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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > Test Systemの意味・解説 > Test Systemに関連した英語例文

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Test Systemの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 3508



例文

When an optical system performance test is performed, a reception signal is transmitted to the input of a sampling and holding part 110 by a signal switch 160, and the frequency spectrum of jitter components of the reception signal is obtained by an FFT operation part 120.例文帳に追加

光学系性能テスト時に、信号スイッチ160によって、受信信号はサンプルホールド部110の入力へ伝達され、FFT演算部120によって受信信号のジッタ成分の周波数スペクトルが求められる。 - 特許庁

To provide a system and method improved for automated analysis of a sample, such as a urine, for the requirement of a more cost-effective process and purposes for improving the reliability and the precision of a test in the detection limitation of a specimen.例文帳に追加

より費用効率的な工程の要求と、検体の検出限界における試験の信頼性および精度を高める目的に照らして、尿などの試料の自動分析のための改善されたシステムおよび方法を提供する。 - 特許庁

To attain high testing efficiency by downsizing and simplifying a test apparatus in additionally installing field apparatuses such as signal lights in a railroad station yard on a signal maintenance system which controls the field apparatuses with an electronic interlock device.例文帳に追加

鉄道の駅構内における信号機等の現場機器の制御を電子連動装置を用いて行う信号保安システムに現場機器を増設して試験する際、試験装置を小型化、簡略化して、試験効率を向上を図る。 - 特許庁

An optical fiber measurement system 1 comprises: an optical fiber sensor line 2; a position display module 3 provided at at least one position on the optical fiber sensor line 2; and a light pulse testing device 10 for making test light incident on the optical sensor line 2.例文帳に追加

光ファイバセンサ線路2と、光ファイバセンサ線路2の少なくとも1箇所に設けられた位置表示モジュール3と、光ファイバセンサ線路2に試験光を入射する光パルス試験器10と、を備えた光ファイバ計測システム1。 - 特許庁

例文

The testing system executes a ground fault test on the plurality of ground fault direction relays 135_1-135_3 by opening at least one of the first-third switches 11_1-11_3 to break the balance of anti-ground electrostatic capacity of the plurality of power distribution lines 102_1-102_3.例文帳に追加

第1乃至第3のスイッチ11_1〜11_3の少なくとも1つを開いて複数の配電線102_1〜102_3の対地静電容量のバランスを崩すことにより、複数の地絡方向継電器135_1〜135_3の地絡試験を行う。 - 特許庁


例文

Optical stripes (L1-Ln) generated by structured light system are projected on parts, the image of reflection light is captured with a camera (16) and is evaluated to search for the property of each stripe covering the whole zone of test specimen.例文帳に追加

構造化光システムにより発生された光ストライプ(L1〜Ln)が、部品上に投射され、反射光の画像がカメラ(16)によって捕捉されて、試験片の区域全体にわたる各々のストライプの特性を求めるために評価される。 - 特許庁

To provide an image information processor by which an image from an image preserving device is determined as the same one from a plurality of image generating apparatuses when receiving medical images belonging to the same test are received, and also to provide a medical network system, and a program for the computer of a medical image processor.例文帳に追加

複数の画像発生装置から同一検査に属する医用画像を受信したときに画像保存装置側で同一検査と判断できるようにした画像情報処理装置及び医用ネットワークシステムを提供する。 - 特許庁

The system and method include an impedance adjustment circuit 4 incorporated into the output circuit 3 of a first LSI 1, and a test pattern generating circuit 5 for transmitting signals for testing random patterns via the circuit 4 to a second LSI 2.例文帳に追加

第1のLSI1の出力回路3内に組み込まれたインピーダンス調整回路4と、インピーダンス調整回路4を介してランダムパターンのテスト用信号を第2のLSI2に対して送出するテストパターン発生回路5を備える。 - 特許庁

In the ADSL system, an in-station device 10 is provided with two SELs 13-i and 14-i, separately for each internal ADSL circuit, and a circuit test interface 15 for leading in the ADSL circuits from these selectors.例文帳に追加

