「open defect」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

The open box having the lowest frequency in generation of defect among the selected open boxes or combination thereof is replaced in the piling position of the open box, wherein the defect is generated, to reduce the defect generation ratio.例文帳に追加

選択された無蓋ボックスあるいはその組合せの内、最も不具合発生頻度の低いものと不具合の発生した無蓋ボックスとの積付位置を入れ替えることによって、次回からの不具合発生率を減少させることができる。 - 特許庁

To detect an open pin defect even if an input signal is used in common.例文帳に追加

入力信号を共通化した場合でも、オープンピン不良を検出すること。 - 特許庁

To prevent a high-resistance defect and an open defect of a via while reducing an element or a wiring arrangement area.例文帳に追加

本発明によれば、素子や配線の配置面積を縮小しつつ、ビアの高抵抗不良およびオープン不良が発生しないようにする。 - 特許庁

To automatically discriminate whether a defect is a short (short- circuit), open (disconnection) or the defect of contamination deposition (dust) in the case that the defect is present on a pattern formed on an inspected body surface.例文帳に追加

被検査体表面に形成されたパターンに欠陥が有る場合に、その欠陥がショート（短絡）、オープン（断線）、または異物付着の欠陥（ダスト）であるか否かを自動的に判別すること。 - 特許庁

To provide a printed wiring board manufacturing method capable of raising electric test yield since the generation rate is reduced in an open defect and a short-circuiting defect.例文帳に追加

オープン不良及びショート不良の発生率が低くなるため、電気検査歩留まりを向上できるプリント配線基板の製造方法を提供する。 - 特許庁

To prevent an electrode open defect by reducing fabrication unit costs by simplifying fabrication processes of an array substrate.例文帳に追加

アレイ基板の製造工程を単純化して製造単価を節減して、画素電極オープン不良を防止する。 - 特許庁

To provide a technique that allows a sample surface with an insulation region and a conduction region formed thereon to be observed under high contrast, and that facilitates detection of a deletion defect and an open defect and classification of the defect types.例文帳に追加

絶縁領域と導電領域が形成されている試料面の観察を高コントラストで行い、且つ、欠落欠陥や開放欠陥の検出と欠陥種類の分類を容易なものとする技術を提供すること。 - 特許庁

To provide a glass bottle inspection device which can inspect a defect of two or more parts of an open part of the glass bottle with a high speed.例文帳に追加

ガラス瓶の瓶口の複数部位の不良を高速に検査することができるガラス瓶検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device wherein a metallic bump is separated from an inner lead wire in an ILB process resulting in causing an open defect.例文帳に追加

ＩＬＢ工程において、金属突起とインナーリード配線が引き離されて、オープン不良が発生することを防止する。 - 特許庁

An SEM scanning of the region provides defect information (determining whether open or short, positions of the defect electrode) of the electrode patterns based on an SEM image light-dark arrangement state of the respective extension wirings.例文帳に追加

この領域をＳＥＭ走査して、各延伸配線のＳＥＭ像明暗配列状態から、電極パターンの欠陥情報（オープン・ショートの判定、欠陥電極の位置など）を得る。 - 特許庁

To solve the problem that the unexpected high frequency open defect of a capacitor due to breaking of the capacitor or wiring connected thereto can not be detected through a DC test.例文帳に追加

直流試験ではキャパシタやそれに接続される配線の切断によるキャパシタの予期しないオープンを検出できない。 - 特許庁

To correct open circuit defect of a narrow width wiring pattern conveniently and precisely without damaging a wiring board.例文帳に追加

狭小幅配線パターンの断線欠陥の修正を配線基板にダメージを与えることなく、簡便で精度よく行うこと。 - 特許庁

To provide a TEG structure optimal for evaluating the defect level in the important components of an interconnection process, i.e., interconnect resistance, open circuit and short circuit defect, and through hole process, at a low cost and enhancing the location efficiency of a detected defect.例文帳に追加

配線工程で重要な要素である、配線抵抗、断線及びショート欠陥、およびスルーホールのプロセスを低コストで、欠陥レベルを評価し、検出した欠陥箇所の探索効率を向上するための最適なＴＥＧ構造を提供する。 - 特許庁

To provide a mounting structure for an electronic component with a bump by which the generation of an open defect in a heat cycle test or the like is prevented, and by which a migration defect between electrode pads can be prevented effectively.例文帳に追加

本発明は、温度サイクル試験等におけるオープン不良の発生を防止し、電極パッド間のマイグレーション不良を有効に防止できるバンプ付電子部品の実装構造を提供することにある。 - 特許庁

