「fixed sample」に関連した英語例文の一覧と使い方(3ページ目) - Weblio英語例文検索

To separate a specified portion from a semiconductor substrate by an FIB, and to form a sample fixed onto a mesh for a transmission electron microscope further into a thin piece of the sample, by the FIB.例文帳に追加

半導体基板からＦＩＢにより特定箇所を分離し、透過型電子顕微鏡用メッシュに固定した試料をさらにＦＩＢにより試料薄片化できる。 - 特許庁

The measuring cell 8 is fixed on the sample stage of an atomic force microscope 20, and a probe is allowed to fall on the surface of the Al layer 4 of the sample 7 to measure the surface shape of the Al layer.例文帳に追加

この測定セル８を、原子間顕微鏡２０の試料ステージに固定し、試料７のＡｌ層４の表面に探針を降ろし表面形状測定を行う。 - 特許庁

When the sample is vertically moved to make contact with the fixed blade, force generated on the sample can be precisely detected by the conversion means.例文帳に追加

前記試料は、当該試料の上下動で前記固定された切削刃に当接する際の力が発生し、前記応力変換手段によって正確に検出することができる。 - 特許庁

Since the fixed mirror 11 can be allowed to approach the sample 50, the light flux 2A can be incident on the reflecting surface 50a of the sample 50 at an angle near to vertical incidence.例文帳に追加

固定ミラー１１を試料５０に接近させることができるので、垂直入射に近い角度で光束２Ａを試料反射面５０ａに入射できる。 - 特許庁

To provide a method of measuring small angle X-ray scattering for a thin film sample which can be performed by a small angle X-ray scattering device while the sample is fixed.例文帳に追加

試料を固定しながら、小角Ｘ線散乱装置により実現可能な、薄膜状の試料に対する小角Ｘ線散乱の測定方法を提供する。 - 特許庁

To provide a structure of a sample container release mechanism of a thermal shock testing apparatus, in which locking/unlocking operations are easily carried out, and a sample container can be fixed stably.例文帳に追加

熱衝撃試験装置の試料容器の脱着機構において、ロック／アンロックの操作が簡単で、且つ安定して試料容器を固定できる構成を提供する。 - 特許庁

In this mirror finished surface polishing method, an object to be polished (a sample 1) is fixed to a support bed 2, a polishing turning tool 3 is confronted with the sample 1, and a magnetic polishing liquid 4 is supplied to a narrow gap between them.例文帳に追加

支持台２に研磨対象（試料１）を固定し、試料１には研磨バイト３を対面させ、両者の狭間へ磁気研磨液４を供給する。 - 特許庁

Then, by engaging the projection portion 12 provided in the storage rack 10 and the restriction of the sample tube 20, the sample tube 20 can be fixed to be held.例文帳に追加

このとき、保管ラック１０に設けられた突起部１２と試料チューブ２０に設けられた絞り部（凹部）とが嵌合することで、試料チューブ２０は固定して保持される。 - 特許庁

A sample installation plate 11 at the fixture 10 can be moved, and after a movement position has been decided, the sample 5 is fixed to the plate 11 by a weighting-type fixing screw 12 or the like.例文帳に追加

固定具１０の試料設置板１１は移動でき、移動位置決定後、試料設置板１１に加重式固定ネジ１２等により試料５を固定する。 - 特許庁

At the time of replacing the sample block 12, by lowering the drive shaft 21 and pressing each ball caster 9 against each guide groove 11, the attitude of the sample holder 1 is fixed.例文帳に追加

試料ブロック１２を交換する際には、駆動軸２１を下降させ、各ボールキャスタ９を各案内溝１１に押し当てることにより試料ホルダ１の姿勢を固定する。 - 特許庁

When measurement of a sample is to be conducted, during measuring of samples having identical concentration, unless the sample is introduced into a chemiluminescence section 19 at a fixed amount, luminescence intensity will degrade.例文帳に追加

試料の測定を行なう際、同じ濃度の試料の時には、試料が一定の量で化学発光部１９に導入されてこないと、発光強度は低下する。 - 特許庁

An acceleration voltage Vacc of incident electrons is fixed, and an application voltage Vsub to the under surface of the sample S is changed.例文帳に追加