ADSLシステムにおいて局内装置10が、内部のADSL回線で回線毎に二つのSEL13−i,14−iとこれらセレクタからADSL回線を引き込む回線試験インタフェース15とを設けている。 - 特許庁

例文

In the case of carrying out a test of the transmission abnormal system, the maintenance engineer inputs an address value for changing the time interval of waveform, a data value, the time interval between address data, and time interval between addresses on a screen of a personal computer 9.例文帳に追加

伝送異常系の試験を実施する場合、保守員は、パーソナルコンピュータ9の画面上で、波形の時間間隔を変更するためのアドレス値、データ値、アドレス・データ間の時間間隔、アドレス・アドレス間の時間間隔を入力する。 - 特許庁

例文

The reagent compositions, test strip, system and kit find use in the detection of a wide variety of analytes in a sample, such as a physiological sample, blood or a fraction thereof, or ISF (interstitial fluid).例文帳に追加

これら本発明の試薬組成物、試験片、システムおよびキットは、例えば、血液またはそのフラクション、またはISF(間質液)等の生理学的サンプルのようなサンプル中の多様な分析物の検出において有用であることが分かっている。 - 特許庁

To realize a device and method for reconstituting software for an IC test system for reconstituting the whole software automatically based on a program corrected by an operator, and a storing medium.例文帳に追加

本発明の課題は、作業者によって修正されたプログラムを元にして、自動的にソフトウェア全体を再構成するICテストシステム用のソフトウェア再構成装置、ソフトウェア再構成方法、及び記憶媒体を実現することである。 - 特許庁

To provide a spectrum observation technique and a spectrum observation system, capable of acquiring the data required without missing, in observation of test objects containing a plurality of kinds of materials, containing wavelengths that differ from each other.例文帳に追加

本発明は、励起波長の異なる複数種類の物質を含む被観察物の観察において、必要なデータを欠落無く取得することの可能なスペクトル観察方法及びスペクトル観察システムを提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide the data gathering system for a vehicle travel test which can easily gather measurement data while vehicles are traveling even in environment wherein many radio frequency bands can not be secured for the vehicle travel tests.例文帳に追加

車両走行試験コースの周辺環境において使用されている電波の周波数帯域と干渉せずに、複数チャネルを収容できるような広い周波数帯域を走行試験のために独占することは難しい。 - 特許庁

Here, the test pattern is defined to "comprise a plurality of partial graphics each of which is shaped closer to a standard graphic when it is distorted by an inclination in the direction of projection by an image forming optical system 2 in accordance with the inclination in the projection direction".例文帳に追加

ここで、テストパターンは、「結像光学系2による投射方向の傾きによって歪んだときに標準図形に近い形状となる部分図形を、投射方向の傾きに対応して複数備えている」ものとなっている。 - 特許庁

To provide a device manufacturing processing system, an exposure device and exposure method, measuring test equipment, a measuring inspection method, and a method for manufacturing the device, which can perform the management of data easily while reducing the load of network.例文帳に追加

ネットワークの負荷を低減するとともに、データの管理を容易に行うことができるデバイス製造処理システム、露光装置及び露光方法、測定検査装置及び測定検査方法、並びにデバイス製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a test sheet set group treated for illegal act prevention for preventing an illegal act such as stealing a glance of an answer of an answer column of an answer sheet filled in by another candidate for an examination or so-called cheating on the answer among the candidates for the examination and a system for forming it.例文帳に追加

受験者同士の間で、他の受験者が記入した解答用紙の解答欄の解答を盗み見るいわゆるカンニング行為等の不正行為を防止した試験用紙セット群及びその作成システムを提供する。 - 特許庁

The evaluation device 10 includes a correction optical system 2 for evaluation for forming a clearer optical image by being combined with a designed lens, a measuring means 5 for measuring an optical characteristic of a synthesized optical system 4 formed by combining the correction optical system 2 for evaluation with a manufactured lens (test lens 3), and an evaluation means 6 for evaluating the manufactured lens based on measurement results.例文帳に追加

