「sample current」に関連した英語例文の一覧と使い方(7ページ目) - Weblio英語例文検索

An electric current Ia of a primary electron beam 4 limited by a current limiting choke 17 and a electric current Ip of the primary electron beam 4 irradiated to a sample 12 are detected, and firstly an electron gun power supply 6 is controlled so that Ia+Ip is constant, and secondly the focusing lens controlling power supply 7 is controlled so that Ip/(Ia+Ip) is constant.例文帳に追加

電流制限絞り１７により制限される一次電子線４の電流Ｉａと試料１２に照射される一次電子線４の電流Ｉｐを検出し、先ず、Ｉａ＋Ｉｐが一定になるように電子銃電源６を制御し、次に、Ｉｐ／（Ｉａ＋Ｉｐ）が一定になるように集束レンズ制御電源７を制御する。 - 特許庁

Current Ia of a primary electron beam 4 limited by a current- limiting diaphragm 17 and current Ip of the primary electron beam 4 irradiated on a sample 12 are detected, and first, an electron gun power source 6 is controlled so as to set Ia+Ip constant, and then, a focusing lens controlling power source 7 is controlled so as to set Ip/(Ia+Ip) constant.例文帳に追加

電流制限絞り１７により制限される一次電子線４の電流Ｉａと試料１２に照射される一次電子線４の電流Ｉｐを検出し、先ず、Ｉａ＋Ｉｐが一定になるように電子銃電源６を制御し、次に、Ｉｐ／（Ｉａ＋Ｉｐ）が一定になるように集束レンズ制御電源７を制御する。 - 特許庁

To improve the efficiency of fault analysis, by acquiring absorbed electron current images when a sample temperature is changed, using an absorbed current detected by using a plurality of probes and identifying a faulty point from the difference of the images.例文帳に追加

本発明の目的は、複数本の探針を用いて検出された吸収電流を使用して、試料温度の変化した場合の吸収電流像を取得し、その画像の差分から不良箇所を同定することにより不良解析の効率を向上させることを目的とする。 - 特許庁

The output signal of a quardripartite photodetector 41 provided in an optical pickup part is amplified while current/voltage conversion is carried out by an amplification part 48, and then sent to a sample hold circuit 49.例文帳に追加

光ピックアップ部に設けられた４分割光検出器４１の出力信号は、増幅部４８で電流／電圧変換されると共に増幅された後に、サンプルホールド回路４９に送られる。 - 特許庁

A device for detecting an analyte in a sample is equipped with an active layer comprising at least a dielectric material, a source electrode, a drain electrode and a semiconducting substrate operated as a current pathway between source and drain.例文帳に追加

少なくとも誘電体材料を備えた活性層と、ソース電極と、ドレイン電極と、ソースとドレインの間で電流の通過路として動作する半導体基板とを備えた装置を提供する。 - 特許庁

The sample is introduced to the well 2, potential of the electrode 3 is controlled so that the potential of the electrode 3 becomes oxidation-reduction potential to be measured, and a value of current which flows to the electrode 3 is measured.例文帳に追加

このウェル２に試料を導入し、電極３の電位が測定対象の酸化還元電位となるように電極３の電位を制御し、電極３に流れる電流値を測定する。 - 特許庁

A solution acquired after incubating and aggregating the protein in the solution as long as a prescribed time is used as the sample, and the degree of protein aggregation is examined from a change of the current value following progress of incubation.例文帳に追加

試料としてタンパク質を溶液中で所定時間インキュベーションして凝集させた後の溶液を用い、インキュベーションの経過に伴う電流値の変化から、タンパク質の凝集の度合いを調べる。 - 特許庁

Thus, an operation of moving a needle to a selected vial container to suck a sample or the like is performed in the automatic sampler, and dark-current measurement of a photodiode array PDA detector is performed during a period in the spectrophotometer.例文帳に追加

これにより、オートサンプラでは選択されたバイアル瓶へのニードルの移動・試料吸引などが実行され、その期間中に分光光度計ではＰＤＡ検出器の暗電流測定が実行される。 - 特許庁

An exciting current map adjusted to a shape of sample is prepared from a plurality of focus position images by image processing and an observation picture is photographed by varying a focus position while referring to a focus position map.例文帳に追加

試料の形状に合わせた励磁電流マップを、複数の焦点位置画像から画像処理により作成し、焦点位置マップを参照しながら焦点位置を変化させて観察画像を撮影する。 - 特許庁

To provide, for use in an electrically detected electron spin resonance process, a sample holder structure that enables current noise attributable to contact resistance or the like to be reduced and a manufacturing method for the same.例文帳に追加

