「ic socket」に関連した英語例文の一覧と使い方(13ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide an IC handler that can prevent occurrence of inspection failure due to wear of a guide pin and a guide hole by grasping a wear state of the guide pin and the guide hole in the IC handler that conducts position adjustment by engaging the guide pin and the guide hole when an IC chip is mounted on an inspection socket.例文帳に追加

ＩＣチップを検査ソケットに装着する際の位置調整を、ガイドピンとガイド孔とを係合させることによって行うＩＣハンドラにおいて、該ガイドピンと該ガイド孔との摩耗状態を把握することができ、摩耗による検査不良を未然に起こさないようにすることができるＩＣハンドラを提供する。 - 特許庁

The IC socket with a contact forming an electrical connection inserting an IC package has an upper side insulation substrate, a lower side insulation substrate and a plurality of contacts arranged between the both insulation substrates, and the contacts are formed in a coil spring shape to apply preload, and are made to be contacted with external terminals of the IC package.例文帳に追加

ＩＣパッケージを挿入して電気的接続を形成するコンタクトを有するＩＣソケットにおいて、上側絶縁基板および下側絶縁基板と、両絶縁基板間に配列された複数個のコンタクトとを有し、前記コンタクトをコイルばね形に形成して予荷重をかけ、前記ＩＣパッケージの外部端子を接触させる。 - 特許庁

To provide an IC handler capable of grasping an abrasion state between a guide pin and a guide hole, and previously preventing occurrence of an inspection defect caused by abrasion, concerning the IC handler for performing position adjustment when mounting an IC chip on an inspection socket by engaging the guide pin with the guide hole.例文帳に追加

ＩＣチップを検査ソケットに装着する際の位置調整を、ガイドピンとガイド孔とを係合させることによって行うＩＣハンドラにおいて、該ガイドピンと該ガイド孔との摩耗状態を把握することができ、摩耗による検査不良を未然に起こさないようにすることができるＩＣハンドラを提供する。 - 特許庁

The IC socket forming an electric connection with an IC package mounted is provided with a plurality of contacts of a pinching type formed from a pair of elastic contact pieces, of which, a contact part at the tip is set with angles to allow a wiping operation.例文帳に追加

ＩＣパッケージを装着して電気的接続を形成するＩＣソケットにおいて、一対の弾性接片から形成される挟み込み形の複数個のコンタクトを有し、該コンタクトの先端の接触部が角度をもって設けられてワイピング作動される。 - 特許庁

To provide an integrated circuit socket that always maintains a good condition of NDZ including the geometric shape and electric property during the test of IC so as to help soldering of NDZ to PCB precisely, after the IC chip is tested completely.例文帳に追加

ＮＤＺの良好な状態を、幾何学的形状と電気特性とを含め、ＩＣチップが完全にテストされた後、ＮＤＺをＰＣＢに正確に半田付けするのを助けるために、ＩＣテスト中、常に維持する集積回路ソケットを提供する。 - 特許庁

To provide a memory board for game machine capable of facilitating the inspections and enabling the recycle of an IC memory by enabling mounting on a conventional DIP socket in the case of using a surface mounted type IC memory for a motherboard.例文帳に追加

マザーボードに対して表面実装型のＩＣメモリを使用する場合に、従来のＤＩＰソケットに装着可能とすることにより、容易に検査を行うことができるとともに、ＩＣメモリの再利用が可能な遊技機のメモリボードを提供する。 - 特許庁

The flat pack IC socket comprises a base plate having two sets of contact rows symmetrically arranged at left side and right side, and a pressing board having two sets of pressing pads at its front side and back side, which hold the leads of IC package by pressing against the contact rows.例文帳に追加

フラットパックＩＣソケットは、２組のコンタクト列をを左右対称に有する基板と、前記基板中央に回動自在に設けられ、表裏にＩＣパッケージのリードを前記コンタクト列に押圧挟持する２組の押えパッドを有する押え板とを備える。 - 特許庁

Thus, this socket requires no complicated holding mechanism, is reduced in size, made easier in attachment/detachment of the IC external terminal, and capable of adapting to individual external terminals, and therefore, even if the intervals between IC external terminals or their disposed positions are changed, this can be easily coped with.例文帳に追加

このことにより、複雑な保持機構も必要としない小型なものとなり、ＩＣ外部端子の着脱も容易であり、個々のＩＣ外部端子に対応できるのでＩＣ外部端子のピッチや配置位置が変わっても容易に対処できる。 - 特許庁