この評価装置10は、設計の通りのレンズと組み合わせることにより鮮明な光学像を形成する評価用補正光学系2と、評価用補正光学系2と製作されたレンズ(被検レンズ3)とを組み合わせた合成光学系4の光学特性を測定する測定手段5と、測定の結果に基づき、製作されたレンズを評価する評価手段6と、を含む。 - 特許庁

An ocular fundus of a test eye E is imaged through a stereographic imaging system after an objective lens 24 and the obtained parallax image is used for three-dimensional measurement treatment in the image processing system, and optical characteristics of human eyes are simulated while the simulated eye 300 is loaded with a gray-scale pattern to a simulated ocular fundus corresponding to the ocular fundus and imaged on stereo through the stereographic imaging optical system.例文帳に追加

被検眼Eの眼底を対物レンズ24以降のステレオ撮影光学系を介してステレオ撮影し、得られた視差画像を用いて3次元測定処理を行う画像処理装置において、人眼の光学特性を模擬するとともに、眼底に相当する眼底模擬面に濃淡パターンを付与した模型眼300をステレオ撮影光学系を介してステレオ撮影する。 - 特許庁

To develop a system capable of performing high-quality radio wave propagation analysis in a short time and also reducing costs by allowing a high-function analysis system to perform a series of work in the analysis jobs of special various phenomena on radio wave propagation characteristics in the radio channel design, radio wave propagation test and investigation of various radio stations.例文帳に追加

各種無線局の無線回線設計、電波伝播試験及び調査における電波伝播特性上の特異な諸現象の解析業務における一連作業を高機能の解析システムで行うことにより、短時間で高品質の電波伝播解析ができ低コスト化も図れるシステムを開発する。 - 特許庁

To shorten simulation time and enhance debugging efficiency by efficiently generating the simulation data of a tester without transferring excess data regarding an optimized data generation system to generate data to be used for a test of a system LSI verified in logic simulation at a designing state.例文帳に追加

本発明は設計段階の論理シミュレーションで検証が行われたシステムLSIのテストに使用するデータを生成するためのデータ最適化生成方式に関し,余分なデータを転送せずにテスタのシミュレーションデータを効率よく生成してシミュレーション時間の短縮化とデバッグ効率を向上することができることを目的とする。 - 特許庁

In the presently proposed embodiment, the rig and test programs are adapted in particular to utilize a high-pressure, high volume water flush to remove contamination from substantially the entire fluid delivery system, both the quantity of contamination and as disposed or deposited within the system.例文帳に追加

現在提案されている実施形態において、前記リグ及び試験プログラムは、特に高圧大容量の水のフラッシングを利用するのに適合し、汚染物の量、及び、装置内に置かれた又は堆積した量のその両方に対して、実質的に前記流体供給装置全体から汚染物を除去する。 - 特許庁

A test signal at a known level in the same frequency band as a joint receiving signal to be newly transmitted in a joint receiving system 2 having an input terminal 6 and a plurality of end terminals 10a to 10d is supplied from the input terminal 6 to the joint receiving system 2 by a portable transmitter 20.例文帳に追加

入力端子6と複数の端末端子10a乃至10dとを有する共同受信システム2において新たに伝送しようとする共同受信信号と同じ周波数帯域で既知のレベルのテスト信号を、可搬型の送信機20が、入力端子6から共同受信システム2に供給する。 - 特許庁

To provide a system capable of easily and accurately executing keyboard input operation in an information processing apparatus using RFID (radio frequency identification) and to provide a network installation system capable of automatically selecting and installing a TMP (test program for production lines) or a shipping OS corresponding to the configuration information of the information processing apparatus based on the configuration information.例文帳に追加

RFID(Radio Frequency Identification)を情報処理装置におけるキーボード入力作業を容易かつ正確に実施できるシステムの提供及び構成情報を元に情報処理装置の構成情報に対応したTMP(生産ライン用テストプログラム)や出荷用OSを自動選択しインストールを行なうネットワークインストールシステムを提供する。 - 特許庁

