1153万例文収録!

「d scan」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索


小窓モード

プレミアム

ログイン
設定

設定


セーフサーチ:オフ

不適切な検索結果を除外する

不適切な検索結果を除外しない

セーフサーチについて

d scanの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 56



例文

A D/A converter 940 is connected to a scan in terminal of the analog scan circuit 950, and an A/D converter 970 is connected to the scan out terminal of the analog scan circuit 960.例文帳に追加

アナログスキャン回路950のスキャンイン端子にはD/Aコンバータ940が接続され、アナログスキャン回路960のスキャンアウト端子にはA/Dコンバータ970が接続される。 - 特許庁

A scan flip-flop 1 switches a SCANIN signal and a signal of a D terminal by a ScanEnable signal and inputs it.例文帳に追加

スキャンフリップフロップ1はScanEnable信号によりSCANIN信号とD端子の信号とを切り替えて入力する。 - 特許庁

Continuously, a beam scan area at one side of a wafer is D-shaped by switching the scan voltage correction function in accordance with a mechanical Y scan position, thereby reducing beam scan areas.例文帳に追加

続いて、メカニカルYスキャン位置に応じてスキャン電圧補正関数を切り替えてウエハの片側のビームスキャンエリアをD形状にしてビームスキャンエリアを削減する。 - 特許庁

To provide an A/D converter that can arbitrarily set the order of A/D conversion in a scan mode by software.例文帳に追加

スキャンモードでのA/D変換順序をソフトウエアで任意に設定できるA/D変換装置を提供する。 - 特許庁

例文

An image pickup unit 1 moves in the array (X) direction of image pickup elements A to D to scan the elements A to D while photographing a target 5.例文帳に追加

撮像機器1は、対象物5を撮影しつつ撮像素子(A〜D)の配列(X)方向に移動走査する。 - 特許庁


例文

A scan order determination part determines for each 3D-DCT coefficient data in each area, a distance D from a reference point on each focus surface image, and determines a scan order in the order of the size of the distance D.例文帳に追加

スキャン順決定部は、各領域の各3D-DCT係数データに対して、各フォーカス面画像上の基準点からの距離Dを定め、スキャン順を距離Dの大きさ順に決定する。 - 特許庁

The liquid crystal display device comprises a liquid crystal display matrix 300 in which a liquid crystal display pixel is formed in correspondence with the intersection of a scan line L and a data line D, a scan line driving circuit 100 for driving a scan line D, and a data line driving circuit 200 for driving a data line D.例文帳に追加

液晶表示装置は、走査線Lとデータ線Dの交点に対応して液晶表示画素が形成されている液晶表示マトリックス300と、走査線Dを駆動する走査線駆動回路100と、データ線Dを駆動するデータ線駆動回路200とを有する。 - 特許庁

In this scan test circuit device, an initialization reset means performs in a scan mode, initialization reset in the integrated circuit constituted of a combination circuit 11 and scan test circuits S1 to Sn+m, and D-FF-1 to D-FF-n+m, based on an initialization reset signal CL synchronized with a scan clock pulse CK for performing operation of a scan test.例文帳に追加

本発明のスキャンテスト回路装置では、初期化リセット手段は、スキャンテストの動作を行うスキャンクロックパルスCKと同期する初期化リセット信号CLに基づいて、組み合わせ回路11と、スキャンテスト回路S1〜Sn+mおよびD−FF−1〜D−FF−n+mにより構成される集積回路内の初期化リセットをスキャンモードにより行う。 - 特許庁

On the basis of a moving distance D of a slice position per turn of helical scan and the number F of frames for generating a tomographic image per turn of helical scan, slice thickness T is determined by an inequality T≥D/F.例文帳に追加

ヘリカルスキャンの1旋回当たりのスライス位置の移動距離Dおよびヘリカルスキャンの1旋回時間当たりの断層像生成のフレーム数Fに基づいて、スライス厚Tを式T≧D/Fによって決定する。 - 特許庁

