「measuring microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(9ページ目) - Weblio英語例文検索

The microscope instrument includes a Z stage 15 for moving an objective lens 11 vertically, a focus point detection system 30 for irradiating a test substance 21 with measuring light for focusing detection, a signal processing part 41 for controlling the Z stage 15 based on the focusing detection result, and a measuring part 42 for measuring the amount of movement of the objective lens 11.例文帳に追加

顕微鏡装置は、対物レンズ１１を上下移動させるＺステージ１５と、被検体２１に測定光を照射して合焦検出する焦点検出系３０と、合焦検出結果に基づいてＺステージ１５を制御する信号処理部４１と、対物レンズ１１の移動量を測定する測定部４２とを有する。 - 特許庁

The measuring sample in a fine domain which is a measuring object including water is enlarged by a microscope body part, and each spectrum of detection light transmitted through the fine domain and reference light detection light is determined, and the absorbance difference of the measuring sample is determined by using light intensity having a specific wavelength, and a temperature change of a specimen is determined based on the absorbance difference.例文帳に追加

水を含む測定対象である微小領域の測定試料を顕微鏡本体部によって拡大すると共に、微小領域を透過した検体光と参照光のスペクトルを求めると共に、特定の波長の光強度を用いて測定試料の吸光度差を求め、当該吸光度差に基づいて検体の温度変化を求めるようにする。 - 特許庁

To improve the electric conductivity of a nanotube probe by reducing the electric resistance of a carbon nanotube and further the electric resistance between a metal substrate and the carbon nanotube, achieve uniform diameters, and improve the measuring accuracy of a measuring apparatus in measuring apparatuses such as an electric conductivity characteristics evaluation apparatus and a probe microscope using a nanotube as a probe.例文帳に追加

ナノチューブを探針として用いた電気伝導特性評価装置・プローブ顕微鏡等の測定装置において、カーボンナノチューブの電気抵抗、さらに金属基材とカーボンナノチューブの間の電気抵抗を低減することにより、ナノチューブ探針の導電性を改善し、かつ一様な径を達成して、測定装置の測定精度を向上することにある。 - 特許庁

This ophthalmic surgical microscope includes: an observation optical system for observing a patient's eye during surgery; a corneal shape measuring means for measuring the corneal shape of the patient's eye placed in a surgical position; and a guide means for outputting guide information for guiding the intraocular lens surgery based on a measured result obtained by the corneal shape measuring means.例文帳に追加

手術時における患者眼を観察するための観察光学系と、手術位置に配置された患者眼の角膜形状を測定する角膜形状測定手段と、角膜形状測定手段によって得られた測定結果に基づいて眼内レンズ手術をガイドするためのガイド情報を出力するガイド手段と、を備える。 - 特許庁

In a measuring method of elastic modulus of an extreme surface in a solid material sample such as resin film by using an atomic force microscope, a probe of an atomic force microscope is contacted at an elastic displacement as a displacement of a solid material sample within the range providing elastic deformation without providing plastic deformation to the solid material sample.例文帳に追加

原子間力顕微鏡を用いた樹脂フィルム等の固体物質試料の極表面の弾性率の測定方法であって、原子間力顕微鏡の探針を、固体物質試料に塑性変形を与えることなく弾性変形を与える範囲内の固体物質試料の変位量である弾性変位量で接触させる。 - 特許庁

To reduce the measuring error of film thickness and to suppress width irregularity at every work, in setting a cross section by a frozen section method when the cross section of a sheet-like sample is observed or the thickness thereof is measured by an electron microscope or an optical microscope, by enhancing the workability at time of the vertical setting of the sample.例文帳に追加

電子顕微鏡および光学顕微鏡でのシート状試料の断面観察や膜厚を測定する際の凍結切片法により断面出しを行う場合において、試料を垂直にセットする際の作業性を向上させることにより、膜厚測定の誤差を小さくすると共に、作業毎のバラツキ幅を抑えること。 - 特許庁

In the measuring method of physical data using a scanning probe microscope, the spring constant of the cantilever 1 of the scanning probe microscope is continuously changed to find out the optimum value of the spring constant most easily acquiring the physical property data of a measurement target.例文帳に追加

走査プローブ顕微鏡を用いた物性情報の測定方法において、走査プローブ顕微鏡のカンチレバー１のバネ定数を連続的に変化させて、測定対象物の物性情報を最も得られやすいバネ定数の最適値を見出し、バネ定数を有するバネによって所望の物性情報を得る。 - 特許庁

