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gate widthの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 707件
A width of the part striding a semiconductor layer 5 and the end of a gate electrode 2 of drain wiring 6a is arranged narrower then that of a drain electrode 6 which is a channel width 15 of a thin film transistor.例文帳に追加
半導体層5およびこれに重なるドレイン配線6aのゲート電極2端を跨ぐ部分の幅を、薄膜トランジスタのチャネル幅15であるドレイン電極6の幅よりも狭く設けた。 - 特許庁
In this manner, the necessary width is τ4max or less within the service area of the GF 13, and a reception gate width is 1/2 in comparison with the case where nothing is conducted, thereby contributing to a simplification of a structure of the receiving device.例文帳に追加
このように、GF13のサービスエリア内では必要なゲート幅はτ4max以下となり、受信ゲート幅は何もしない場合と比較して1/2となり、受信装置の構成の簡易化に寄与する。 - 特許庁
A nitride semiconductor layer 7 is provided between a gate electrode 3 and the active layer 5, and is composed of a III group nitride semiconductor with a second forbidden band width which is larger than the first forbidden band width.例文帳に追加
窒化物半導体層7は、ゲート電極3と活性層5との間に設けられており、第1の禁制帯幅より大きな第2の禁制帯幅を有するIII族窒化物半導体からなる。 - 特許庁
The p-type MOS transistor has an active region STP surrounded by an element isolation region 3, where a width Xb in the longitudinal direction of a gate in a contact not-forming region Wb is narrower than a width Xa in the longitudinal direction of the gate on a contact forming region Wa with a contact plug 10a formed in the breadthwise direction of the gate.例文帳に追加
P型MOSトランジスタは、素子分離領域3に囲まれた活性領域STPが、ゲート幅方向において、コンタクトプラグ10aが形成されるコンタクト形成領域Waにおけるゲート長方向の幅Xaに比べて、非コンタクト形成領域Wbにおけるゲート長方向の幅Xbが狭くなっている。 - 特許庁
The semiconductor device is characterized in that island-shaped second conductivity regions 21, 22 and 23 which are formed alternately with the drift region 17 in a gate-length direction, a gate-width direction and a depth direction, and electrically connected in the gate-width direction and depth direction are formed in the first conductivity type semiconductor region forming the drift region 17.例文帳に追加
この半導体装置では、ドリフト領域17を形成する第1導電型半導体領域において、ゲート長方向、ゲート幅方向及び深さ方向において、ドリフト領域17と交互に形成され、ゲート幅方向、且つ、深さ方向に電気的に接続されている島状の第2導電型半導体領域21,22,23が形成されている。 - 特許庁
The width X of the source region 5 adjacent to the memory gate electrode 3 is set wider than the width Y of the drain region 6 adjacent to the control gate electrode 4 in the direction in which the memory electrode 3 and the control gate electrode 4 are extended.例文帳に追加
メモリゲート電極3、コントロールゲート電極4、ソース領域5およびドレイン領域6を有する半導体装置において、メモリゲート電極3およびコントロールゲート電極4が延伸する方向の幅であって、メモリゲート電極3に隣接するソース領域5の幅Xをコントロールゲート電極4に隣接するドレイン領域6の幅Yに比べて長くする。 - 特許庁
As stated above, the surface of a part of the source region 12 and the drain region 13 is formed lower than the other regions, whereby a current flowing concentratedly on an upper face of the recess concerned of the gate electrode 10 flows uniformly in the entire trench 8, and an effective gate width of the recess formed so that its depth changes in the gate width direction is widened.例文帳に追加
このように、ソース領域12とドレイン領域13の一部の表面を他よりも低くすることにより、ゲート電極10の当該凹部上面に集中して流れていた電流がトレンチ部8の全体に一様に流れるようになり、ゲート幅方向に深さが変化するように形成された凹部の実効的なゲート幅が広がる。 - 特許庁
A control gate line CGL is connected to a plurality of memory cells MC arrayed in a y direction side by side in common and arrayed extending in the y direction, and the control gate line CGL has a first width D2 on the element region 10 and a second width D1 wider than the first width D2 on the element isolation region 20.例文帳に追加
y方向に並んで配列された複数のメモリセルMCに共通に接続されy方向に延びるように制御ゲート線CGLが配列され、制御ゲート線CGLは素子領域10上では第1の幅D2を有する一方素子分離領域20上では第1の幅D2より広い第2の幅D1を有する。 - 特許庁
