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previous testの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 42件
A redundancy relieving previous test having plural test items is performed, a test result of the redundancy relieving previous test is analyzed, and a test item of a redundancy relieving post test being performed successively is selected based on the analyzed result.例文帳に追加
複数の試験項目による冗長救済前試験を行い、冗長救済前試験の試験結果を解析し、その解析結果に基づいて、続いて行われる冗長救済後試験の試験項目を選択する。 - 特許庁
To provide a test method for semiconductor device by which a test time of a redundancy relieving post test can be shortened based on a result of a redundancy relieving previous test.例文帳に追加
冗長救済前試験の結果に基づいて、冗長救済後試験の試験時間の短縮を図り得る半導体装置の試験方法を提供する。 - 特許庁
For the test item related to a software module not corrected/changed from the previous time, the determination rule is set so as to present OK as the final test result when the result is matched to the test execution result of the previous test.例文帳に追加
前回から修正/変更されていないソフトウエアモジュールに関わるテスト項目については、前回テストのテスト実施結果と一致した場合には、最終的なテスト結果としてOKが提示されるよう、判定ルールは設定する、 - 特許庁
In the autoclave 1, an endoscope 10 is subjected to a previous hermetical sealing test.例文帳に追加
本発明のオートクレーブ装置1は、事前に内視鏡10の気密性テストを行う。 - 特許庁
This method comprises forming only the change portion from the previous pattern vector into a file, paying attention to a test pattern used for a semiconductor test every pattern vector, to compress the test pattern file.例文帳に追加
半導体の試験に使用するテストパターンファイルをパターンベクタ毎に着目し、前のパターンベクタからの変更分のみをファイル化してテストパターンファイルの圧縮を行う。 - 特許庁
In this section, we use the GlassFish Tester application as a test client for the RESTful web services we created in the previous section.例文帳に追加
この節では、前の節で作成した RESTful Web サービスのテストクライアントとして GlassFish Tester アプリケーションを使用します。 - NetBeans
A floppy disk in which the progression state/test record data up to the previous time is stored is set in a floppy disk drive 34.例文帳に追加
フロッピーディスクドライブ34に、前回までの進捗状況/テスト成績データが格納されたフロッピーディスクをセットする。 - 特許庁
Based on this test, we found that the "entry rates (for the previous period and earlier)" have an effect on the "(current) exit rate."例文帳に追加
これによると、「(前期以前の)開業率」が「(当期の)廃業率」に影響を与えているという結果が得られた。 - 経済産業省
By the semiconductor test device 100, a status memory 111 is referred to, and a fail memory storing no fail information on the previous test, is selected, and the fail information on the previous and present tests are ORed and stored to the same address as that of DUT.例文帳に追加
半導体試験装置100は、状態メモリ111を参照して前回の試験におけるフェイル情報を記憶していないフェイルメモリを選択し、前回および現在の試験におけるフェイル情報のORをとってDUTと同一のアドレスに記憶させる。 - 特許庁
This device is provided with a compression means for forming only the change portion from the previous pattern, while paying attention to a test pattern file used for a semiconductor test every pattern vector, to compress the test pattern file, and a memory means for storing the test pattern file compressed by the compression means.例文帳に追加
また、半導体の試験に使用するテストパターンファイルをパターンベクタ毎に着目し、前のパターンベクタからの変更分のみをファイル化して上記テストパターンファイルの圧縮を行う圧縮手段と、該圧縮手段で圧縮されたテストパターンファイルを記憶する記憶手段とを備える。 - 特許庁
In this test (a), not only a mounted parts test for discriminating the mounted condition of chip parts mounted in the previous process but also a parts jump test for discriminating whether or not the chip parts have jumped to a place where variant parts are mounted in the next process C are executed.例文帳に追加
この検査aでは、前工程で実装されたチップ部品の実装状態などを判別する実装部品検査のほか、つぎの工程Cで異形部品が実装される場所にチップ部品が飛んでいないかどうかを判別する部品飛び検査を実行する。 - 特許庁