入射電子の加速電圧Ｖａｃｃを固定して試料Ｓの下面の印加電圧Ｖｓｕｂを変えていく。 - 特許庁

A vibration means applies vibration to the other end 1b of the sample 1 having one end 1a fixed.例文帳に追加

振動手段が、一端１ａが固定された試料１の他端１ｂ側に振動を与えるようになっている。 - 特許庁

Pillar members 5 are provided at four corners of the sample chamber, and a frame 12 is fixed to this pillar member.例文帳に追加

試料室の４隅には柱部材５が設けられており、この柱部材には架台１２が固定されている。 - 特許庁

To provide a phase-contrast microscope capable of realizing the phase-difference observation of the different spot of a fixed sample.例文帳に追加

固定された標本の異なる場所の位相差観察を可能とする位相差顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

The sample 3 to be exposed is fixed within the holding frame 2, and exposed to the radiation from the xenon radiation source 4.例文帳に追加

暴露される試料３は保持フレーム２の内部に固定され、キセノン放射源４からの放射に曝される。 - 特許庁

To provide a sample stand fixed stably and firmly to a scanning probe microscope by adsorption inclusions.例文帳に追加

吸着介在物によって走査型プローブ顕微鏡に安定にして強固に固定される試料台を提供する。 - 特許庁

The sample is fixed by the abutment part 302a, the side surface holding member 302b and the back surface holding member 303, and since the abutment part works as a positioning stopper, insertion length of the TEM sample 103 can be fixed.例文帳に追加

この当接部３０２ａと側面保持部材３０２ｂと裏面部保持部材３０３により試料が固定され、位置決めストッパーとしての役割を果たすので、ＴＥＭ用試料１０３の挿入長を一定にすることができる。 - 特許庁

Small piece samples or film-like samples, which had previously been difficult to be fixed, can be easily fixed on a sample stage of scanning probe microscopes, by providing the sample holder can fix samples by a fixing plate held with a support holder.例文帳に追加

試料を、支持ホルダに保持された固定板にて固定できる試料ホルダを提供することで、従来固定が困難だった小片の試料やフィルム状の試料も走査型プローブ顕微鏡の試料ステージに容易に固定できる。 - 特許庁

In this slice sample fixing method, deposition by focused ion beam irradiation is applied to a predetermined position of the slice sample placed on the sample base or the fixing base such as a mesh while gas is jetted by means of a gas gun, and consequently, the slice sample is fixed to the fixing base.例文帳に追加

本発明の薄片試料の固定方法は試料台若しくはメッシュなどの固定台上に載置された薄片試料の所定個所に、ガス銃によってガスを噴射しつつ集束イオンビームを照射するデポジションを施し、これによって、前記固定台に薄片試料を固定するようにした。 - 特許庁

Yield of a secondary Ga ion emitted from the sample 4 is measured by pre-radiating the fixed amount of Ga focused ion beam 3 to the sample 4 at every appropriate surface temperature of the sample 4 in advance to obtain a relation of the yield of the secondary Ga ion with the surface temperature of the sample 4.例文帳に追加

予め適当な試料４の表面温度毎にGa集束イオンビーム３を一定量試料４に前照射することにより試料４から放出された２次Gaイオンの収量を測定して、試料４の表面温度に対する２次Gaイオンの収量の関係を得る。 - 特許庁

To provide an inspection apparatus for transmitting a fixed transmit dose through a sample by performing thickness measurement and a defect inspection while fixedly keeping an interval between a radiation source and the sheet-like sample by reducing vertical conveyance swinging in the sample.例文帳に追加

試料の上下方向の搬送振れを減少させることで、放射線源とシート状試料の間隔を一定に保ちながら厚さ測定、欠陥検査をし、一定の透過線量を試料に透過する検査装置を提供する。 - 特許庁

The biopsy tissue sample is collected, fixed and transferred by a backing mount made of a mat-like sheet for fixation and transfer comprising a sponge-like polymer mat-like sheet which is embedded in a block sample together with the biopsy tissue sample and can be thinly cut by a microtome for thin cutting.例文帳に追加