例文

The respective sizes of a document D in a subscan direction and a main scan direction are detected by using a read scanner 12 for reading image information on the document D.例文帳に追加

原稿Dの画像情報を読み取る読取スキャナ12を用いて、原稿Dの副走査方向及び主走査方向の各サイズを検出する。 - 特許庁

例文

The light emitting display device has a plurality of scan lines S for transmitting scan signals, a plurality of data lines D for transmitting data signals, and a plurality of pixel circuits 110 and 120 connected to the scan lines and data lines, respectively.例文帳に追加

本発明の発光表示装置は,走査信号を伝達する複数の走査線Sと;データ信号を伝達する複数のデータ線Dと;走査線Sとデータ線Dに各々連結される複数の画素回路110,120と;を備える。 - 特許庁

When a second scan condition for obtaining a second magnetic resonance signal is set by a scan condition setting part 501 using one coil 115a of a second receiving coil part 115, an A/D converter selection part 402 selects a plurality of A/D converters 401a-d, and outputs the second magnetic resonance signal to the selected A/D converters 401a-d.例文帳に追加

第2受信コイル部115の1つのコイル115aを用いて第2磁気共鳴信号を得る第2スキャン条件がスキャン条件設定部501によって設定された場合には、A/D変換器選択部402は、複数のA/D変換器401a〜dを選択し、その選択したA/D変換器401a〜dに第2磁気共鳴信号を出力する。 - 特許庁

Further, the relationship with the thickness t [mm] of the polygonal mirror is made so as to be t≥D+1, where D [mm] is the diameter of the incident optical beam with respect to the sub-scan direction.例文帳に追加

また、前記光ビームの入射する副走査方向の径をD[mm]としたとき、前記ポリゴンミラーの厚さt[mm]との関係を、t≧D+1とする。 - 特許庁

A capturing distance d is calculated based on a vehicular speed V from a vehicular speed sensor 14, and angle θ of radar scan is calculated, based on the capturing distance d and a turning radius R of the vehicle.例文帳に追加

車速センサ14からの車速Vから捕捉距離dを算出し、捕捉距離dと車輌の旋回半径Rとからレーダの走査の角度θを計算する。 - 特許庁

Reading scan lines 5a and 6a have a duplicate part D in the scanning direction around the central part of the original 2.例文帳に追加

読み取り走査線5a、6aは、読み取り原稿2のほぼ中央部で主走査方向に重複部Dをもつ。 - 特許庁

Due to the "d" where an image signal line is overlapped on a scan line, a capacity between the image signal line and the scan line can be reduced compared with the case of conventional delta arrangement.例文帳に追加

映像信号線が走査線と重畳する部分はdなので、従来のデルタ配置の場合よりも映像信号線と走査線との線間容量を小さくすることが出来る。 - 特許庁

After the baseline scan B ends, a contrast medium arrival detection scan C for detecting whether or not the contrast medium has arrived at the area is executed, and if it is decided that the contrast medium has arrived at the area, it is determined that an actual scan D will be started.例文帳に追加

ベースラインスキャンBが終了した後、領域に造影剤が到達したか否かを検出するための造影剤到達検出スキャンCが実行され、断面に造影剤が到達したと判断されたら、本スキャンDを開始すると決定する。 - 特許庁

The panel includes a signal line driver circuit, a scan line driver circuit, a pixel portion, a monitoring element portion, a D/A converter and a constant current source.例文帳に追加

パネルは信号線駆動回路、走査線駆動回路、画素部、モニタ素子部、D/A変換部及び定電流源を有している。 - 特許庁

The image data that undergo the image processing are converted into analog video signals by a D/A converter 20 via a multiplier 201 and a scan converter 17.例文帳に追加

画像処理後の画像データは、乗算器201およびスキャンコンバータ17を経て、D/A変換回路20でアナログ映像信号に変換される。 - 特許庁

The direction of the dichroic mirror 18 is changed when detecting light D is emitted to scan the heating light E on the sample 7.例文帳に追加

