「sample current」に関連した英語例文の一覧と使い方(5ページ目) - Weblio英語例文検索

In addition, in the case that an ATM cell with respect to a specific call is delayed, a last PCM sample of a current ATM cell is sent repetitively to a PBX.例文帳に追加

加えて、特定の呼に対するＡＴＭセルが遅延した場合、現在のＡＴＭセルの最後のＰＣＭサンプルがＰＢＸに反復して送出される。 - 特許庁

The surface mobility of minority carriers in the semiconductor wafer or sample 10 is determined as a function of the applied electrical bias and the value of the measured current.例文帳に追加

半導体ウエハまたはサンプル１０中の少数キャリアの表面移動度が、印加された電気バイアスと測定電流値の関数として決定される。 - 特許庁

To provide a method for quantitatively analyzing an element with a small error in which a quantitative determination error due to a deviation of an ion irradiating content based on a sample current is corrected.例文帳に追加

試料電流に基づくイオン照射量のずれによる定量誤差が補正された誤差の小さい元素定量分析技術を提供する。 - 特許庁

In the step (b), a value of electric current flowing through the culture medium in which a sample is added is measured under a prescribed temperature and a prescribed voltage with the oxygen electrode.例文帳に追加

ステップ（ｂ）において、所定の温度下で、且つ所定の定電圧で、酸素電極を用いて、試料を添加した培地に流れる電流値を測定する。 - 特許庁

The skin effect observation device can thereby measure the electric field applied onto the conductor sample and the amplitude of the current and the change of a phase thereof in real time.例文帳に追加

これにより、導体試料に印加された電場と試料内部の電流の振幅と位相の変化を実時間で測定することが可能となる。 - 特許庁

An AC voltage is supplied from an AC voltage/current source 30 through an inductance 20 to a semiconductor sample 10 for measuring the electric characteristics.例文帳に追加

交流電圧電流源３０からインダクタンス２０を介して電気的特性を測定するための半導体試料１０に交流電圧を供給する。 - 特許庁

A filter operation for matching pseudo-random noise is performed on a sample of the global positioning system signals to provide a current matched filter result.例文帳に追加

疑似ランダム雑音を整合させるフィルタ動作をグローバルポジショニングシステム信号のサンプルに対して実行して、現行の整合フィルタ結果を提供する。 - 特許庁

A sample 21 is heated from a back face by an infrared lamp 30, and irradiated with an ion beam 5 narrowed so as to prevent a current from flowing into a ground electrode.例文帳に追加

赤外線ランプ３０によって裏面から加熱した試料２１に、グラウンド電極に電流が流れないように径を絞ったイオンビーム５を照射する。 - 特許庁

A driving current for driving an electromagnetic brake is fed and thereafter switched over to a reverse current to feed it for a predetermined period, so that the magnetic force of a sample table magnetized by the driving of the electromagnetic brake is demagnetized.例文帳に追加

電磁ブレーキを駆動させる駆動電流を供給した後、逆方向の電流に切り換えて所定時間供給することにより、電磁ブレーキの駆動により磁化された試料台の磁力を脱磁する。 - 特許庁

A control/operation device 14 calculates a ratio Ia/Ip of the sample absorbing current value Ia to the irradiation current value Ip and compares the same with the predetermined change judging condition data of a database 15 to monitor the presence of the charge.例文帳に追加

制御／演算装置１４は照射電流値Ipに対する試料吸収電流値Iaの割合Ia/Ipを求め、データベース１５の予め定めておいた帯電の判定条件データと比較して帯電の有無を監視する。 - 特許庁

To provide an eddy current inspection device capable of detecting a physical property of a sample with high precision by accurately acquiring a sensitivity of a sensor, and an eddy current type inspection method.例文帳に追加

センサの感度を正確に取得することにより、被検体の物理特性を高精度に検出することが可能な渦電流式検査装置および渦電流式検査方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

A sample inspection device for outputting absorption current images 13 and 15 by interlocking an absorption current output from two probes 4 into scanning an electron beam 1 at the time of scanning an electron beam adopts the following configuration.例文帳に追加

電子線の走査時に２本の探針４から出力される吸収電流を、電子線１の走査に連動させて吸収電流像１３，１５を出力する試料検査装置に、以下の仕組みを採用する。 - 特許庁

