「memory pattern」に関連した英語例文の一覧と使い方(15ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a method for forming a pattern that can solve problems of short-circuit or breaking of word lines and data line ends caused by interference of diffracted light produced at a pattern end on a boundary part between a memory array and a sub-word driver or sense amplifier when fine word lines and data lines having linewidth smaller than a wavelength are patterned on a memory.例文帳に追加

メモリーにおいて波長以下の線幅を有する微細なワード線やデータ線をパターニングする際、メモリーアレーとサブワードドライバやセンスアンプの境界部において、パターン端部で生ずる回折光が干渉するためワード線やデータ線端がショートしたり、断線を起こす問題を解決するパターン形成方法を提供する。 - 特許庁

The image processor carries out jaggy correction in a process of binary to multi-value conversion, a pattern reception control signal 41 processes an image whose resolution is not changed, and a pattern memory 421 is read by code information outputted for each pixel to obtain correction data.例文帳に追加

２値→多値変換の過程でジャギー補正を行うようにし、解像度変更をしない画像はパターン認識部４１で処理し画素毎に出力されるコード情報によりパターンメモリ４２１を読み出して補正データを得る。 - 特許庁

When main CPU 112 detects a special symbol starting memory number equal to or more than 1 (S62: YES), a variable pattern of the special symbol is determined (S64) and an image control command corresponding to the variable pattern is outputted (S68).例文帳に追加

メインＣＰＵ１１２は特別図柄始動記憶数が１以上であることを検出すると（Ｓ６２：Ｙｅｓ）、特別図柄の変動パターンを決定し（Ｓ６４）、その変動パターンに対応する画像制御コマンドを出力する（Ｓ６８）。 - 特許庁

To solve a problem that when transmitting a test pattern from an LSI tester in the LSI tester or an LSI tester simulation model, which range of an address area in a DUT memory is accessed can not be known and a defect of the test pattern cannot be previously detected.例文帳に追加

ＬＳＩテスタ又はＬＳＩテスタシミュレーションモデルでは、ＬＳＩテスタ側からテストパターンを送信する際に、ＤＵＴメモリのどの範囲のアドレス領域をアクセスしたかを知ることはできず、テストパターンの不備を事前に検出できない。 - 特許庁

The total control operation unit 312 selects a drive pattern that minimizes the impact on the image signal from the memory depending on the drive state of the noise source, and performs reading control in the imaging element with that control pattern.例文帳に追加

全体制御・演算部３１２はノイズ源の駆動状況に応じてメモリ部から、画像信号に与える影響を最小とする駆動パターンを選択して、当該制御パターンで撮像素子における読み出し制御を行う。 - 特許庁

A category identification part 405 identifies one display pattern group from the display pattern groups memorized in the memory part 404 based on the information about the prize-winning categories acquired by the category information acquisition part 403.例文帳に追加

種類特定部４０５は、種類情報取得部４０３によって取得された当たりの種類に関する情報に基づいて、記憶部４０４に記憶されている表示パターン群の中から、一の表示パターン群を特定する。 - 特許庁

The semiconductor testing device can vary the speed of the pattern to be applied to the DUT, and is provided with a selection means for selecting either pattern data output from a data memory or an output signal fed back just before.例文帳に追加

ＤＵＴに与えるパターンの速度を可変できる半導体試験装置であって、データメモリから出力されるパターンデータとフィードバックされた直前の出力信号のどちらか一方を選択する選択手段を設けた。 - 特許庁

LEN data defining a unit pulse pattern length, loop data defining the number of repetitions of a unit pulse, RETURN data for repeating the unit pulse pattern and driving pulse data representing a level of a driving pulse are stored in a memory 2.例文帳に追加

メモリ２中に単位パルスパターン長を規定するＬＥＮデータと、単位パルスの繰り返し数を規定するループデータと、単位パルスパターンを繰り返させるＲＥＴＵＲＮデータと駆動パルスのレベルを表す駆動パルスデータを格納する。 - 特許庁

