W-Inの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 11340件
The support rod 5 corrects deflection of the wafer W by abutting against or facing the central portion of the wafer W housed in the carrier 1 and energizing the central portion of the wafer W.例文帳に追加
支持棒5は、キャリア1に収納されたウエハWの中央部に当接または対向し、当該ウエハWの中央部を付勢することにより、ウエハWの撓みを補正する。 - 特許庁
The peripheral face of the ferrule W is ground by bringing a grinding wheel 29 into contact with the peripheral face of the ferrule W by turning the ferrule W and the grinding wheel 29 in this condition.例文帳に追加
この状態で、フェルールW及び加工砥石29を回転させながら、加工砥石29をフェルールWの外周面に接触させて、フェルールWの外周面を研削する。 - 特許庁
When the rotor 14 is rotated, many works W stayed in the hopper 3 enter the work storing holes 22, the works W are lifted and the works W are fed into a carrier passage 9 of the rail 4.例文帳に追加
ローター14を回転させると、ホッパー3に溜まったワークWの多数個がワーク収納穴22に入り込んで持ち上げられ、それからレール4の搬送路9に投入される。 - 特許庁
The electrically-conductive substance is mixed thereinto in an amount w (based on an amount of Mo) satisfying: 0 wt.%<w≤40 wt.%, and preferably satisfying: 0.5 wt.%≤w≤30 wt.%.例文帳に追加
前記導電性物質の混合量wは、Moに対して、0重量%<w≦40重量%であり、好ましくは0.5重量%≦w≦30重量%である。 - 特許庁
The conveyor 2 receives a machined workpiece W from the main spindle 5 of the machine tool 1 and puts the workpiece W in a specified placing region R leaving the turned phase of the workpiece W as it is when turned to be received.例文帳に追加
搬送装置2は、工作機械1の主軸5から加工済みワークWを受け取って受け取り時の回転位相のままで所定の載置領域Rに置くものとする。 - 特許庁
Resist liquid is applied to a wafer W with a solvent gas atmosphere maintained in the casing 17a, and the wafer W is rotated for the formation of a resist film on the wafer W.例文帳に追加
このようにケーシング17a内を溶剤気体の雰囲気に維持した状態で,ウェハWにレジスト液が吐出され,ウェハWが回転されてウェハW上にレジスト膜が形成される。 - 特許庁
The substrate treatment apparatus 10 is provided with a chamber 11 for housing a wafer W and applying RIE treatment to the wafer W, and a focus ring 25 is arranged around the wafer W housed in the chamber 11.例文帳に追加
基板処理装置10は、ウエハWを収容してRIE処理を施すチャンバ11を備え、該チャンバ11内に収容されたウエハWの周りにはフォーカスリング25が配置される。 - 特許庁
The flatness of the wafer W is improved as the foreign substance sinks in the coating layer 3 even when the foreign substance is interposed between the wafer W and the suction surface when the wafer W is sucked.例文帳に追加
ウエハWが吸着された際に、ウエハWと吸着面との間に異物が介在しても、異物がコーティング層3内に埋没するので、ウエハWの平坦度が高まる。 - 特許庁
A work W is held in a vacuum chamber 11, a source gas introduced intermittently to the vacuum chamber 11 is ionized to generate plasma, and a bias voltage V is applied between an electrode 14 inside the work W and the work W, while causing the plasma to exist in the work W.例文帳に追加
ワークWを真空槽11内に保持し、真空槽11に導入する原料ガスを間欠的に電離させてプラズマを生成し、ワークW内にプラズマを存在させながら、ワークW内の電極14とワークWとの間にバイアス電圧Vを印加する。 - 特許庁
An ultrasonic vibration apparatus 6 for making the twisted steel wires W co-vibrate by applying constant ultrasonic waves to the wires W while tension is applied to the wires W by applying press force to the wires W is installed just in front of the coating apparatus 4 for the rubber material G in the conveyance process 3.例文帳に追加
搬送工程3のゴム材料Gの被覆加工装置4の直前に、撚り線スチールワイヤWに押圧力Fを付与して張力を与えた状態で、かつ一定の超音波を与えて共振させる超音波振動装置6が設置してある。 - 特許庁