To provide a socket connector with a supplemental device securing excellent electric contact between pins of a mounted IC package and conductive terminals even in the case that a driving device is worn out and a cover is slightly deformed.例文帳に追加

本発明は補助装置を有し、駆動具が摩損を生じるまたはカバーが小さな変形を生じた後でも、当接ICパッケージのピンと導電端子との優れた電気的な接触を保証し得るソケットコネクタを提供することを目的とする。 - 特許庁

When the IC package c mounted on the IC socket a is pressed downward, an external contact c1 contacts an upside terminal part 21 of an upper contact terminal 20, and the upper contact terminal 20 moves downward against the repulsive force of a coil spring 30.例文帳に追加

ＩＣソケットａに装着したＩＣパッケージｃを下方へ押圧した際、外部接点ｃ１が上部接触端子２０の上側端子部２１に接触すると共に、コイルバネ３０の弾発力に抗して上部接触端子２０が下動する。 - 特許庁

To provide a socket device capable of mounting an IC module having an overhang upper part relative to the lower part, and making the device thin while surely securing the length of an inside piece part of a terminal member.例文帳に追加

上部が下部に対して張り出しているＩＣモジュールの装着を可能とし、端子部材の内側片部の長さを充分に確保して薄型化が図れるソケット装置を提供する。 - 特許庁

To provide a ball grid array type IC socket which sufficiently horizontally displaces a solder ball from a fixed part, of shortening a signal path, and of securing positional accuracy of the solder ball.例文帳に追加

ボールグリッドアレー型ＩＣソケットにおいて、半田ボールを固定部から水平方向に十分変位させることができるとともに、信号経路を短くし、また、半田ボールの位置精度を確保する。 - 特許庁

A contact unit 5 for fixing the handler and a test head, and for surrounding a periphery of the semiconductor chip 2 under the condition connected to the IC socket 6 is constituted of a insulating material such as a glass epoxy resin.例文帳に追加

ハンドラとテストヘッド１とを固定し、ＩＣソケット６に接続状態の半導体チップ２の周囲を囲うコンタクトユニット５をガラスエポキシ樹脂等の絶縁性材料により構成している。 - 特許庁

To provide an apparatus for measuring semiconductor, capable of commonly using an IC socket for measurement of a semiconductor device having an external terminal with a different pitch, and hardly generating a contact failure in comparison with hitherto.例文帳に追加

ピッチが異なる外部端子を有する半導体装置の測定にＩＣソケットを共用可能で、従来よりも接触不良を生じにくい半導体測定装置を提供する。 - 特許庁

To provide a probe pin for an IC socket that is compatible with fine pitch arrangements while minimizing loss of reliability, durability, and contact reliability of conventional probe pins.例文帳に追加

微細ピッチ化に対応し得るとともに、従来のプローブピンが有する信頼性、耐久性及び接触信頼性をできるだけ損なうことがないＩＣソケットのためのプローブピンを提供する。 - 特許庁

To improve impedance matching with high accuracy between a contact terminal of an IC socket and an end part of a cable for an inspection apparatus, and moreover, to simplify the wiring work.例文帳に追加

ＩＣソケットのコンタクト端子と検査装置用ケーブルの端部とのインピーダンス整合を高精度に向上させることができ、しかも、その配線作業を簡略化することができること。 - 特許庁

To provide an electronic component thrusting apparatus capable of quickly contacting a test objective electronic component with a testing socket at an appropriate pressure, and an IC handler provided with the thrusting apparatus.例文帳に追加

検査対象とする電子部品を検査用ソケットに対して適正な圧力で迅速に当接させることのできる電子部品の押圧装置、及び該押圧装置を備えるＩＣハンドラを提供する。 - 特許庁

Then the occurrence of a situation where the IC card is erroneously ejected from a card socket in the case of performing access to destroy data is reduced to urge the preparation of a preliminary memory card.例文帳に追加

これにより、アクセス中に誤ってＩＣカードをカードソケットから抜いてデータが破壊されてしまう事態の発生を低減でき、予備のメモリカードを予め用意する事を促せるようになる。 - 特許庁

The inspection socket 23A is electrically connected to a plurality of contact terminals 23T provided on the inner bottom surface 23C of a fitting recess 23B by inserting each connection terminal L of the IC chip T.例文帳に追加

