| 例文 |
design inspectionの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 284件
The detection sensitivity for a mask defect is inspected by using a mask for inspection of defect detection sensitivity having a basic pattern region where a pattern is formed based on the design data of a basic pattern and a defect pattern region where a pattern is formed based on the design data of a defect pattern prepared by adding a specified defect to the basic pattern.例文帳に追加
基本パターンの設計データを基づきパターンが形成された基本パターン領域と、基本パターンに、所定の欠陥を加えた欠陥パターンの設計データを元にパターンが形成された欠陥パターン領域とを備える欠陥検出感度検査用マスクを用いて、マスク欠陥検出感度の検査を行う。 - 特許庁
To obtain an elevator landing entrance device avoiding impairment of the exterior design properties by disposing inspection lids on the hoistway sides of the lower ends of vertical frames of an elevator landing jamb and the lower ends of guide frames of a smoke shielding/flame shielding screen.例文帳に追加
エレベータ乗場三方枠の縦枠下端及び遮煙・遮炎スクリーンのガイド枠下端の昇降路側に、点検蓋を配置し、外観の意匠性を損なうことのないエレベータの乗場出入口装置を得る。 - 特許庁
In a method for inspection of a sample, upon calculating sharpness strength by using an estimated value of height information of the sample achieved from height information of design data or an image, the image quality improvement treatment of the captured image is performed by using the sharpness strength.例文帳に追加
設計データの高さ情報または画像から求めた試料の高さ情報の推定値を用いて鮮明化強度を計算し,該鮮明化強度を用いて撮像画像の画質改善処理を行う。 - 特許庁
To provide: a method for detecting an amount of displacement of a wiring layer by lamination processing; a design method of a laminate substrate; and an image inspection device using the method for detecting the amount of displacement of the wiring layer.例文帳に追加
積層基板の、積層加工による配線層の位置ずれ量を検出する方法、設計方法及び配線層の位置ずれ量を検出する方法を用いた画像検査装置を提供することを目的とする。 - 特許庁
To provide a rainwater treatment structure of an overhang roof whose rainwater treatment passage can be simplified while making design of the whole overhang roof beautiful, reducing the number of parts around the roof, and facilitating maintenance and inspection.例文帳に追加
オーバーハング屋根全体を意匠的に美しく見せながら雨水処理の経路を単純化させるとともに、屋根回りの部品数を低減させ、また保守点検しやすい、オーバーハング屋根の雨水処理構造を提供する。 - 特許庁
A lithography simulation device structure including a hardware accelerator that is specialized to an application is utilized, and a processing technique that facilitates and accelerates the verification, characterization and/or inspection of a mask design is also utilized.例文帳に追加
本発明は、アプリケーションに特化したハードウェアアクセラレータを含んでいるリソグラフィシミュレーション装置構造を利用しており、および、マスクデザインの実証、描写および/または検査を容易にし加速する処理手法を利用している。 - 特許庁
An applicant who invokes his application for a design registration against another person before the files of the application have been made available to the public shall on request let the said person obtain inspection of the files. 例文帳に追加
出願のファイルが公衆の利用に供される前に,その意匠登録出願を他人に対して援用する出願人は,請求を受けたときは,その出願のファイルを当該他人に閲覧させなければならない。 - 特許庁
This systen and method employs a lithography simulation system architecture including application-specific hardware accelerators, and a processing technique to facilitate and accelerate verification, characterization and/or inspection of a mask design.例文帳に追加
本発明は、アプリケーションに特化したハードウェアアクセラレータを含んでいるリソグラフィシミュレーション装置構造を利用しており、および、マスクデザインの実証、描写および/または検査を容易にし加速する処理手法を利用している。 - 特許庁
To provide an inspection apparatus for equipment, wherein inspected equipment itself can be used for setting procedures for judging whether or not various setting operations by operation buttons of a cellular phone, etc. can be performed as design.例文帳に追加
携帯電話等の操作ボタンによる種々の設定動作が設計通り行えるかどうかの判定を行う手順の設定に、その被検査機器自体を使用できるようにした機器の検査装置を提供する。 - 特許庁