The surface of a grinding wheel 10 is divided into each interval of the set unit width dw on the cross-section in the direction of the rotary axis so as to calculate machining efficiency Q' (w, t) of the set unit width dw at each surface position w in each moment during machining on the basis of a machining program 31.例文帳に追加
砥石車10の表面を回転軸方向断面において設定単位幅dw間隔に分割し、加工プログラム31に基づいて加工中の各瞬間における各表面位置wでの設定単位幅dwの加工能率Q'(w,t)を算出する。 - 特許庁
The carbon dioxide absorbent, characterized in that calcium hydroxide, water, calcium chloride of 0.3 to 1.4 w/w%, further preferably sodium chloride of 0.3 to 1.4 w/w% are contained, and a method of removing carbon dioxide in respiratory gas or anesthetic gas using the same.例文帳に追加
水酸化カルシウムと水と0.3〜1.4w/w%の塩化カルシウム、更に好ましくは0.3〜1.4w/w%の塩化ナトリウムとを含有することを特徴とする炭酸ガス吸収剤、及びこれを用いた呼吸ガスや麻酔ガス中の二酸化炭素除去方法。 - 特許庁
In a pixel unit 11, W pixels, R pixels, G pixels, and B pixels having color filters of W, R, G, and B disposed in the photoelectric conversion element are disposed in two dimensions in a matrix form to output the W signal, an R signal, a G signal, and a B signal.例文帳に追加
画素部11には光電変換素子にW、R、G、Bの色フィルタがそれぞれ配置されたW画素、R画素、G画素、B画素が行列状に2次元に配置され、W信号、R信号、G信号、B信号が出力される。 - 特許庁
The electrical circuit 50 becomes conductive in the mounting mode when the workpiece W held by the hand section 3 comes in contact with the workpiece W placed in the workpiece storage site 4, and the hand section 3 releases the workpiece W in response to the conduction of the electrical circuit 50 as a trigger.例文帳に追加
載置モードにおいては、ハンド部3に把持されたワークWがワーク置き場4に既に置かれているワークWに接触することにより、電気回路50が導通し、電気回路50の導通をトリガーとして、ハンド部3がワークWを解放する。 - 特許庁
In a cleaning system which cleans wafers W of a substrate treating system, a wafer counter 31, which detects the number of wafer W housed in a carrier C which can house 25 wafers W is provided to a carrier carrying-in/out section 5 in and from which the carrier C, is carried.例文帳に追加
ウェハWを洗浄処理する洗浄システムにおいて,25枚のウェハWを収納できるキャリアCを搬入出させるキャリア搬入出部5に,キャリアC内に収納されたウェハWの枚数を検出するウェハカウンタ31を設けた。 - 特許庁
In the heat treatment device, the inside of a furnace is partitioned into a plurality of regions so that an atmosphere around a workpiece W is different in each of the regions, and the workpiece W is advanced to the partitioned regions in order, and heat treatment is applied to the workpiece W.例文帳に追加
ワークWの周囲の雰囲気が領域毎で異なるように炉内が複数の領域に区画され、区画された各領域を順にワークWが進行し当該ワークWを熱処理する熱処理装置である。 - 特許庁
In this X-ray foreign matter detector 1, an examined object W is irradiated with an X-ray, and the presence of a foreign matter F in the object W is detected based on a transmission amount of the X-ray transmitted through the object W in accompaniment to the X-ray irradiation.例文帳に追加
X線異物検出装置1は、被検査物WにX線を曝射し、このX線の曝射に伴って被検査物Wを透過してくるX線の透過量から被検査物W中の異物Fの有無を検出する。 - 特許庁
Each of the outer conductor layers includes wiring parts 11 W, 16 W and conductor patch parts 11 P, 16 P installed at the tips of the wiring parts, and the conductor patch parts 11 P, 16 P have longer parts than the lengths of the wiring parts 11 W, 16 W in directions orthogonal to the extension directions of the wiring parts 11 W, 16 W.例文帳に追加
一対の外側導体層の各々は、配線部11W、16Wと、配線部の先端に設けられた導体パッチ部11P、16Pと、をそれぞれ含み、導体パッチ部11P、16Pは配線部11W、16Wの延在方向と直交する方向において、配線部11W、16Wの長さよりも長い部分を有する。 - 特許庁
In advance of the application of the punch machining to the workpieces W, a through-hole Wa is punched through the stacked workpieces W by a punching mechanism 16.例文帳に追加