本発明は、電気検出電子スピン共鳴法において、接触抵抗等に由来する電流ノイズを低減可能とする試料ホルダの構造、及びその製造方法を提供するものである。 - 特許庁

To provide an electron beam device capable of evaluating a sample with high throughput by a large beam current at an operating point of a large opening angle by using an object lens having a small aberration.例文帳に追加

、収差の小さい対物レンズを用いて、大きい開口角の動作点で大きなビーム電流により高スループットで試料の評価を行うことが可能な電子線装置を提供すること。 - 特許庁

A first and second MOS transistor circuits 1A, 1B are connected in parallel and have a reference DC voltage source Vref, a reference DC current source Iref and voltage sample holding capacitors C.例文帳に追加

第１ＭＯＳトランジスタ回路１Ａおよび第２ＭＯＳトランジスタ回路１Ｂを並列に接続し、参照直流電圧源Ｖref 、参照直流電流源Ｉref および電圧標本保持用キャパシタＣを備える。 - 特許庁

Then, in a state of irradiating the irradiation light with λ1, the sample 100 is irradiated while sweeping the irradiated light of a light source 2 by a spectroscope 4 to obtain a wavelength λ2 giving a peak current value.例文帳に追加

次に、このλ１の照射光を照射した状態で、光源２の照射光を分光器４で掃引しながらサンプル１００に照射し、電流値がピークとなる波長λ２を求める。 - 特許庁

When electrically conducting a stage 12 and etching a fixed sample 2 by the focused ion beam, etching current is measured by a microammeter 13 arranged between ground and the stage 12.例文帳に追加

ステージ１２に電気的に導通させて固定した試料２を集束イオンビームによりエッチングする際に、グランドとステージ１２の間に設置した微小電流計１３によりエッチング電流を測定する。 - 特許庁

By adjusting an exciting current of the CM 2, an incident angle α at which the hollow conical electron beam is incident on a sample 3 can be set to a desired angle.例文帳に追加

このＣＭ２は、励磁電流を調整することによって空洞円錐状の電子ビームが試料３に入射するときの入射角αを所望の角度に設定することができるようになされている。 - 特許庁

High vacuum inside the microscope body part 2 is influenced on the inside of a Faraday cup 35 by opening a valve 37 of an exhaust passage 36, and an accurate probe current is measured inside the sample chamber 1 held in low vacuum.例文帳に追加

排気路３６のバルブ３７を開いて、鏡体部２内の高真空をファラデーカップ３５内に作用させ、低い真空に保たれた試料室１内で正確なプローブ電流を測定する。 - 特許庁

To provide an A/D converter by which current consumption is reduced in sample-and-hold processing performed by one of two A/D conversion parts while performing A/D conversion processing by the other.例文帳に追加

２つのＡ／Ｄ変換部の一方でＡ／Ｄ変換処理を実行中に、他方で実行されるサンプルホールド処理において、消費電流を低減することが可能なＡ／Ｄ変換装置を提供する。 - 特許庁

To perform accurate measurement of specific heat capacity by considering, in measurement of specific heat capacity of a conductive material using pulse current-carrying heating method, the temperature distribution and heat conduction loss of a sample.例文帳に追加

パルス通電加熱法を利用した導電性物質の比熱容量の測定に際して、試料の温度分布と熱伝導損失を考慮することにより正確な比熱容量の測定を可能にする。 - 特許庁

To secure an enough deflection region W and improve the resolution of an SEM, as to a low-vacuum SEM carrying out differential exhaustion for keeping a pressure ratio of an electro-optic system 16 and a sample room 17 at a given value, fulfilling a probe current of the given value or more, and observing raw food or a sample with moisture in a low vacuum.例文帳に追加

電子光学系１６と試料室１７の圧力比を所定値に保つ差動排気を行い、所定値以上のプローブ電流を満たし、低真空中で生ものや湿気を帯びた試料を観察する低真空ＳＥＭにおいて、十分な偏向領域Ｗを確保するとともに、ＳＥＭの分解能を向上する。 - 特許庁

To provide a nucleic acid analyzer which, when required to continuously analyze a plurality of samples of different preprocessing times and fluorescence measuring times, can minimize the deterioration in the samples, while improving the throughput of the analyzer by starting preprocessing of the next sample during the analysis of the current sample.例文帳に追加

本発明の目的は、前処理時間および蛍光測定時間の異なる複数の試料が連続的に分析依頼される場合に、分析中に次の試料の前処理を開始することで装置のスループットの向上を図り且つ、試料の劣化を最小限に抑えることができる核酸分析装置を提供することに関する。 - 特許庁

