「Defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(285ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a resin composition which is used for artificial marble and easily gives the deep color artificial marble hardly having a defect accompanied by whitening at a low cost, to provide the artificial marble using the resin composition, and to provide a method for producing the same.例文帳に追加

白化に伴う欠陥を抑えた濃色系の人造大理石が容易かつ安価に得られる人造大理石用樹脂組成物及び該樹脂組成物を使用した人造大理石及びその製造方法を提供する。 - 特許庁

To overcome the defect that in a thin-film semiconductor element the moisture contained in a gate insulation film so reacts on W of the material of a gate electrode film as to generate thereby the change of the characteristic of a transistor in the negative direction thereof and damage its reliability.例文帳に追加

薄膜半導体素子において、ゲート絶縁膜中に含まれる水分がゲート電極膜の材料であるＷと反応することにより、トランジスタ特性の負方向への変動が生じ、素子の信頼性を損なう。 - 特許庁

To prevent operation time necessary for correction of a defective pixel from increasing and to securely perform correction such as cutting or short circuiting of a wiring pattern, by avoiding emission of a laser beam to a defect source such as a foreign matter.例文帳に追加

異物などの欠陥源にレーザ光を照射することを回避することによって、欠陥画素の修正に要する作業時間の増大を防止するとともに、配線パターンの切断または短絡などの修正を確実に実行する。 - 特許庁

To easily recognize a chapter mark in a summary copy where a unit page is generated from a plurality of sets of original image information and to eliminate a defect attended with increase in transfer paper expectably produced at the chapter mark of the summary mode.例文帳に追加

複数の原画像情報から単位ページを作る集約コピーにおいて章区切りの認識が容易に行なえ、集約モードの章区切り時に発生することが予想される転写紙の増大にまつわる不具合を解消する。 - 特許庁

Thereby, as the seed crystal substrate is removed during growth of the growth material, the generation of a defect in the growth material, caused by the difference between the thermal expansion coefficients or the like of the growth material and the seed crystal substrate 6, is almost suppressed.例文帳に追加

これにより、成長材料の成長時に種結晶基板が除去されるので、成長材料と種結晶基板６の熱膨張係数等の違いに起因して成長材料中に欠陥が生じることは殆どない。 - 特許庁

To suppress a membrane thickness defect area and non-uniformity of coating thickness at a start end of coating to be very small and enable to carry out high precision coating which is required at the time of manufacturing a liquid crystal color filter.例文帳に追加

塗布開始端部での膜厚不良域および塗布厚のむらを極めて小さく抑制し、液晶用カラーフィルタの製造時に要求されるような高精度塗布を行うことを可能とする塗工用ダイヘッドを提供する。 - 特許庁

To provide a drying method of a coating film, in which the defect of the coating film is prevented from occurring because a solvent is dew-condensed on the surface of a trough and the dew-condensed solvent is formed into droplets and deposited on the coating film.例文帳に追加

塗布膜の乾燥方法において、溶剤が樋表面に結露し、この結露した溶剤が滴となり塗布膜に付着してしまうことで塗布膜の欠陥が生じるのを防ぐことができる塗布膜の乾燥方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method and apparatus for manufacturing a functional film, preventing the deterioration of flatness of a coating film which causes a defect such as crack/omission of an inorganic film when forming the inorganic film on the coating film with a vacuum film-forming apparatus.例文帳に追加

真空成膜装置によりコーティング膜上に無機膜を成膜する際に、無機膜の割れ／抜け等の欠陥を引き起こすコーティング膜の平滑性悪化を防止する機能性フィルムの製造方法、及び製造装置を提供する。 - 特許庁

Among 66 columns of memory cell units 40 in one line, 64 columns are used as data units, 1 column is used as a redundancy unit, and 1 column is used as a defect specifying unit for storing data to specify a defective unit in the line.例文帳に追加

１行中の６６列のメモリセルユニット４０のうち、６４列がデータ用ユニット、１列が冗長用ユニット、１列が行内の欠陥ユニットを特定するデータを記憶するための欠陥特定用ユニットとして用いられる。 - 特許庁