生検試料と一緒にブロック試料に包埋されて薄切用ミクロトームで薄切できる、スポンジ状ポリマーゲルマット状シートから成る固定移送用マット状シート製裏打ち用台紙で生検試料を採取・固定移送する。 - 特許庁

A sample 10 is set on a sample table 7, a detecting rod 5 is brought into contact with the sample 10 from an upper side by rotating a ball spring 12a using a motor 12d, and lowering a frame 3a fixed with a system suspension spring 1 and a magnet 3.例文帳に追加

試料１０を試料台７にセットし、上方から検出棒５を、モータ１２ｄによりボールネジ１２ａを回転させ、系吊下げバネ１と磁石３を固定した枠１３ａを下降させ試料１０に接触させる。 - 特許庁

Based on the calculated results, a representative selector 58 selects a fixed number of highly correlated sample waves as the typical sample waves whose parameter indicates the typical sample waves to be transmitted to an ensemble mean calculator 54.例文帳に追加

その計算結果に基づいて代表選択器５８が、互いに相関の高い所定個数のサンプル波形を代表サンプル波形として選択し、その代表サンプル波形を指定する指標をアンサンブル平均演算器５４へ渡す。 - 特許庁

A flexible board 51 of a test subject is fixed on a sample stage 11, and one end of the flexible board 51 is fixed to an operating side 15b of a bending mechanism 15.例文帳に追加

試料ステージ１１上に被試験体であるフレキシブル基板５１が固定され、フレキシブル基板の一端が折り曲げ機構１５の作動辺１５ｂに固定される。 - 特許庁

The piezoelectric material 3 for use in driving in the Z-direction is fixed to the upper surface of the movable part 4 and the sample stand 9 is fixed to the upper surface of the piezoelectric material 3 by wax 10.例文帳に追加

Ｚ方向駆動用の圧電体３は可動部４の上面に固定されており、試料台９は圧電体３の上面にワックス１０で固定される。 - 特許庁

The fixed member 14 is installed with a light source (an LED 47), and each commodity sample 3 is illuminated through the light guide plate 20.例文帳に追加

また、固定部材１４に光源（ＬＥＤ４７）を取り付け、導光板２０を介して商品見本３を照明する。 - 特許庁

Further, the sample display board 2 has the first parts 2d to be fixed which are extended from the rear ends of the flank parts 2b.例文帳に追加

さらに、見本表示板１は、側面部２ｂ、２ｂの後端から延設される第１の被固定部２ｄ、２ｄを備える。 - 特許庁

To provide a recessed chip having a cover member closely bonded and fixed thereto and capable of effectively preventing the leak of a sample liquid.例文帳に追加

カバー部材が密着、固定され、試料溶液の漏出等を有効に防止できる凹部形成チップを提供する。 - 特許庁

A CCD 9 has a function for accumulating as long as a fixed time fluorescence radiated from the sample 6 and integrating the fluorescence.例文帳に追加

また、ＣＣＤ９は、試料６から放射された蛍光を一定時間蓄積して蛍光を積分する機能を持つ。 - 特許庁

A CCD 9 has a function for accumulating as long as a fixed time fluorescence radiated from a sample 6 and integrating the fluorescence.例文帳に追加

ＣＣＤ９は、試料６から放射された蛍光を一定時間蓄積して蛍光を積分する機能を持つ。 - 特許庁

Then, a sampling implement 15 for collecting a sample B by puncture is fixed to the outside of the biosensor chip 10.例文帳に追加

そして、穿刺により試料Ｂを採取するための試料採取器具１５が、バイオセンサチップ１０の外部に固定されている。 - 特許庁

Under the condition that the system be raised, the system is fixed to the optical axis and one or more samples are cut and separated from a sample.例文帳に追加

その上昇した状態では、光軸に対して固定し１つ以上の標本を試料から切り分ける。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope such that a probe and a sample can be safely and firmly fixed on the mounting side.例文帳に追加

探針や試料を安全にしっかりと装着側に固定できる走査形プローブ顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