The sample containing the glucose and ascorbic acid is brought into contact with a glucose oxidase, an electrode current generated therein is measured, and a luminous intensity is measured by a luminous intensity measuring system using luminol, and the glucose concentration and/or the ascorbic acid concentration in the sample are (is) found based on a measured value(s).例文帳に追加

グルコース及びアスコルビン酸を含有する試料をグルコース酸化酵素に接触させ、発生する電極電流を測定するとともに、ルミノールを使用する発光強度測定系により、発光強度を測定し、これら測定値から試料中のグルコース濃度及び／又はアスコルビン酸濃度を求める。 - 特許庁

The interleaved power converter comprises: two or more sub-circuits connected in parallel; driving means for driving a switching device of each of the sub-circuits to repeatedly switch on at a time t1 and off at a time t2; current sensing means for repeatedly determining an input current value by sensing the input current of the converter at a sample point; and control means.例文帳に追加

インターリーブパワーコンバータは、並列に接続された２つ以上のサブ回路と、各サブ回路のスイッチングデバイスを時間ｔ１のときはスイッチオンし、時間ｔ２のときはスイッチオフするように繰り返し駆動する駆動手段と、コンバータの入力電流を、サンプル点で検出することによって、入力電流値を繰り返し測定する電流検出手段と、コントロール手段とを備える。 - 特許庁

An OBIRCH analysis is performed by scan-irradiating a laser light from a laser oscillator 6 via an optical system 7 to a sample SP placed on a stage 8 and by two-dimensional imaging of a power source current change on a control part 9.例文帳に追加

レーザ発振器６から光学系７を介してステージ８上に載置したサンプルＳＰにレーザ光を走査・照射して電源電流変化を制御部９上で２次元画像化し、ＯＢＩＲＣＨ解析を行う。 - 特許庁

The loss of the eddy current of the sample during a single pulse voltage generation period is measured on the basis of the difference between the excitation energy of the coil before the generation of the single pulse and the energy regenerated through the coil during a pulse generation period.例文帳に追加

単発パルス電圧発生期間における試料の渦電流損失を、パルス発生前のコイルの励磁エネルギーとパルス発生期間にコイルを通して回生されるエネルギーとの差によって計測する。 - 特許庁

To provide a self-sensing type SPM probe represented as a self-sensing SPM probe which is constituted of a cantilever having a piezo resistor and which does not generate a leakage current in the case of measuring a surface potential of a sample.例文帳に追加

ピエゾ抵抗体を設けたカンチレバーから構成され且つ試料の表面電位を測定する際に、リーク電流の生じない自己検知型ＳＰＭプローブに代表される自己検知型ＳＰＭプローブを提供する。 - 特許庁

An AC power source 25 capable of applying alternating voltage or a DC power source 26 capable of applying direct current voltage is disposed between the electrode 12 and a chamber main body 11M as a power source for cleaning the sample.例文帳に追加

試料クリーニング用電源として、電極１２とチャンバー本体１１Ｍの間に交流電圧が印加可能な交流電源２５、若しくは直流電圧が印加可能な直流電源２６が設けられる。 - 特許庁

The amount of oxygen generated can be calculated, on the basis of the quantity of the current flowing across the electrodes 14a, 14c, and the amount of oxygen consumed by aerobic microorganisms in the sample A within the culture cell 1 can be measured.例文帳に追加

電極１４ａ、１４ｃ間に流れる電気量により酸素の発生量を計算することができ、培養セル１中で試料Ａ中の好気的微生物が消費した酸素量を測定することができる。 - 特許庁

A coincidence-determining means 13 determines the coincidence between the selected time occurrence ratio of each waveform pattern and the sample data of zero-phase current prepared, beforehand, in correspondence with individual different electrical events with respect to each fault cause.例文帳に追加

一致度判定手段１３は、各波形パターンの選定時間出現比率と、事故原因毎に異なる個々の電気的事象と対応付けて予め用意された零相電流のサンプルデータとの一致度を判定する。 - 特許庁

A sample solution is supplied to this test piece of the present invention, a fixed voltage is impressed thereafter between the measuring electrode and the counter electrode after lapse of a prescribed time, and an alcohol concentration is found, based on an oxydation current value flowing between the both electrodes therein.例文帳に追加

この試験片へ、試料液を供給した後、一定時間経過した後に、測定極と対極間に定電圧を印加し、そのときに両電極間に流れる酸化電流値よりアルコール濃度を求める。 - 特許庁

Applying voltage to the electrodes 118 causes a current and an electric field to concentrate in the atomization part 103, thereby generating bubbles and plasma 110 in the bubbles and causing the plasma 110 to atomize elements in the sample.例文帳に追加