ワークWに対するパンチ加工に先立って、打ち抜き機構16により積層ワークWに貫通孔Waを打ち抜く。 - 特許庁
Water drops W falling down from the young sardines F fall down in the first slits 5 and the water drops W do not stay on the upper face of the bottom plate 2.例文帳に追加
しらすFから落下した水滴Wは、第1スリット5を落下し、底板2の上面には水滴Wは溜まらない。 - 特許庁
A finish-grinding wheel 3 formed of a cup type grinding wheel larger in diameter than a wafer W is rotated to finish-grind one side of the wafer W.例文帳に追加
ウェーハWよりも大径のカップ型砥石からなる仕上砥石3を回転させてウェーハWの片面を仕上研削する。 - 特許庁
In accordance with the number of rotations of the wafer W, the form of the holding member 85 holding the wafer W is changed to suppress the occurrence of treatment nonuniformity.例文帳に追加
ウエハWの回転数に応じて保持部材85によるウエハWの保持形態を変化させ、処理ムラの発生を抑制する。 - 特許庁
The wafer carry-in/out station 4 can hold a plurality of the wafers W and carries the wafers W continuously to/from the imprint unit 3.例文帳に追加
ウェハ搬入出ステーション4は、複数のウェハWを保有可能で、インプリントユニット3に連続的にウェハWを搬入出する。 - 特許庁
To provide a method for forming an element isolation film of a semiconductor element which prevents a plasma damage W to occur in the element isolation film forming process.例文帳に追加
素子分離膜形成工程で発生するプラズマ損傷Wを防止する半導体素子の素子分離膜形成方法を提供。 - 特許庁
A ratio W/T of the radial directional width W of the particular solid material in relation to the intermediate layer thickness T is set to 0.3-1.0.例文帳に追加
粒状固形物の半径方向幅Wの、中間層厚みTに対する比(W/T)は、0.3以上1.0以下である。 - 特許庁
To provide a W type ferrite sintered compact which has high existence ratio of a W phase in the entire area of the sintered compact and to provide its production process.例文帳に追加
W相の存在比率が焼結体の全域で高いW型フェライト焼結体及びその製造方法を提供する。 - 特許庁
The second conveyance unit 14 is of contact type and holds the substrate W by being in contact with the substrate W.例文帳に追加
第2搬送ユニット14は、被処理基板Wに接触することにより当該被処理基板Wを保持する接触式のものである。 - 特許庁
As a result, the heat transfer gas can be uniformly diffused in the rear of the material W and a heat responsibility to the material W can be maintained.例文帳に追加
これにより、被処理体の裏面に伝熱ガスを均一に拡散でき、また、被処理体に対する熱応答性を高く維持する。 - 特許庁
In the formula 1, 0<a<1, w+x+y+z=1, 0≤w≤1, 0≤x≤1, 0≤y≤1, 0≤z≤1, and A is a metallic element.例文帳に追加
前記式中、0<a<1、w+x+y+z=1、0≦w≦1、0≦x≦1、0≦y≦1、0≦z≦1、Aは金属元素である。 - 特許庁
To provide a thin film magnetic head which has a significantly narrow track width without ATE problems and excellent in O/W properties with fast switching speed.例文帳に追加
ATEの問題がなく、極めて狭いトラック幅を持ち、しかも、O/W特性に優れ、スイッチングスピードの速い薄膜磁気ヘッドを提供すること。 - 特許庁
In this titanium welded tube, the ratio of a weld bead width W (mm) of a weld zone to the thickness t (mm) satisfies inequalities 6.5>t/W≥1/3.例文帳に追加
溶接部の溶接ビード幅W(mm)と板厚t(mm)の比が6.5>t/W≧1/3であることを特徴とするチタン溶接管。 - 特許庁
While the hydrofluoric acid vapor is being supplied to the surface of the substrate W, the temperature of the substrate W is adjusted appropriately as in the following.例文帳に追加
基板Wの表面にフッ酸蒸気が供給されている間、以下のようにして基板Wの温度を適切に調節する。 - 特許庁
This oil-in-water emulsion comprises an oil and fat having ≥80 (W/W)% content of the allyl isothiocyanate based on the amount of the oil and fat, and water.例文帳に追加
油脂中のイソチオシアン酸アリル含有量が80(W/W)%以上である油脂と、水よりなる水中油型乳剤。 - 特許庁
In succession, slave chips 2 are arranged on the wafer W by a suction collet 13 as its active surface 2a keeps facing downward and facing the wafer W (Figure (a)).例文帳に追加
続いて、子チップ2が吸着コレット13により、活性面2aを下方に向けられてウエハWに対向配置される(図2(a))。 - 特許庁