To provide a slit light luminance distribution design method and an optical cutting irregularity flaw detection device for performing stable optical cutting irregularity flaw detection corresponding to the range widening and speeding-up of surface flaw inspection.例文帳に追加
表面疵検査の広範囲化、高速化に対応して安定した光切断凹凸疵検出ができる、スリット光輝度分布設計方法および光切断凹凸疵検出装置を提供することを課題とする。 - 特許庁
The inspection of pattern is carried out materially by measuring the deviation between both data through the comparison of the profile of pattern with the design data of CAD or the like or by operating the size or the like of the circuit pattern from the profile of pattern.例文帳に追加
パターン検査は、具体的には、パターンの輪郭とCAD等の設計データとを比較して両者のずれを計測したり、パターン輪郭から回路パターンの寸法等を算出することにより実行される。 - 特許庁
To provide a sliding door device having a self-closing function, a simple structure, and substantially the same design of a doorway on an inspection side (indoor side) and a fixed side (outdoor side) to improve the aesthetic appearance of the whole device.例文帳に追加
自閉機能を有する引戸装置に関し、簡単な構造で、出入口の意匠が点検側(室内側)と固定側(室外側)でほぼ同じ意匠となって、全体の美観の向上が図れる引戸装置を提供する。 - 特許庁
To provide a fire-resistant coating method of a base isolation device which is simple in the constitution and excellent in workability, can execute periodical inspection for the base isolation device with ease, excellent in design, requires no finishing materials, and can contribute to cost reduction.例文帳に追加
構成が簡単で施工性が良く、免震装置の定期点検を容易に行え、意匠性に優れて仕上材を必要とせず、コストの削減に寄与する免震装置の耐火被覆工法を提供する。 - 特許庁
To provide a semiconductor package inspecting system and a program thereof which enable an operator to grasp the actual state of a semiconductor package three-dimensionally in detail, and to reflect the inspection result effectively on design data.例文帳に追加
半導体パッケージの実物の状態を3次元的に詳細に把握することができ、その検査結果を設計データに効果的に反映させることができる半導体パッケージの検査システムおよびプログラムを提供すること。 - 特許庁
Ministerial Ordinance of Establishing Technical Standards on Nuclear Fuel Material for Power Generation Facilities Technical standards that applied to the approval of fuel assembly design and fuel assembly inspection based on the provisions of the Electricity Business Act are specified.例文帳に追加
発電用核燃料物質に関する技術基準を定める省令 電気事業法の規定に基づく燃料体設計認可及び燃料体検査の際に用いられる技術基準について定めたもの。 - 経済産業省
An inspection region 2 is designated using design information 1, region division 3 for measurement by a scatterometry method is performed, and pattern classification 4 of obtained and detected data is performed to classify patterns into a periodic region 5 and a non-periodic region 6.例文帳に追加
設計情報1を用いて検査領域2を指定し、スキャットロメトリー法によって測定するための領域分割3を行い、得られた検出データをパターン分類4し、周期領域5と非周期領域6に分類する。 - 特許庁
To reduce storage capacity in a main controller by reducing the number of variation pattern commands while securing the variety of variation patterns, and to reduce an inspection load by reducing debug man-hours during design development of a game machine.例文帳に追加
変動パターンの多様性を確保しつつ、変動パターンコマンド数を削減することにより主制御装置における記憶容量を削減し、かつ遊技機の設計開発時におけるデバック工数を低減させて検査負荷を減らす。 - 特許庁
To provide an elevator capable of realizing a maintenance structure of the elevator without impairing car design, by safely performing inspection work from the inside of a car on hoistway apparatuses such as a control panel and an auxiliary panel in a hoistway.例文帳に追加
昇降路内の制御盤、補助盤等の昇降路機器をかご内から安全に点検作業を実施することを可能とし、且つかごの意匠を損なわずにエレベータの保守構造を実現可能としたエレベータを提供する。 - 特許庁
An averaging image is generated by the use of fixed point inspection images of a plurality of chips, the averaging image is evaluated by the use of information on a circuit design corresponding to a fixed point position, and it is decided whether or not the averaging image is a reference image.例文帳に追加