Thereby, the target patterns AM and the like become irrelevant to an electric field in the vacuum vessel; influence of charge on an electron orbit or discharge generation is prevented; and this high-reliability image display device without causing a display defect is provided.例文帳に追加

これにより、ターゲットパターンＡＭ等は真空容器内部の電界とは無関係となり、帯電による電子軌道への影響、あるいは放電発生が防止され、表示欠陥の発生のない高信頼性の画像表示装置が得られる。 - 特許庁

To provide a method and a device for maintaining data integrity in a flash-memory microcomputer so as to enable control even if such a data defect as disappearance occurs in a program stored in a flash memory in the microcomputer.例文帳に追加

本発明は、マイクロコンピュータ内のフラッシュメモリに記憶させたプログラムに消滅等のデータ異常が発生した場合であっても、制御を可能にするためのフラッシュメモリマイクロコンピュータのデータ保全方法および保全装置に関するものである。 - 特許庁

To provide a fixing device and an image forming device which prevent a defect of image fixing to a synthetic resin plate by making the length in the endlessly moving direction of a fixing member surface longer than that in the carrying direction of the synthetic resin plate.例文帳に追加

定着部材表面の無端移動方向の長さを合成樹脂板の搬送方向の長さ以上にして、合成樹脂板への画像の定着不良を防止できる定着装置及び画像形成装置を提供する。 - 特許庁

To provide a display device in which a method of high-speed transmission of display data signal is improved, defect or constraint accompanying the conventional high-speed signal transmission is removed and low cost and high reliability is achieved.例文帳に追加

本発明は表示装置において表示データ信号の高速伝送の方法を改善し、従来の信号伝送の高速化に伴う欠点や制約を除去し、低コストで信頼性の高い表示装置を実現することを目的とする。 - 特許庁

When an inspection result of a previous step is included in the chip ID, level identification on a defective or acceptable chip can be carried out by only reading the chip ID and thus this can quickly cope with the defect-cause analysis, shipping by characteristics, or the like.例文帳に追加

チップＩＤに前工程の検査結果を含ませる事で、不良品や良品のレベル識別がチップＩＤの読み取りをおこなうだけで可能となり、不具合の原因解析や特性別の出荷などに迅速に対応できる。 - 特許庁

A critical area of one via is calculated on the basis of sizes of a plurality of vias, sizes of defects causing random defect failures of the plural vias and a distance from the one via to another adjacent via.例文帳に追加

複数のビアのサイズ、複数のビアのランダム欠陥不良の原因となる欠陥のサイズ、及び複数のビアのうちの一のビアと該一のビアに隣接する他のビアとの間の距離に基づいて、一のビアのクリティカルエリアを算出する。 - 特許庁

A defect extraction part 205 compares comparison object information acquired by imaging the reference subject after acquiring the reference information with the reference information stored in the storage part 207, and extracts a different portion between both information as defects.例文帳に追加

欠陥抽出部２０５は、基準情報の取得後に基準被写体を撮像して得られた比較対象情報と、記憶部２０７に保存されている基準情報とを比較し、両者が異なる部分を欠陥として抽出する。 - 特許庁

The accumulator battery 15 applies a voltage having a prescribed potential difference with respect to the potential of the steel tower member 200 to the copper plate 300B from voltage application points 300a to c via a rainfall detection part 40, a switch 18, and a device defect detection part 50.例文帳に追加

蓄電池１５は、降雨検出部４０、スイッチ１８、装置不良検出部５０を介して、電圧印加点３００ａ〜ｃから銅板３００Ｂに、鉄塔部材２００の電位に対して所定電位差の電圧を印加する。 - 特許庁

To provide an image forming apparatus and an image forming method capable of forming an image without the need for changing a process speed and without causing any defect even when the image is continuously formed for a plurality of kinds of media.例文帳に追加

複数種類のメディアに対して連続して画像を形成する際にもプロセス速度を変更することなく、また不具合が発生することなく画像を形成可能な画像形成装置及び画像形成方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method of feeding a filer wire for a laser beam welding machine and a device of feeding the filler wire for the laser beam welding machine with which a weld defect is easily suppressed by feeding the filler wire automatically and to an optimum position.例文帳に追加