また,検出光Dを照射する際に前記ダイクロイックミラー18の向きを変化させて,前記加熱光Eを前記試料7上で走査させる。 - 特許庁

Readout image data D" generated by a scan of only the first page of a document are input into a digital watermark extraction part 505, which in turn extracts index information.例文帳に追加

ドキュメントの最初のページのみをスキャンして生成された読取画像データD’’を電子透かし抽出部505に入力してインデックス情報を抽出する。 - 特許庁

The oscillator array 18 includes a plurality of ultrasonic oscillators arranged in an annular shape, and electronically performs radial scan with ultrasonic wave along the ultrasonic scanning surface D.例文帳に追加

振動子アレイ18は、円環状に配列した複数の超音波振動子からなり、超音波走査面Dに沿って超音波を電子的にラジアル走査する。 - 特許庁

A latch circuit 30 activates touch panel driving lines L1 and L2 during at least one key scan, and detects whether any one of keys [A], [B], [C] and [D] of the touch panel 22 is pressed or not at the following key scan period by the reading part 29.例文帳に追加

一方、ラッチ回路30は、少なくとも1キースキャンの間、タッチパネル駆動線L1、L2をアクティブにし、次のキースキャン周期でタッチパネル22のキー[A]、[B]、[C]、[D]のいずれかが押されたかどうかを読取部29で検出する。 - 特許庁

A slit plate 30 having a slit width D depending upon the size of an assumed monitoring area is disposed in a designated position in front of a scanning mirror 12, and the irradiation range of the scan beam BM1 from the scanning mirror 12 is limited to the slit width D.例文帳に追加

想定される監視領域の大きさに応じたスリット幅Dを有するスリット板30を、走査ミラー12前方の所定位置に配置し、走査ミラー12からの走査ビームBM1の照射範囲を、スリット幅Dに限定する。 - 特許庁

A medium transfer mechanism 14 moves a medium 100 by a pitch feed unit so that a dot pitch distance in a sub scan direction of print images becomes D/t (t: 3 or larger integer and D: a distance between dot form elements).例文帳に追加

本発明では、媒体搬送機構14が媒体100を、プリント画像の副走査方向のドットピッチ間隔が、D/t(t:3以上の整数、D:ドット形成要素の間隔)となるようにピッチ送り単位で移動させる。 - 特許庁

a method under study to examine the colon by taking a series of x-rays (called a ct scan) and using a high-powered computer to reconstruct 2-d and 3-d pictures of the interior surfaces of the colon from these x-rays. 例文帳に追加

現在研究中の結腸の検査法で、まずx線の連続撮影(ctスキャンという)を行って、そこで得られたx線画像を基に高性能コンピュータを使って結腸内表面の2次元および3次元画像を再構築するもの。 - PDQ®がん用語辞書 英語版

A read-out signal is passed via an A/D converter form an amplifying circuit 7, processed by an external TV circuit 9, and displayed on an external monitor 10 after scan conversion.例文帳に追加

そして、読み出された信号は増幅回路7からA/D変換器を介して外部のTV回路9で処理され、走査変換を行って外部のモニタ10に表示される。 - 特許庁

a method under study to examine the colon by taking a series of x-rays (called a ct scan) and using a high-powered computer to reconstruct 2-d and 3-d pictures of the interior surfaces of the colon from these x-rays. 例文帳に追加

現在研究中の結腸の検査法で、まずx線の連続撮影(ctスキャンという)を行って、そこで得られたx線画像を基に高性能のコンピュータを使って結腸内表面の2次元および3次元画像を再構築するというもの。 - PDQ®がん用語辞書 英語版

By means of the position shift means 102, the position of the light emitting body array 101 is shifted for a specified quantity (d/2) in the column direction in a range of an arrangement pitch (d) of the light emitting elements 2, when light emission (solid scan) is conducted at the original position before shifting and at the position after shifting.例文帳に追加

位置シフト手段102により、発光体アレイ101の位置を、発光素子2の配列ピッチdの範囲内でその並び列の方向に所定量(d/2)シフトさせるが、そのとき、シフトさせない本来の位置とシフト位置とで発光(固体走査)を行う。 - 特許庁