複数チップの定点検査画像を用いて平均化画像を生成し、定点位置に対応する回路デザインに関する情報を用いて平均化画像を評価し、平均化画像を基準画像とするか否かを決定する。 - 特許庁
To provide a test fixture that dispenes with design changes of a measuring substrate, even when a signal line distribution change inside an electronic device, having a higher bit rate of a transmissible signal, and having inexpensive inspection facility cost by a long-lifetime contact.例文帳に追加
電子デバイス内の信号ライン振り分け変更の場合も測定用基板の設計変更が不要で、伝播可能な信号のビットレートがより高く、長寿命接点により検査設備費が安価に済むテストフィクスチャを提供する。 - 特許庁
Where the Registrar gives a direction under section 77(1) of the Ordinance, the representation of the design and any such evidence as is mentioned in section 77(2)(b) of the Ordinance shall not be open to public inspection in the Registry during the continuance in force of the directions. 例文帳に追加
登録官が条例第77条(1)に基づき指示を与える場合は,意匠の表示及び条例第77条(2)(b)にいう証拠は,当該指示が効力を継続する間,登録部門において公衆の閲覧に供してはならない。 - 特許庁
To provide an apparatus and method of designing a circuit which can design a circuit in which it can be determined that is not faulted if an inspection by a used test pattern is passed even if it does not raise a fault coverage.例文帳に追加
故障検出率をあげなくとも、使用されるテストパターンでの検査に合格すれば、故障していないと判断することができる回路を設計することが可能な回路設計装置及び回路設計方法を提供する。 - 特許庁
The safety analysis in the pre-service inspection has previously been conducted in the design phase, and has been approved by the Minister of METI after the regulatory body’s review. Therefore, the safety analysis is not conducted at this stage.例文帳に追加
したがって、使用前検査における安全分析はすでに設計時点で行われ、規制当局のレビューを受けて経済産業大臣の認可を受けており、この段階での新たな安全分析は原則として行われない。 - 経済産業省
Good practices and non-compliances identified during periodic inspections, as well as the experiences in design, construction and operation of domestic and foreign nuclear installations, were analyzed, and the results are incorporated in design modification, improvement of construction methods, etc., when they can be recognized to be effective, during the course of licensing for installment, approval of construction plan and pre-service inspection.例文帳に追加
原子炉施設の定期検査及び国内外の設計、建設及び運転により得られた良好事例並びに不具合事例を分析し、それらが有効と認められる時は、設計改良又は工事方法改善等の形で、必要に応じ設置許可変更、工事計画認可及び使用前検査を経て、その知見を反映している。 - 経済産業省
A failure semiconductor analyzing tool or a method using it include at least one or more of wiring design layers, and a user layer for incorporating and displaying an output of a failure semiconductor inspection device or a failure semiconductor analyzing device as data format information.例文帳に追加
少なくとも1つ以上の配線設計レイヤと、半導体不良検査装置または不良解析装置の出力をデータ形式情報として取り込み、表示するユーザレイヤとを有する不良解析ツールまたはそれらを用いた手法である。 - 特許庁
Where an application for a design has been abandoned or refused, the application and any drawings, photographs, tracings, representations or specimens left in connection with the application shall not at any time be open to public inspection or be published by the Controller.例文帳に追加
意匠出願が放棄又は拒絶された場合は,当該出願に関して提出済みの願書及び図面,写真,トレーシング,表示又は見本は,如何なる時も公衆の閲覧に供してはならず,又は長官により公開されてはならない。 - 特許庁
Where an application for the registration of a design has been abandoned or refused, neither the application for registration nor any other material or information filed in pursuance thereof shall at any time be open to inspection at the Patents Office or be published by the Controller.例文帳に追加
意匠の登録出願が放棄され又は拒絶された場合は,当該意匠登録出願も,またこれに伴って提出された他の如何なる資料若しくは情報も,特許庁における閲覧に供されず,長官による公開もされない。 - 特許庁