When any alternate binary code is determined to coincide with a pattern data previously stored into a memory means, an angle of rotation data corresponding to the pattern data is selected to define the angle of rotation data as an angle of rotation.例文帳に追加

そして、記憶手段に予め記憶されているパターンデータと、交番２進符号とが一致すると判定された場合には、パターンデータに対応する回転角度データが選択され、その回転角度データを回転角度と断定する。 - 特許庁

A printer 10 consists of an input interface 11, a cache memory 13 having a download cache area and a pattern cache area, a control part 12 for managing the pattern cache area and a vacant area, a rasterizer 14 and an output part 15, etc.例文帳に追加

プリンタ１０は、入力インターフェース１１、ダウンロードキャッシュ領域及びパターンキャッシュ領域を有するキャッシュメモリ１３、パターンキャッシュ領域及び空き領域を管理する制御部１２、ラスタライザ１４、出力部１５等から構成される。 - 特許庁

It also comprises a memory means (for example, RAM6)for storing reference data in which test pattern data of the vibration test of the test body and a reference transmission characteristics data of the vibrator in vibration test in accordance with the test pattern data are correlated.例文帳に追加

供試体の振動試験の試験パターンデータと、当該試験パターンデータに応じた振動試験における加振部の基準伝達特性データとが対応付けられた基準データを記憶する記憶手段（例えば、ＲＡＭ６）を備える。 - 特許庁

While outputting dummy data to a data packing section 58, a mask processing section 60 reads out the detected pattern data from the buffer memory based on a main scanning sync signal Ls_1 for the print out image data and delivers the detected pattern data to the data packing section.例文帳に追加

マスク処理部６０は、データパッキング部５８へダミーデータを出力しながら、印刷出力用の画像データに対する主走査同期信号Ｌｓ_1に基づいて、バッファメモリから検出パターンデータを読み出して、データパッキング部へ出力する。 - 特許庁

When a test is started, a control means 110 generates a timing signal for generating a test pattern signal according to set information and generates the address designation signal of the test pattern memory means 130 every cycle period.例文帳に追加

試験が開始されると、制御手段１１０は、設定情報に従ってテストパターン信号を生成するタイミング信号を発生するとともに、サイクル周期毎にテストパターン記憶手段１３０のアドレス指定信号を発生する。 - 特許庁

Since information and data concerning demonstration print, nozzle check pattern print, and registration adjusting pattern print are not required in the printer, memory size for storing data can be reduced and thereby the ROM capacity can be reduced.例文帳に追加

このことにより印刷装置内部にデモプリント、ノズルチェックパターン印刷、レジ調整パターン印刷に関する情報及びデータを持つ必要が無く、データ格納用のメモリサイズを削減出来るので、ＲＯＭ容量の削減を行うことが出来る。 - 特許庁

A comparison section 36 reads a newest recording in the LIFO memory 34 and outputs an error pattern OPAT to an error pattern addition section 37 when a read locator LOC is coincident with a count CNT2 from a forward counter 35.例文帳に追加

比較部３６は、ＬＩＦＯメモリ３４の最も新たな記録を読み出し、読み出したロケータＬＯＣと、順方向カウンタ３５からのカウント値ＣＮＴ２が一致したとき、誤りパターンＯＰＡＴを誤りパターン加算部３７に出力する。 - 特許庁

The memory possesses a knowledge base 21c composed of a simply inscribed operation pattern group, and a rule base 21d composed of a rule group of setting a conditional expression for detecting an operation state from an occurrence frequency of a specific operation pattern.例文帳に追加

メモリには、簡易表記された操作パターン群から成る知識ベース２１ｃと、特定の操作パターンの発生頻度などから操作状況を検出するための条件式が設定されたルール群から成るルールベース２１ｄとを保有する。 - 特許庁

At a real number correlator 202, a pilot pattern of an AC1 signal and a TMCC (Transmission and Multiplexing Configuration Control) signal is inputted from a memory 203, and correlation processing is conducted between the pilot pattern and the result of the absolute value square computation for the received OFDM signal.例文帳に追加