To provide an electron beam test system capable of judging High/Low with respect to a DC signal and a signal having no change in potential from the previous time of timing to be observed.例文帳に追加
DC信号や観測したいタイミングの前から電位変化が無い信号に対してもHigh/Lowを判定できる電子ビームテストシステムを提供する。 - 特許庁
(i) A person who has passed the academic test in the previous license examination for cargo lifting appliance operator conducted by the Director of the Prefectural Labour Bureau 例文帳に追加
一 当該免許試験を行う都道府県労働局長が行つた前回の揚貨装置運転士免許試験の学科試験に合格した者 - 日本法令外国語訳データベースシステム
Also, when coincidence is detected by the logical comparator 4 in a test of the present time, an uncoincidence detected signal detected in a test of the present time is added to a signal stored in the defect analyzing memory 7 in a test of the previous time, these signals are stored in a multi- bit memory.例文帳に追加
また今回のテストで論理比較器4で一致が検出されると前回のテストで不良解析メモリ7に記憶させた信号に今回のテストで検出された一致検出信号を加えて、これらの信号を多ビットメモリに記憶させる制御回路6を設ける。 - 特許庁
Based on the states not encountered, a targeted test suite is developed to target at least some of the states not encountered during previous simulation.例文帳に追加
遭遇されない状態に基づいて、先行シミュレーション中に遭遇されなかった状態の少なくとも一部を標的化するための標的化検査スイートが策定される。 - 特許庁
In the operation aptitude test method, a combination of the stimulus and a selection button in response to it offsets the effect of learning of the previous operation aptitude test and shortens a period till a next operation aptitude test by using operation patterns 202, 203, 204, 205, and 206 different from a basic operation pattern 201.例文帳に追加
運転適性検査方法において、刺激とそれに対する選択ボタンとの組み合わせが基本操作パターン201とは異なる操作パターン202,203,204,205,206を用いることにより、前回の運転適性検査時の学習効果を相殺し、次回の運転適性検査までの期間を短縮して実施できるようにした。 - 特許庁
Questions asked by a learner and answers to them are registered in a question and answer database 26, referring to which test problems related to the questions and answers at the previous learning time and unique to the learner are generated and registered in a test database 27.例文帳に追加
学習者から出された質問と、それに対する答を質疑応答データベース26に登録し、それを参照して前回学習時における質問内容と答を基にした学習者固有の質疑テスト問題を作成してテストデータベース27に登録する。 - 特許庁
In the semiconductor memory device and its repair analyzing method, address data generated by the present test is stored in other one temporary buffer by storing selectively address data by a test using two temporary buffer 4 while one temporary buffer transmits address data generated by the previous test to a data buffer 5 and performs repair analysis, and a test and repair analysis can be performed simultaneously.例文帳に追加
半導体メモリ装置及びそのリペア解析方法では、テストにより発生したアドレスデータを二つの臨時バッファ4を用いて選択的に貯蔵することにより、一つの臨時バッファが以前のテストにより発生したアドレスデータをデータバッファ5に伝送しリペア解析(repair analysis)を行う間、他の一つの臨時バッファには現在のテストにより発生したアドレスデータを貯蔵し、テストとリペア解析を同時に行うことができる。 - 特許庁
Thus, as the test machine is informed of the start of the next variation display 1 ms after the start, which is equivalent of the time required for the determination of an input signal to the test machine, it never mistakenly takes an error caused in the previous variable display for the one caused in the following variable display.例文帳に追加
このように次の変動表示の開始を、試験機の入力信号の確定時間に相当する1ms経過後に試験機へ報せるので、前回の変動表示で発生したエラーを、次回の変動表示のエラーとして、試験機に誤って認識させてしまうことはない。 - 特許庁
The defect analyzing memory 7 is composed of a multi-bit memory having plural data input/output terminals, and the device is provided with a control circuit 6 in which when uncoincidence is detected by the logical comparator 4, and uncoincidence detected signal detected by a test of the present time is added to a signal stored in the defect analyzing memory 7 in a test of the previous time.例文帳に追加