To provide a system power supply IC having a plurality of outputs and a function of monitoring abnormality and protection for dealing with any kind of abnormality of all the kinds of power supply and carry out system-off protection, while investigation of the cause of the abnormality and a reproducing test can be carried out easily after the protection.例文帳に追加

複数の電源出力を有し、異常状態を監視し保護する機能をもつシステム電源ICであって、いずれの電源でのどの様な異常現象にも対応してシステムオフして保護するとともに、保護後に異常状態の原因究明や再現実験を容易に行うことを可能にする。 - 特許庁

To provide an IC testing system capable of decoding the location data of a wafer prober in any chip arrangement by an IC testing device in an IC testing system which decodes any location data furnished by a wafer prober using an IC testing device making out a chip map for distinguishing tested chips from chips not yet tested, to perform a test.例文帳に追加

ウェハプローバが発信するロケーション・データをIC試験装置が読み取り、IC試験装置でチップマップを作成し、試験済チップと未試験チップを区別して試験を実行するICテストシステムにおいて、如何なるチップ配置のウェハプローバでもIC試験装置でそのロケーション・データを解読することができるICテストシステムを提供する。 - 特許庁

To provide a control system capable of producing its device within a comparatively short period if basic conditions are fixed in a certain degree, further, quickly dealing with a change request at the time of test and easily dealing with the changes of various conditions after the system starts its operate.例文帳に追加

ある程度の基本条件が固まっていれば比較的短い納期での装置製作を可能にし、さらに、試験時の変更要求に対するクイックな対応を可能にすると共に、システム稼働後における各種条件の変更についても、容易に対応が可能となる管制装置の提供を目的としている。 - 特許庁

To provide an ultrasonic flaw detecting system capable of freely determining the absolute position of a probe to a flaw detecting surface, especially obtaining a good flaw detection result with respect to the flaw detecting surface having a crack therein in a complicated shape, and an ultrasonic flaw detecting test method using the system.例文帳に追加

自在に探傷面に対する探触子の絶対位置を決定でき、特に探傷面に存在するひびが内部で複雑な形状を有している探傷面に対して良好な探傷結果を得ることができる超音波探傷システムおよび同システムを用いた超音波探傷試験方法を提供する。 - 特許庁

When a user uses a user interface to instruct automatic adjustment of a plurality of the image readers 10 to a system control means 16, the system control means 16 uses an image read control means 12 to read a prescribed test original from each of the image readers 10 and to obtain image data made to correspond to each image reader 10.例文帳に追加

ユーザがユーザインタフェースによりシステム制御手段16に複数の画像読取装置10の自動調整を指示すると、システム制御手段16は画像読取制御手段12を用いて所定の試験原稿をそれぞれの画像読取装置10により読み込み、各画像読取装置10に対応づけた画像データを得る。 - 特許庁

To provide an approval system of automatic analysis results, which proves reliability of test results, that is, a quality of a laboratory by requesting a knowledgeable person to approve the analysis results and recording its results, to provide an automatic analysis system capable of approving the analysis results, and to provide an approval method of the automatic analysis results.例文帳に追加

分析結果の承認を有識者に依頼し、その結果を記録することで検査結果の信頼性すなわち検査室の質を証明する自動分析結果の承認システム、分析結果の承認処理を可能にする自動分析システム及び自動分析結果の承認方法を提供する。 - 特許庁

A row system control circuit 46 comprises a selector 62 outputting either of signals INTSIG, ZRXTRST as a signal ZRXTRSTD in accordance with a test signal TEST, and a holding circuit 64 receiving a signal ZRXTS at an A input, receiving a signal ZRXTRSTD at a B input, and outputting a word line activating signal RXT from an output node OUT.例文帳に追加

