「Defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(299ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a releasing laminated sheet not having a defect of gradually raising an interface adhesive strength with time from a manufacturing time and not under going change of interface adhesive strength with the elapse of time by gradually advancing curing of a thermoplastic resin and a method for manufacturing the same.例文帳に追加

熱可塑性樹脂の硬化が徐々に進行し、製造時の界面接着強度に対し、徐々に高くなるという欠陥のない経時的に界面接着強度が変化しない剥離用積層シート、及びその製造方法を提供する。 - 特許庁

The component correcting apparatus 10 is provided with a stage 1 for carrying a color filter 20 while repeating the movement and the stoppage and a droplet applying mechanism unit 3 for applying droplets to a defect part of the color filter 20.例文帳に追加

部品修正装置１０は、移動および停止を繰り返しながらカラーフィルター２０を搬送するステージ１と、ステージ１によって搬送されるカラーフィルター２０に対して欠陥部への液滴の塗布を行う液滴塗布機構ユニット３とを備えている。 - 特許庁

To provide a cleaning device which can maintain cleaning performance for a long period and form an excellent electrophotographic image free of an image defect when an organic photoreceptor and polymer toner are used, and a method and a device for image formation using the cleaning device.例文帳に追加

有機感光体と重合トナーを用いた場合に、長期に亘ってクリーニング性能を保持し、画像不良がなく、良好な電子写真画像を形成できるクリーニング装置、及び該クリーニング装置を用いた画像形成方法、画像形成装置の提供。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a partial SOI wafer that suppresses occurrence of a defect in a region of an embedded oxide film when converting amorphous or polycrystalline silicon under deposition in a hole part reaching a bulk layer from an active layer to a single crystal.例文帳に追加

活性層からバルク層に達した孔部で堆積中のアモルファスもしくは多結晶シリコンを単結晶化させる際に埋め込み酸化膜の領域での欠陥発生を抑制させる部分ＳＯＩウェーハの製造方法を提供する。 - 特許庁

By forming an InP metamorphic buffer layer 2 having a thickness of 4 μm or above and a surface defect density of 10^8/cm^2 or less on the GaAs substrate 1, the InP-based semiconductor element 11 having a superior property and a high reliability can be formed on the GaAs substrate.例文帳に追加

GaAs基板１上にInPメタモルフィックバッファ層２を、厚さ４μｍ以上として、その表面の欠陥密度を１０^８／ｃｍ^２以下にすることによって、GaAs基板上に、すぐれた特性と信頼性を有する、InP系半導体素子１１を構成する - 特許庁

To overcome problems in a conventional defect detection technique in which defects of electric resistance welded parts cannot be detected sufficiently, and mixing of an electric resistance welded pipe including a local part deteriorated in mechanical properties into a resultant product cannot be prevented in some cases.例文帳に追加

従来の欠陥検出技術では電縫溶接部の欠陥を十分に検出できるまでには至っておらず、機械的特性の劣化した局部を含む電縫鋼管が製品に混入する場合があるという事態を防ぎ難い。 - 特許庁

To obtain high accuracy machining, safe work, defect-free and inexpensive mechanical technology for a machine tool even if the machine tool is easily affected by various natural environment different in every country, regarding a correction method of a machining error due to thermal deformation of the machine tool.例文帳に追加

工作機械の熱変形による加工誤差の補正方法に関し、各国で異なる自然環境の影響を受けやすい工作機械であっても、高精度な加工、安全な作業、不具合の工作機械、安価な機械の技術を得る。 - 特許庁

To provide a manufacturing device and method of web capable of applying coating liquid scarcely having contaminants, with a uniform thickness at high speed by preventing coating defect due to the incorporation of wear dust caused by wear of a support of a metering unit.例文帳に追加

メタリングユニットの支持体の摩耗により発生する摩耗屑の混入による塗布欠点を防止して、異物の混入が少ない塗液を高速で均一な厚さに塗布することができるウェブの製造装置および方法を提供すること。 - 特許庁

In order to control the entire system of a video camera, a CPU 11 is provided with a key input part 12, an EEPROM control part 13, a defect detection/correction information preparation part 14, a camera signal control part 15, a TG control part 16 and a diaphragm control part 17.例文帳に追加