フィラーワイヤの送り出しを自動で最適位置まで行うことにより容易に溶接不良の発生を抑えることのできるレーザ溶接機のフィラーワイヤ供給方法およびレーザ溶接機のフィラーワイヤ供給装置を提供する。 - 特許庁

To obtain a digital signal accurately indicating whether a phase is a leading or lagging phase without using a charge pump or an A/D converter even if an output pulse of a high-speed Bang-Bang type phase comparator circuit has distortion and/or defect.例文帳に追加

高速動作するBang-Bang型位相比較回路の出力パルスに歪や欠損がある場合であっても、チャージポンプやＡ／Ｄ変換器を用いることなく、進相、遅相のいずれであるかを正確に表すデジタル信号を得る。 - 特許庁

To provide a laminated ceramic capacitor such as chip capacitor or the like, which prevents the occurrence of structural defect upon calcination and is small in the deterioration of electrostatic capacitance value, while having temperature stability of an excellent capacitance value and being excellent in reliability.例文帳に追加

焼成時の構造欠陥の発生を抑制した、静電容量値の低下の小さい、優れた容量値の温度安定性を有し、信頼性に優れたチップコンデンサなどの積層セラミックコンデンサを提供することができる。 - 特許庁

To provide a high strength porous body to obtain a metal ceramic composite material by a pressure infiltration method and to manufacture the metal-ceramic composite material which is inexpensive and has high rigidity without causing crack, the formation of a metal-enriched layer or infiltration defect.例文帳に追加

加圧浸透法により金属−セラミックス複合材料を得るための高強度の多孔体を提供し、クラックやメタルリッチ層、浸透不良が生じず、低コストで剛性の高い金属−セラミックス複合材料の作製を可能とする。 - 特許庁

To provide an inspection device for optical lens capable of precisely performing inspection of optical defect or optical performance of an optical lens used for a small CCD camera or the like in a short time, and reducing the inspection cost.例文帳に追加

小型ＣＣＤカメラ等に使用される光学レンズの光学的欠陥の有無や光学性能の検査を短時間に正確に行うことができ、また、検査コストも低減させることのできる光学レンズの検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a coating method which enables a good and stable coating not imparting a flaw defect to a film when the film is coated with a coating solution with an applicator roll which is rotated in a direction opposite to the running direction of the film in a film forming process.例文帳に追加

製膜工程において走行するフィルムの走行方向と逆方向に回転するアプリケーターロールで、フィルムに塗液を塗布する際、フィルムに傷欠点がない、良好で安定な塗布を行える塗布方法を提供する。 - 特許庁

To provide an optical disk having high reliability by preventing prepit signals from generating noise by forming the prepit around the inner peripheral side wall surfaces of land regions in order to avert the molding defect which arises on the inner peripheral side wall surfaces.例文帳に追加

ランド領域の内周側壁面に生じる成形不良を回避すべく、外周側壁面を中心にプリピットを形成することで、プリピット信号のノイズ発生を防止して信頼性の高い光ディスクを提供する。 - 特許庁

A correcting device 1 comprise a pattern correcting mechanism 2, image detecting mechanism 3, drive part 6, drive-part control part 7, defect discriminating circuit 11, pattern comparison circuit 12, matching identifying circuit 13, and correction pattern control circuit 14, etc.例文帳に追加

修正装置１は、パターン修正機構２、画像検出機構３、駆動部６、駆動部制御部７、欠陥選別回路１１、パターン比較回路１２、一致指摘回路１３、および修正パターン制御回路１４等を備えている。 - 特許庁

In setting the characteristics parameters, the leak current due to the internal leak in the TFT is increased by setting the voltage level and/or the timing of application, and any internal defect in the TFT is detected with the increased leak current.例文帳に追加

特性パラメータの設定において電圧値および／又は印加時期を設定することによってＴＦＴの内部リークによるリーク電流を増加させ、増加させたリーク電流によってＴＦＴの内部欠陥を検出する。 - 特許庁