Thereafter, the A/D converter 28B successively outputs the digital signal under the control of a column scan shift register 24B after read of the signal of the row signal to noise control circuits 27A and 27B, and the A/D converter 28A converts the signal of the next row to a digital signal.例文帳に追加

この後、次のロウの信号を雑音制御回路27A,27Bに読み出したのち、A/Dコンバータ28Bはカラムスキャンシフトレジスタ24Bの制御下でデジタル信号を順次出力し、同時にA/Dコンバータ28Aは次のロウの信号をデジタル信号に変換する。 - 特許庁

With respect to the lens 25, intervals D on the document 1 corresponding to line intervals of three CCD line sensors, the scan speed(s), and the electric charge storage time T in the 3-line CCD sensor have a relation D=sT' (3n±1) where (n) is an integer.例文帳に追加

レンズ25に関して3本のCCDラインセンサのライン間隔に対応する原稿1上の間隔D、走査速度s、および、3ラインCCDセンサにおける電荷蓄積時間Tは、或る整数nに対して、D=sT(3n±1)なる関係を有する。 - 特許庁

Moreover, the flip-flop is provided with a circuit 24 for selectively connecting a scan data input terminal SI or a data input terminal D to the first latching circuit 21, and a circuit 25 for selectively connecting the output of the first latching circuit 21 or the data input terminal D to the second latching circuit 22.例文帳に追加

さらに、フリップフロップは、スキャンデータ入力端子INとデータ入力端子Dを選択的に第1のラッチ回路21に接続する回路24と、第1のラッチ回路21の出力とデータ入力端子Dを選択的に第2のラッチ回路22に接続する回路25とを備えている。 - 特許庁

An A/D converter 28A converts the signal stored in the noise control circuit 27A to a digital signal and successively sends it to an output OUT under the control of a column scan shift register 24A, and an A/D converter 28B converts the signal stored in the noise control circuit 27B to a digital signal.例文帳に追加

A/Dコンバータ28Aは雑音制御回路27Aの蓄える信号をデジタル信号に変換した後、カラムスキャンシフトレジスタ24Aの制御下で出力OUTに順次送出し、同時にA/Dコンバータ28Bは雑音制御回路27Bの蓄える信号をデジタル信号に変換する。 - 特許庁

Laser beams a, b, c, and d scan a surface of four electrical- charged photosensitive drums 18a, 18b, 18c, and 18d by laser scanners 11a, 11b, 11c, and 11d respectively and form electrostatic latent images.例文帳に追加

帯電後の4個の感光ドラム18a、18b、18c、18d表面を、それぞれレーザスキャナ11a、11b、11c、11dによってレーザビームa、b、c、dで走査し、静電潜像を形成する。 - 特許庁

A distance calculating means 311 calculates the start-to-end point distance L of a drawing pattern, and a number-of-scan-clocks calculating means 312 calculates the number of scan clocks required to write the drawing pattern based on the distance L and a unit distance corresponding to the minimum resolution of a high-speed D/A converter 306.例文帳に追加

距離算出手段311が描画パターンの始点終点間距離Lを算出し、走査クロック数算出手段312が距離Lと高速D/A変換器306の最小分解能に相当する単位距離とに基づいて、描画パターンを描画するために必要な走査クロック数を算出する。 - 特許庁

A pre-scan window screen 52 for obtaining and displaying a plurality of pre-scan images 52-n is arranged as an assist function for easily finding an optimum condition of the detected scattering angle α, and a means for registering the plurality of pre-scan images in compliance with the position d of a dark-field detector 14 (condition of a detected scattering angle αd) is arranged.例文帳に追加

また、最適な検出散乱角αdの条件を容易に見つけるためのアシスト機能として、検出散乱角αdの異なる複数のプリスキャン画像52-nを取得して表示するためのプリスキャンウィンドウ画面52を設け、複数のプリスキャン画像をその画像を取得したときの暗視野検出器14の位置d(検出散乱角αdの条件)と対応させて登録する手段を設けた。 - 特許庁