There is provided the automatic analyzer which can suck a sample by a sample dispensation probe 16 at the single sampling position by delivering and moving a sample rack 18 which holds the sample container 17 from a first sampler 60 to a second sampler 80, and moving the sample rack 18 in horizontal and vertical directions of the rack at the fixed position.例文帳に追加

試料容器１７を保持する試料ラック１８を第１のサンプラ６０から第２のサンプラ８０に受け渡し移動して、固定された位置で試料ラック１８をラックの水平方向及び上下方向に移動させることで、単一のサンプリング位置におけるサンプル分注プローブ１６による試料吸引ができる自動分析装置。 - 特許庁

A sample-hold circuit 20 is set at a sample mode, when the second input terminal 52 is on and current difference between the drive current ILD and a fixed current IM is sampled, thus determining a bias current IC.例文帳に追加

第２の入力端子５２がオンのときサンプルホールド回路２０をサンプルモードに設定し、駆動電流ＩLD と固定電流ＩM との電流差をサンプリングし、バイアス電流ＩC に定める。 - 特許庁

The sample container 20 is moved vertically on a circular track with a length of the link 11 as a radius, using a rotatable fixed end as a fulcrum to agitate the liquid sample in the container.例文帳に追加

そして、回転可能な固定端を支点として、リンク１１の長さを半径とした円弧軌道上を、試料容器２０を上下運動させて、容器内部の液体試料を攪拌する。 - 特許庁

This device is provided with an intermediate element 5a, which is fixed to the sample holder 1 by using electrostatic means or a clamp and is electrically and thermally connected to the sample holder 1.例文帳に追加

このデバイスは静電的手段によって、またはクランプを用いてサンプルホルダ１に固定されるとともに電気的かつ熱的にサンプルホルダ１に接続された中間要素５ａを備える。 - 特許庁

The resampling circuit 100 generates ≥1 bit streams having different sample rates from the input bit stream having the fixed sample rate without using VCXO or an analog control loop.例文帳に追加

リサンプリング回路１００では、ＶＣＸＯまたはアナログ制御ループを用いることなく、固定サンプルレートをもつ入力ビットストリームから、異なったサンプルレートをもつ１以上のビットストリームを発生する。 - 特許庁

To provide a sludge sample-sampling device for sampling a fixed amount of sludge sample regardless of the fluctuation of sludge property when measuring the water content of sludge and the amount of ignition loss.例文帳に追加

汚泥の含水率や強熱減量を計測する際に、汚泥性状の変動にかかわらず一定量の汚泥試料を採取できる汚泥試料採取装置を提供する。 - 特許庁

The light in the fixed polarized state is fed to a sample 9 from a light source 4 at a fixed angle, and the incident direction dependency of the polarized state of the reflected light generated at this time is measured by in-plane-rotating the sample 9 around a measurement point.例文帳に追加

試料９に対して光源４から一定の偏光状態の光を一定の角度で入射し、その際に発生する反射光の偏光状態の入射方位依存性を測定点を中心に試料を面内回転させて測定する。 - 特許庁

The spark discharge emission spectral analysys method, which quantifies an element contained in an analyzing sample, on the basis of the spectral line obtained by spark discharge caused between the placed and fixed analyzing sample and the electrode provided at the position opposed to the analyzing sample, is improved.例文帳に追加

分析試料を載置、固定し、該分析試料に対向する位置に設けた電極との間でスパーク放電して得られたスペクトル線に基づき、該分析試料が含有する元素を定量するスパーク放電発光分光分析方法を改良した。 - 特許庁

After an analytical sample is fixed to a support substrate, a uniform thin film having a thickness equal to an intended analysis depth is formed on the analytical sample and the support substrate surface, and the analytical sample is thinned up to a thickness where the thin film on the support substrate is ground.例文帳に追加

分析試料を支持基板に固定した後、分析試料と支持基板表面に目的の分析深さと同等の厚さの均一な薄膜を形成し、支持基板上の薄膜が研磨される厚さまで分析試料を薄片化する。 - 特許庁

In this capillary electrophoresis device, a sensor for identifying the kind of a sample container is fixed in a position apart from a capillary cathode end.例文帳に追加

本発明によると、キャピラリ陰極端より離れた位置に試料容器の種類を識別するセンサが固定されている。 - 特許庁