To provide an operation panel in an elevator car, easy in removing work of a face plate in maintenance-inspection, by allowing a passenger to know that the face plate is fixed to a car side plate from the inside of a car, without having influence on design to the face plate.例文帳に追加
フェースプレートへの意匠上の影響が無く、乗客が乗りかご内よりフェースプレートが乗りかご側板と固定されていることが分かり、保守点検時はフェースプレートの取外し作業が簡単なエレベータ乗りかご内操作盤を提供する。 - 特許庁
(1) A graduate from university, etc. related to engineering, who has 10 years or more of experiences involved in research, design, manufacturing or inspection for machines, etc. subject to the individual examination, or involved in the individual examination service for the said machines, etc. 例文帳に追加
一 工学関係大学等卒業者で、十年以上個別検定を行おうとする機械等の研究、設計、製作若しくは検査又は当該機械等に係る個別検定の業務に従事した経験を有するものであること。 - 日本法令外国語訳データベースシステム
(2) A graduate from high school, etc. related to engineering, who has 15 years or more of experiences involved in research, design, manufacturing or inspection for machines, etc. subject to the individual examination, or involved in the individual examination service for the said machines, etc. 例文帳に追加
二 工学関係高等学校等卒業者で、十五年以上個別検定を行おうとする機械等の研究、設計、製作若しくは検査又は当該機械等に係る個別検定の業務に従事した経験を有するものであること。 - 日本法令外国語訳データベースシステム
(1) A graduate from university, etc. related to engineering who has 2 years or more of experiences involved in research, design, manufacturing or inspection for machines, etc. subject to the type examination, or involved in the type examination service for the said machines, etc. 例文帳に追加
一 工学関係大学等卒業者で、十年以上型式検定を行おうとする機械等の研究、設計、製作若しくは検査又は当該機械等に係る型式検定の業務に従事した経験を有するものであること。 - 日本法令外国語訳データベースシステム
(2) A graduate from high school, etc. related to engineering who has 5 years or more of experiences involved in research, design, manufacturing or inspection for machines, etc. subject to the type examination, or involved in the type examination service for the said machines, etc. 例文帳に追加
二 工学関係高等学校等卒業者で、十五年以上型式検定を行おうとする機械等の研究、設計、製作若しくは検査又は当該機械等に係る型式検定の業務に従事した経験を有するものであること。 - 日本法令外国語訳データベースシステム
The licensee carries out construction work of the nuclear installation after the detailed design has been approved. The pre-service inspection conducted by the regulatory body verifies whether or not the construction work is being performed as approved beforehand.例文帳に追加
原子炉設置者は、詳細設計の認可を受けた後に原子炉施設の建設工事を行うが、その工事があらかじめ認可を受けたとおりに行われていることは、規制当局が実施する使用前検査によって確認される仕組みとなっている。 - 経済産業省
The Reactor Regulation Act provides the procedures for safety regulation and the licensing criteria as for the installment and operation of reactors, etc, including installment license, approval of design and construction methods, pre-service inspection, facility periodic inspection, approval of operational safety program, Operational Safety Inspection, decommissioning, etc..The act also provides disposition such as suspension of operation and license revocation and criminal punishment including imprisonment and fine.例文帳に追加
原子炉等規制法では、原子炉の設置及び運転に関する規制として、設置の許可、設計及び工事の方法の認可、使用前検査、施設定期検査、保安規定の認可、保安検査、原子炉の廃止などの安全規制の手続きや許認可の基準などが定められているほか、この法律の定めに従わなかった場合に課すことができる運転停止や許可の取消しなどの行政処分や懲役、罰金などの刑事処分についても規定されている。 - 経済産業省
Article 48 (1) Any person may file a request to the Minister of Economy, Trade and Industry to issue a certified copy or an extract of the layout-design registry, or to allow the inspection or copying of the layout-design registry or a written application set forth in Article 3, paragraph (2) or drawings and other supporting materials attached thereto (excluding documents which the Minister of Economy, Trade and Industry considers it necessary to keep confidential). 例文帳に追加
第四十八条 何人も、経済産業大臣に対し、回路配置原簿の謄本若しくは抄本の交付又は回路配置原簿若しくは第三条第二項の申請書若しくはこれに添付した図面その他の資料(経済産業大臣が秘密を保持する必要があると認めるものを除く。)の閲覧若しくは謄写を請求することができる。 - 日本法令外国語訳データベースシステム