ビデオカメラのシステム全体を制御するためにＣＰＵ１１は、キー入力部１２、ＥＥＰＲＯＭ制御部１３、欠陥検出・補正情報作成部１４、カメラ信号制御部１５、ＴＧ制御部１６、絞り制御部１７を有している。 - 特許庁

To provide a light-shielding/antireflection multilayer film which has satisfactory linearity of a film edge and is excellent in weatherability, to provide a solid-state imaging element which can reduce occurrence of spurious signals caused by stray light and is free from color defect, and to provide a simplified manufacturing method of the solid-state imaging element.例文帳に追加

膜のエッジの直線性が良好で、耐候性に優れた遮光・反射防止積層膜の提供、及び迷光による偽信号の発生が軽減され色欠陥のない固体撮像素子、及び簡略化された製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a friction/agitation joining method by which the generation of a tunnel-shaped joining defect accompanied by a shortage of a plastic flow is controlled in the friction/agitation joining method wherein two joining members having different high-temperature deforming resistances are butt-joined.例文帳に追加

高温変形抵抗が相異する２個の接合部材を突合せ接合する摩擦撹拌接合法であって、塑性流動不足に伴うトンネル状接合欠陥の発生を抑制することのできる摩擦撹拌接合法を提供すること。 - 特許庁

To provide a TFT(thin film transistor) array substrate in which the short circuit failure between adjacent wirings or the like can be recognized in the defect inspecting process of the TFT array substrate and, moreover, a correct inspected result can be obtained when a GS(group separator) short circuit failure is caused.例文帳に追加

ＴＦＴアレイ基板の欠陥検査工程において、隣接する配線間の短絡不良等が認識でき、さらにＧＳショート不良の発生時にも正確な検査結果を得ることができるＴＦＴアレイ基板を提供する。 - 特許庁

To provide an imaging device capable of preventing deformation of a photoconductive film and an image defect due to temperature rise of the imaging device without degrading the performance of the imaging device such as high sensitivity, high resolution and high S/N ratio.例文帳に追加

撮像装置の高感度、高解像度、高Ｓ／Ｎ等の性能を劣化させることなく、撮像装置の温度上昇による光導電膜の変形及び画像欠陥を防止することができる撮像装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To prevent an eaves-shaped scum formed in a boundary between a discharge opening and a channel from occurring, improve dimensional accuracy and stability, and provide a solution to an emerging defect in the manufacturing method of an inkjet recording head.例文帳に追加

インクジェット記録ヘッドの製造方法において、吐出口と流路の境界部に形成されるひさし状のスカムの発生を防ぎ、寸法精度と安定性を向上し、かつ新たに出てきた不具合に対しての解決の方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method of making an organic light emitting diode display represent many kinds of gray level while solving defects of a known technology that is able to represent many kinds of gray level on a display and has a defect in contrast between a gray level and a gray level.例文帳に追加

周知の技術の、ディスプレイに多種類のグレイレベルを現出させることができず、またグレイレベルとグレイレベルの間のコントラストの不良の欠点を解決する、有機発光ダイオードディスプレイに多種類のグレイレベルを表現させる方法の提供。 - 特許庁

In the defect detection method in the sheet-like printed matter (10) for continuously printing the same pattern on the continuous sheet, mask treatment (14) is made to a part (12) outside a pattern range that does not become a product, thus inspecting only a product section (11).例文帳に追加

連続するシート上に同一の絵柄が連続して印刷されるシート状印刷物（１０）の欠陥検出方法であって、製品とはならない絵柄範囲外の部分（１２）にマスク処理（１４）して製品部分（１１）のみ検査できるようにした。 - 特許庁

To provide a defect detection method and its program for calculating a quasi-straight line with accuracy that will not deteriorate, by using a simple means, in a state of on-line real time where inspecting objects are flowing, when detecting defects in the profile shapes of the inspecting objects.例文帳に追加

検査物の外形の欠点を検出する場合に、検査物が流れているオンラインリアルタイムの状態で、簡易な手法により、精度が低下することのない疑似直線を算出可能な欠点検出方法及びプログラムを提供する。 - 特許庁

By providing the connection part 14, heavy metal 54 introduced to the active layer 13 is gettered by the oxygen deposit defect 53 of the support substrate 11 through this connection part 14 by heat treatment when forming a device, so that the heavy metal pollution is prevented.例文帳に追加