The defect detecting device 40 attaches an AE sensor 41 for detecting the defects of the gear part 33 on the gear to be inspected 16 provided with the gear part 33, having a large number of engaging teeth and formed of a synthetic resin material.例文帳に追加

損傷検出装置４０は、多数の噛合歯を有し且つ合成樹脂材により形成されたギヤ部３３を備えている被検歯車１６に、当該ギヤ部３３の損傷を検出するためのＡＥセンサ４１を取り付けてなる。 - 特許庁

The focus of an imaging means 3 is passed through a preform 2 to be aligned with a dot pattern 4, and a defect 12A in the preform 2 is detected through distortion in the dot pattern 4 inside an image 10B of the preform 2 imaged by the imaging means 3.例文帳に追加

撮像手段３の焦点をプリフォーム２を透過させてドットパターン４に合わせ、撮像手段３により撮像されるプリフォーム２の画像１０Ｂ内のドットパターン４の歪みによりプリフォーム２の欠陥１２Ａを検出する。 - 特許庁

The vicinity of crack type defect 10 caused on a welded material 9 of reactor structure irradiated by neutron is cut (a), a new welding material 12 is provided to the cut surface (a) and contact surfaces are welded with a laser welder 13.例文帳に追加

中性子照射を受けた原子炉構造物の被溶接部材９に生じたき裂状の欠陥10近傍を切断ａし、切断ａ面に新たな被溶接部材12を設けて、レーザ溶接機13により接合面を溶接して接合する。 - 特許庁

To provide a manufacturing method of a honeycomb formed body and drying equipment thereof which are capable of drying the honeycomb formed body having a cell wall thickness of 0.125 mm or below, without causing a defect such as a crack or a wrinkle in the outer peripheral skin part.例文帳に追加

セル壁厚さが０．１２５ｍｍ以下のハニカム成形体を，外周スキン部に割れ，しわ等の欠陥を生じさせることなく乾燥することができるハニカム成形体の製造方法及び乾燥装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a detecting method for a crystalline defect with high measurement sensitivity in which even a microdefect such as a small BMD formed nearby a wafer surface after a low-temperature process as an advanced device process can be measured.例文帳に追加

先端デバイスプロセスである低温プロセス後のウェーハ表面近傍に形成される小さなＢＭＤなど微小な欠陥であっても測定することができる測定感度の高い結晶欠陥の検出方法を提供する。 - 特許庁

To provide soldering equipment which can easily obtain an excellent soldering condition, avoiding the cause of the occurrence of the defect of a work to be soldered in which a metal substrate having a high heat dissipation property is superposed with a printed-wiring substrate on which an electronic component is mounted.例文帳に追加

放熱性が高い金属基板と、電子部品が実装されたプリント配線基板とを重ね合わせた被はんだ付けワークの不良発生の原因を回避しながら良好なはんだ付け条件を容易に得ることができる。 - 特許庁

To provide a defect inspection method for an axially symmetric object, which permits handy and quick inspection of defects such as chips or burrs with a higher detection accuracy as caused at a corner part, in the inspection of products with the aim of guaranteeing the quality thereof.例文帳に追加

品質保証を目的とした製品検査において、角部に発生する欠けやバリ等の欠陥を、高検出精度、簡便、かつ迅速に検査することができる軸対称物体の欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method of fabricating a high-k gate insulating film and a silicon oxide film on the high-k gate insulating film whereby a defect and trapping are avoided that cause a short circuit between doped silicon gates on the high-k gate insulating film.例文帳に追加

高ｋゲート絶縁膜上のドープされたシリコンゲート間に短絡をもたらす欠陥、トラッピングを回避する、前記高ｋゲート絶縁膜および前記高ｋゲート絶縁膜上のシリコンオキサイド膜の製造法を提供する。 - 特許庁

To provide a printed-state inspection device that picks up an image formed of reflected light from a printed surface by projecting light upon the printed surface, detects a printing defect from the obtained image, and is improved in inspection efficiency.例文帳に追加

印刷面に光を照射し、その反射光により形成される像を撮像し、得られた画像から印刷の欠陥を検出する印刷状態検査装置であって、検査効率の向上を図ったものを提供する。 - 特許庁