To quantitatively and accurately measure the carrier concentration of a measured sample such as a semiconductor substrate by a semiconductor measuring device using a scanning capacitance microscope, and to provide a method for measuring the carrier concentration inexpensively without increasing the scale nor cost of a measurement system.例文帳に追加

走査型容量顕微鏡を用いた半導体測定装置において、半導体基板などの測定サンプルのキャリア濃度を定量的に正確に測定することができ、しかもこのようなキャリア濃度の測定を、測定システムの規模の増大やコストアップを招くことなく低コストで行う方法の提供。 - 特許庁

To provide a magnetic recording head measuring device realizing the measurement with high sensitivity and high resolution while having high frequency response in the system for measuring the magnetic force by generating the high frequency magnetic field from the recording head for the subject of measurement by utilizing a magnetic force microscope.例文帳に追加

磁気力顕微鏡を利用して、測定対象の記録ヘッドから高周波の磁界を発生させて磁気力を測定する方式において、高周波応答で、高感度かつ高分解能の測定を実現した磁気記録ヘッド測定装置を提供することにある。 - 特許庁

The scanning probe microscope 1 has a constitution with the lever excitation mechanism 1a, a moving means 5 for moving relatively a probe 3a and a sample S, a measuring means 6 for measuring displacement in the vibration state of the lever 3c, and a control means 8 for collecting observation data.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡１を、レバー加振機構１ａと、探針３ａと試料Ｓとを相対的に移動させる移動手段５と、レバー３ｃの振動状態の変位を測定する測定手段６と、観測データを採取する制御手段８とを備えて構成した。 - 特許庁

To provide an interference microscope and a measuring apparatus, capable of measuring the surface shape of a sample (object to be measured) such as a wafer just by slightly inclining a reference mirror by a simple structure, identify accurate coordinate positions of dirt, pole pieces, etc., transmit and receive their accurate data to a charged particle beam device such as an electronic microscope and an image drawing device, and contribute more to an improvement in workability.例文帳に追加

簡易な構成により、参照ミラーを僅かに傾斜させるだけで、ウェハなどの試料（被測定物）の表面形状を計測し、ごみやポールピースなどの正確な座標位置を特定し、電子顕微鏡、描画装置などの荷電粒子ビーム装置にその正確なデータを送受信して、作業効率の向上に一層貢献することができる干渉顕微鏡及び測定装置を提供する。 - 特許庁

This spectroscope is provided with an information processor 250 for finding a spectroscopic characteristic of a measuring object, based on a spectroscopic characteristic data obtained by making fluorescence get incident into a spectroscopic unit by a microscope 220 and a confocal unit 210.例文帳に追加

顕微鏡２２０および共焦点ユニット２１０により蛍光を分光ユニットに入射させて得られた分光特性データに基づいて測定対象の分光特性を求める情報処理装置２５０を備える。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope capable of measuring the distribution information relating to the partial characteristic of a sample, simultaneously with the accurate three-dimensional shape information of the sample without giving the damage to the sample with high throughput.例文帳に追加

高スループットで試料にダメージを与えずに、試料の正確な立体形状情報と同時に試料の局所的特性に関する分布情報を計測できる走査プローブ顕微鏡を提供することである。 - 特許庁

To provide a probe microscope capable of reducing probe damage when positioning a probe and a sample on a measuring domain, and performing proper and stable measurement by suppressing a resolution change caused by a probe tip shape.例文帳に追加

探針と試料を測定領域に位置決めする際の探針破損を低減させ、探針先端形状に起因する分解能の変化を抑えて、適切でしかも安定な測定ができるプローブ顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide an atomic force microscope constituted so as to measure the relative displacement of an article to be inspected and a cantilever and capable of measuring the displacement of the cantilever, even if the article to be inspected is not placed on the stage.例文帳に追加

被検物とカンチレバーとの相対変位を計測する原子間力顕微鏡において、ステージ上に被検物が載置されていなくてもカンチレバーの変位を計測可能な原子間力顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide an apparatus and method for measuring a three dimensional shape capable of generating an accurate three dimensional model from a three dimensional coordinate of a test surface acquired by a microscope having an auto focus function.例文帳に追加

顕微鏡のオートフォーカス機能を用いて取得した試料表面の三次元座標から正確な三次元モデルを生成することができる三次元形状測定装置及び三次元形状測定方法を提供する。 - 特許庁

To provide a fine adjustment mechanism for a scanning type probe microscope of high rigidity and high measuring precision, by arranging a strain gage type displacement sensor allowing setting even in a narrow space to allow temperature compensation.例文帳に追加