To provide a vacuum exhaust device capable of facilitating arrangement and design of a cylinder cabinet, reducing man-hour for pipe welding, assembly, and inspection greatly, and optimizing flow rate and concentration of exhausted gas and being usable even in flammable, toxic, and corrosive fluid.例文帳に追加
シリンダキャビネットの配置設計が容易で、配管溶接、組立、検査の工数を大幅に削減することができ、可燃性、毒性、腐食性流体にも使用でき、排出されるガスの流量および濃度を最適化できる真空排気装置を提供する。 - 特許庁
(2) The period under section 30(2) of the Act during which a design shall not be open to inspection, except as provided for in that section, shall be, as regards designs to be applied to textile articles, three years, and as regards designs to be applied to wallpaper and lace, two years, from the date of the registration thereof.例文帳に追加
(2) 法第30条(2)に基づき意匠が公衆の閲覧に供されない期間は,同条に規定のある場合を除き,その登録日から繊維品に適用の意匠に関しては3年,並びに壁紙及びレースに適用の意匠に関しては2年とする。 - 特許庁
Based on the coincidence between an actual measurement component coordinates contained in the program for inspecting the mounting substrate and design component coordinates contained in CAD data, component identification information regarding each component is allowed to correspond to inspection reference information of the component, thus creating the conversion table.例文帳に追加
実装基板検査用プログラムに含まれる実測部品座標とCADデータに含まれる設計部品座標との一致に基づき、各部品に関する部品識別情報とその部品の検査基準情報とを対応づけることにより変換テーブルを生成する。 - 特許庁
Where an application for a design has been abandoned or refused, the application and any drawings, photographs, tracings, representations or specimens left in connection with the application shall not at any time be open to public inspection or be published by the Registrar. 例文帳に追加
意匠出願が放棄された場合、又は拒絶された場合、当該願書並びに当該願書に関連して提出された図面、写真、トレーシング、表示又は見本はいかなる場合も公衆の閲覧に供してはならず、また、登録官により公開されてはならない。 - 特許庁
(ii) A person who has majored in and graduated from a regular science course of a university or a technical college accredited under the School Education Act, and has experiences having engaged in the work of design, manufacturing, inspection or handling of industrial dryers for one year or longer thereafter 例文帳に追加
二 学校教育法による大学又は高等専門学校において理科系統の正規の学科を専攻して卒業した者で、その後一年以上乾燥設備の設計、製作、検査又は取扱いの作業に従事した経験を有するもの - 日本法令外国語訳データベースシステム
(iii) A person who has majored in and graduated from a regular science course of a senior high school or secondary education school accredited under the School Education Act, and has experiences having engaged in the work of design, manufacturing, inspection or handling of industrial dryers for two years or longer thereafter 例文帳に追加
三 学校教育法による高等学校又は中等教育学校において理科系統の正規の学科を専攻して卒業した者で、その後二年以上乾燥設備の設計、製作、検査又は取扱いの作業に従事した経験を有するもの - 日本法令外国語訳データベースシステム
A storage part 2c is a large-scale integrated circuit (LSI) for storing identification information, design information, inspection history information, disaster history information, damage history information, maintenance history information, execution record information and execution plan information, etc., of the bridge as the management information or the like.例文帳に追加
記憶部2cは、橋梁の識別情報、設計情報、検査履歴情報、災害履歴情報、損傷履歴情報、保守履歴情報、施工記録情報、施工方針情報などを管理情報として記憶する大規模集積回路(LSI)などである。 - 特許庁
The law had required checkups on the safety of buildings during the design process, to which the amendment toughened building certification and inspection requirements to prevent structural calculation frauds, after false sheets were found in November 2005.例文帳に追加
建築基準法は、設計段階での建築物の安全性を審査することを求めているが、今回の建築基準法の改正は、2005年11月に発覚した構造計算書偽装問題の再発を防止するため、建築確認・検査を厳格化したものであった。 - 経済産業省
