＣＭＯＳイメージセンサを構成するトランジスタのゲート電極の下のアクティブ領域と素子分離膜間の境界で不純物イオン注入による欠陥発生を最小化できるＣＭＯＳイメージセンサ及びその製造方法を提供する。 - 特許庁

To reduce the problem of the occurrence of a body defect due to a floating ink mist generated by an air current brought about by a carriage operation caused by a small liquid droplet high-speed printing by miniaturization and high definition of a printer.例文帳に追加

プリンタの小型化と高精細化によって、密閉空間での小液滴高速印字が引き起こす、キャリッジ動作によって引き起こされる気流によって発生する浮遊インクミストによる本体不具合の発生という問題を低減すること。 - 特許庁

The outgas 28 generated by the application of the light 29 to the resist 7a is forcibly exhausted outside the sealed space 31 so as to prevent the deterioration of the inspection apparatus and allow the resist defect inspection in a mid-flow of a mask manufacturing step.例文帳に追加

これにより、レジスト７ａへの光２９の照射により発生するアウトガス２８を密閉空間３１外に強制的に排出させ検査装置の劣化を防ぐと共に、マスク製造途中工程でのレジスト欠陥検査を可能とする。 - 特許庁

To improve throughput, and to perform accurate inspection by capturing a highly accurate image, by imaging a substrate by an imaging device in the state where a substrate is held by a conveyance member conveying the substrate, when performing defect inspection of the substrate.例文帳に追加

基板の欠陥検査を行なうにあたり，基板を搬送する搬送部材に基板が保持された状態で撮像装置によって基板の撮像を行ない，スループットを向上させるとともに，高精度の画像を取り込んで正確な検査を行なう。 - 特許庁

To provide a film forming method for obtaining an extremely thin interface oxide film having high in-plane uniformity of film thickness and less defect by performing a low oxygen partial pressure oxidation while the surface of a silicon layer is protected by a chemical oxide film.例文帳に追加

シリコン層の表面をケミカル酸化膜で保護した状態で低酸素分圧酸化を行うことにより、膜厚の面内均一性が高くて且つ欠陥の少ない極めて薄い界面酸化膜を得ることが可能な成膜方法を提供する。 - 特許庁

A recessed defect DF on the substrate is buried for improving a surface state by providing a coating type substrate film SPL on the substrate SUB 1 for forming a silicon film, and a polysilicon film PSI is formed as a precursor film on the substrate film SPL.例文帳に追加

シリコン膜を形成する基板ＳＵＢ１に塗布型下地膜ＳＰＬを設けることで当該基板の凹部欠陥ＤＦを埋めて表面状態を改善し、この下地膜ＳＰＬ上にプレカーサ膜としてポリシリコン膜ＰＳＩを成膜する。 - 特許庁

A microphone 30 detects a continuous hammering sound at the working time generated by the hammering body 26, and a sound analyzing device 36 executes defect diagnosis by waveform analysis of the continuous hammering sound by filtering by means of 1/f fluctuation conversion and a wavelet.例文帳に追加

マイクロフォン３０は打撃体２６による作業時の連続打音を検出し、音響分析装置３６は１／ｆゆらぎ変換とウェーブレットによるフィルタリングによってって連続打音における波形解析による欠陥の診断を行う。 - 特許庁

The apparatus 1 for correcting the defect in the pattern comprises a material supply section 43 for supplying the pattern correcting material onto a substation 43, a head section 44 having a needle 441 and a control section 5 having a memory section 52 in which a conversion table 521 is stored.例文帳に追加

パターン欠陥修正装置１は、サブステージ４２上にパターン修正材料を供給する材料供給部４３、針４４１を有するヘッド部４４、および、変換テーブル５２１が記憶された記憶部５２を有する制御部５を備える。 - 特許庁

To promote the float-up and the separation of non-metallic inclusion in a mold by controlling the spouting-flow from an immersion nozzle in a continuous casting for cast billet, and to produce the cast billet having little longitudinal crack and non-metallic inclusion defect by preventing drifting-flow.例文帳に追加

ビレット鋳片の連続鋳造において、浸漬ノズルからの吐出流を制御することにより、鋳型内での非金属介在物の浮上分離を促進させ、また、偏流を防止して、縦割れや非金属介在物欠陥の少ない鋳片を製造する。 - 特許庁