接続部１４を設けることで、活性層１３に導入された重金属５４は、デバイス形成時の熱処理で、この接続部１４を通して支持基板１１の酸素析出欠陥５３でゲッタリングされ、重金属汚染を防止できる。 - 特許庁

To provide an image processor which is constituted to shorten image fetching time and to reducer the labor and time required for correlating a picture with inspected results at the time of clearing up the cause of a defect.例文帳に追加

画像取り込み時の時間短縮を図ることが可能であると共に、欠陥の発生原因を究明する際における画像と検査結果との対応付けに要する手間を削減することができる構成とされた画像処理装置を提供する。 - 特許庁

To provide a calibration device for array type magnetic flaw detection equipment capable of calibrating easily sensitivity of an individual magnetic sensor for a micro-fine defect of a running thin steel sheet, in the array type magnetic-field test equipment, and a calibration method therefor.例文帳に追加

本発明は、アレイ型磁気探傷装置において、走行中の薄鋼板の微小欠陥に対する個々の磁気センサの感度校正が容易に行えるアレイ型磁気探傷装置の校正装置、及びその校正方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a chemical mechanical polishing method capable of suppressing surface defect including scratches, and sufficiently suppressing a cost in practical usage in a planarizing process of a surface to be polished by the chemical mechanical polishing method.例文帳に追加

化学的機械的研磨方法による被研磨面の平坦化工程において、スクラッチをはじめとした表面欠陥が抑えられ、現実の使用においてもコストを十分に抑える事が出来る化学的機械的研磨方法を提供することを目的とする - 特許庁

To improve the lifetime of a semiconductor device, the lifetime or the mobility of the carrier of the operation of the device to a sufficient value for the practical use of the device, by realizing a crystal growing technique for forming a semiconductor layer in an extremely low defect density.例文帳に追加

半導体層を極めて低い欠陥密度で形成する結晶成長技術を実現し、半導体装置の寿命又はこの動作に係るキャリアの寿命もしくは移動度を当該半導体装置の実用化に十分な値に改善する。 - 特許庁

To provide a gasket connecting method capable of simplifying gasket connecting work carried out on the job site in a joint of exterior wall surface jointing portion for exterior finishing members of a building, securing a good state of adhesion and considerably decreasing the percentage of occurrence of defect in adhesion.例文帳に追加

建築用外装材の外壁面接合部の目地に現場で施工するガスケット接続作業の簡易化、良好な接着状態の確保および接着欠陥発生率の大幅減少が可能なガスケットの接続方法の提案。 - 特許庁

To provide an information transmission terminal for supporting independence, which a physically or mentally handicapped person as well as an old person having physical defect can easily use and transmit self-will to a desired opposite party at desired time.例文帳に追加

身体的或いは知的障害を有する者や体が不自由な老人等が容易に使用でき、所望の相手に、かつ所望の時に自分の意思を伝達することを可能とした自立支援のための情報伝送用端末機を提供する。 - 特許庁

The presence or absence, and dimensions of the hole-like defect are inspected based on the light intensity of regular reflection light 29 and the irregular reflection light 31 that are displayed on a display means 33 in response to the detection output of the first and second photosensors 30 and 32.例文帳に追加

第１および第２光センサ３０，３２の検出出力に応答して表示手段３３に表示される正反射光２９および乱反射光３１の光強度に基づいて孔状欠陥の有無および寸法を検査する。 - 特許庁

The optical information recording and reproducing apparatus of this invention is provided with a defect detection section and a switch section, and the switch section interrupts input of an abnormal jump detection signal to a recording and reproducing signal switching circuit for a time while a light spot detects a defective part and for a prescribed time after passing through the defective part.例文帳に追加

欠陥検出部とスイッチ部を設けて、光スポットが欠陥部を検出している間と欠陥部通過後の所定時間は、スイッチ部によりアブノーマルジャンプ検出信号の記録再生信号切り換え回路への入力を断つ。 - 特許庁

To provide an original reader that prevents foreign matters such as paper powder separated from an original at an ADF(Automatic Document Feeder) provided with an original carrying path directed laterally whose cross section is almost U-shaped from depositing onto a mirror or the like of a scanner thereby avoiding read information from having a defect.例文帳に追加