This parts reuse system is formed of a parts reuse server 1, a parts reuse data base 2, the Internet 3, a manufacture unit terminal 4, a design unit terminal 5, a dismantle and inspection center terminal 6, a parts delivery side terminal 7, and a sales and maintenance side terminal 8.例文帳に追加
部品再利用システムは、部品再利用サーバ1と、部品再利用データベース2と、インターネット3と、製造部門用端末4と、設計部門用端末5と、解体・検査センター用端末6と、部品納入業者用端末7と、販売・メンテナンス業者用端末8と、から構成されている。 - 特許庁
To eliminate a leak flow inspection for confirming a clearance of products by securely satisfying a design request of a clearance of fitting parts regulated on the basis of a fluid leak between members in a member working process or a member assembling process.例文帳に追加
部材間からの流体漏れ量に基づきクリアランスが規定される嵌合部品のクリアランスの設計要求を、嵌合部品を製造する際の、部材の加工工程または組立工程において確実に満たし、製品のクリアランスを確認するための、漏れ流量検査を不要とする。 - 特許庁
Design data is imported into a recipe extraction system 150, and the recipe extraction system 150 recognizes instances of target structures and configures recipe parameters accordingly, thereby reducing manual instrument setup time, improving inspection/measurement accuracy, and improving fabrication efficiency.例文帳に追加
設計データはレシピ抽出システム150に取り込まれ、該レシピ抽出システム150は、ターゲット構造のインスタンスを認識し、これに応じてレシピパラメータを構成し、これにより、マニュアルでの機器セットアップ時間を減少させ、検査/測定の精度を向上させ、製造効率を向上させる。 - 特許庁
To conduct high-precision and rapid inspection of a semiconductor in a desired contrast by efficiently and rapidly detecting secondary electrons, reflected electrons or both of them generated from a substrate, in a method for inspecting a defect, a foreign substance, a residue and the like of the same design pattern of a semiconductor device by using an electron beam.例文帳に追加
半導体装置の同一設計パターンの欠陥、異物、残渣等を電子線により検査する方法において、基板から発生する二次電子または反射電子またはその両方を高効率に高速に検出し、所望のコントラストで半導体ウェハの高精度、高速な検査を行う。 - 特許庁
A pattern is extracted by performing registration p1 of a pattern image with respect to a critical portion of the reference mask and registration p2 of a pattern in a critical portion of design data and applying extraction p4 of the critical pattern portion to a pattern image acquired by acquisition p3 of the pattern image of an inspection target mask.例文帳に追加
基準マスクのクリティカル部分についてのパターン画像の登録P1と、設計データのクリティカル部分のパターンの登録p2を行い、検査対象マスクのパターン画像の取得p3によって得たパターン画像に対してクリティカルパターン部の抽出処理p4を施すことでパターンを抽出する。 - 特許庁
To provide a metallic cover for an inspection hole, which has excellent molding workability, excellent color conditioning properties and design harmony with a peripheral sidewalk, excellent surface accuracy, has no impulsive properties in case of walking and has excellent abrasion resistance, in which a crack is not generated and which has excellent durability, is lightweight and is handled easily.例文帳に追加
成形作業性に優れる、周囲の歩道との色彩調和性・デザイン調和性に優れる、表面精度に優れる、歩行時の衝撃性がない、耐摩耗性に優れる、割れが発生しない、耐久性に優れる、重量が軽くて取り扱い易い、点検口用金蓋を提供する。 - 特許庁
The semiconductor device has a drive capability adjustment part for adjusting the drive capability of the semiconductor device according to an inputted control signal, and a storage for storing error information for indicating an error in the measured value of the drive capability obtained by the inspection of the semiconductor device to a design value.例文帳に追加
半導体装置は、入力される制御信号に応じて半導体装置の駆動能力を調整する駆動能力調整部と、半導体装置の検査によって得られた、駆動能力の実測値の設計値に対する誤差を示す誤差情報を記憶する記憶部と、を備える。 - 特許庁
| 例文 |
| Copyright Ministry of Economy, Trade and Industry. All Rights Reserved. |
| Copyright © Japan Patent office. All Rights Reserved. |
| ※この記事は「日本法令外国語訳データベースシステム」の2010年9月現在の情報を転載しております。 |
| Copyright © Japan Patent office. All Rights Reserved. |
|
ログイン |
Weblio会員(無料)になると
|
|
ログイン |
Weblio会員(無料)になると
|