In a MISFETQ, although the mask 10 is used to expose a gate electrode pattern having a larger gate length Lg, similarly the mask 20 is used to expose a connecting interconnection section which has a fine interconnection width Wj and a contact section having a contact width Wp.例文帳に追加
MISFETQにおいて、レベンソン位相シフトマスク10は最も微細なゲート長Lgを持つゲート電極のパターンを露光し、ハーフトーン位相シフトマスク20はゲート長Lgよりは大きいが同様に微細な配線幅Wjを持つ接続配線部、コンタクト幅Wpを持つコンタクト部を露光する。 - 特許庁
An n-type MOS transistor has an active region STN surrounded by the element isolation region 3 where a width Xc in the longitudinal direction of the gate in the entire region Wc including the contact forming region with a contact plug 10b formed is formed of the same width in the breadthwise direction of the gate.例文帳に追加
一方、N型MOSトランジスタは、素子分離領域3に囲まれた活性領域STNが、ゲート幅方向において、コンタクトプラグ10bが形成されるコンタクト形成領域を含めた全領域Wcでゲート長方向の幅Xcが同じ幅で形成されている。 - 特許庁
When the area of a photo-electric conversion element of a light-shielded pixel is reduced or light-shielded pixels having no photo-electric conversion unit are arrayed, the gate width (channel width) and gate length (channel length) can be further increased, further reducing noise.例文帳に追加
また、遮光画素の光電変換素子の面積を削減すること、あるいは、光電変換素子を備えていない遮光画素を配列させることにより、ゲート幅(チャネル幅)およびゲート長(チャネル長)をより大きくすることできるので、さらにノイズを低減させることができる。 - 特許庁
There is provided the high-frequency switch equipped with: a through transistor connected between a first terminal and a second terminal; and a shunt transistor connected between the second terminal and the ground, characterized in that a gate width of the shunt transistor is narrower as compared with a gate width of the through transistor.例文帳に追加
第1の端子と第2の端子との間に接続されたスルートランジスタと、前記第2の端子と接地との間に接続されたシャントトランジスタと、を備え、前記シャントトランジスタのゲート幅は、前記スルートランジスタのゲート幅に比して狭いことを特徴とする高周波スイッチが提供される。 - 特許庁
In the shift device of vehicle, a shift gate 21 is provided with a first gate 21a having width larger than the outer diameter of a cylindrical part 11b of a knob 11, and second and third gates 21b, 21c having width smaller than the outer diameter of the cylindrical part 11 and larger than the outer diameter of a rod 10.例文帳に追加
この車両のシフト装置では、シフトゲート21に、ノブ11の円筒部11bの外径よりも大きな幅を有する第1のゲート21aと、円筒部11bの外径よりも小さくて且つ、ロッド10の外径よりも大きい幅を有する第2及び第3のゲート21b,21cとを設ける。 - 特許庁
In the liquid crystal display device, the pulse width of a gate-on signal applied to a line applied with a data signal differing in polarity from that of a data voltage applied to the last line is widened and the pulse width of a gate-on signal applied to a line applied with a data voltage with the same polarity is narrowed.例文帳に追加
液晶表示装置で、直前の行に印加されたデータ電圧に対して反転された極性のデータ電圧が印加される行に印加されるゲートオン信号のパルス幅を広げ、同一の極性のデータ電圧が印加される行に印加されるゲートオン信号のパルス幅を狭める。 - 特許庁
To provide a gate built-in type pump capable of being built-in in a gate without damaging the weight balance of the gate, effectively utilizing the width of a cannel, making the diameter of an impeller small to make light- weight, and preventing blockage.例文帳に追加
ゲートの重量バランスを損なうことなくゲートに内蔵することが可能であるともに、水路の幅を有効に利用することが可能で、羽根車の直径を小さくして、軽量化を図ることができ、しかも閉塞の生じにくいゲート内蔵式ポンプを提供する。 - 特許庁
The semiconductor device is provided with, on the upper side of a base 21: a plurality of gate electrodes 13 formed mutually parallel to a gate width direction 15; a base line part 17 formed extending to the gate length direction 11; and a plurality of main electrodes 19.例文帳に追加
半導体装置は、ゲート幅方向15に互いに平行にかつ離間して形成されている複数のゲート電極13と、ゲート長方向11に延在して形成されている基線部17と、複数の主電極19とが下地21の上側に設けられている。 - 特許庁