横向きの略Ｕ字状の原稿搬送路を設けたＡＤＦにおいて、原稿から分離した紙粉等の異物が、スキャナーのミラー等に付着することを防止し、読み取った情報に障害が発生することを防止できるようにする。 - 特許庁

To provide a molding stock transferring device and a molding stock transferring method where, when an optical glass preform in a softened state is arranged on a die for molding, and is molded, an optical glass preform is arranged at the desired position of the die for molding, and further, the generation of a molding defect is surely suppressed.例文帳に追加

軟化状態の光学ガラス予備成形体を成形用金型上に配置して成形を行う際に、成形用金型の所望の位置に光学ガラス予備成形体を配置するとともに、成形不良の発生を確実に抑えること。 - 特許庁

To provide a manufacturing method of silicon single crystal, in which the optimum manufacturing condition to control the size and the density of grow-in defect caused by void to be a desired value is precisely obtained at the time of growing silicon single crystal using the CZ method.例文帳に追加

ＣＺ法を用いてシリコン単結晶を育成する際に、空孔起因のグローンイン欠陥のサイズならびに密度を所望の値とする最適製造条件を的確に求めることができるシリコン単結晶の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a sniffer probe and gas leak testing method using the same whereby, if the scan speed varies or the defect-probe distance is long, the detecting limit (min. detectable value) of He leakage can be improved.例文帳に追加

本発明は、走査速度が変化した場合や欠陥部・プローブ間距離が離れている場合でも、ヘリウムの洩れに対する検出限界（検出可能最小値）を向上させることができるスニッファープローブ、それを用いたガス洩れ試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a conductive endless belt having high durability enduring repeated continuous use and assuring a high-quality image without inducing an image defect such as color dropping, and to provide a method for manufacturing the belt and an image forming apparatus using the belt.例文帳に追加

繰り返し連続使用に耐えうる高い耐久性を備え、色抜け等の画像不良を生ずることなく、高品質画像を確実に得ることができる導電性エンドレスベルト、その製造方法およびそれを用いた画像形成装置を提供する。 - 特許庁

To facilitate management of a manufacturing process by supplying inspection data capable of inspecting the electrical characteristics of a TFT formed on the same substrate and the formation defect of a contact hole provided on a transparent organic insulating film to an inspection apparatus.例文帳に追加

同一基板上に形成されたＴＦＴの電気的特性及び透明有機絶縁膜に設けられたコンタクトホールの形成不良を検査可能な検査データを検査装置に供給し、製造プロセスの管理を容易にすることを課題とする。 - 特許庁

To provide a liquid crystal display wherein the defect of a counter short circuit of a gate electrode part, a source electrode part and a thin film transistor electrode part of a first glass substrate to transparent conductive film layers of a second glass substrate is suppressed and to provide a manufacturing method thereof.例文帳に追加

第１ガラス基板のゲート電極部、ソース電極部、薄膜トランジスタ電極部と、第２ガラス基板の透明導電膜層との対向ショートの欠陥不良を抑制した液晶表示装置、及びその製造方法を提供する。 - 特許庁

To certainly produce a defect-free molded product by making the vol. of content being the vol. of the weighing element of a weighing pump filled with a reaction component constant over the total operation time by conditioning a weighing part constituting element.例文帳に追加

計量部構成要素をコンディショニングすることにより、反応成分で充填された計量ポンプの計量要素の容積である内容物容積を全操業時間にわたって一定とし、無欠陥な成形品の製造を確実にする。 - 特許庁

To provide a liquid crystal display device uniformly applying a voltage to a liquid crystal even while providing a light diffusion layer diffusing a beam, preventing a display defect such as the occurrence of display irregularity and visible from a wide range view angle.例文帳に追加

光を拡散する光拡散層を備えながらも電圧が均一に液晶に印加されて、表示にむらが発生するなどの表示不良を防止できるとともに、広い範囲の視野角より視認が可能な液晶表示装置を提供する。 - 特許庁

To provide a retardation control element with which occurrence of a retardation defect causing light leakage, color shift etc. of a liquid crystal display device is suppressed and method for manufacturing the same, and the liquid crystal display device equipped with the retardation control element.例文帳に追加