When receiving a scan conversion command from a central processing unit 1 or the like, the conversion section 2 sequentially selects the plurality of input channels CH0-CH5 in a predetermined selection order to perform successive A/D conversion.例文帳に追加

変換部2は、中央処理装置1などからスキャン変換指令を受けた場合に、複数の入力チャネルCH0〜CH5を所定の選択順で順次選択して連続的にA/D変換を行なう。 - 特許庁

The laser scanning optical device includes a light source having a plurality of light emitting points for emitting light at different positions in the direction of auxiliary scanning to scan one photosensitive member by a plurality of beams a-d emitted from the light emitting points.例文帳に追加

副走査方向に異なる位置で発光する複数の発光点を有する光源を備え、該発光点から放射された複数のビームa〜dにて一の感光体上を走査するレーザ走査光学装置。 - 特許庁

In such a printing apparatus, a unit scan operation including k times main scans and (k-1) times sub-scans of a predetermined first feed amount (m×D) (m represents an integer of 2 or greater and prime with k) is performed.例文帳に追加

そのような印刷装置において、k回の主走査と、所定の第1の送り量(m×D)(mは、2以上でkと素の整数)による(k−1)回の副走査と、を含む単位スキャン動作を実行する。 - 特許庁

The image signal wiring d, a first insulating-layer INS1, a second insulating-layer INS2, a contact electrode ELC, a scan signal wiring s and an upper electrode AED are laminated on a principal surface of a rear surface substrate SUB1.例文帳に追加

背面基板SUB1の主面に画像信号配線d、第1の絶縁層INS1、第2の絶縁層INS2、コンタクト電極ELC、走査信号配線s、上部電極AEDが積層されている。 - 特許庁

As a capacitance line 77 and a scan line 11 are overlapped in a gap D in the display device, a rate occupied by wiring lines between reflective electrodes 9 is made smaller by an overlap portion of two wiring lines.例文帳に追加

本発明に係る表示装置によれば、間隙Dにおいて、容量線77と走査線11とが重ねて構成されているため、2本の配線の重なり分、反射電極9間における配線が占める割合を小さくすることができる。 - 特許庁

The semiconductor integrated circuit is provided with an inverter circuit 330 that analyzes timing on a net list, extracts a delay failure undetectable path, and inverts an input signal input into a normal signal input terminal D of the scan FF 320 at a starting point of the path.例文帳に追加

ネットリストに対してタイミング解析を実施して遅延故障検出不能経路を抽出し、その経路の始点となるスキャンFF320の通常信号入力端Dへの入力信号を反転させる反転回路330を設ける。 - 特許庁

Thus, when the TRIFLE pulse 4 is applied to the scan electrode, the switching to a dark state is stabilized than the case that the pause period d is not provided, and the original effect of the TRIFLE pulse 4 is strengthened, and a non-rewrite margin is increased.例文帳に追加

これにより、TRIFLEパルス4を走査電極に印加したときに、上記休止期間dを設けない場合に比べて、暗状態へのスイッチングがより安定し、TRIFLEパルス4本来の効果が強くなって非書き換えマージンが増加する。 - 特許庁

When the signal wiring board 14 is used as the lower signal wiring board 11, on the other hand, the pad part D is used to input the signals from the scan wiring board 12 and other pads C, B, and A are used to connect the driver IC 13.例文帳に追加

一方、信号配線基板14を下側信号配線基板11として用いる場合には、パッド部Dを走査配線基板12からの信号等の入力に使用し、他のパッド部C、パッド部Bおよびパッド部AをドライバIC13の接続に用いる。 - 特許庁

When the signal wiring board 14 of this constitution is used as the upper signal wiring board 10, the pad part A is used to input signals from the scan wiring board 12 and other pad parts B, C, and D are used to connect a driver IC 13.例文帳に追加

この構成の信号配線基板14を上側信号配線基板10として用いる場合には、パッド部Aを走査配線基板12からの信号等の入力に使用し、他のパッド部B、パッド部Cおよびパッド部DをドライバIC13の接続に用いる。 - 特許庁