The commodity sellers and commodity buyers are set in a fixed relation for excluding the price supremacy principle which is a defect of open market.例文帳に追加

ここで、オープンマーケットの欠点である価格至上主義を排するために、商品販売者と商品購入者とを固定的な関係とする。 - 特許庁

To provide a semiconductor device having a highly reliable via connection by preventing an open defect of vias connected to a capacitor, and to provide a manufacturing method thereof.例文帳に追加

キャパシタにつながるビアのオープン不良を防止し、高信頼性のビア接続を有する半導体装置及びその製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing an organic EL display device having a high productivity without causing a defect and degradation of function of an organic EL display device, in performing an open destruction of a short circuit defect of the organic EL display device.例文帳に追加

有機ＥＬ表示装置のショート欠陥をオープン破壊するにあたって、有機ＥＬ表示装置の欠陥や機能の低下を来すことなく、生産性が高い有機ＥＬ表示装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

Even if there is an electrode open defect 103 in a wall face of a rib 101 formed on a substrate, the defect can be stably and efficiently amended by identifying the defect 103, pressing and applying a paste 30 adhering to the circumferential face of a coating probe 20 to the identified defect part from the side face, and curing the applied paste 30.例文帳に追加

基板上のリブ１０１の電極オープン欠陥１０３を認識し、認識した欠陥部分に塗布針２０の周面に付着したペースト３０を側面から押し当てて塗布し、塗布したペースト３０を硬化させることにより、基板上に形成されたリブ１０１の壁面に欠陥があっても安定してかつ効率的に修正することができる。 - 特許庁

To provide a ground surface antenna device of which the iron lid can be free to open and close, and which is free from the troubles of corrosion and electric contact defect due to rains and mud penetrated in the manhole.例文帳に追加

鉄蓋の開閉に支障を来たさず、しかも、マンホール内に浸入した雨水や泥等による腐食や接触不良の恐れがない。 - 特許庁

To provide electronic equipment capable of automatically detecting a connector setting defect and cable breakage (open state) without the need for confirmation by an inspector or a repairer.例文帳に追加

コネクタセット不良・ケーブル断線（開放状態）を検査員または修理者による確認を必要とせず、自動で検出できる電子機器を提供する。 - 特許庁

Thus, occurrence of an open defect resulting from separation of the tip 4c of the inner lead wire 4a from the metallic bump electrode 6 after the bonding can be prevented.例文帳に追加

このため、インナーリード配線４ａの先端４ｃと金属突起電極６がボンディング後に引き剥がれ、オープン不良の発生を防止することができる。 - 特許庁

To practically use a surface defect inspection device by robot grasping, by reducing rotation deflection in an open end when inspecting a defect while rotated under the condition where one side of an inspected object is grasped and where the other side is opened.例文帳に追加

被検査物の一方を把持し、他方を開放した状態で回転させながら欠陥検査を行う上で、開放端側の回転振れを小さくし、ロボット把持による表面欠陥検査装置を実用化できるようにする。 - 特許庁

In the inspection method, when a defect where the measured width is larger than the size of a pixel is not detected, the blightness level of the circuit pattern or the spatial component is analyzed, more in detail, to detect a defect corresponding to an open circuit, a short circuit or a remaining copper foil.例文帳に追加

本発明の検査方法は、画素単位で映像データを獲得し、回路パターン又は空間成分の幅を測定する方向と垂直方向に測定して、測定された幅が基準幅より大きな場合の不良であると、ショートと検出する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device in which the bonding defect of a semiconductor device comprising a plurality of power-supply terminals and grounding terminals can be detected, and to provide a detecting method for its open.例文帳に追加

複数の電源端子及びグランド端子を有する半導体デバイスのボンディング不良を検出できる半導体デバイス及びそのオープン検出方法を提供する。 - 特許庁

To provide a manufacturing apparatus of a semiconductor device wherein the occurrence of an open defect resulting from separating an inner lead from a metallic projection electrode once bonded through a restoration force of a film base in an ILB process can be prevented.例文帳に追加

ＩＬＢ工程において、フィルム基材の復元力によって、一旦接合されたインナーリードと金属突起電極が引き剥がれるオープン不良を防止する。 - 特許庁

Since an open circuit defect portion is coated with the conductive paste 3, unintended increase in the line width is prevented during application of the conductive paste 3.例文帳に追加

これにより、断線欠陥部分に導電性ペースト３が塗布されるので導電性ペースト３の塗布時に線幅が不用意に大きくなるのを抑えることができる。 - 特許庁

The excellent color filter without any alignment defect at the open portion is provided by using a resin with a melting property or a resin with a small taper angle generated in patterning at the open portion so as to heighten a levelling effect in color resists constituting the color filter.例文帳に追加