電極１１８に電圧が印加されると、原子化部１０３で電流と電界が集中し、気泡が発生しこの気泡中にプラズマ１１０が生じ、プラズマ１１０により試料中の元素が原子化される。 - 特許庁

By supplying a current to the anode and the cathode, the target protein in the sample solution, having an isoelectric point between the pH of one gel filled column and the pH of the other gel-filled column.例文帳に追加

そのアノードとカソードとに通電することにより、一方のゲル充填カラムのｐＨと他方のゲル充填カラムのｐＨとの間に等電点を有する試料溶液中の目標タンパク質をサンプルチャンバ内に集束させる。 - 特許庁

Frequency of the AC voltage/current source 30 is set to satisfy the LC resonance conditions of the inductance 20(L) and the capacitance C of an insulation film 11 provided on the surface of the semiconductor sample 10.例文帳に追加

交流電圧電流源３０の周波数は、インダクタンス２０（Ｌ）と半導体試料１０の表面に設けられる絶縁膜１１のキャパシタンスＣとのＬＣ共振条件を満足させるように設定される。 - 特許庁

An operator moves a Z direction driving mechanism 5 in such a manner that a probe 8 is made far from a sample 11 and controls a heating power source 27 so as to make the electric current of about several A to flow through an evaporation source fitting part 19.例文帳に追加

オペレータは、探針８が試料１１から遠ざかるようにＺ方向駆動機構５を移動させ、蒸着源取付部１９に数Ａ程度の電流が流れるように加熱電源２７を制御する。 - 特許庁

When the upper bound is less than the maximum likelihood, the current likelihoods are determined for the next mixture model until the last mixture model is reached, and the data sample is classified as being the class associated with the maximum likelihood.例文帳に追加

上限が最大尤度より小さい場合、最後の混合モデルに達するまで次の混合モデルについて現在の尤度が求められ、データサンプルは、最大尤度に関連するクラスにあるものとして分類される。 - 特許庁

The measured total of the current amounts is compared with a normal value in total of current amounts measured using a nondefective sample with a normal operation confirmed preliminarily in place of the semiconductor integrated circuit 1, and the propriety of the normality of the semiconductor integrated circuit 1 is determined based on a result therein.例文帳に追加

この測定された電流量の総和を、正常に動作することが予め確認されている良品サンプルを半導体集積回路１の代わりにして測定された電流量の総和の正常値と比較し、この結果に基づき、半導体集積回路１が正常であるか否かを判定する。 - 特許庁

A catalyst metal 10 of the amount corresponding to the amount of the test material 4 in sample solution is deposited on the surface of a working electrode 2, and then a reduction current caused by a catalyst activity of the catalyst metal 10 is measured, and existence or the concentration of the test material 4 is examined based on the measured reduction current value.例文帳に追加

試料溶液中の被検物質４の量に応じた量の触媒金属１０を作用電極２の表面に析出させた後、触媒金属１０の触媒作用による還元電流を測定し、測定された還元電流値に基づいて被検物質４の有無又は濃度を調べる。 - 特許庁

The beam current measurement means such as a segmented electrode 10 or the Faraday cup 20 etc. measuring a beam current of an ion beam L emitted from an accelerator Y1 is provided in a measurement chamber 73a of a sample analyzer.例文帳に追加

加速器Ｙ１から出射されたイオンビームＬのビーム電流を測定する分割電極１０或いはファラデーカップ２０等のビーム電流測定手段を試料分析装置の測定室７３ａに設け，このビーム電流測定手段によるビーム電流の測定値に基づいてイオンビームＬの軌道位置を検出する。 - 特許庁

Pulse voltages switched to omnidirectional phases are sequentially applied to a PM motor 6 by a pulse generation phase command part 12 and a power converter 5, and each of a current detector 7, a sample holding circuit 13, an A-D converter 14 and a memory 15 obtains the peak value of the omnidirectional pulse current flowing into a winding of the PM motor.例文帳に追加

パルス発生位相指令部１２と電力変換器５によってＰＭモータ６に全方向の位相に切り換えたパルス電圧を順次印加し、電流検出器７とサンプルホールド回路１３とＡ／Ｄ変換器１４とメモリ１５はＰＭモータの巻線に流れる全方向パルス電流のピーク値を求める。 - 特許庁

The electric power steering device is provided with a switching means for outputting, as a sample hold signal, a signal synchronous with a PWM control pulse of a lower arm switching element when the polarity of an electric current detection signal is positive and a signal synchronous with a PWM control pulse of an upper arm switching element when the polarity of the electric current detection signal is negative.例文帳に追加