ロウ系制御回路46は、テスト信号TESTに応じて信号INTSIG,ZRXTRSTのいずれか一方を信号ZRXTRSTDとして出力するセレクタ62と、信号ZRXTSをA入力に受け、信号ZRXTRSTDをB入力に受け出力ノードOUTからワード線活性化信号RXTを出力する保持回路64とを含む。 - 特許庁

This frame work system and the test method for testing a server having a mixed workload is provided with a workload case constitution utility interface including a function for allowing a frame work to call the workload constitution utility of a third party and a workload interface including a function for the setup and control and monitor of the workload for the purpose of defining a workload case according to various test targets.例文帳に追加

本発明は、混合ワークロードを有するサーバをテストするためのフレームワーク・システムおよびそのテスト方法を開示し、これは、様々なテスト目的でワークロード・ケースを定義するために、フレームワークにサード・パーティのワークロード構成ユーティリティを呼び出させる機能を含むワークロード・ケース構成ユーティリティ・インターフェースと、ワークロードのセットアップ、制御、および監視の機能を含むワークロード・インターフェースとを含んでいる。 - 特許庁

Provided is the charged particle beam lithographic system where stage acceleration conditions are decided to draw a mark for a test substrate on a scan or the test substrate, and decision as to whether the substrate displacement has occurred is carried out, if the cumulative frequency data of the difference between the scanned result and reference coordinate or the drawing reproducibility is worse than the prestored cumulative frequency data or the reproducibility index data.例文帳に追加

ステージの加速条件を設定し、テスト用基板のマークをスキャンまたはテスト用基板に描画し、スキャン結果と基準となる座標の差分の累積度数データまたは描画の再現性が、予め記憶されている累積度数データまたは再現性の指標データよりも悪ければ、基板ずれが生じている判断することが可能な荷電粒子ビーム描画装置を提供する。 - 特許庁

The method includes the step of preparing an object file management framework for establishing a standard interface between a vender-supplied pattern compiler and the module type test system, receiving a pattern source file, preparing a pattern object metafile on the basis of the pattern source file by using the object file management framework, and testing the device to be tested, through the test module by using the pattern object metafile.例文帳に追加

ベンダ供給パターンコンパイラとモジュール式試験システムとの間に標準インターフェースを確立するためのオブジェクトファイル管理フレームワークを作成すること、パターンソースファイルを受信すること、オブジェクトファイル管理フレームワークを用いて、パターンソースファイルに基づいてパターンオブジェクトメタファイルを作成すること、及びパターンオブジェクトメタファイルを用いて試験モジュールを通して被試験デバイスを試験する。 - 特許庁

A digital virtual test system including a semiconductor simulation model and an LSI tester simulation model includes a determination means for comparing and determining whether an address signal for accessing a memory function model in the semiconductor simulation model accesses a predetermined address in an address range of the memory function model or not to detect a defect of a test pattern using the LSI tester or the LSI tester simulation model.例文帳に追加

半導体シミュレーションモデルとLSIテスタシミュレーションモデルを含むデジタルヴァーチャルテストシステムにおいて、半導体シミュレーションモデルのメモリ機能モデルをアクセスするアドレス信号が、メモリ機能モデルのアドレス範囲のうち所定のアドレスをアクセスしたかどうかを比較判定する判定手段を設けてLSIテスタまたはLSIテスタシミュレーションモデルを使用したテストパターンの不備を検出する。 - 特許庁

An analysis system is provided with a decision table which associates electrical test result of a semiconductor element with a failure factor, a means for specifying the failure factor of the semiconductor element based on the decision table, and a means of automatically adding the combination, when the combination of the electrical test results which are not included in the decision table appears, when the failure factor is specified.例文帳に追加

半導体素子の電気テスト結果と不良要因を対応づけした判定表と、その判定表に基づいて半導体素子の不良要因を特定する手段と、不良要因特定の際に判定表に含まれない電気テスト結果の組み合わせが現れた場合にはその組み合わせを自動的に追加する手段とを具備する半導体不良解析システムである。 - 特許庁