A thin-film transistor 10 has a gate insulating layer 4 prepared on a top surface of a substrate 2 such that it covers a gate electrode 3, and a source electrode 5 and a drain electrode 6 respectively prepared on a top surface of the gate insulating layer 4 with a predetermined channel length spacing width.例文帳に追加
薄膜トランジスタ10は、基板2の上面には、ゲート電極3を覆うようにしてゲート絶縁層4が設けられ、ゲート絶縁層4の上面には、ソース電極5及びドレイン電極6が所定のチャネル長の離間幅をもって各々設けられている。 - 特許庁
A plurality of coins 500 are received by an inclined tray part 10, and temporarily stopped by a gate pin 30 erected at the inclined tray part 10, and the gate pin 30 is smoothly moved backward and forward to the width direction of the inclined tray part 10 by a gate pin driving control part 40.例文帳に追加
多数枚のコイン500を傾斜トレイ部10に受け入れ、傾斜トレイ部10に立設されたゲートピン30で一時的に堰き止め、その後ゲートピン駆動制御部40によりゲートピン30を傾斜トレイ部10の幅方向にゆっくりと往復運動させる。 - 特許庁
The floating gate electrode 12 is so formed that its plane shape has a width W in a y direction in a part and has a width narrower than the width W in the other part by forming a recess formed by denting a side surface directed to the y direction.例文帳に追加
浮遊ゲート電極12の平面形状は、一部においてy方向に幅Wを有する一方、他の部分においてy方向を向いた側面をくぼませた凹部を設けることにより、幅Wよりも狭い幅を有するように形成されている。 - 特許庁
Moreover, the device corrects a correction value of the gate-on voltage due to the polarities of write data or a correction value of a data signal pulse width according to the panel temperatures.例文帳に追加
また、書き込みデータ極性によるゲートオン電圧の補正量もしくはデータ信号パルス幅の補正量をパネル温度により補正する。 - 特許庁
An element region surrounded by an element isolation region 12 has a rectangular form with width W1 in the extension direction of an electrode of transfer gate 15.例文帳に追加
素子分離領域12に取り囲まれた素子領域は、転送ゲートのゲート電極15が延びる方向の幅がW1の方形を有する。 - 特許庁
To provide a semiconductor integrated circuit capable of improving the degree of integration of a CMOS circuit and suppressing variation in the gate width of a MOS transistor.例文帳に追加
CMOS回路の集積度を高め、かつMOSトランジスタのゲート幅の変動を抑えることが可能な半導体集積回路を提供する。 - 特許庁
To provide a movable gate type field effect transistor, capable of increasing the magnitude of drain current by adopting a source-drain structure which increases a channel width.例文帳に追加
チャネル幅を大きくするソース・ドレイン構造を採用し、ドレイン電流の大きさを増加させる可動ゲート型電界効果トランジスタを提供する。 - 特許庁
To reduce mismatch and variation of Vt in consideration of gate width dependency of Avt (variation of Vt) in an MISFET.例文帳に追加
MISFETにおけるAvt(Vtばらつき)のゲート幅依存性を考慮し、Vtミスマッチ及びVtばらつきを低減できるようにする。 - 特許庁
Side walls 32a of, for example, 38 nm in width are disposed on both sides of a gate electrode 29a of a transistor A having a small source-drain region.例文帳に追加
ソース・ドレイン領域が小さいトランジスタAのゲート電極29aの両側には例えば幅が38nmのサイドウォール32aを配置する。 - 特許庁
The element substrate includes a substrate and two or more transistor elements provided on the substrate and formed such that each gate width is arranged in the same direction.例文帳に追加
基板と、当該基板上に設けられ、互いのゲート幅が同一方向に揃うように形成された複数のトランジスタ素子とを備える。 - 特許庁
To provide a semiconductor device having a horizontal DMOS, wherein the gate width per unit area is increased, while the breakdown strength is improved.例文帳に追加
単位面積当りのゲート幅を増大させると共に、耐圧を向上させ得る横型DMOSを有する半導体装置を提供する。 - 特許庁
To provide a semiconductor integrated circuit device that can reduce the pulse width with a delay smaller than a delay of a logic gate circuit.例文帳に追加
ロジックゲート回路の遅延量よりも小さい量でパルス幅を縮小することが可能な半導体集積回路装置を提供すること。 - 特許庁
To provide a gate for an infant with a simple structure, easy fixing, mounting, locking and unlocking and adjustment of a width of door, and high safety.例文帳に追加
構造が簡単で、ドアの幅の調整及び固定、取付、ロック及び解除が容易で、その上安全性の高い幼児用ゲートを提供する。 - 特許庁
To realize a most suitable High-k gate insulating film without causing an increase in STI width and a decrease in reliability.例文帳に追加