実数相関器２０２では、メモリ２０３からＡＣ１信号およびＴＭＣＣ信号のパイロットパターンを入力し、パイロットパターンと受信ＯＦＤＭ信号の絶対値自乗演算結果との間で相関処理を行う。 - 特許庁

The CPU 120 corrects an adjustment pattern image on the basis of the conducted stripe element width, rewrites contents of a pattern image memory 107 and instructs an image processing section 108 and a liquid crystal light valve drive section 110 or the like to project an image.例文帳に追加

ＣＰＵ１２０は、導き出したストライプ要素幅に基づき、調整用パターン画像を修正して、パターン画像メモリ１０７の内容を書き換え、画像処理部１０８，液晶ライトバルブ駆動部１１０などに画像投射を指示する。 - 特許庁

Depending on the stitch feed and condense stitch feed specified by needle rocking pattern data and a back-tacking pattern both selectively read out of the memory, the needle rocking mechanism is driven to form a seam of the needle rocking and back-tacking patterns.例文帳に追加

記憶された針振りパターンデータと止め縫いパターンが読み出され、これらのデータに基づき縫い送り量及びコンデンス送り量に関連して針振機構が駆動され、針振りパターンと止め縫いパターンに従った縫目が形成される。 - 特許庁

When suspending and resuming the sewing of a pattern, firstly during the formation of seams by the control section, by suspending the formation of seams, sewing is stopped, and data of the pattern, sewing of which is suspended, are stored in a holder H1 in the flush memory.例文帳に追加

模様の縫製を休止・再開する際には、まず、制御部による模様の縫目の形成中に、縫目形成を途中停止して縫製を休止し、縫製休止した模様のデータをフラッシュメモリ内のホルダーＨ１に記憶する。 - 特許庁

The memory control part 123 is equipped with an LED type judgment part 243 which switches a generation pattern of a write address used in a write address generating part 205, and a generation pattern of a read address used in a read address generating part 247.例文帳に追加

メモリ制御部１２３は、書込アドレス生成部２０５において用いる書込アドレスの生成パターンおよび読出アドレス生成部２４７において用いる読出アドレスの生成パターンを切り換えるＬＥＤタイプ判断部２４３を備える。 - 特許庁

A wiring pattern 32 and through holes 34 that are needed for connection between the BBIC 14 and the memory IC 16 or the like, an RF passive part 36 and a shielding ground electrode pattern 38 are formed inside the multilayer substrate 12.例文帳に追加

多層基板１２の内部には、ＢＢＩＣ１４およびメモリＩＣ１６間などの接続に必要な配線パターン３２およびスルーホール３４と、ＲＦ用受動部品３６と、遮蔽用グランド電極パターン３８とが形成される。 - 特許庁

A multiplier MU0 multiplies a pattern bit value of each position of the hatching pattern data of the memory H and a pixel value included in binary input image data expressing the pixel value of each position by 0 or 1 at every corresponding position respectively.例文帳に追加

乗算器ＭＵ０は、メモリＨのハッチングパターンデータの各位置のパターンビット値と、０又は１によって各位置の画素値が表された２値の入力画像データに含まれる画素値とを、それぞれ対応する位置毎に乗算する。 - 特許庁

When creating a mask used for a photoengraving process (Fig(1)), a peripheral circuit area (1) effective for high-speed operation or low consumption is intensively formed so that a pattern becomes coarse (2A<B), distinguishably from a memory area (2) wherein the pattern is made fine (2A≥B).例文帳に追加

図１（イ）：写真製版に使用するマスクの作成時に、高速動作や低消費に効く周辺回路部領域（１）を意図的にパターンが疎（２Ａ＜Ｂ）となるように形成し、パターンを密（２Ａ≧Ｂ）にするメモリ部領域（２）と区別する。 - 特許庁

The high precision LUT49B is used at a proofreading control section 82 for creating a newest LUT at an LUT creating section 88 based on reference data from a test pattern memory 84 and measurement data (from a read data memory 86), i.e. measurement of that print.例文帳に追加