The scalability test system is provided with a plurality of application running devices for running application composed of a plurality of sets of software components, and a component flow control part for changing a number of software components to be executed corresponding to one request applied from a virtual request generator to the application corresponding to the contents of the test and making the application running device run the components.例文帳に追加

スケーラビリティ試験システムは、複数のソフトウェア構成要素の組からなるアプリケーションを実行するための複数のアプリケーション実行装置と、該アプリケーションに対し仮想リクエスト発生装置から与えられた一のリクエストに対するソフトウェア構成要素の実行数を、試験の内容に応じて変更してアプリケーション実行装置に実行させるコンポーネントフロー制御部を備える。 - 特許庁

A software automatic test system stores collation original image data 310 which are the collation source with the transparent background in advance, acquires collation target image data 300 from a test screen 200, generates synthetic image data 320 by synthesizing the collation original image data 310 on the collation target image data 300, and compares the synthetic image data 320 with the collation target image data 300.例文帳に追加

背景が透明な照合元となる照合元画像データ310を予め記憶しておき、テスト画面200から照合対象の対象画像データ300を取得して、この対象画像データ300上に照合元画像データ310を合成することで合成画像データ320を生成し、合成画像データ320と対象画像データ300とを比較する。 - 特許庁

The test bench conditioning system for a working fluid of a machine located on the test bench includes: at least one pump 3 for circulating the working fluid; a heat exchanger 4 for cooling the working fluid coming from the discharge line 1 of the machine; a heating device 5 for the working fluid, fed into the supply line 2 to the machine; and a mixing valve 6.例文帳に追加

試験台に存在する作業機械の作動流体用の試験台調整システムは、作動流体を循環させる少なくとも一つのポンプ(3)と、作業機械の放出導管(1)から来る作動流体を冷却させる熱交換器(4)並びに作業機械への供給導管(2)に供給された作動流体用の加熱装置(5)と混合弁(6)を含有する。 - 特許庁

The connection confirming test for the multibit in the A/D converter circuit can be performed with high accuracy and at low cost using logic tester, by inputting a digital expected value control signal from outside to the input of a latch circuit on the output side of an A/D converter circuit, and inputting this expected value control signal from the latch circuit into an internal system circuit so as to perform a connection test.例文帳に追加

この発明は、A/Dコンバーター回路の出力側のラッチ回路の入力に外部からデジタルの期待値制御信号を入力して、この期待値制御信号をラッチ回路から内部のシステム回路に入力して結線テストを行うことによって、A/Dコンバーター回路における多ビットの結線確認テストをロジックテスターにより高精度で且つ安価に行うことができる。 - 特許庁

A text storage section 31 stores station data generated by a network manager from an application system 11 via a transmitter-receiver 37, a difference extract function section 27 compares the data with in-operation station data stored in a text storage section 34 to extract difference data, and a test item extract function section 28 generates a test scenario on the basis of the difference data.例文帳に追加

ネットワーク管理者によって作成された局データは投入システム11から送受信機37を介してテキスト格納部31に格納され、差分抽出機能部27によりテキスト格納部34に格納されている稼働中局データと比較され、差分データが抽出され、試験項目抽出機能部28において差分データに基づき試験シナリオを作成する。 - 特許庁

The photograph print system 1 is arranged with a width regulation guide 91 so as to prevent the test print TP from being conveyed in an inclined state in the conveyance direction and from being subjected to the colorimetry as it is by a densitometer 82 in a density measuring section 80 in order to avoid the colorimetric error due to the conveyance of the test print TP in in the inclined state in the conveyance direction.例文帳に追加

写真プリントシステム1は、テストプリントTPが搬送方向に対して傾いた状態で搬送されることに起因する測色エラーを回避するために、テストプリントTPが搬送方向に対して傾いた状態で搬送され、そのまま濃度測定部80における濃度計82で測色されることがないように幅規制ガイド91が配置されている。 - 特許庁