STI幅の増加や信頼性の低下を招くことなく、所定の導電型トランジスタ領域において最適なHigh-kゲート絶縁膜を実現する。 - 特許庁
Consequently effective channel width between a source 9 and the drain 10 is increased, and thereby a reading current to a fixed gate voltage is reduced.例文帳に追加
この結果、ソース9とドレイン10との間の実効チャネル幅が増大し、従って、一定のゲート電圧に対する読取電流が減少する。 - 特許庁
To form a silicon fin with a width narrower than a gate length in a MOS transistor having a stereoscopic structure.例文帳に追加
本発明は、立体構造を有するMOSトランジスタにおいて、ゲート長よりも幅の細いSi−フィンを形成できるようにするものである。 - 特許庁
In operation, the desired operating voltage levels can be regulated by increasing and decreasing the pulse width of the control circuit output to the gate of the shorting transistor.例文帳に追加
動作中、望ましい動作電圧レベルは、短絡トランジスタのゲートへの制御回路出力のパルス幅を増減することにより調整できる。 - 特許庁
To measure a waveform whose pulse width or pulse level is random even by a semiconductor measuring instrument which does not have a setting function for a gate signal.例文帳に追加
ゲート信号の設定機能が付属していない半導体測定装置においてもパルス幅やパルスレベルがランダムな波形の測定を可能とする。 - 特許庁
In the dual-gate MOSFET, a narrow channel should be provided, thus increasing a current drive per layout width, and achieving low out conductance.例文帳に追加
この二重ゲートMOSFETは狭いチャネルを特徴とし、これがレイアウト幅当たりの電流ドライブを増加し、低いアウト・コンダクタンスを提供する。 - 特許庁
A threshold value in the control gate channel region 6 has heterogeneity which changes continuously or stepwise with one direction change property from one end toward the other end in the gate width direction.例文帳に追加
制御ゲートチャネル領域6における閾値は前記ゲート幅方向において一方端から他方端に向かう一方向変化特性を持って連続的にまたは階段状に変化する不均一性を有している。 - 特許庁
An uneven structure (11a, 11b) is formed in a well region 2 in a gate-width direction, and a gate electrode 3 is formed in a recess 11a and on an upper surface part of a projection 11b.例文帳に追加
ウェル領域2にはゲート幅方向にウェル領域2に凹凸構造(11a、11b)が形成されており、絶縁膜4を介して、凹部11aの内部及び凸部11bの上面部にゲート電極3が形成されている。 - 特許庁
The tip portion of the sliding entrance gate A is formed to a cantilevered, projected and floated shape having a sufficient weight and a large width and thus it can be properly supported without losing the self-standing ability and stability in opening and closing operation of the sliding entrance gate A.例文帳に追加
引戸門扉Aの先端部分は片持ち突出状に浮かし支持されるが引戸門扉Aは重量が嵩む幅広のものであるから,引戸門扉Aの自立性や開閉安定性が損われることもない。 - 特許庁
A low-voltage generating circuit 22 keeps the gate signal, applied to the gate of the voltage- driven power semiconductor device 2, at a prescribed voltage lower than an ON-level for a time determined by the width of the pulse generated by the pulse generator 29.例文帳に追加
低電圧発生回路22は、パルス発生器29からのパルス幅で定まる時間だけ電圧駆動型電力用半導体素子2のゲートに印加されるゲート信号をオンレベルよりも低い所定の電圧に維持する。 - 特許庁
The contact plug 13 has a stripe shape wherein the contact plugs 13 are placed in parallel to each other at specified spacing in the direction of width of the gate electrode 4, and the stripe shape is parted by the gate electrode 4.例文帳に追加
コンタクトプラグ13は、ゲート電極4の幅方向に所定の間隔をおいて並列したストライプ形状を有しており、このストライプ形状がゲート電極4によって分断されていることを特徴とする。 - 特許庁
A clock signal and a start pulse which has fixed width, is synchronized with the clock signal and shifted by a gate driver 1 or a source driver 2 as shift data are inputted into the gate driver 1 and the source driver 2 at a fixed period.例文帳に追加
ゲートドライバ1およびソースドライバ2には、クロック信号と、一定の幅を有し、シフトデータとしてクロック信号に同期してゲートドライバ1あるいはソースドライバ2でシフトされるスタートパルスとが、一定の周期で入力される。 - 特許庁
The second semiconductor layer 20b has a width in the gate length direction narrower than an interval between the gate electrode 24 and each of the ohmic electrodes 22, 23, and has a surface level density lower than that of the first semiconductor layer 19.例文帳に追加
第2の半導体層20bは、ゲート電極24とオーミック電極22、23との間隔よりもゲート長方向の幅が狭く且つ第1の半導体層19と比べて表面準位密度が低い。 - 特許庁