検査用ソケット２３Ａは、嵌合凹部２３Ｂの内底面２３Ｃに備えた複数の接触端子２３Ｔに、ＩＣチップＴの各接続端子Ｌが挿入され電気的に接続される。 - 特許庁

The testing device is provided with a test board having a wiring pattern connected with the channel of the testing device and an IC socket having a plurality of pogo pins that are respectively connected with the land of the wiring pattern.例文帳に追加

テスト装置は、テスト装置のチャンネルと連結される配線パターンを有するテストボードと配線パターンのランドとそれぞれ連結される複数のポゴピンを有するＩＣソケットとを備える。 - 特許庁

This contact pin is used for inspecting the electrical characteristics of a semiconductor device and is provided in a probe card or an IC socket for electrically connecting the semiconductor device to a semiconductor inspection device.例文帳に追加

半導体デバイスの電気的特性の検査のために用いられ、半導体デバイスと半導体検査装置とを電気的に接続するプローブカード又はＩＣソケットに設けられたコンタクトピンである。 - 特許庁

To provide a socket for an IC device having a configuration for allowing a plurality of types of power source settings and/or ground settings easily and without increasing the thickness of a substrate.例文帳に追加

基板の厚みを増加させることなくかつ容易に、複数種類の電源設定及び／又はグラウンド設定を可能にする構造を備えたＩＣデバイス用ソケットを提供する。 - 特許庁

The IC socket has levers 34 locked to the housing 14, slidably fitted in the storage grooves 16 from the outer side, abutting each the lead terminal 22 onto the surface of each contact 30, and holding it.例文帳に追加

ハウジング１４に係止され収納溝１６に対して外側方から摺動可能に嵌合され、各リード端子２２を各コンタクト３０表面に当接させて保持するレバー３４を備える。 - 特許庁

An IC socket has contacts to form electric connection with the IC package inserted thereinto, wherein the tip end of the contact is positioned such that it is slanted backward in a partitioning hole in an upper insulating substrate when it is free, and positioned substantially vertically it is upon a measurement.例文帳に追加

ＩＣパッケージを挿入して電気的接続を形成するコンタクトを有するＩＣソケットにおいて、前記コンタクトの先端部をフリー時には上絶縁基板の仕切り孔内に後方に傾斜した状態で位置させて、測定時にはほぼ垂直な状態に位置させる。 - 特許庁

To provide a signal relay device connected to a pad part for a surface mounted IC on a printed circuit board to transmit and receive a signal, or attached to the pad part to be used as an IC socket, and capable of being attached without soldering.例文帳に追加

プリント基板上の表面実装用ＩＣ用のパッド部に接続されて信号等を送受するためあるいはパッド部に取付けてＩＣ用ソケットとして利用するための信号中継具であって、半田付けによらず取付けができる信号中継具を提供する。 - 特許庁

To provide an IC socket which allows connection to a wiring board connected to an inspection device without causing obstruction in signal transmission, even when inspecting an IC having electrode terminals with a narrow pitch of inter-electrode-terminal interval and having an RF signal terminal.例文帳に追加

電極端子間隔が狭ピッチの電極端子を有し、かつ、ＲＦ用信号端子を有するＩＣの検査をする場合でも、信号伝達の阻害を生じさせることなく、検査装置と接続された配線基板に接続することができるＩＣソケットを提供する。 - 特許庁

In the contact pin 20 which is arranged and installed at an IC socket 11 and which is contacted with a solder ball 13b of an IC package 13, this is the contact pin 20 in which a gold nickel alloy plating 22f is applied to a surface of a contact part 22c to be contacted with at least the solder ball 13b.例文帳に追加

ＩＣソケット１１に配設されて、ＩＣパッケージ１３の半田ボール１３ｂに接触されるコンタクトピン２０において、少なくとも半田ボール１３ｂに接触される接触部２２ｃの表面に、金ニッケル合金メッキ２２ｆが施されたコンタクトピン２０。 - 特許庁

The IC socket is further provided with a lever 38 provided in a periphery of a side surface of the housing 14 and pressing the contact 26 against an energizing direction, and a spring 30 for slide provided on other side wall of the housing 16 for pressing a side surface of the IC 12 and moving the reed 16 to the engaging part 22.例文帳に追加