不良解析メモリ7を複数のデータ入出力端子を持つ多ビットメモリで構成し、論理比較器4で不一致が検出されると前回のテストで不良解析メモリ7に記憶させた信号に今回のテストで検出された不一致検出信号を加える。 - 特許庁
In the information processor for performing the memory test for the RAM module to be installed at the time of activation, it is decided whether or not a change has occurred to the RAM module at the time of initialization compared with the time of previous activation, and performance of the memory test of the RAM module is controlled on the basis of the decision result.例文帳に追加
起動時に、装着されるRAMモジュールのメモリテストを実施する情報処理装置において、起動時にRAMモジュールに前回起動時と比べて変化があるか否かが判断され、当該判断結果に基づいてRAMモジュールのメモリテストの実行が制御される。 - 特許庁
Furthermore, the controllable test point 120 includes a delay element 123 for delaying, by the duration of propagation from the input terminal 101 to a node of the controllable test point 120 in the previous logical path, a timing at which to propagate a delay-failure-related signal from a failure generating section 121.例文帳に追加
また、可制御性テストポイント120は、故障生成部121から遅延故障に関する信号を伝搬するタイミングを、入力端子101から可制御性テストポイント120の接続地点までの前段の論理パスの伝搬時間分遅延させる遅延素子123を備えている。 - 特許庁
You will now create the JUnit test methods for Utils.java.When you created the test class in the previous exercise, the IDE prompted you for the version of JUnit.You are not prompted to select a version this time because you already selected the JUnit version and all subsequent JUnit tests are created in that version.例文帳に追加
ここで、Utils.java の JUnit テストメソッドを作成します。 前の課題でテストクラスを作成したとき、JUnit のバージョンを確認するメッセージが表示されましたが、すでに JUnit バージョンを選択したため、以降に作成されたすべての JUnit テストはそのバージョンなので、ここではバージョンの選択を求められません。 - NetBeans
The spray type bark-controlling collar continuously supplies a larger dose of the spray type control agent to further control the bark of the dog, when the dog does not respond to a previous control test.例文帳に追加
さらに噴霧式ほえ抑制首輪は、先の抑止の試みに対して犬が応答しない場合には、より多い投与量の噴霧式抑止剤を犬に次々に供給して、犬のさらなるほえを抑止する。 - 特許庁
To provide an image forming method in which toner concentration is made stable by controlling toner replenishment according to previous detection data without optically detecting a test pattern only at the time of restarting the operation of equipment after stopping or controlling it according to data on image amount in addition to the previous detection data.例文帳に追加
本発明は、休止後の機器動作再開時のみテストパターンを光学的に検知をせず、先回の検知データにより、トナー補給制御を行うかまたは先回の検知データに加え画像量のデータによりトナー補給制御を行うことで、トナー濃度の安定を図る画像形成方法を提供することを目的とする。 - 特許庁
It can be therefore determined that which part of the bank of the eFuse is already programmed by the previous test stage, and that where operation for programming next data set to the bank of the eFuse is to be started.例文帳に追加
従って、eFuse のバンクのどの部分が前のテスト・ステージによって既にプログラムされていたか、および次のデータ・セットをeFuse のバンクにプログラムする動作をどこで開始すべきかを容易に決定することが可能である。 - 特許庁
The process is made so that the information of a defective memory cell under previous testing condition is transcribed or transferred to the buffer memory from the fail memory while being in parallel with a write-in to a memory to be tested of a back pattern under the next test condition.例文帳に追加
先の試験条件における不良メモリセル情報を次の試験条件における背面パターンの被試験メモリへの書き込みと並行してフェイルメモリからバッファメモリに転写あるいは転送する。 - 特許庁
