「Defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(284ページ目) - Weblio英語例文検索

Occurrence of various defects in cells caused by stress in die-bonding and defect expansions in operating are suppressed by using a semiconductor layer divided by the first recess, as a semiconductor carrier to achieve high breakdown voltage and high reliability.例文帳に追加

第１の凹部により分断された半導体層を半導体支持体として活用して、ダイボンディング時のストレスによるセル内の各種欠陥の発生と稼働時の欠陥拡張とを抑制し、高耐圧と高信頼性を実現する。 - 特許庁

To provide a traceability system for bag manufacturing, which determines a cause of a defect from a record in a bag manufacturing process, and can reduce time, labor and a cost of recovering or inspecting a defective product by specifying the range of the defective product.例文帳に追加

袋の製造工程での履歴に基づき、不具合原因を判定する袋製造トレーサビリティシステム、不具合品の範囲を特定でき、回収又は検品の手間やコストを削減できる袋製造トレーサビリティシステムを提供する。 - 特許庁

Then, when the operator instructs the document presentation and it is confirmed that there is no defect in the document, the control box 1 transmits the data showing the prepared document through a network to the server of the public organization being the presentation destination.例文帳に追加

そして、操作者により書類提出が指示され、更に書類不備のないことが確認されると、制御ボックス１は、作成した書面を表すデータを、ネットワークを介し、提出先である公的機関のサーバ等へと送出する。 - 特許庁

To provide a mounter for electronic parts which can materialize highly efficient and highly accurate mounting by enabling high-speed shifting while securing high positional accuracy, and correcting the drop of positional accuracy being the defect of a high-speed shifting means.例文帳に追加

高い位置精度を確保しつつ高速移動を可能とし、高速移動手段の欠点である位置精度の低下を補正し、高効率・高精度実装を実現できる電子部品の実装装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a mold for metal casting which achieves the elongation of its service life and the reduction in the defect of the appearance in the obtained ingot by improving the adhesion between a casting face and a release agent, and to provide a casting method using the same.例文帳に追加

鋳込み面と離型剤との密着性を改良することにより、鋳型の長寿命化と、得られるインゴットの外観不良の低減とを可能とする金属鋳造用鋳型およびこれを用いた鋳造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a radiation sensitive composition for a color filter bringing about little surface roughness of a pixel, generating no display defect such as image persistence and display unevenness and further excellent in developing property, adhesion property of a coloring layer to a substrate and so on.例文帳に追加

画素の表面粗度が小さく、焼き付けや表示ムラなどの表示不良を生じることのなく、しかも現像性、着色層と基板との密着性等にも優れたカラーフィルタ用感放射線性組成物を提供する。 - 特許庁

To provide a heat-resistant resin belt, wherein air bubbles are prevented from being mixed at a joint even when a surface layer is formed by laminating a silicone compound film, and a good-quality image free of a defect is obtained even when the belt is used as a fixing belt.例文帳に追加

表面層としてシリコーン化合物膜を積層形成しても、接合部において気泡の混入が防止され、定着ベルトとして用いた場合に欠陥のない良質な画像を得られる耐熱性樹脂ベルトを提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit which is provided with a defect relieving circuit which makes it possible to perform relief of timing failure in every specific circuit to be specified by address information and in which relieving efficiency is enhanced while maintaining a high speed operation and a relieving method.例文帳に追加

アドレス情報により指定される特定回路毎のタイミング不良を可能とし、高速化を維持しつつ救済効率を高めた欠陥救済回路を備えた半導体集積回路装置と救済方法を提供する。 - 特許庁

To solve a problem that when transmitting a test pattern from an LSI tester in the LSI tester or an LSI tester simulation model, which range of an address area in a DUT memory is accessed can not be known and a defect of the test pattern cannot be previously detected.例文帳に追加

ＬＳＩテスタ又はＬＳＩテスタシミュレーションモデルでは、ＬＳＩテスタ側からテストパターンを送信する際に、ＤＵＴメモリのどの範囲のアドレス領域をアクセスしたかを知ることはできず、テストパターンの不備を事前に検出できない。 - 特許庁