開口部にメルト性を有する樹脂もしくはパターニングした際のテーパー角の低い樹脂を用いることにより、カラーフィルターを構成する色レジストでのレベリングの効果を高め、開口部での配向不良のない良好なカラーフィルターを提供する。 - 特許庁

To provide a durable member hardly abraded by corrosion, and having repeated cryogenic durability and defect growth suppressing effect, and also to provide an open rack-type vaporizer using the same.例文帳に追加

腐食による損耗が生じにくく、また、繰り返し極低温耐久性や欠陥成長抑制効果を有する耐久性部材、および、これを用いたオープンラック式気化器を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor package without any open defect while even a semiconductor chip can be mounted to an arbitrary position on both the surfaces of a wiring board, and to provide a method for manufacturing the semiconductor package.例文帳に追加

半導体チップであっても、配線基板の両面の任意の位置に搭載でき、オープン不良の発生のない半導体実装体及びその製造方法を提供する。 - 特許庁

By such a structure, adhesive force between a substrate and a transfer layer can be improved in a part of a pixel part of the substrate and an edge open defect of an organic film can be improved.例文帳に追加

かかる構成により、基板の画素部の一部分で基板と転写層との間の接着力を向上させることができ、有機膜のエッジオープン不良を改善することができる。 - 特許庁

Each probe sensor head is constituted such that a probe part of supplying an electric current to an electrode and a sensor part of determining open/short defect by detecting the electric current supplied to the line are integrally formed.例文帳に追加

プローブセンサーヘッドは、電極に電流を供給するプローブ部と、配線に供給された電流を検出してオープン／ショート欠陥を判別するセンサー部とが一体となって構成されている。 - 特許庁

To effectively suppress catalyst exhaust gas odor and to surely prevent a speed reduction type defect at the time of speed reduction even in the case that an open failure occurred at a purge control valve.例文帳に追加

触媒排気臭を有効に抑制するとともに、パージ制御弁が開故障している場合であっても、減速時の減速性不良が発生することを確実に防止することを目的とする。 - 特許庁

The amplifying circuit 1301 for reading data has a clamp part 1212 for reading data stored in a data memory cell, a clamp part 1211 for detecting defect of data cell short circuit of the data memory cell, and a clamp part 1213 for detecting defect of open of the data memory cell.例文帳に追加

データ読出し用増幅回路１３０１は、データメモリセルに記憶されたデータの読出し用のデータ読出し用クランプ部１２１２と、データメモリセルのショート不良の検出用のデータセルショート不良検出用クランプ部１２１１と、データメモリセルのオープン不良検出用のデータセルオープン不良検出用クランプ部１２１３とを有している。 - 特許庁

To provide an image forming device which is prevented from decreasing in its operation rate owing to printing operation disabled by not only an open or short circuit of a temperature detecting circuit itself, but also deterioration of solder in the circuit, a connector defect, etc.例文帳に追加

温度検知回路そのもののオープン，ショートのみならず、回路中の半田の劣化、コネクタ不良などの原因でプリント動作をまったく不許可にしてしまうことによる稼働率の低下を防いだ画像形成装置を提供する。 - 特許庁

To provide electronic parts with bump electrodes and its manufacturing method in which an open defect is adequately reduced in the manufacturing method, while there is provided a surface protecting insulation films having a substantial thickness and bump portions with sufficient heights.例文帳に追加

充分な膜厚の表面保護用絶縁膜および充分な高さのバンプ部を具備しつつ、製造過程においてオープン不良の発生が適切に低減されるバンプ電極付き電子部品、および、その製造方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a semiconductor device which has no problem of defect due to that a capacitor hole does not open in a process for forming a capacitor and no problem of contact between adjacent lower electrodes due to loss of a beam.例文帳に追加

キャパシタを形成する工程において、キャパシタ孔が開孔しないことに起因した不良の問題がなく、また、梁の消失に起因した隣接する下部電極同士の接触の問題がない半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

The inspection method of the cause of a case that the IC chip 11 produces some defect is a method for inspecting and analyzing the cause of the defect by a photo-emission analyzing method by mounting the IC chip 11 on a test board to be energized and actuated after the package board 12 of an area surrounded by the display 16 is removed from the rear face to open an opening.例文帳に追加