The system comprises a storing device 4 having a means that classifies the test data 2 of an LSI acquired by a semiconductor testing apparatus 1 into lots/wafer/chips/measurement data/categories and a means that organically connects them to store by setting connection information from among classified items; and a displaying device 5 having a means of searching the stored test data and a means of displaying the searched results.例文帳に追加

半導体試験装置1にて収集されたLSIのテストデータ2を、ロット・ウエハ・チップ・測定データ・カテゴリ単位に分類する手段及び分類した項目の中で連結情報を設定することで有機的に結合させて蓄積する手段を有する蓄積装置4と、蓄積されたテストデータを検索する手段及び検索結果を表示する手段を有する表示装置5とからなる。 - 特許庁

To judge the suitability of a regenerated concrete material as a recycled material by a series of test flows when the regenerated material composed of a regenerated waste aggregate, a regenerated fine aggregate and a regenerated fine powder is manufactured by a concrete resource circulation system.例文帳に追加

コンクリート資源循環システムによって再生粗骨材、再生細骨材及び再生微粉末からなる再生材料を製造するに際し、該再生材料のリサイクル材料としての適否判断を一連の試験フローによって行えるようにする。 - 特許庁

The density of a test pattern toner image is detected by an image density sensor 20, and a developing bias potential and a grid voltage optimum for a potential control part 26 are calculated and set by a system control part 27 based on the detected image density, and an image forming operation is performed.例文帳に追加

テストパターンのトナー像の画像濃度を画像濃度センサ20で検出し、システム制御部27は検出された画像濃度に基づいて電位制御部26に最適な現像バイアス電位、グリッド電圧を演算・設定し、作像動作が実行される。 - 特許庁

The false blast impact system 1 is constituted so as to test the bursting condition of the safety bursting plate by applying the false blast impact to the safety bursting plate 2 and equipped with a cylindrical pressure container composed of two layers, that is, an air compression part 11 and an open part 12.例文帳に追加

擬似爆風衝撃装置1は、安全破裂板2に擬似爆風衝撃を与えてその安全破裂板の破裂条件を試験する装置であり、空気圧縮部11と開放部12の2層からなる円筒状圧力容器を備えている。 - 特許庁

To unify a plurality of pattern programs using effectively a free timing set in a system, and to eliminate thereby a wasteful idle period to enhance a through-put in a device test.例文帳に追加

当該システムで空いているタイミングセットを有効利用して、複数本のパターンプログラムを1本化して、無駄なアイドル期間を削除してデバイス試験のスループットを向上する半導体試験装置、タイミングセットの最適化方法、タイミングセットの最適化プログラムを提供する。 - 特許庁

The errors related to the resistance and sense/load resistance of a test conductor for the pulse I-V measurement system 10 determined by performing measurement of an open circuit and a through circuit using a combination of DC equipment and pulse equipment.例文帳に追加

パルスI−V測定系統10用の試験導体の抵抗及びセンス/負荷抵抗と関係するエラーは、DC機器とパルス機器との測定の組み合わせを用いて、開回路とスルー回路との測定とを行うことによって決定される。 - 特許庁

When a turn instruction signal outputted when an automatic brake system loaded on the test vehicle is operated is inputted into a control device 22, the driving mechanism 52 is operated, and thereby the pole member 51 is turned from the first position to the second position.例文帳に追加

試験車両に搭載された自動ブレーキシステムが作動したときに出力される旋回指示信号が制御装置22に入力されると、駆動機構52が作動することにより、ポール部材51が前記第1の位置から第2の位置に旋回する。 - 特許庁

例文

In this system, an achromatic point W (D65) of a chromaticity diagram is defined as a central intersection, a plurality of straight lines 43, 45, and 47 are drawn, and a measurement display showing the W and two points each on the lines are shown to the test subject to obtain an answer whether or not he can identify them.例文帳に追加

色度図の無彩色点W(D65)を中心交点とし、複数の直線43,45,47を描き、Wと各直線上の点を2つ表示した測定画面を被験者に見せ、識別できるか否かの回答を取得する。 - 特許庁




  
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