狭いスペースでも設置が可能なひずみゲージ式変位センサを温度補償が可能なように配置することにより、剛性が高く、測定精度の高い走査型プローブ顕微鏡用の微動機構を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope capable of well measuring the surfaces of various samples different in properties, for example, a sample minute in difference in level and a sample large in difference in level.例文帳に追加

種々の性質の異なる試料、例えば段差の微小な試料に対しても、また段差の大きな試料に対しても、それらの試料表面を良好に測定できる走査型プローブ顕微鏡を提供することにある。 - 特許庁

The bacteria measuring device 56 uses a CCD camera 60 with an optical microscope for observing bacterial threads deposited on a film 58 and uses an analyzer 62 for analysis to find the quantity and speed of the growth of the bacteria.例文帳に追加

細菌測定装置５６は、フィルム５８に付着した菌糸を、光学顕微鏡付きのＣＣＤカメラ６０で観察し、解析装置６２で解析することによって、細菌の成長量と成長速度を求める。 - 特許庁

To provide a sample table driving device for an atomic force microscope capable of measuring surface force of a sample to be measured with high accuracy and high resolution by controlling the movement of the sample table with high reliability and repeatability.例文帳に追加

高い信頼性及び再現性にて試料台を移動制御して試料の表面力を高精度及び高分解能で測定することができる原子間力顕微鏡の試料台駆動装置の提供。 - 特許庁

To provide a sample measuring method for removing impure substances adhered to a sample chamber of an electron microscope or the like, capable of restraining adverse effects to subsequent manufacturing processes, and to provide a charged particle apparatus.例文帳に追加

本発明の目的は、電子顕微鏡の試料室等において付着する不純物を除去し、その後の製造プロセスへの悪影響を抑制し得る試料測定方法、及び荷電粒子線装置の提供にある。 - 特許庁

In the case of measuring the surface area of the cured product subjected to desmear processing in a measuring region having a size of 100 μm×100 μm by using an atomic force microscope when the cured product subjected to the desmear processing by using the thermosetting film is obtained, the surface area of the cured product subjected to the desmear processing in the measuring region is 20000 μm^2 or larger.例文帳に追加

上記熱硬化性フィルムを用いたデスミア処理された硬化物を得たときに、原子間力顕微鏡を用いて、１００μｍ×１００μｍの大きさの測定領域における上記デスミア処理された硬化物の表面積を測定した場合に、測定領域における上記デスミア処理された硬化物の表面積が２００００μｍ^２以上である。 - 特許庁

To obtain a magnetic-resonance-type exchange interaction force microscope that incorporates magnetization inversion/modulation technique due to magnetic resonance being utilized by electronic spin resonance and nuclear magnetic resonance into an atomic force microscope, and accurately measures exchange interaction force operating between a probe and a sample, and the measuring method of the exchange interaction force using it.例文帳に追加

電子スピン共鳴や核磁気共鳴で利用されている磁気共鳴による磁化反転・変調技術を原子間力顕微鏡に取り入れ、探針・試料間に働く交換相互作用力を的確に計測する磁気共鳴型交換相互作用力顕微鏡及びそれを用いた交換相互作用力の測定方法を提供する。 - 特許庁

In this microscope imaging device and a dimension measuring instrument, a retreating area is provided in each of the plurality of imaging devices, a stoke is provided to move the each imaging head to a position of a measuring point for a measured object, and the imaging head is covered with the residual imaging head when troubled or brought into under a non-operational condition.例文帳に追加

複数の撮像装置それぞれについて退避エリアを設け、かつ、それぞれの撮像ヘッドが、被測定対象物の測定ポイントの位置に移動可能なストロークを持たせ、撮像ヘッドが故障または非稼動状態である場合には、残りの撮像へッドでカバーすることが可能な顕微鏡撮像装置及び寸法測定装置。 - 特許庁

To provide a multi-probe and a microprocessing method using it, able to be applied as it is to a scan type probe microscope, performing high-accuracy nano-processing for an arbitrary position in a wide range collectively, and directly measuring the surface shape of a workpiece after processing.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡にそのまま適用することができ、広範囲を一括に、且つ任意位置に高精度なナノ加工を行うことができ、加工後、直接被加工物の表面形状を計測することができる。 - 特許庁

To enable measurement by a highly precise scanning probe microscope using a novel cantilever with a measurement hole and provide a method for measuring mutual action of various beams and a sample substance by squeezing it into a very small region.例文帳に追加