このようなＩＣチップ１１が何らかの不良が生じた場合のその原因の検査方法は、表示１６で囲われた領域のパッケージ基板１２を裏面から除去して開口を開けた後、そのＩＣチップ１１をテスト基板に装着し、通電して作動させ、フォトエミッション解析方法により不良の原因を検査ｍ解析する方法を採っている。 - 特許庁

In the pattern correcting method, when correction paste 7 is applied to an open defect portion 2a of an electrode 2 using a film 3 with a hole 3a as a mask, the thickness Ft of the film 3 and the short-axis length Sw of the hole 3a are so related that Ft>Sw.例文帳に追加

このパターン修正方法では、孔３ａの開いたフィルム３をマスクとして電極２のオープン欠陥部２ａに修正ペースト７を塗布する場合に、フィルム３の厚さＦｔと孔３ａの短軸長Ｓｗとの関係をＦｔ＞Ｓｗにする。 - 特許庁

In the manufacturing method, manufacturing processes can be decreased, by detecting whether the circuit pattern is proper, and an open-circuit or short-circuit defect in an optical inspecting process and the yield of following processes can be improved.例文帳に追加

また、本発明の検査方法は、測定された幅が画素の大きさより大きな不良が検出されないと、回路パターン又は空間成分の明るさレベルを垂直方向により細かく分析して、オープン、ショート又は残留銅箔に応じる不良を検出する。 - 特許庁

To provide a scanning optical device in which a defect such as a noise is not caused and effective cleaning is performed when the surface of a light transmissive member furnished on an open part through which a light beam passes is cleaned with an elastic cleaning member, and a high quality image can be obtained.例文帳に追加

光ビームが通過する開口部に設けられた光透過性部材表面を弾性清掃部材で清掃するに際し、騒音などの不具合を発生させることなく、効果的な清掃を実施することができ、高品質の画像を得ることが可能な走査光学装置を提供する。 - 特許庁

To provide a mask for laser thermal transfer capable of improving adhesive force between a receptor substrate and a transfer layer in a part of a pixel part of the receptor substrate and of improving an edge open defect of an organic film; and to provide a method of manufacturing an organic electroluminescent device using it.例文帳に追加

レセプター基板の画素部の一部分でレセプター基板と転写層との間の接着力を向上させることができ、有機膜のエッジオープン不良を改善することができるレーザー熱転写用マスク及びこれを用いた有機電界発光素子の製造方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a highly accurate drift correction method with which a photomask is scarcely damaged, by solving problems associated with the conventional photomask correction method using a one-point-drift correction such as occurrence of a scan damage on a place other than a place with a defect on the photomask, inability to open any pin hole in the case of a fine pattern, and so on.例文帳に追加

ワンポイントドリフト補正を用いた従来のフォトマスク修正方法の抱えるフォトマスク上の欠陥以外の箇所にスキャンダメージが生じる、微細パターンの場合にピンホールを開けることができないといった問題を解決し、ダメージの少ない、精度のよいドリフト補正方法を提供する。 - 特許庁

To enable lightweight smooth open-close door operation at a low cost by the disposal of a small slider section in consideration of the defect of a conventional example which has used a large-sized expensive sliding rail in a device in which a sliding door is installed to a storage box so that the opening section of the storage box is fully opened freely.例文帳に追加

収納ボックスに、その開口部が全開自在となるようスライド扉を取り付ける装置にあって、大型で高価なスライドレールを用いている従来例の欠陥に鑑み、小さなスライダ部の配設で軽量かつ安価で円滑な開閉扉操作を可能とする。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing an anti-reflective film, in which the occurrence of repellent defect and color irregularity is suppressed even if using a hydrophilic solvent as a solvent for coating liquid, when manufacturing the anti-reflective film in a coating method of an open system in which the moisture is easily mixed into the coating liquid.例文帳に追加

塗液の水分混入が発生しやすい開放系の塗工方式において反射防止フィルムを製造する際、溶剤に親水性溶剤を用いても、ハジキ欠陥、色ムラの発生を抑えた反射防止フィルムを製造することができる方法を提供すること。 - 特許庁

However, in the case that the open failure of the purge control valve is detected, to surely avoid occurrence of speed reduction type defect owing to decrease of negative torque or generation of positive torque caused by combustion of purge gas, increase of opening of the throttle valve 18 during the speed reduction fuel cut-off operation is inhibited.例文帳に追加

ただし、パージ制御弁の開故障が検出されている場合には、パージガスの燃焼による負トルクの低下ないしは正トルクの発生によって減速性不良が生じるのを確実に回避するため、減速フューエルカット中にスロットル弁１８の開度を増大することを禁止する。 - 特許庁