高精度ＬＵＴ４９Ｂは、校正制御部８２において、テストパターンメモリ８４から基準データとそのプリントの計測結果である計測データ（読取データメモリ８６）からＬＵＴ生成部８８で最新のＬＵＴが生成される。 - 特許庁

A CPU 10 is provided with an internal memory 11 accessible from the outside and image-recognizes the input image data of the recognition area detected by pattern matching among the input image data stored in the internal memory 11 by a program.例文帳に追加

ＣＰＵ１０は外部からアクセス可能な内部メモリ１１を有し、内部メモリ１１に格納された入力画像データの内、パターンマッチングにより検出された認識領域の入力画像データをプログラムにより画像認識する。 - 特許庁

In this case, a fixed pattern is written in continuous addresses in the memory on the control side between the first and second control parts and an equalization check is performed corresponding to the contents in the memory on the standby side between the first and second control parts.例文帳に追加

本装置は、第１，第２の制御部の内、制御側のメモリに、連続したアドレスに一定パターンを書き込み、第１，第２の制御部の内、待機側のメモリの内容により、イコライズチェックを行うことを特徴とする装置である。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device wherein a control means which is substantially equivalent to a control signal to be stored in a WCS memory which controls the generation of a test pattern provided at an ALPG is provided outside the WCS memory.例文帳に追加

ＡＬＰＧが備える試験パターンの発生を制御するＷＣＳメモリに格納すべき制御信号と、実質的に等価な制御手段を、当該ＷＣＳメモリ外に備えるＡＬＰＧとする半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide an image output device which can make drawing processing, using a mask pattern in an arbitrary rectangular shape, to a page memory fast by enabling fast word-by-word access to a memory when the drawing processing is carried out.例文帳に追加

任意の矩形状のマスクパターンを用いた描画処理を行う際に、ワード単位で高速にメモリにアクセスすることを可能とすることにより、ページメモリへの描画処理の高速化ができるような画像出力装置を提供する。 - 特許庁

To provide a pattern image recognition system efficiently calculating a displacement on a general-purpose graphic processor, and reducing an overhead due to data transfer between a memory of a main processor and a memory of the general-purpose graphic processor.例文帳に追加

変位計算を汎用グラフィックプロセッサ上で効率的に行え、且つ、主プロセッサのメモリと汎用グラフィックプロセッサのメモリとの間のデータ転送によるオーバーヘッドを減少させることができるパターン画像認識システムを提供する。 - 特許庁

To provide a memory cell array where a ferroelectrics layer constituting a ferroelectrics capacitor has a specific pattern for less floating capacity of a signal electrode, manufacturing method thereof, and a ferroelectrics memory device.例文帳に追加

強誘電体キャパシタを構成する強誘電体層が特定のパターンを有し、信号電極の浮遊容量を小さくすることができるメモリセルアレイ、およびその製造方法、ならびに強誘電体メモリ装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor storage device which can prevent interference between adjacent bit lines on a memory cell plate by changing a wiring pattern of column selection signal lines in a layout of the conventional memory cell plate and a peripheral circuit.例文帳に追加

従来のメモリセルプレート及び周辺回路のレイアウトにおいて、カラム選択信号線の配線パターンを変えることにより、メモリセルプレート上で隣接するビット線同士の干渉を防ぐことのできる半導体記憶装置を提供すること。 - 特許庁

When an address generated from the test pattern generating section 105 coincides with a defective address stored in the fail information storing section 108, a checker pattern is inputted to each memory after relieving processing without changing data from the test pattern generating section 105 by using a data scramble section 107 discriminating whether data inputted to a memory is reversed or not in accordance with a value of the least significant bit of a defective address.例文帳に追加

テストパターン生成部１０５から生成されるアドレスがフェイル情報格納部１０８に格納された不良アドレスと一致した場合に、不良アドレスの最下位ビットの値に応じてメモリへのデータ入力を反転させるかどうかを判定するデータスクランブル部１０７を用いることで、テストパターン生成部１０５からのデータを変更することなく、救済処理後の各々のメモリに対して、チェッカーパターンを入力する。 - 特許庁