To prevent an abnormal image from being formed by always appropriately positioning a light source holding part incorporating a light source even when the defect and the unbalanced load of an assembled state are found, and restraining the positional deviation of the light source holding part by vibration from an optical scanner main body.例文帳に追加

組付状態の不良や偏荷重があっても常に光源を内蔵する光源保持部の適正な位置決めを可能にし、光走査装置本体からの振動による光源保持部の位置ずれを抑制し、異常画像の発生を防ぐ。 - 特許庁

To prevent the occurrence of defect in an intermediate transfer body (recording material carrier), by reducing an overall suction force generated between a plurality of transfer members slid onto the intermediate transfer body (recording material carrier), and the intermediate transfer body (recording material carrier).例文帳に追加

中間転写体（記録材担持体）に摺動している複数の転写部材と、中間転写体（記録材担持体）との間に生じる吸着力の総和を減少させることで、中間転写体（記録材担持体）に生じる不具合を防ぐ。 - 特許庁

To provide a pattern forming method excellent in resolution such as a minimum dimension that does not allow a bridge defect to generate, roughness performance such as line edge roughness and dependence on developing time, to provide an actinic ray sensitive or radiation sensitive resin composition used for the method, and to provide a resist film.例文帳に追加

ブリッジ前寸法等の解像力、ラインエッジラフネス等のラフネス性能、現像時間依存性に優れたパターン形成方法、それに用いられる感活性光線性又は感放射線性樹脂組成物及びレジスト膜を提供する。 - 特許庁

To provide a method and a system for providing information on a product which can speedily provide information regarding a defect of a molding, information regarding material properties, the knowledge of a maker side, etc., from the material side to a molding manufacturing maker.例文帳に追加

成形品の欠陥に関する情報や材料物性に関する情報や材料メーカ側の知見などを、材料メーカから成形品製造メーカに迅速に提供することが可能な製品の情報提供方法およびシステムを提供する。 - 特許庁

To provide an electrophotographic device that hardly generates stripe filming on the surface of an electrophotographic photoreceptor and prevents generation of a black stripe defect image on an image even when a large number of documents with a small printing rate are printed in a low humidity environment.例文帳に追加

低湿環境下で、小印字率原稿の多数枚印刷を行った場合でも、電子写真感光体表面に、スジ状のフィルミングが発生し難く、画像上にクロスジ欠陥画像が生じない電子写真装置を提供することである。 - 特許庁

To provide a thermal development apparatus which can prevent an image defect or carrying failure accompanying repeated use of the apparatus caused by condensation of a gas component generating from a heated film near the film exit opening.例文帳に追加

フィルムの出口開口近傍において加熱されたフィルムから発生するガス成分が凝集することに起因し装置の繰り返し使用に伴って発生し易い画像欠陥や搬送不良を未然に防止できる熱現像装置を提供する。 - 特許庁

To make easily and quickly detectable a critical magnetic defect without destroying information after transfer processing in the case of the testing of a magnetic disk having a magnetic information containing track information recorded beforehand by a magnetic transfer system.例文帳に追加

トラック情報を含む磁気的情報が磁気転写方式により予め記録される磁気ディスクを試験するに当たり、転写処理後の情報を破壊することなく、重大な磁気的欠陥を簡単かつ迅速に検出し得るようにする。 - 特許庁

To provide an inspection apparatus that radiates electromagnetic wave to an inspection object, acquires a transmission image or reflection image of an inspection object structure, and non-destructively inspects the inspection object body, structures of different transmittance or reflectivity, and an internal defect.例文帳に追加

検査体に電磁波を照射して、検査体構造の透過画像あるいは反射画像を得る検査装置に関し、検査体本体と透過率あるいは反射率が異なる構造や内部欠陥を非破壊に行なうための装置を提供する。 - 特許庁

Back light illumination 11 is put out and a liquid crystal cell substrate 8 is projected from above by coaxial vertical illumination 7, by which the image of the part coated with a sealing material is acquired when carrying out the defect inspection of the liquid cell substrate 8 before sticking of the polarizing plate with this cell inspection apparatus.例文帳に追加

偏光板貼付前の液晶セル基板８の欠陥検査を行う際、バックライト照明１１を消灯すると共に同軸落射照明７によって液晶セル基板８を上方から投射し、シール剤塗布部の画像を取得する。 - 特許庁