The load size detector 41 has a plurality of optical axes in a region through which the load W passes to detect the size of the load W.例文帳に追加
荷大きさ検出器41は、荷物Wが通過する領域に複数の光軸を有し、荷物Wの大きさを検出する。 - 特許庁
The control unit reads out an execution command group stored in a storage unit, and transmits a command corresponding to the execution mode to the R/W device unit.例文帳に追加
制御部は記憶部に格納されている実行コマンド群を読み出し、R/Wデバイス部に前記実行モードに対応したコマンドを送信する。 - 特許庁
The graphite material W to be treated is heated to 2,000°C to volatilize impurities contained in the graphite material W to be treated.例文帳に追加
被処理用黒鉛材料Wは2000℃まで加熱され、被処理用黒鉛材料W中に含まれる不純物が揮散される。 - 特許庁
To provide a semiconductor device in which fabrication cost is reduced as compared with that of a conventional wafer level chip size package (W-CSP), and also to provide its fabrication process.例文帳に追加
従来のウエハレベル・チップサイズパッケージ(W-CSP)よりも製造コストを低く抑えた半導体装置およびその製造方法を提供する。 - 特許庁
This method comprises giving the artificial feed to the silkworm during a period of first instar to cocooning, so as to raise the silkworm, wherein the artificial feed for raising the silkworm is given by adding chitosan in an amount of 0.1 percent to several percents thereto.例文帳に追加
0.1%〜数%(w/w)のキトサンを添加した蚕用人工飼料を、1令から繭化するまで蚕に与えて飼育する。 - 特許庁
In a method for forming a mask on a substrate, a mask for treating a substrate W is formed by sticking a patterned seal 14 on the surface of the substrate W.例文帳に追加
予めパターンニングされたシール14を基板Wの表面に貼付けて基板処理のためのマスクを形成するものである。 - 特許庁
A signature W is folded in parallel by pushing a chopper blade 52 from above to the conveyed signature W.例文帳に追加
搬送されてきた折り丁Wに対して上方からチョッパブレード52を押しつけることによって折り丁Wを平行に折り込む。 - 特許庁
COSMETIC AND DERMATOLOGICAL LIGHT SCREENING PREPARATION IN FORM OF O/W MACROEMULSION OR O/W MICROEMULSION COMPRISING INSECT REPELLENT例文帳に追加
昆虫忌避剤を含むO/Wマクロエマルション又はO/Wミクロエマルションの形態の化粧品及び皮膚科学的光線遮蔽調製物 - 特許庁
Prescribed liquid for forming a dam in an outer edge part of a wafer W is supplied before resist solution is supplied to the wafer W.例文帳に追加
ウェハWにレジスト液が供給される前に,ウェハWの外縁部に堰を形成するための所定の液体を供給する。 - 特許庁
When cooling water W is supplied to the cold water tank 12, a funnel is fixed in place of a cap 35 and cooling water W is poured.例文帳に追加
冷水タンク12へ冷却用水Wを補給する場合は、キャップ35に代えて漏斗を付け、冷却用水Wを注入する。 - 特許庁
The wire W nearly polygonal in cross section is wound on the bobbin B, so that the wire W can be wound densely enough on the bobbin B.例文帳に追加
略多角形断面のワイヤWをボビンBに巻回することでワイヤWを十分に高密度で巻回することができる。 - 特許庁
When first/second arms push-press the work W to the width direction, the position of the work W is regulated in the front/ rear direction.例文帳に追加
第1および第2のアーム14a,14bがワークWをその幅方向に押圧する際ワークWを前後方向に位置規制する。 - 特許庁
This can make the write pulse signal transmit and receive between the R/W signal processing circuit 3 and the R/W amplifier 2 in a low frequency.例文帳に追加
これにより、R/W信号処理回路3とR/Wアンプ2との間でライトパルス信号を低周波で受け渡しできる。 - 特許庁
Injection electron quantity Q_μB (W) in an arbitrary retention deterioration occurrence rate (W) can be obtained from the relation of β_μB, Q_μB.例文帳に追加
βμ_B、Qμ_Bとの関係から、任意のリテンション劣化発生率(W)における、注入電荷量Qμ_B(W)を求めることができる。 - 特許庁
First holding rollers 1A-1C are in contact with the end face of a substrate W and are rotated, thus holding and rotating the substrate W.例文帳に追加
第1保持ローラ1A〜1Cが基板Wの端面に当接しつつ回転することで基板Wを保持しながら回転させる。 - 特許庁
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