By setting a minimum data pattern in loopback corresponding to one-time among data patterns, a repetition frequency in the loopback corresponding to one-time of the minimum data pattern, and a loopback frequency, it is not necessary to use a memory for storing the data pattern, and only a change of only setting of a loopback transfer means is needed to improve the extensibility and the controllability of the loopback pattern creation.例文帳に追加

データパターンのうちのループバック１回分における最小データパターンと、最小データパターンのループバック１回分における繰り返し回数と、ループバック回数とを設定することにより、データパターンを記憶するためのメモリを用いる必要が無くなりループバック転送手段の設定のみを変更するだけでよいので、ループバックパターン作成の可制御性、拡張性を向上させることができる。 - 特許庁

A pattern matching part 1013 inspects a 600-dpi (dot/inch) raster image output by a controller 1001 in each pixel, extracts a pattern wherein a combination between the pixels and their peripheral pixels accord from patterns stored in a pattern storage part 10130, replaces the pixels with the raster image corresponding to the extracted pattern, and thereafter outputs it to an image memory 1030.例文帳に追加

パターンマッチング部１０１３は、コントローラ１００１によって出力された６００ｄｐｉのラスタイメージを画素毎に検査し、これらの画素とその周辺の画素の組み合わせが一致するパターンを、パターン記憶部１０１３０に記憶されたパターンから抽出して、その画素を、抽出したパターンに対応するラスタイメージで置き換えてから、画像メモリ１０３０に出力する。 - 特許庁

The phase-change memory element includes a word line extended in one direction on a substrate, a first semiconductor pattern disposed on the word line, a node electrode disposed on the first semiconductor pattern, a Schottky diode formed between the first semiconductor pattern and the node electrode, and a phase-change resistor disposed on the node electrode.例文帳に追加

基板上に一方向に延伸しているワードラインと、ワードライン上に位置する第１半導体パターンと、第１半導体パターン上に位置するノード電極と、第１半導体パターンとノード電極との間に形成されたショットキーダイオードと、ノード電極上に位置する相変化抵抗体と、を備える半導体メモリ素子。 - 特許庁

When it is determined that abnormality occurs in any motherboard, a switch control part of the shared memory system 1 selects an access permission pattern in which a state NO corresponds to "15" among access permission patterns stored in a switch state table and holds the selected pattern and turns off all switches on the basis of the access permission pattern.例文帳に追加

何れかのマザーボードで異常が発生したと判定された場合に、共有メモリシステム１のスイッチ制御部は、スイッチ状態テーブルに格納されているアクセス許可パターンのうち、状態ＮＯが“１５”に対応するアクセス許可パターンを選択して保持するとともに、当該アクセス許可パターンに基づいて全てのスイッチをＯＦＦに切り替える。 - 特許庁

A stop pattern in case of open railroad crossing and a stop pattern in case of closed railroad crossing are stored as a database in the memory of a train controller on the vehicle, and the train controller performs speed control of a train by a signal received from the ground unit with reference to a stop pattern corresponding to the opening/closing information of a railroad crossing.例文帳に追加

車上側の列車制御装置では、踏切開の場合の停止パターン、踏切閉の場合の停止パターンがデータベースとしてメモリに記憶してあり、列車制御装置では、地上装置より受信した信号により、踏切開閉情報に対応した停止パターンを参照して列車の速度制御を行う。 - 特許庁

The NOR flash memory element includes a gate formed of a first polysilicon pattern, a dielectric film, and a second polysilicon pattern formed on a semiconductor substrate, a plurality of electrodes formed between the first polysilicon pattern in a line form by inserting into the semiconductor substrate, and contacts formed respectively on the respective electrodes.例文帳に追加