To provide a silicon water for semiconductor element of high grade whose crystal characteristics are improved sharply by removing a breaking layer, a crystal defect due to residual abrasive agent, impurity, or the like in a micro-working crack, and a distortion layer, entirely.例文帳に追加

破砕層と共にマイクロ加工クラック内の残存研磨剤や不純物等による結晶欠陥や歪み層を完全に除去し、結晶特性が大幅に改善された高品位の半導体素子用シリコンウェーハを提供する。 - 特許庁

To provide a display device in which clean display having no pixel defect and color irregularity is realized.例文帳に追加

有機ＥＬ表示装置において、信号制御用の薄膜トランジスタの電極と画素電極を電気的に接続しているコンタクトホール部が画素電極内に存在すると、このコンタクトホール内で発光素子を形成する電極との間でリーク電流が発生する。 - 特許庁

A cell arrangement position of a pad lower side, or a pad arrangement position or a bump arrangement position, etc., which is influenced by stress is previously laid out such that an operation defect of an LSI due to the influence of the stress hardly occurs.例文帳に追加

応力の影響を受けるパッド下側のセル配置位置、又はパッド配置位置若しくはバンプ配置位置等について、応力の影響に起因するＬＳＩの動作不具合が発生しにくいように予めレイアウトしておく。 - 特許庁

By this photomask 10, a defect such as the positional deviation of pattern transfer occurring because two masks are used in the case of the conventional technique is eliminated, further yield is improved and the production cost of the wafer is reduced.例文帳に追加

デュアルフォトマスクは、従来の技術の場合のような２つのマスクを使用することによるパターン転写の位置ずれの欠点をなくすことができ、更に、歩留りが向上し、ウエハ製造のコストを減少することを可能にする。 - 特許庁

To provide an organic electroluminescent element that has high brightness, is excellent in stability and endurance, may be enlarged and can be easily manufactured, and whose defect is scarcely generated in manufacturing, and in which aging deterioration in element performance is small.例文帳に追加

高い輝度を有し、安定性及び耐久性に優れ、大面積化が可能で製造容易な上に、更に製造上の欠陥の発生が少なく且つ素子性能の経時的劣化が小さい有機電界発光素子を提供。 - 特許庁

To cause no image deletion and transfer defect even when being used over a long period of time by keeping high sensitivity and mechanical strength unchanged even in use over a long period.例文帳に追加

長期の使用においても高感度と機械的強度を保持し、かつ、長期間使用しても画像流れや転写不良を起こさない電子写真感光体と、それを用いた画像形成方法と画像形成装置及びプロセスカートリッジを提供する。 - 特許庁

In the case of immersion exposure that the substrate P is exposed through a liquid, the flow of the liquid caused by the defect of the thin film is detected in advance and deterioration in productivity of the device is suppressed to prevent the occurrence of faults in the exposure apparatus.例文帳に追加

液体を介して基板Ｐが露光される液浸露光の場合には、薄膜の欠陥による液体の流出を未然に検知して、デバイスの生産性の低下を抑制し、露光装置の障害の発生を防止する。 - 特許庁

In a medium defect detecting mode, a CPU 12 records data of the prescribed pattern over a whole surface of a medium 141 with a sector unit, after that, performs control for reading all recorded data from the medium 141 by a head 142 with a sector unit.例文帳に追加

媒体欠陥検出モードでは、ＣＰＵ１２は媒体１４１の全面にセクタ単位で所定のパターンのデータを記録し、しかる後に媒体１４１から全記録データをセクタ単位でヘッド１４２により読み出すための制御を行う。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing an optical information recording medium to manufacture the optical information recording medium having a mechanical characteristic not causing a defect for reading and writing of information even after a lapse of a long time after the lamination.例文帳に追加