According to the ink-jet recording apparatus, a pickup element 60 picks up the result of recording experimentally carried out by a recording head 10 prior to actual recording, and an error-calculating part 91 compares a relative position of a previous test recording position and the present test recording position, thereby calculating a paper feed error from the obtained result.例文帳に追加
インクジェット記録装置において、記録ヘッド10が実際の記録に先立って試験的に行なった記録結果を撮像素子60が撮像し、誤差算出部91は、この撮像結果から前回の試験記録位置と今回の試験記録位置との相対位置を比較することにより紙送り誤差を算出する。 - 特許庁
To decide optimum recording power which forms a good mark and a good space in test recording under the limited condition for an optical information recording medium in which manufacturer recommended recording power and also recording power of the previous time are recorded.例文帳に追加
メーカー推奨記録パワーが記録され、かつ、前回の記録パワーが記録されている光情報記録媒体に対して、限られた条件でのテスト記録で、良好なマーク及びスペースを形成する最適記録パワーを決定する。 - 特許庁
The test-recording process S3: the recording layer is heated up by irradiating the magnetic disk with the laser beam by the magnetic head in the position of the optical head when the magnetic signal is attenuated in the previous stage while the magnetic field is applied to the recording layer by the magnetic head.例文帳に追加
試験記録工程S3:磁気ヘッドにより記録層に磁界を印加しつつ、前工程で磁気信号が減衰したときの光学ヘッドの位置にて、光学ヘッドにより磁気ディスクにレーザ光照射して記録層を昇温する。 - 特許庁
The difference integrating means 15, after fetching the results from the integrated result storage means 16, fetches the developer's results from the developer result storage means 11, overwrites the previous results with the new results, and constructs a compiling environment and a single test environment for each developer.例文帳に追加
差分組込手段15は、統合済成果物格納手段16から成果物を取り出した後、開発者別成果物格納手段11から開発者の成果物を取り出して上書きし、開発者別のコンパイル環境や単体テスト環境を構築する。 - 特許庁
In LT previous-state return mode, a signal LTB goes up to 'H' level and the N channel MOS transistor 47 turns on; and then the same state as a state wherein none of the fuses 48 to 51 is cut is entered and the internal source potential intVCC returns to the level at wafer test time.例文帳に追加
LT前状態復帰モード時は、信号LTBが「H」レベルになってNチャネルMOSトランジスタ47が導通し、ヒューズ48〜51が全く切断されていない状態と同じ状態になって内部電源電位intVCCがウェハテスト時のレベルに戻る。 - 特許庁
In such a case that a predetermined time is passed after a test printing of the previous time when a next manual cleaning indication is received, a cleaning controlling part 306 judges that the received manual cleaning indication is an indication caused by the erroneous operation, and carries out a flushing operation smaller in the amount of ink consumption than the ink suction.例文帳に追加
クリーニング制御部306は次のマニュアルクリーニング指示を受信したときに前回のテスト印刷から所定時間が経過している場合には、受信したマニュアルクリーニング指示は誤操作による指示であると判断し、インク吸引よりもインク消費量の少ないフラッシング動作を行う。 - 特許庁
The operation means 3 have a feeding selection part for successively selecting the previous or following independent window in the arrangement order of the independent windows by the operation of selecting each window position of the independent windows of the zone window part for interlocking operation function set such as fire test every sensor circuit line, rumbling and the like.例文帳に追加
操作手段3は、前記感知器回線毎の火災試験、音響鳴動など連動動作機能設定等の前記地区窓部の、個別窓の各窓位置を選択する操作にて、個別窓の配置順に逐次前、または後を選択する送り選択部を有する。 - 特許庁
In the simulation for inputting circuit information 101 and a test pattern 102, when only the block designated by block designation information 105 is changed, by using information 103 and 104 of signals prepared in previous simulations, a simulation time is reduced.例文帳に追加
回路情報101とテストパターン102を入力とするシミュレーションにおいて、ブロック指定情報105により指定されるブロックにのみ変更を加えた場合に、以前のシミュレーションで作成した信号の情報103、104を用いることことにより、シミュレーション時間を削減する。 - 特許庁