In a method for manufacturing an insulated gate field effect transistor, two source-drain regions 10 are formed in a P well 3 by performing impurity ion implantation and activation annealing while using a gate stack 7 and a spacer of a sidewall insulating film 9 having a predetermined width as a mask.例文帳に追加
ゲートスタック7と側壁絶縁膜9からなる所定の幅のスペーサをマスクとする不純物のイオン注入と活性化アニールにより、2つのソース・ドレイン領域10をPウェル3に形成する。 - 特許庁
To increase the proportion occupied by polysilicon with respect to the entire chip surface, i.e., its numerical aperture, and prevent the gate electrode of a MOS transistor from thinning in its etching process, to obtain a desired gate electrode width.例文帳に追加
チップ全面に占めるポリシリコンの割合、つまりポリシコンの開口率を上げ、MOSトランジスタのゲート電極のエッチング工程においてゲート電極の細りを防止して、所望のゲート電極の幅が得られるようにする。 - 特許庁
The particle size of the metal silicide layer 11b is smaller than a width W1c in a gate length direction in the source/drain region arranged between adjoining gate electrodes GE, being closest to each other in the gate length direction, among a plurality of source/drain regions of MISFETs formed on the main surface of the semiconductor substrate 1.例文帳に追加
半導体基板1の主面に形成された複数のMISFETのソース・ドレイン領域のうち、ゲート長方向に最も近接して隣り合うゲート電極GE間に配置されたソース・ドレイン領域のゲート長方向の幅W1cよりも、金属シリサイド層11bの粒径が小さい。 - 特許庁
After a gate oxide film 4 and a gate electrode film 5 are formed on a P-type semiconductor substrate 1, a highly concentrated impurity diffusion region 7 is formed by implanting highly concentrated N-type impurity ions using a first masking means 6a having a pattern width wider than that of a gate electrode 5a as a mask.例文帳に追加
P型半導体基板1上に、ゲート酸化膜4及びゲート電極膜5を形成後、ゲート電極5aよりもパターン幅を拡げて形成された第1マスク手段6aをマスクとして、高濃度のN型不純物イオンを注入して高濃度不純物拡散領域7を形成する。 - 特許庁
Thus, the presence or the absence of the delay of the gate turn-on signal which is given to the gate lines via the signal detection part is detected, a pulse width of logic-high interval of the clock signal is adjusted on the basis of the detection result and, thereby, the delay of the gate turn-on signal can be compensated.例文帳に追加
このように、信号検出部を介してゲート線に与えられたゲートターンオン信号の遅延の有無を検出し、その検出結果に基づいて、クロック信号のロジックハイ区間のパルス幅を調節することにより、ゲートターンオン信号の遅延を補償することが可能になる。 - 特許庁
Since the coupling area of the floating gate electrode 114 and the erasable gate electrode 116 can be ensured on the surface of the side wall of the element separating insulating film 105, by narrowing the film width of the element separating insulating film 105 under the erasable gate electrode 115 in this way, the total film thickness of a memory cell can be reduced.例文帳に追加
このように、消去ゲート電極116下の素子分離絶縁膜105の膜幅だけを狭めることによって、素子分離絶縁膜105の側壁面で浮遊ゲート電極114と消去ゲート電極116のカップリング面積を確保できるので、メモリーセル総膜厚を低減できる。 - 特許庁
To provide a semiconductor device which improves the drive power of a high drive power lateral MOS transistor without increasing the element plan area; the high drive power lateral MOS transistor having a gate electrode formed in a trench lengthwise parallel to the gate length and a larger gate width per unit plan area.例文帳に追加
長さ方向がゲート長方向と平行なトレンチに形成されたゲート電極を有し、単位平面積当たり大きなゲート幅を有する高駆動能力横型のMOSトランジスタの駆動能力を、平面的な素子面積を増加させずに向上させる半導体装置を提供する。 - 特許庁
An intermediate rib 33 is formed wider than a width between neighboring gate electrodes 35 and bridges between the neighboring gate electrodes and presses down a cathode side rib 34 arranged together with the gate electrodes in a direction of a cathode electrode 13 (a base plate 11).例文帳に追加
中間リブ33は、隣り合うゲート電極35の間隔より幅が広く形成されて隣り合う前記ゲート電極の間に跨り、ゲート電極35とともにこれらの間に配置されるカソード側リブ34を、カソード電極13(基板11)の方向に押さえつけるようにしている。 - 特許庁
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