The location adjusting means in the surface defect inspecting apparatus of the invention comprises a drive mechanism moved in the axial direction of the inspected object and the direction perpendicular to the direction of an optical axis of the line sensor, and adjusts the location and the position of the line sensor.例文帳に追加

そして、本発明の表面欠陥検査装置における位置調整手段が、被検査物の軸方向及びラインセンサの光軸方向と垂直な方向に移動する駆動機構を有し、ラインセンサの位置及び姿勢を調整する。 - 特許庁

The iron-based structure serves as part of a magnetic circuit with respect to the bias magnetic field, the intensity of the bias magnetic field varies according to the degree of a flaw/corrosion/thickness reduction of the iron-based structure, and the degree of a defect of the iron-based structure is inspected according to the output variation.例文帳に追加

鉄系構造物もバイアス磁界に対し磁気回路の一部となり、バイアス磁界の強さが鉄系構造物の傷・腐食・減肉の程度に応じて変化し、その出力変化から鉄系構造物の欠陥の程度を検査する。 - 特許庁

After recording the test data in each of the sectors, a value for a filter factor of an FIR filter arranged in a data reproduction system is changed from the optimal value, frequency gain is reduced, the testing data is reproduced, and the sector in which the reproduction failure occurs is registered as the defect.例文帳に追加

各セクタに試験データを記録したあと、データ再生系に設けたＦＩＲフィルタのフィルタ係数の値を最適な値から変更して周波数利得を低下させて試験データを再生し、再生エラーが発生したセクタを欠陥登録する。 - 特許庁

A zigzag defect 15c is locally generated in a ferroelectric liquid crystal 14 held between a pair of substrates 12 and 13 which are laminated with each other via a sealing material in such a manner that faces of the substrates with the respective alignment layers formed thereon are separated and opposing to each other.例文帳に追加

ジグザグ欠陥部１５ｃは、各々配向膜が形成された面が離間対向するように、シール材を介して互いに貼り合わされた一対の基板１２と１３との間に挟持された強誘電性液晶１４に局所的に発生する。 - 特許庁

To prevent an image defect caused by damage or the like occurring because a photoreceptor drum and a transfer belt abut and rub on each other in a state where there is a relative speed difference between the photoreceptor drum and the transfer belt at the time of starting image-forming and at the time of finishing image-forming.例文帳に追加

画像形成開始時及び画像形成終了時に、感光ドラムと転写ベルトとが相対速度差を持った状態で相互に当接され摺擦されることに起因する傷等によって発生する画像不良を防止する。 - 特許庁

To improve the accuracy of temperature setting and reduce a time required for measurement particularly in the case that the measurement must be carried out by setting the temperature of a measured component high when the defect of a semiconductor component is detected or the reliability thereof is confirmed.例文帳に追加

半導体部品の欠陥の検出や信頼性の確認を行なうにあたり、特に被測定部品を高温にして測定を行なう必要がある場合の温度設定の精度向上と測定に要する時間の短縮を目的とする。 - 特許庁

To provide, as an ArF excimer laser mask, a phase shift mask blank which has minimized wavelength dependency of transmittance so as to make defect inspection possible, and which is processed with a single dry etching gas, and also to provide a phase shift mask and a pattern transfer method using the blank.例文帳に追加

ＡｒＦエキシマレーザ用マスクとして、欠陥検査も可能となるよう透過率の波長依存性が小さく、単一のドライエッチングガスで加工可能な位相シフトマスクブランク、それを用いたいそうシフトマスク、及びパターン転写方法を提供する。 - 特許庁

To always monitor the situation of equipment being the object of monitoring which is installed at a remote place so as to sense the occurrence of an abnormal state and to previously prevent the occurrence of abnormality by sensing the foreboding of abnormality so as to precisely predict the period of the operation defect.例文帳に追加

遠隔地に設置した監視対象機器の状況を常時監視して異常事態の発生を感知するとともに、その異常の前兆を感知してその動作不良時期を的確に予測して異常の発生を未然に防止する。 - 特許庁

To develop and provide a technique which can unlimitedly enhance the value (the range of uses and the merit of cost) of MDM which has an improved quality but has a defect not having a shape, by giving a shape as minced meat.例文帳に追加