(4) Of the check-items of the medical examination set forth in paragraph (1) (limited to the periodical ones), the check-item (limited to hearing test) listed in item (iii) of paragraph (1) of Article 44 may be substituted by a hearing test deemed appropriate by the physician (excluding the hearing pertaining to the sound levels of 1,000 Hz or 4,000 Hz) for a person who has already received the said hearing test of the previous medical examination or a person who is under 45 years old (excluding those who are 35 and 40), notwithstanding the provisions of paragraph (1). 例文帳に追加
4 第一項の健康診断(定期のものに限る。)の項目のうち第四十四条第一項第三号に掲げる項目(聴力の検査に限る。)は、前回の健康診断において当該項目について健康診断を受けた者又は四十五歳未満の者(三十五歳及び四十歳の者を除く。)については、第一項の規定にかかわらず、医師が適当と認める聴力(千ヘルツ又は四千ヘルツの音に係る聴力を除く。)の検査をもつて代えることができる。 - 日本法令外国語訳データベースシステム
(3) If the article passes the examination given by the local transport station manager established by the provision in paragraph (1) of Article 113 in THE REGULATIONS FOR THE CARRIAGE AND STORAGE OF DANGEROUS GOODS BY SHIPS. (ministry of transportation ordinance No. 30 of 1957) or the examination given by the registration and test institute established by the provision in the same paragraph, it shall be deemed to pass the examination prescribed in item (i)(b) in the previous paragraph. 例文帳に追加
3 危険物船舶運送及び貯蔵規則(昭和三十二年運輸省令第三十号)第百十三条第一項の規定による地方運輸局長又は同項に規定する登録検査機関の検査に合格した場合は、前項第一号ロの検査に合格したものとみなす。 - 日本法令外国語訳データベースシステム
To prepare a torque compensation signal without implementing a previous test, which is required for preparation of a correction signal generation table prior to the operation because the torque compensation signal cancelling torque ripple generated at motor output torque is prepared using a correction signal generation table.例文帳に追加
電動機の出力トルクに発生するトルクリップルを打ち消すトルク補償信号を補正信号発生テーブルを用いて作成しているため、運転を行う前に補正信号発生テーブルを作成するための事前の試験を必要としていたものを、事前の試験を行わずにトルク補償信号を作成することを実現する。 - 特許庁
The psychological test device analyzes input image data, calculates a predetermined characteristic variable, stores a plurality of comment configuration sentences configuring a comment sentence for the subject, inputs whether an image drawn in the previous test is pertinent to each of the plurality of comment configuration sentences, and prepares a discriminant with the calculated characteristic variable as a description variable and an input pertinent degree as a target variable for each of the plurality of comment configuration sentences.例文帳に追加
心理検査装置は、入力される画像データを解析し、所定の特性変量を算出し、被検者に対するコメント文を構成するコメント構成文を複数格納し、今回以前の検査で描かれた画像が複数のコメント構成文の各々に該当するか否かを入力し、複数のコメント構成文の各々について、算出される特性変量を説明変量とし、入力される該当度を目的変量として、判別式を作成する。 - 特許庁
One cycle of a frequency component of a torque compensation signal to be canceled is divided into areas for constant n, a torque compensation signal corresponding to each of the areas is used as an output of a band pass filter, and the torque compensation signal corresponding to each area is updated as needed while a motor is being operated, thus the need for a previous test for preparing a correction signal generation table is eliminated.例文帳に追加
トルク補償信号を打ち消したい周波数成分の1周期を定数n個分のエリアに分けて各エリアに応じたトルク補償信号をバンドパスフィルタの出力とし、各エリアに応じたトルク補償信号を電動機を運転しながら随時更新させることで補正信号発生テーブルを作成するための事前の試験が必要なくなる。 - 特許庁
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| ※この記事は「日本法令外国語訳データベースシステム」の2010年9月現在の情報を転載しております。 |
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