貼り合わせてから長時間経過した後でも情報の読み出し及び書き込みに不具合が生じない機械特性を有する光情報記録媒体を製造する光情報記録媒体の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide an inspecting device which can perform the defect inspection of CF as a constitution material of a liquid crystal display device and a polarizing plate in a single body state nearly as precisely as the inspection at the final stage of a liquid crystal module.例文帳に追加

液晶表示装置の構成材料であるＣＦおよび偏光板の欠陥検査を、単体の状態で、液晶モジュールの最終工程での検査と同程度の精度で行うことができる検査装置を提供する。 - 特許庁

To precisely paste a piece of double-sided adhesive tape by peeling from a carrier tape, which piece is available by introducing a raw fabric tape wound into a roll with no defect such as irregular winding, to a knife edge, and cutting out in a substrate shape during the supply process.例文帳に追加

巻き乱れなどの不具合なくロール巻きした原反テープをナイフエッジに導いて、その供給過程で基板形状に切断した両面粘着テープ片をキャリアテープから剥離して基板に精度よく貼付けることができる。 - 特許庁

To obtain an image forming apparatus capable of adjusting a distance from an exposure point to a transfer point and restraining the defect of image quality (density variation) associated with the speed variation of a photoreceptor, and an image quality adjusting method for the image forming apparatus.例文帳に追加

露光点から転写点までの距離を調整可能として、感光体の速度変動にともなう画質ディフェクト（濃度変動）を抑制可能な画像形成装置と、この画像形成装置における画質調整方法を得る。 - 特許庁

Using the positioning mark as reference, an image by the image quality evaluation device and an image by the correction device are overlapped, and thereby the positional information of the defect required to be corrected by the correction device can be accurately obtained.例文帳に追加

位置合わせ用マークを基準として像質評価装置による画像と修正装置による画像とを重ね合わせることによって、修正装置において修正すべき欠陥の位置情報を正確に把握することができる。 - 特許庁

To provide an optical system with which the occurrence of the fogging of a lens, for example, an image defect or the like can be prevented even when it is exposed to high-humidity environment repeatedly or for a long time, and to provide an endoscope equipped with the optical system.例文帳に追加

高湿度の環境に繰り返しまたは長時間曝された場合でも、レンズの曇りや、例えば画像不良等の発生を防止し得る光学系、および、かかる光学系を備える内視鏡を提供すること。 - 特許庁

To prevent degradation of performance caused by occurrence of trap and defect due to movement of electrons in a tunnel oxide film with respect to an AND type flash memory in which memory cells consisting of nMOS transistors are arranged in (m) rows and (n) columns.例文帳に追加

ｎ型のＭＯＳトランジスタからなるメモリセルがｍ行ｎ列に配列されているＡＮＤ型フラッシュメモリにおいて、電子の移動によりトンネル酸化膜にトラップや欠陥が発生して性能が低下することを防止する。 - 特許庁

To provide an alignment film for inducing the homeotropic alignment, especially a homeotropic polymer film, which has no defect of the film produced by a prior art and can be produced easily and economically even on a large scale.例文帳に追加

ホメオトロピック配向を誘導するための配向膜として、とくにホメオトロピックポリマーフィルムとして、従来技術の欠点を有さず、大きい規模においても簡便かつ経済的な製造が可能なものの調製において用いるものの提供。 - 特許庁

To provide a joining member having an excellent adhesion in which a defect harmful to the heat conductivity is eliminated and a practically sufficient joining strength is provided at the joined zone where such different kind of material as W and Cu or Ni whose heat expansion coefficients are largely different are joined.例文帳に追加

ＷとＣｕやＮｉのように、熱膨張係数の差が大きい異種材料において接合部で熱伝導性有害な欠陥のない密着性に優れ、実用十分な接合強度を有する接合体を提供する。 - 特許庁

To provide an apparatus and a method for the inspection of a motor, where at least one from among the defect and the absence of a varistor arranged and installed at an armature can be determined, and to provide a method of manufacturing the motor.例文帳に追加

本発明の目的は、アーマチャに配設されるバリスタの欠損と欠品の有無のうち少なくとも一方を判定することができるモータ検査装置及びモータ検査方法並びにモータ製造方法を提供することにある。 - 特許庁