ハウジング１４の側面近傍に設けられコンタクト２６をその付勢方向に抗して押圧可能なレバー３８と、ハウジング１６の他の側壁に設けられＩＣ１２の側面を押圧しリード１６を係着部２２へ移動させるスライド用バネ３０を備える。 - 特許庁

In the cap IC socket having a substrate and the cap rotatably hinge-joined to the substrate via a shaft, the cap includes the pressurizing body to pressurize the IC package, and makes the pressurizing body exchangeable against the cap.例文帳に追加

本発明の蓋式ＩＣソケットは、基体と、該基体に軸を介して回転可能にヒンジ結合されている蓋とを備える蓋式ＩＣソケットにおいて、前記蓋は、ＩＣパッケージを押圧する押圧体を含み、該押圧体を前記蓋に対して交換可能としたことを特徴とする。 - 特許庁

To provide an IC socket in which the socket main body can be fixed and retained firmly and accurately positioned without any backlash to a test board and a printed-circuit board, and in which loading characteristics are improved by making the head part of a positioning pin as conical, hemispherical or spherical to make a mechanism vertically movable.例文帳に追加

位置決めピンの頭部を円錐形や半球状または球形状として上下方向に可動する機構とすることによって、ソケット本体をテストボードやプリント板に何等がたつき無く、しっかりと正確に位置決めして固持でき、装着性が向上される。 - 特許庁

This IC socket is provided with a plate member which is formed in a roughly U-shape and in which a plurality of grooves are formed in both arm parts, the contact pin inserted into the grooves of the plate member and having elasticity, and a socket housing in which the plate members are overlapped and mounted.例文帳に追加

本発明は、概略コ字形に形成され、両腕部に複数の溝が形成される板部材と、この板部材の溝に挿入され、弾性力を有するコンタクトピンと、板部材が重ねられ、取り付けられるソケットハウジングとを備えたことを特徴とするものである。 - 特許庁

The IC socket to be connected to an IC having a spherical type connector comprises a connecting terminal having a support part of an approximately cone shape with its apex toward the spherical type connector, and a socket terminal having a groove for housing the contact terminal so that the contact terminal can move freely in a direction of pressing the spherical connector and in an approximate perpendicular direction.例文帳に追加

球状の接続子を有するＩＣに接続されるＩＣソケットであって、頂点を前記球状の接続子側に向けた略円錐状の支持部を有する接触端子と、前記接触端子を前記球形の接続子を押圧する方向と略直角方向に移動自在に収納する溝部を有するソケット端子とを備えることを特徴とする。 - 特許庁

To provide an IC socket which is applicable to a change in type of an IC package to be inspected, if different in type, simply by giving 180° rotation to a movable plate and capable of preventing damages to the IC package or others, when it is mounted, by suppressing the excess rotation or reverse of the movable plate in an always stable condition.例文帳に追加

検査対象であるＩＣパッケージの種類が異なった時は、可動板が１８０度回転するだけで、その種類の変化に対応可能とし、ＩＣパッケージを装着している時は、常時安定した状態で可動板の過度の回転や反転を抑制して、ＩＣパッケージ等の損傷を防止することができるＩＣソケットを提供する。 - 特許庁

To provide a cap IC socket which is capable of coping with many kinds of IC packages by exchanging only a pressurizing body to pressurize an IC package mounted on the cap, and in which this exchange is made facilitat ed, the exchange of the pressurizing part is possible even in a state that it is mounted on a test board and the efficiency of the exchange is superior.例文帳に追加

蓋式ＩＣソケットにおいて、蓋に取り付けられたＩＣパッケージを押圧する押圧体のみの交換で多品種のＩＣパッケージに対応可能であり、その交換を容易にできるようにするとともに、検査ボード上に実装されている状態でも前記押圧部の交換が可能であり、該交換の作業効率が良い蓋式ＩＣソケットを提供することにある。 - 特許庁

When a tester 40 or a test board 12 itself of a test system is checked, or when a test program is debagged, a multiple switch 33 with contacts provided on the test board 12 is operated to be closed, so as to connect an IC socket 34 mounted with a finished product IC to an external connection terminal 32.例文帳に追加

テストシステムのテスタ４０、テストボード１２自体のチェックや、テストプログラムのデバッグを行う際には、テストボード１２上に設けられた有接点多重スイッチ３３を閉操作して、完成品ＩＣを載置したＩＣソケット３４と外部接続端子３２との間を接続する。 - 特許庁