品質が向上してきたとは言え、その形を持たないＭＤＭの欠点に対して、挽肉としての形を与えることによってその価値（用途の幅やコストメリット）を限りなく増大せしめることのできる技術を開発し提供すること。 - 特許庁

To provide a process/production management device which can collect various pieces of management data on total man-hours, the number of nondefecture articles and a defect rate on a real time basis and can precisely and clearly manage process/production and to provide a process/production management method using the device.例文帳に追加

延べ工数、良品数、不良率等々、種々の管理データをリアルタイムに収集でき、正確で明瞭な工程／生産管理を行うことができる、工程／生産管理装置およびそれを用いた工程／生産管理方法を提供する。 - 特許庁

To provide an electrophotographic photoreceptor capable of improving a charge characteristic of the photoreceptor to restrain increase of residual potential, generating no blurring even when repeatedly forming an image, and capable of obtaining a printed image of high quality free from an image defect such as a black dot and a moire.例文帳に追加

感光体の帯電特性を改善して残留電位の上昇を抑制し、繰り返し画像形成してもかぶりが発生せず、黒ポチやモアレ等の画像欠陥の無い高品質のプリント画像が得られる電子写真感光体の提供。 - 特許庁

This device of the present invention is an improved pixel inspection device wherein a desired inspection pattern is displayed on the display equipment to be inspected, wherein light from the pixel of the display equipment is detected by a plurality of photoreceiving elements, and wherein the defect of the pixel of the display equipment is inspected.例文帳に追加

本発明は、被検査表示機器に所望の検査パターンを表示させ、表示機器の画素からの光を複数の受光素子で検出し、表示機器の画素の欠陥を検査する画素検査装置に改良を加えたものである。 - 特許庁

To provide a stencil mask in which the transfer of a defect of the stencil mask to a material to be exposed is reduced and the positional accuracy of a circuit pattern to be transferred to the material to be exposed can be improved, and to provide a method of exposing and a method for manufacturing a semiconductor device.例文帳に追加

ステンシルマスクの欠陥が被露光体へ転写されるのを低減し、かつ、被露光体へ転写される回路パターンの位置精度を向上させることができるステンシルマスク、露光方法、および半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for inspecting a defect in a water purifying cartridge which can simultaneously carry out a leak inspection of a hollow fiber membrane module and an airtightness inspection of a case and a lid simply, highly accurately and in a short time, and can be easily applied to control of quality of the water purifying cartridge.例文帳に追加

簡便かつ高精度で、しかも短時間に、中空糸膜モジュールのリーク検査とケースと蓋部の気密性検査を同時にでき、浄水カートリッジの品質管理に容易に適用できる、浄水カートリッジの欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a heat dissipating device and a method of manufacturing a heat dissipating base that can obviate a defect involved in forging and a tin-soldering method and, simplify manufacturing and assembling processes to reduce manufacturing cost, and also is capable of quickly conducting heat to have efficient heat dissipation.例文帳に追加

鍛造とスズ溶接方式とで生じる欠点を防ぎ、製造と組み立てとを簡易化して生産コストを減少でき、迅速に熱伝導し、且つ、効果的に熱放散できる熱放散装置、および熱放散ベースの製造方法を提供する。 - 特許庁

To prevent an image defect present in a scanning unit from being superposed on a result image when a plurality of unit images put one over another to form the result image are recorded on recording media by the same scanning means.例文帳に追加

１つの結果画像を形成するために重ね合わせる複数の単位画像のそれぞれを、同一の走査手段により記録媒体上に記録する際に走査ユニットに存在する画像欠陥が結果画像において重畳されないようにする。 - 特許庁

To remove a fixed mandrel by rewinding a coiled material formed by winding a magnesium alloy sheet around the fixed mandrel and to manufacture a sound product coil by levelling and trimming crack portions and shape defect portions in plate width end portions generated by multi path roll forming.例文帳に追加

マグネシウム合金シートを固定マンドレルに巻回したコイル材を巻き直して固定マンドレルを取り除くと共に、多パス圧延によって生じた板幅端部のクラック部、形状不良部をレベリングかつトリミングして健全な製品コイルを製造する。 - 特許庁

The excellent color filter without any alignment defect at the open portion is provided by using a resin with a melting property or a resin with a small taper angle generated in patterning at the open portion so as to heighten a levelling effect in color resists constituting the color filter.例文帳に追加