半導体基板上に形成された第１ポリシリコンパターン、誘電体膜及び第２ポリシリコンパターンで構成されたゲートと、前記第１ポリシリコンパターンの間に形成されて、前記半導体基板に挿入されてラインの形態に形成された複数の電極と、及びそれぞれの電極ごとに一つずつ形成されたコンタクトを含む。 - 特許庁

A calculation processing part 6 in the user terminal 1 predicts a future life pattern of the subject for a given length of time from the present time from data stored in a memory part 10, and displays its activity transition, data of its life pattern and data of the predictable life pattern on a displaying and information part 7.例文帳に追加

ユーザー端末１の演算処理部６はメモリ部１０に蓄積された生活パターンのデータから当該被測定対象者の現時点から一定時間後までの、今後の生活パターンの予測を行い、表示・報知部７では活動量の遷移や生活パターンのデータ、予測される生活パターンのデータを表示させる。 - 特許庁

The solvent amount adjusting mechanism 60 comprises a detection head 11 for radiating light to the developed pattern and detecting the reflected light, a memory 64 in which calibration data for inquiring for the amount of the detected reflected light is stored beforehand, a dryer 4 for forcibly drying the pattern, and a solvent adding device 65 for adding the solvent to the pattern.例文帳に追加

溶媒量調整機構６０は、現像したパターンに光を照射して反射光を検出する検出ヘッド１１、検出した反射光量を照会する検量データを予め記憶したメモリ６４、パターンを強制的に乾燥させる乾燥器４、およびパターンに溶媒を付加する溶媒付加装置６５を有する。 - 特許庁

When the flaws of a pattern is inspected by comparing the pattern formed on an object to be inspected with the designed data of this pattern by inspection algorithms 3a, 3b,..., 3n, 33a, 33b,..., 33n, the inspection algorithms are selected from a memory means in which a plurality of the inspection algorithms are stored to be transmitted to target substrates 2, 32.例文帳に追加

被検査体に形成されたパターンとそのパターンの設計データとを検査アルゴリズム３ａ、３ｂ…３ｎ、３３ａ、３３ｂ…３３ｎにより比較して、パターンの欠陥検査をおこなうに際し、検査アルゴリズムは、記憶手段に複数個格納されているものから選択されてターゲット基板２、３２に伝送して用いる。 - 特許庁

This device is provided with a test pattern generating section generating a test pattern consisting of plural steps, a test pattern applying section, a test deciding section, an address conversion section, and plural expansion fail memory section storing pass/fail map information consisting of plural steps converted by the address conversion section distributing for each step.例文帳に追加

本発明は、複数のステップからなるテストパターンを生成するテストパターン生成部と、テストパターン印加部と、テスト判定部と、アドレス変換部と、該アドレス変換部で変換された複数のステップからなるパス／フェイルマップ情報をステップ毎に振り分けて記憶する複数の拡張フェイルメモリ部とを備えたことを特徴とする。 - 特許庁

The image forming apparatus samples the correction test pattern by high speed scanning in response to the number of samples, stores temporarily color data to an image memory and thereafter converts the data into color information so that the sampling is carried out at a higher speed than that of prior arts and also the labor of pattern replacement can be omitted by pattern replacement using an RDF.例文帳に追加

補正テストパターンのサンプリングをサンプリング数に応じて高速スキャンでサンプリングし、その色データを一時的に画像メモリに記憶してから色情報に変換することでこれまでより高速にサンプリングできるだけでなく、ＲＤＦによるパターン交換を行うことでパターン交換の手間を省くことができる。 - 特許庁

To prevent removal of a USB memory from being forgotten as much as possible, even if an image reading apparatus is used in a use pattern for storing image data of a read original into the USB memory, and to prevent data from being used illegally by others as much as possible even if a user forgets to remove the USB memory.例文帳に追加

読み取った原稿の画像データをＵＳＢメモリに格納するという利用形態で画像読取装置が利用される場合にも、該ＵＳＢメモリの取り外し忘れをできるだけ防止し、ユーザがＵＳＢメモリの取り外しを忘れた場合であっても、データが他人によって不正に使用されるのをできる限り防止する。 - 特許庁