To provide a contact board used in calibration of an IC test device and a positioning method of a robot capable of successively electrically contacting with a number of electric pads formed on the contact board, and measuring a transmission delay time of a signal path of each pin of each IC socket.例文帳に追加

ＩＣ試験装置の校正時に用いるコンタクトボードを提案すると共に、このコンタクトボードに形成された多数の電気パッドに順次電気的に接触して各ＩＣソケットの各ピンの信号経路の伝搬遅延時間を測定するロボットの位置合わせ方法を提案する。 - 特許庁

The IC socket comprises a body on which an IC package is mounted, a plurality of contacts provided in the body, a cover member movable in the vertical direction, and a cam mechanism to open and close the contacts, where the contacting force intensifying mechanism is installed to heighten the contacting force of the contacting part of each contact.例文帳に追加

ＩＣパッケージが装着されるソケット本体と、該ソケット本体に設けられた複数個のコンタクトと、上下動可能なカバー部材と、前記コンタクトを開閉作動するカム機構とを有するＩＣソケットにおいて、前記コンタクトの接触部分の接触力を高める接触力強化機構を有する。 - 特許庁

When the IC card 2 is drawn out, a detection switch 15 is opened and sends a card extraction signal to a control part, and the card socket 11 also moves forward and then stops on abutting against a front stopper 14.例文帳に追加

次に、ＩＣカード２の引き抜き時には、検出スイッチ１５が開放され、カードの引き抜き検知信号が図示せぬ制御部へ送られ、カードソケット１１も前部へ移動し、前部ストッパー１４に当たって止まる。 - 特許庁

To provide a socket capable of prolonging the life by preventing solder attachment to a contact, and measuring a high frequency IC by reducing inductance of the contact and enhancing the alignment level of impedance.例文帳に追加

接触子への半田付着を防止し寿命を延ばすとともに、接触子のインダクタンスを小さくし、インピ−ダンスの整合レベルを高くして、高周波ＩＣの測定を可能にしたソケットを提供する。 - 特許庁

To provide a versatile socket device which is used for a semiconductor inspection device that inspects an IC chip in which a plurality of electrodes are arranged on the rear surface, and maintains reliability after repeated use.例文帳に追加

裏面に複数の電極が配置されたＩＣチップを検査する半導体検査装置に用いられ、繰り返し使用されても信頼性を保ち、汎用性の高いソケット装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a socket for inspecting a semiconductor element which is refined and given high density, capable of accurately inspecting the semiconductor device, while absorbing the variations in height between the adjacent external projection electrodes of an IC.例文帳に追加

ＩＣの隣接する外部突起電極の高さばらつきを吸収でき微細化及び高密度化された半導体装置を正確に検査可能な半導体素子検査用ソケットを実現する。 - 特許庁

A cover 20 having an opening 21 is rotatably mounted on a housing recessed part 11 of a socket body 10 equipped with a plurality of contacts 13 in the housing recessed parts 11 capable of housing an IC 50.例文帳に追加

ＩＣ５０を収容可能な収容凹部１１内に複数の接触子１３を備えたソケット本体１０の前記収容凹部１１上に，開口２１を備えたカバー２０を回転可能に取り付ける。 - 特許庁

The external storage device interface circuit has a 1st terminal part constituted as a socket for connection with multiple contacts of the IC card and a 2nd terminal part which is coupled with the voice synthesizing circuit.例文帳に追加

外部記憶装置インターフェース回路は、ＩＣカードの複数の接点との結合のためのソケットとして構成された第１の端部と、音声合成回路に結合する第２の端部とを有する。 - 特許庁

One IC tag 100 is arranged in a center of a pallet 10 so that the longitudinal direction of its antenna forms an angle of substantially 45° with respect to any one of four side faces having a socket.例文帳に追加

ＩＣタグ１００を、そのアンテナの長手方向が、差込口が設けられている４つの側面のいずれに対しても、略４５度の角度を持つようにして、パレット１０の中央に１つ配置する。 - 特許庁

This IC socket 1 is held between a first electric component 2 and a second electric component 3 to electrically connect the external terminal of the first electric component 2 to the external terminal of the second electric component 3.例文帳に追加

ＩＣソケット１は、第１の電気部品２と第２の電気部品３との間に保持されて、第１の電気部品２の外部端子と、第２の電気部品３の外部端子とを電気的に接続する。 - 特許庁