電流検出信号の極性が正の場合は下アームスイッチング素子のＰＷＭ制御パルスに同期した信号を、電流検出信号の極性が負の場合は上アームスイッチング素子のＰＷＭ制御パルスに同期した信号をそれぞれサンプルホールド信号として出力する切換え手段を設ける。 - 特許庁

In the wafer static elimination method, electrons electrostatically charged in the wafer WEH are eliminated by irradiating the wafer WEH with soft X rays in the presence of an air current using an X-ray ionizer 1' before measuring the substrate current flowing to the wafer WEH by the electron beam irradiation, in a sample chamber in which a vacuum is produced.例文帳に追加

本発明のウェハの除電方法は、電子ビーム照射によりウェハＷＥＨに流れる基板電流を真空中の試料室内で測定する前に、Ｘ線イオナイザー１’を用いて軟Ｘ線を気流存在の条件下で、ウェハＷＥＨに向けて照射して、ウェハＷEＨに帯電している電子を除電する。 - 特許庁

This method comprises processes of: dividing light radiated from a white light source 109 into reference light and signal light by a beam splitter 102; emitting the signal light to a sample 107 through a Morou interferometer 105; making light reflected from the sample surface with the reference light and imaging the interference intensity occurring in the Morou interferometer 105; and applying voltage current to the semiconductor circuit chip as the sample.例文帳に追加

白色光源１０９から放射された光をビームスプリッタ１０２により参照光と信号光に分割する工程と、信号光を試料１０７にミラウ干渉計１０５を通して入射する工程と、試料表面より反射した光と参照光を干渉させてミラウ干渉計１０５に生じた干渉強度を画像化する工程と、試料である半導体回路チップに電圧電流を印加する工程とを含む。 - 特許庁

The plasma treatment method which arranges a sample substrate 6 on a sample bed 7 provided inside a reaction vessel 8, generates plasma by discharge while supplying a material gas 4 and electric power into the reaction vessel 8, and holds the sample substrate in the plasma, is characterized by controlling a shape of generating plasma 5 through simultaneously supplying microwave electric power and direct current power into the reaction vessel 8.例文帳に追加

反応容器８の内部に設けた試料台７上に試料基板６を配置し、該反応容器８内に材料ガス４と電力を供給しながら放電によりプラズマを発生させ、該プラズマ中に試料基板を保持する処理方法において、反応容器８内にマイクロ波電力と直流電力を同時に供給することにより、発生するプラズマ５の形状をコントロールするプラズマ処理方法とその装置を基本手段として提供する。 - 特許庁

Even if APC operation is effected under such a state as a sample/hold signal is brought into sample stat due to disturbance of a control signal, or the like, when a monitor current is not fed back from the photodiode PD, emission quantity of the laser diodes LD1 and LD2 is prevented from increasing over a set level thus preventing deterioration of the laser diodes LD1 and LD2.例文帳に追加

したがって、フォトダイオードＰＤからモニタ電流がフィードバックされていない時に、制御信号等の乱れを原因としてサンプル／ホールド信号がサンプル状態になってＡＰＣ動作が行われたとしても、レーザダイオードＬＤ１、ＬＤ２の発光量が設定値よりも大きくなることを防止し、レーザダイオードＬＤ１、ＬＤ２の劣化を防止することができる。 - 特許庁

In the method for removing oxygen from an oxygen-containing sample solution, the oxygen-containing sample solution containing at least an electrolyte is introduced on the cathode side of an ion permeable porous diaphragm, an electrolyte solution is introduced on the anode side and electric current is supplied while blowing a gaseous hydrogen/nitrogen mixture into the electrolyte solution on the anode side.例文帳に追加

酸素を含有する試料溶液から酸素を除去する方法であって、イオン透過性多孔質隔膜を隔てて、陰極側に少なくとも電解質を含有する酸素含有試料溶液を導入し、陽極側に電解質溶液を導入し、陽極側の電解質溶液に水素／窒素混合ガスを通気しながら通電する。 - 特許庁

A transmission electron microscope comprises a means for calculating an deviation amount in visual field among a plurality of sample permeation images, a means for changing an electric current given in a deflector for deflecting an electron beam or moving a sample to automatically correct the deviations in visual field, and a control means for repeating this operation means to decrease the deviations in the visual field.例文帳に追加

透過型電子顕微鏡において、複数の試料透過像間の視野ずれの量を計算する手段と、電子線を偏向させる偏向器に与える電流をかえて、または試料を移動させて視野ずれを自動的に補正する手段と、以上の手段の動作を繰り返して視野ずれを減少させる制御手段とを備える。 - 特許庁