新規な測定孔付きカンチレバーを用いて精度の高い走査型プローブ顕微鏡測定を可能にし、種々のビームと試料物質との相互作用を極小領域にまで絞り込んで測定できる方法を実現する。 - 特許庁

An image focusing optical system of the microscope image-focuses a measuring objective face of the measured object in an imaging system, and a regular reflectance (gloss value) of the light source is measured in every picture element by the image processing part, since the toner printed matter is expressed with a fine pattern.例文帳に追加

トナー印刷物は、微小パタンで表現されるため、顕微鏡である結像光学系が非測定物の測定対称面を撮像系に結像し、その像処理部で各画素ごとに光源の正反射率（グロス値）を測定する。 - 特許庁

To make the magnitude of a magnetic field being applied controllable such that a uniform magnetic field can be applied to an object to be measured over the entire measuring range thereof in a scanning SQUID microscope having an SQUID as a magnetic sensor.例文帳に追加

ＳＱＵＩＤを磁気センサとした走査型のＳＱＵＩＤ顕微鏡において、計測対象物に測定範囲全域に渡って一様な磁場を印加できるように、印可磁場の大きさを制御することができるようにすること。 - 特許庁

To provide a measuring microscope apparatus, capable of preventing a trouble caused by external wiring such as breaking of an external communication cable, and being set easily and reduced in required occupying installation area in use.例文帳に追加

外部通信ケーブルの断線等の外部配線によるトラブルを防止すると共に、装置のセッティングを容易にし、使用するうえで必要な装置の占有設置面積を小さくすることが可能な測定顕微鏡装置を提供することである。 - 特許庁

This scanning probe microscope is configured to display measurement data in a scanning image display area 202 of a monitor screen 201 as an image with a monochromatic density matched to irregularity information with a line 203 showing a measuring position of sample line profile.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡測定データは凹凸情報を白黒濃度に対応させた画像としてモニター画面２０１の走査画像表示領域２０２に、試料ラインプロファイルの測定位置を示す線２０３と一緒に表示される。 - 特許庁

To provide a measurement method of a scanning probe microscope for measuring a shape and optical characteristics of a sample using near field light without reducing a signal-to-noise ratio in a plasmon propagation beam SPM.例文帳に追加

本発明はプラズモン伝播形光ＳＰＭにおいて、信号対雑音比が低下させずに近接場光を用いて試料の形状と光学特性を測定する走査プローブ顕微鏡の測定方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

A confocal microscope 10 which is provided movably in the Z-axis direction by a Z-stage 21, images a focal image on a Z-position different relative to a sample 16 by a measuring camera 18, and outputs it to a control unit 20.例文帳に追加

共焦点顕微鏡１０は、Ｚステージ２１によりＺ軸方向に移動可能に設けられ、試料１６に対して異なるＺ位置での焦点画像を測定カメラ１８で撮像し、制御ユニット２０へ出力する。 - 特許庁

The electrochemical microscope is provided with a microelectrode 1 which is installed on a microstage 15, an electrode positioning device 16, a very small current measuring device 8, a temperature controller 10 and a culture gas-phase condition (oxygen, carbon dioxe) controller.例文帳に追加

上記電気化学顕微鏡は、顕微鏡ステージ１５上に設置した微小電極１、電極位置決め装置６、微小電流計測装置８、温度制御装置１０、培養気相条件（酸素、二酸化炭素）制御装置を有する。 - 特許庁

To provide a conveying device of a mini-environment system efficiently conveying a sample to a scanning electron microscope for critical dimension measuring, even when an SMIF-pod (standard mechanical interface-pod) housing only one piece of photomask is used.例文帳に追加

１枚のフォトマスクしか収納することはできないスミフポッドを使用する場合でも、効率的に、試料を微小寸法測定走査電子顕微鏡に搬送することができるミニエンバイラメント方式の搬送装置を提供する。 - 特許庁

To detect light emission from a detection object substance, in the presence of a foreign substance of emitting self-fluorescence, in a technology for measuring and analyzing fluorescence or phosphorescence by using an optical system of a confocal optical microscope.例文帳に追加

共焦点光学顕微鏡の光学系を用いて蛍光又はりん光を計測し分析する技術に於いて、自家蛍光を発する夾雑物の存在下で、検出対象物質からの発光を検出できるようにすること。 - 特許庁

Further as one embodiment, the scanning electron microscope includes a function to correct conditions and the like in an apparatus such as magnification, focus, measuring coordinate and the like varied in accordance with a sample electrification, based on the measured sample height and the sample electrification.例文帳に追加