To provide a compound semiconductor which has a base plate and a compound semiconductor layer formed on the base plate and has a lattice mismatch of 2% or higher between the base plate and the compound semiconductor layer, and which can reduce generation of crystalline defect or dislocation.例文帳に追加

基体と、この基体上に形成される化合物半導体層との格子不整合性が２％以上ある化合物半導体において、化合物半導体層における結晶欠陥すなわち転位の発生を低減する。 - 特許庁

When gap servo is executed in the area of a recording surface on which gap servo is to be started by a gap servo control system 35, if a defect is detected in the area by a camera 33, control is executed not to execute gap servo.例文帳に追加

ギャップサーボ制御システム３５によりギャップサーボが開始されるべき記録面上の領域でギャップサーボが実行される場合、カメラ３３によりその領域に欠陥が検出された場合は、ギャップサーボを実行しないように制御される。 - 特許庁

This warp knitted fabric comprising composite processed yarns having a yarn length difference of 5 to 30% between filaments arranged on the sheath sides and filaments arranged on the core sides is characterized in that the defect number of the warp knitted fabric is ≤0.5.例文帳に追加

鞘側に配置されるフィラメントと芯側に配置されるフィラメントの糸長差が５〜３０％である複合加工糸からなる経編地であって、該経編地の欠点度数が０．５以下であることを特徴とする経編地。 - 特許庁

Since the luminance profile is a property acquired by actually photographing the wafer 2 to be inspected and clearly shows the forms of defects, the reliability of defect classification is substantially improved, when compared with the case of comparison with a non-defective pattern.例文帳に追加

輝度プロファイルは、検査対象であるウェハ２外観を実際に撮像して得られる特性であり、欠陥の形態を明確に示すため、良品パターン等との比較による場合と比べて、欠陥分類の確実性が格段に増す。 - 特許庁

Consequently the defect location is closed by pulling the outer wall anchor 20 to the direction of the inner meniscus anchor 30 by giving tension on the surgical suture 40 and the surgical suture is fixed on a prescribed position by a fixing means.例文帳に追加

したがって、縫合糸に張力が与えられることによって、外壁アンカーを内側半月板アンカーの方向に引き寄せて欠陥部位を閉じ、さらに固定手段によって前記縫合糸が所定の場所に固定される。 - 特許庁

To provide a current source circuit capable of stably operating a circuit on a reference current supply destination even if a fault, such as a lattice defect, is generated in a bipolar device in any of band gap voltage reference circuits.例文帳に追加

何れかのバンドギャップ電圧基準回路内のバイポーラ素子に格子欠陥等の不具合が発生しても、基準電流の供給先の回路を安定に動作させることができる電流源回路を得ることを目的とする。 - 特許庁

Thus, for example, even when a defect is present during the resin injection molding of a shear pin, conductivity between the vehicle body side bracket 11 and the vehicle body side is ensured, and the conductivity to the vehicle body side can be enhanced.例文帳に追加

これにより、例えば、剪断ピンの樹脂インジェクション成形時に不備があったとしても、車体側ブラケット１１と車体側との通電を確実なものにすることができ、車体側との通電性を向上することができる。 - 特許庁

A defect detection device 100 has a light source (for example, a coaxial illumination 3) for emitting light 14 to a semiconductor device 11 having a structure of a plurality of layers, and an imaging portion (for example, a CCD camera 1) for imaging the semiconductor device 11.例文帳に追加

欠陥検出装置１００は、複数層の構造を有する半導体装置１１に光１４を照射する光源（例えば、同軸照明３）と、半導体装置１１を撮像する撮像部（例えば、ＣＣＤカメラ１）を有する。 - 特許庁

To provide a cylindrical organic photoreceptor having preferable potential stability and generating no image defect such as black spots or halftone image irregularity, and to provide an image forming device using the above organic photoreceptor.例文帳に追加