液晶表示装置の光漏れや色シフトなどの原因となる位相差欠陥の発生を抑制することのできる位相差制御素子とその製造方法、およびかかる位相差制御素子を備える液晶表示装置を提供する。 - 特許庁

The defect inspection method is thereby obtained which improves the inspection sensitivity to a short in the bottom part between wiring, and which detects even a short of a pattern in the bottom part between a plurality of wiring, which form a miniaturized pattern and are arranged in parallel.例文帳に追加

これにより、配線間の底部のショートに対する検査感度を向上させ、微細化されたパターンであり、平行に並んだ複数の配線間の底部におけるパターンショートであっても検出可能な欠陥検査方法を実現することができる。 - 特許庁

This sales method, wherein a sales price is not lowered according to the number of purchases but the number of points to be returned is varied, is very effective in cover the defect of the joint purchase while maintaining its advantage.例文帳に追加

購入個数に応じて販売価格を引き下げるのではなく、還元するポイント数が変化するという販売方法をとることは、共同購入の利点を残しつつ共同購入の欠点を補う非常に有効な販売方法である。 - 特許庁

To provide a pulsation water pressure-generating device for testing water pressure in a pipe that can securely find the connection failure of piping, the defect of a joint part, or the like by generating a pulsation water pressure in the pipe and applying it to the pulsation water pressure.例文帳に追加

管内に脈動水圧を発生させて、この脈動水圧を印加することにより配管の接続不良や継手部の欠陥等をより確実に発見することができる管内の水圧試験用脈動水圧発生装置を提供する。 - 特許庁

As a result, the stress applied to the organic EL element due to the application of the inverse bias is reduced, so that it is possible to restrain a change in characteristic of the organic EL element or dark dot defect due to the stress caused by application of inverse bias.例文帳に追加

その結果、逆バイアスがかかることによって有機ＥＬ素子に与えられるストレスを軽減できるため、逆バイアスがかかることによるストレスに起因して、有機ＥＬ素子の特性が変化したり、滅点となったりするのを抑えることができる。 - 特許庁

To provide a fixing device that prevents an envelope or sheets of paper placed one on another, used as transfer mediums, from wrinkling, also prevents an image defect even in use of plain paper, and improves the durability and fixing capability of two rollers.例文帳に追加

転写材として封筒、重ね用紙を用いる場合でも、封筒や重ね用紙のしわを防止しつつ、また普通紙でも不良画像を発生させることなく、２本のローラの耐久性や定着性の向上を図る定着装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a waveguide type photodetector, wherein a lattice defect concentrates only on the center portion of a rib-type waveguide of a semiconductor even in the case of using an exposure apparatus of which the resolution is equal to or higher than the width of the rib-type waveguide.例文帳に追加

解像度がリブ型導波路の幅以上の露光装置を使用しても格子欠陥が導波路のリブ型導波路の中央部にのみに集中する導波路型受光器の製造方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

According to the method, impurity pile up on the Si/SiO2 interface which can not be represented by a conventional Fair model can be represented without solving the diffusion equation related to point defect (i.e., without using a conventional pair diffusion model).例文帳に追加

この方法によれば，従来のＦａｉｒモデルでは表せなかったＳｉ／ＳｉＯ_２界面における不純物パイルアップを，点欠陥に関連した拡散方程式を解くことなく（すなわち従来のペア拡散モデルを用いず）表すことが可能となる。 - 特許庁

To provide a selling method for cosmetics, with which the defect of a conventional cosmetics selling method is canceled and a client himself/ herself can determine cosmetics suited to the skin type of the client by means of a cosmetics selection support program and can order the cosmetics online.例文帳に追加

従来の化粧品販売方法の欠点を解消し、顧客自らが化粧品選択支援プログラムにより、顧客の肌に適合する化粧品を決定し、オンラインで注文することができる化粧品の販売方法を提供する。 - 特許庁

Therefore, without lowering the display quality so much, it can save device and time for inspection and repairing operation, can reduce the cost and also can deal with even a defect after shipment even in a complicated circuit structure.例文帳に追加

したがって、表示品位をそれほど落とさずに、検査やリペア作業を行うための装置や時間を無くすことができ、コストを低減することができるとともに、複雑な回路構成であっても、また出荷後に生じた欠陥にも対応することができる。 - 特許庁