In a manufacturing method of a lithography original, a continuous pattern of periodic patterns 4 which appear on a circuit pattern 3 is formed over the substantially whole area of a substrate, and defect inspection is performed to detect defects in the continuous pattern.例文帳に追加

実施の形態のリソグラフィ原版の製造方法は、回路パターン３に表れる周期的パターン４を連続させた連続パターンを基板の略全面にわたって形成し、連続パターンの欠陥を検出する欠陥検査を行う。 - 特許庁

To provide a terminal strip for a panel, which copes with the xDSL technology by utilizing preceding wires and panels, easily connects a telephone set to a phone connector and avoids a defect caused by mis-connection of the phone.例文帳に追加

先行配線および盤を利用してｘＤＳＬ技術に対応でき、且つ電話用コネクタへの電話機の接続が容易で電話機の誤接続に起因した不具合を回避することができる盤用端子台を提供する。 - 特許庁

FCl acts as an etching species and selectively etches only the nitrided film 20, and removes an organic matter 14 and a metal 16 sticking to a surface of the oxide film 12 and a defect 18 formed in a surface of the oxide film 12.例文帳に追加

ＦＣｌがエッチング種として作用し、窒化膜２０のみを選択的にエッチングし、酸化膜１２の表面に付着した有機物質１２、金属１４及び酸化膜１２の表面に形成された欠陥１６を除去する。 - 特許庁

To provide an image forming device equipped with a contact electrifying device where the wear of an image carrier is restrained to be little a faulty electrification due to soiling by toner is hardly caused and an image quality defect in a horizontal stripe state is prevented.例文帳に追加

像担持体の磨耗が少なくトナー汚染による帯電不良の発生が少なく横筋状画質欠陥の発生が防止された接触帯電装置を備えた画像形成装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a laser beam welding method for producing a shape steel, such as T shape or H shape, obtaining sufficiently stable penetration by eliminating deformed defect, such as bending caused by the welding, while keeping the merit of the laser beam welding method.例文帳に追加

レーザ溶接方法の利点を維持しつつ、溶接による曲がりなどの変形欠点を解消し、十分に安定した溶け込みが得られるＴ形もしくはＨ形のような形鋼を製造するレーザ溶接方法を提供する。 - 特許庁

To prevent formation of cracks or the like in a bent part of a resin-made intermediate plate, and formation of power generation defect due to disturbance or the like of gas distribution flow in power generation operation in a fuel cell having three-layered flat separator.例文帳に追加

３層構造のフラットセパレータを備えた燃料電池において、樹脂製中間プレートの屈曲部における割れ等の発生を防止し、発電動作時のガス配流の乱れ等による発電不良の発生を防止する。 - 特許庁

To establish a production method for producing a needle-like crystal of R_1Ba_2Cu_3O_7 and to produce the high quality needle-like crystal having a very low defect density.例文帳に追加

Ｒ_１Ｂａ_２Ｃｕ_３Ｏ_７の針状結晶及びその有効な製造方法を確立し、極めて欠陥の少ない高品位針状結晶を製造して、未だ実現していない超伝導エレクトロニクス素子実用化への道を拓くことである。 - 特許庁

To positively utilize a moisture adsorbing material as latent heat storage (moisture storage) and as a heat storage medium instead of ice by using a large quantity of moisture adsorbing material although an adsorption type refrigerator is regarded as a defect of enlargement of size.例文帳に追加

吸着式冷凍機は体格が大きくなる事が欠点と言われているが、逆に吸湿材を大量に使用する事で潜熱蓄熱（蓄湿）として積極的に利用し、氷に代わる蓄熱媒体として利用する。 - 特許庁

To provide a liquid crystal display device which can delay or suppress the confirmation of the display defect by energization after a moisture resistance test by preventing the excessive current during voltage impression and solving the problem of the foaming phenomenon and the short.例文帳に追加

電圧印加時の過渡電流を防止して発泡現象やショートの問題を解決し、耐湿試験後の通電による表示不良の確認を遅延させ、あるいは抑制することのできる液晶表示装置を提供する。 - 特許庁