本発明は、電位安定性の良好な、黒ポチやハーフトーンの画像むら等の画像欠陥を発生しない円筒状の有機感光体を提供することであり、又、該有機感光体を用いた画像形成装置を提供することにある。 - 特許庁

To provide an inspection method and an inspection device for a display device that enable a defect of pixels to be detected based on a current flowing to only one pixel and consequently enable the resolution of an inspection waveform to be increased to realize highly accurate inspection.例文帳に追加

一つの画素にだけ流れる電流に基づいて画素の欠陥検査を可能とし、もって検査波形の分解能を高めて精度の高い検査を行うことのできる表示装置の検査方法及び検査装置を提供すること。 - 特許庁

The recording medium has a temporary defect management region including a bit map indicating a region in which data is recorded and a space region in which data is not recorded out of the user data regions of the recording medium using different bit values each other.例文帳に追加

記録媒体は、当該記録媒体のユーザーデータ領域のうちデータが記録された領域と記録されていない空き領域とを相異なるビット値を利用して示したビットマップを含む臨時欠陥管理領域を有する。 - 特許庁

To provide a method for producing an organosilane, scarcely causing damage to a reactor due to carbonization and corrosion, when the organosilane is produced in a high space time yield, capable of avoiding a defect caused by conventional technology, and scarcely forming an undesired by-product.例文帳に追加

高い空時得率でオルガノシランを製造するにあたり、着炭及び腐蝕による反応器への損害が少なく、そして従来技術の欠点が回避される、不所望の副生成物が殆ど生じない方法を提供する。 - 特許庁

To relieve the job load by the operator and to enhance an image read efficiency by continuing reading without stopping paper feeding even on the occurrence of double feeding and recovering only a defect of reading due to the double feeding after the end of the reading.例文帳に追加

重送が発生したときでも給紙を停止させずに読み取りを継続し完了後に重送による読み取り不良分だけを回収し、オペレータの作業負担の軽減及び画像読み取りの効率の向上を図ること。 - 特許庁

To provide a manufacturing method of semiconductor device including a polishing step for preventing generation of a defect of insulating film after the polishing process, controlling the polishing of a stopper film and readily detecting the final point of the polishing process.例文帳に追加

研磨後の絶縁膜の欠陥の発生を防止し、ストッパー膜に対する研磨を抑制し、研磨の終点の検出を容易に行なうことを可能とする研磨工程を備える半導体装置の製造方法を提供すること。 - 特許庁

This defect inspection device is provided with a camera 12 picking up an image of a transparent sheet film 1 and an image processing device 14 detecting foreign matter 19 of the transparent film 1 by processing the pick-up image.例文帳に追加

透明シート状の透明フィルム１の画像を撮像するカメラ１２と、撮像された画像を画像処理を行うことにより透明フィルム１の異物１９を検出する画像処理装置１４とを有する欠陥検査装置である。 - 特許庁

An ultrasonic signal emitted from a transmission probe 12 is made to get incident diagonally upon a rail 1 in a parting direction parted from a reception probe 14 to receive the ultrasonic signal reflected by a defect with the probe 14.例文帳に追加

送信用探触子１２から放射される超音波信号を、受信用探触子１４から遠ざかる方向に斜めにレール１内へ入射させ、欠陥で反射してきた超音波信号を受信用探触子１４で受信する。 - 特許庁

To provide a wafer inspection device which can achieve high-speed, high-resolution visual test of semiconductor wafer and consistently prepares samples for TEM observation or various analyses with high accuracy of position from the area where any foreign material or defect exists.例文帳に追加

半導体ウエハの高速で高分解能な外観検査と、異物や欠陥の存在部位からＴＥＭ観察や各種分析のための試料を高い位置精度で一貫して作製することのできる検査装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a slot type optical cable capable of facilitating terminal processing work, and reducing a defect of scratching a coated optical fiber during terminal processing work.例文帳に追加

端末処理作業を容易に行うことができ作業性を向上させることができるとともに、端末処理作業時に光ファイバテープ心線を傷つけるという不具合を低減させることができるスロット型光ケーブルを提供する。 - 特許庁