In the dynamic circuit of the input portion 11 of the flip-flop circuit having the constitution with the scan, the number of serial connection stages of a MOS transistor applied with an input of a data signal D is set less than the number of the serial connection stages of the MOS transistor applied with a test input signal SI.例文帳に追加

スキャン付き構成を有するフリップフロップ回路の入力部11のダイナミック回路において、データ信号Dの入力が加わるMOSトランジスタの直列接続段数を、テスト入力信号SIが加わるMOSトランジスタの直列接続段数よりも少なく設定する。 - 特許庁

Signal lines L1-L5 severally branch off to be connected to D terminals of the FFs 11-15, and a clock signal CLK, a write-enable signal WEN, a chip select signal CEN, an input data signal DI, and an address signal A are inputted into the scan FFs 11-15 via the signal lines L1 to L5, respectively.例文帳に追加

信号線L1〜L5は、それぞれ分岐してスキャンFF11〜15のD端子に接続されており、クロック信号CLK、ライトイネーブル信号WEN、チップセレクト信号CEN、入力データ信号DI、およびアドレス信号Aは、それぞれ信号線L1〜L5を介してスキャンFF11〜15に入力される。 - 特許庁

In the scan exposure device 1, the substrate drive unit 17 of a substrate conveyance mechanism 10 is constituted movably so that a plurality of masks M and a substrates W may relatively move by a distance A in the Y direction, that is by approximately half of the inter-center distance D in the Y direction of mask patterns 51, 52 of the adjoining masks M.例文帳に追加

スキャン露光装置1では、基板搬送機構10の基板駆動ユニット17は、複数のマスクMと基板WとがY方向に所定の距離A、即ち、隣接するマスクMのマスクパターン51,52のY方向における中心間距離Dの略1/2だけ相対移動するように移動可能に構成されている。 - 特許庁

Unevenness formed on the credit card 7 is detected by using a laser scan type two-dimensional displacement sensor 3 and according to the detection result, an A/D converter circuit 4 generates image data; and a CPU circuit 6 processes the image data to recognize the embossed characters formed on the credit card.例文帳に追加

レーザースキャン式2次元変位センサ3を使用して、クレジットカード7に形成される凹凸を検出し、この検出結果に基づき、A/Dコンバータ回路4によって、画像データを生成するとともに、CPU回路6によって、画像データを画像処理して、クレジットカード7に形成されているエンボス文字8を認識する。 - 特許庁

例文

D/A converters 25 and 26 generate command signals from command data, and scanner drive circuits 27 and 28 convert the command signals to driving currents, and galvano-meter scanners 11 and 12 rotate revolving shafts 13 and 14 by driving currents, and thus, scan mirrors 15 and 16 attached to revolving shafts 13 and 14 are rotated to perform alignment on a material H to be worked.例文帳に追加

D/A変換器25,26は指令データから指令信号を作成し、スキャナドライブ回路27,28は指令信号を駆動電流に変換し,ガルバノメータスキャナ11,12は駆動電流により回転軸13,14を回転させ、これにより回転軸13,14に取り付けられたスキャンミラー15,16が回転して被加工物H上に位置合わせを行う。 - 特許庁




  
Copyright © Japan Patent office. All Rights Reserved.
  
PDQ®がん用語辞書 英語版
Copyright ©2004-2026 Translational Research Informatics Center. All Rights Reserved.
財団法人先端医療振興財団 臨床研究情報センター
こんにちは ゲスト さん

ログイン

Weblio会員(無料)になると

会員登録のメリット検索履歴を保存できる!

会員登録のメリット語彙力診断の実施回数増加!

無料会員に登録する
英→日 日→英
こんにちは ゲスト さん

ログイン

Weblio会員(無料)になると

会員登録のメリット検索履歴を保存できる!

会員登録のメリット語彙力診断の実施回数増加!

無料会員に登録する

©2026 GRAS Group, Inc.RSS