開口部にメルト性を有する樹脂もしくはパターニングした際のテーパー角の低い樹脂を用いることにより、カラーフィルターを構成する色レジストでのレベリングの効果を高め、開口部での配向不良のない良好なカラーフィルターを提供する。 - 特許庁

To provide a pressurizing device for producing pressuring-worked products without defect by reducing damage to a workpiece while preventing overshoot by performing the torque control of a servomotor from the start to the end of pressurization when pressurizing the workpiece, and a pressurizing method therefor.例文帳に追加

ワークピースの加圧加工の際、加圧開始から終了までサーボモータのトルク制御を行うことによって、オーバシュートを防いでワークピースへのダメージを小さくし、欠陥のない加圧加工製品を生産する加圧装置及び加圧方法を提供することである。 - 特許庁

Performing defect inspection with the TFT substrate that is set in the temperature condition when it is actually operating in the array inspection in the array process allows defects, which are usually detected in and after the cell process, to be detected in the early stages of the array process.例文帳に追加

アレイ工程でのアレイ検査において、ＴＦＴ基板を実際に駆動したときの温度状態として欠陥検査を行うことによって、通常、セル工程以降で検出される欠陥をアレイ工程の早い段階で検出する。 - 特許庁

To provide a measuring device for monitoring residual oxygen in exhaust gas monitoring a state allowing easy carrying out of timely intervention by a remedial measure when there is a defect in the measuring device by an auxiliary procedure.例文帳に追加

測定装置に欠陥が発生した場合に、改善策によりタイムリーな介入を容易に行うことができるようにするために、その状態が補助的な手順で監視される排気ガス内の残留酸素を監視するための測定装置を提供する。 - 特許庁

To provide a positive type radiation sensitive resin composition having high transparency to radiation, excellent in resolution, sensitivity, pattern shape, etc., causing no development defect in microfabrication and capable of producing a semiconductor device in a high yield.例文帳に追加

放射線に対する透明性が高く、しかも解像度、感度、パターン形状等に優れるとともに、微細加工時の現像欠陥を生じることがなく、半導体素子を高い歩留りで製造しうるポジ型感放射線性樹脂組成物を提供する。 - 特許庁

The titanium dioxide added resin layer having the oxygen defect inside a barrier layer at the time of formation of a container is provided to the laminate for the container composed of at least paper, the barrier layer and a sealant layer.例文帳に追加

少なくとも紙、バリア層、シーラント層からなる容器用積層体に、容器とした際にバリア層よりも内側に酸素欠陥を有する二酸化チタン添加樹脂層を設けたことを特徴とする積層体を提供することにより解決した。 - 特許庁

The structure of the semiconductor device in which even when the defect occurs, its effect does not bring about a leakage current for deteriorating the transistor characteristics or the holding characteristics of a memory and the method for manufacturing the device for realizing these structures are provided.例文帳に追加

又は結晶欠陥がたとえ発生してもその効果がトランジスタ特性や、メモリの保持特性を悪化させるようなリーク電流とならないような半導体装置の構造、及びこれらの構造を実現するための製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for producing a polyolefin resin composition as a molding compound capable of efficiently producing a molded form of woody texture with no molding defect without aggravating the productivity of the finally available molded form.例文帳に追加

最終的に得られる成形体の生産性を悪化させることなく、成形不良のない木質感のある成形体を効率良く製造することができる成形用材料としてのポリオレフィン系樹脂組成物を製造する方法を提供すること。 - 特許庁

To suggest the presence of hierarchical defective between pictures by extracting the relation between the pictures and to confirm in designing that corrections are so made as to eliminate the defect after the individual pictures are corrected according to the suggestion.例文帳に追加

画面間の関連づけを抽出して画面間の階層上の不備の存在を示唆することができ、その示唆に基づいて個々の画面を修正した後で、その不備が解消される方向にその修正が行われていることを設計時に確認する。 - 特許庁

Considering that the dot flaw and the longitudinal line flaw are adjacently present, the defect compensation circuit 76 performs designated difference operation using pixels around a pixel of an interest to be compensated and determines an interpolation pattern according to the result of comparison between differential operation values.例文帳に追加

点キズと縦線キズとが隣接して存在することを考慮し、欠陥補正回路７６は補正すべき注目画素の周囲の画素を用いた所定の差分演算を実行し、差分演算値の大小比較に応じて補間パターンを決定する。 - 特許庁