また、その一態様として、測定された試料高さや試料電位に基づいて、試料帯電によって変動する装置条件（例えば倍率，フォーカス，観察座標等）を補正する走査電子顕微鏡を提案する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope for avoiding the trouble of sample stand changing, and accurately measuring the temperature depending characteristic of physical properties by tracing measurement of the temperature variation on an identical measurement point and an identical measurement area.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡において、試料を測定する際、試料台の交換の手間をなくすとともに、同一測定ポイント同一測定領域の温度変化を追跡測定し、物性の温度依存特性を正確に測定すること。 - 特許庁

By measuring the phase transition temperature of the compound (XA-1) with a texture observation by using a polarizing microscope, in the time of elevating temperature, it shows a smectic phase from 101 to 133°C, and also shows a nematic phase from 133 to 146°C.例文帳に追加

得られた化合物（ＸＡ−１）の相転移温度を偏光顕微鏡によるテクスチャー観察によって行うと、昇温時において、１０１℃から１３３℃までスメクチック相を呈し、１３３℃から１４６℃までネマチック相を呈する。 - 特許庁

In a camera chamber 160 of the nodular graphite cast iron quality measuring device 1000, a monochrome CCD camera 150 equipped with a microscope 153 and a light source 170 are arranged, and the optical axis of the camera 150 is set in a vertical direction.例文帳に追加

球状黒鉛鋳鉄品質測定装置１０００のカメラ室１６０には、顕微鏡１５３を備えたモノクロＣＣＤカメラ１５０と光源装置１７０とが配設され、カメラ１５０の光軸は鉛直方向に設けられている。 - 特許庁

In this chemical bonding condition analyzing method for elements in tungsten and its compound, the chemical bonding condition of the measuring material is analyzed by analyzing the characteristic X-ray wavelength provided from the electron microscope.例文帳に追加

タングステンおよびその化合物における元素の化学結合状態分析方法において、測定用材料を電子顕微鏡から取得される特性Ｘ線波長を解析することによって、化学結合状態を分析する。 - 特許庁

To provide an electron beam device capable of appropriately processing stereo scopic detection data obtained from an electron microscope, three-dimensionally observing an image of a sample correctly and highly precisely, and measuring the three dimensional shape of the sample based on the observation.例文帳に追加

電子顕微鏡から得られたステレオの検出データを適切に処理して、試料像を正確に精度よく立体観察可能とし、かつこれに基づき三次元形状計測を行うことができる電子線装置を提供する。 - 特許庁

To measure the thermal capacity per unit area, thermal permeability and thermal diffusivity of a micro-area and a thin film on the surface of a sample with high spatial resolution by measuring a thermo-reflectance signal of the sample by use of a thermophysical property microscope.例文帳に追加

熱物性顕微鏡を用いて試料の熱反射信号を測定し、試料表面の微小領域及び薄膜の単位体積あたり熱容量、熱浸透率、熱拡散率を高い空間分解能により測定すること。 - 特許庁

To optically connect light from a re-imaging area to a light receiving surface of a photodetector with no light protruded therefrom without using a photodetector having a large light receiving surface, when a confocal volume is enlarged for measuring a sample solution with a low emitting particle concentration in an optical analysis technique using an optical system of a confocal microscope or a multiphoton microscope.例文帳に追加

共焦点顕微鏡又は多光子顕微鏡の光学系を用いた光分析技術に於いて、発光粒子濃度の低い試料溶液の計測のために、コンフォーカル・ボリュームを拡大した場合に、大きな受光面を有する光検出器を用いることなく、再結像領域からの光線がはみ出さずに光検出器受光面まで光学的に連結されるようにすること。 - 特許庁

An image acquisition device for acquiring the image of a specimen 30 includes a measurement device 2 for measuring the surface shape of the specimen 30 and a microscope 1 for imaging the specimen 30 based on the surface shape measured with the measurement device 2.例文帳に追加

被検物３０の画像を取得する画像取得装置は、被検物３０の表面形状を計測する計測装置２と、計測装置２で計測した表面形状に基づいて被検物３０の像を撮像する顕微鏡１とを備える。 - 特許庁

In the particle diameter distribution measuring method, scattered beams of light, which are scattered by particle groups contained at respective depths, are continuously condensed from the different depths of the cell 2 by moving the condensing region of a dark-field microscope 4.例文帳に追加

本発明に係る粒子径分布測定方法は、暗視野顕微鏡４の集光領域を移動させることによって、セル２の異なる深度から各深度に含まれる粒子群によって散乱される散乱光を連続して集光する。 - 特許庁