A probe, means for replacing the inside of a sample chamber with prescribed gas and means for turning into images by ion current detection or absorbed current detection are incorporated to realize a safe SEM (scanning electron microscope) whose risk of electrical discharge is low.例文帳に追加

探針と、試料室内を所定のガスで置換する手段と、イオン電流検出や吸収電流検出による画像化手段を備えることにより、放電の危険性の低い安全なＳＥＭを実現する。 - 特許庁

To perform accurate prediction even when a past fluctuation tendency is differed from a current fluctuation tendency, in a prediction system configured to take a past value of continuous time-series data as a sample and predict a future value from the sample.例文帳に追加

連続的な時系列データの過去の値をサンプルとしサンプルから将来の値を予測する予測システムにおいて、過去の変動傾向が現状の変動傾向とは異なる場合でも高精度に予測を行うことができるようにする。 - 特許庁

A power accumulated in a high-capacity capacitor 2 is supplied to a conductive sample 5 through a standard resistance 4 by switching a current switch 3 using a field effect transistor to the ON state, to thereby raise the sample temperature to a high temperature in a short time.例文帳に追加

【解決手段】大容量コンデンサー２に蓄積した電力を、電界効果トランジスタを用いた電流スイッチ３をＯＮすることにより、標準抵抗４を介して導電性の試料５に供給し、短時間で高温にする。 - 特許庁

The resistivity measurement method, measuring the electric resistance of a sample with a four-probe resistivity measurement device, supplies an application current for each of a plurality of measuring points of the sample and measures a voltage value and, when the measured voltage value is determined to be beyond a predetermined range of a voltage value at the last measurement point, reconfigure a current value of the application current.例文帳に追加

４探針抵抗率測定装置により試料の電気抵抗を測定する抵抗率測定方法であって、前記試料における複数の測定ポイント毎に印加電流を供給して電圧値を測定し、前記測定した電圧値が前回の測定ポイントの電圧値の所定範囲を超えると判定した場合に、前記印加電流の電流値を再設定する。 - 特許庁

In the invention 2, in the SQUID microscope of the invention 1, the control section measures the interval between the tip of the probe and the sample to be measured with a tunnel current occurring between them, and controls the interval between the probe and the sample to be measured so that this current value becomes a desired value.例文帳に追加

また、発明2では、発明1のＳＱＵＩＤ顕微鏡において、前記制御部は、プローブの先端と被測定試料との間隔をその間に生じるトンネル電流にて計測し、この電流値が所望の値となるように前記プローブと被測定試料との間隔を制御することを特徴とする構成を採用した。 - 特許庁

A polarity of a current applied to the Hall element 3 is switched when the offset is judged to require updating, the sensor signal from the Hall element is sample-held before and after switching the polarity of the current, the offset of the Hall element is extracted from sample holding values before and after switching the polarity, and the memory 12 is updated.例文帳に追加

オフセットの更新が必要と判断されたら、ホール素子３に与える電流の極性を切り替え、ホール素子のセンサ信号を、電流の極性の切り替えの前後でサンプルホールドし、極性切り替えの前後におけるサンプルホールド値からホール素子のオフセットを抽出して、メモリ１２を更新する。 - 特許庁

To provide a sample inspection device and a creation method for an absorption current image which can acquire a clear absorption current image from an absorbed current detected by using a plurality of probes without including difference in amplification rate in input, and can improve measurement efficiency.例文帳に追加

複数本の探針を用いて検出された吸収電流から、入力間の増幅率の差を含むことなく鮮明な吸収電流像を取得し、測定効率を向上させることができる試料検査装置及び吸収電流像の作成方法を提供する。 - 特許庁

To increase response speeds of an electric current signal, and improve yield of an ion electric current in a gas amplifying method ion electric current detection type SEM in which a secondary electron image can be obtained even in a low vacuum condition by utilizing an electron avalanche by a residual gas in a sample room.例文帳に追加

試料室内の残留ガスによる電子なだれを利用することで、低真空条件でも二次電子像を取得できるガス増幅式イオン電流検出型SEMにおいて、電流信号の応答速度の高速化およびイオン電流の収量の向上を図る。 - 特許庁

A current control circuit 26(27) is coupled to an amplifier 24 of a sample and hold circuit 21 for sampling and holding an analog signal, and a variable constant current circuit 25 is controlled in accordance with the value of a digital signal obtained by performing A/D conversion of the analog signal to change operating current caused to flow to the amplifier 24.例文帳に追加

アナログ信号をサンプル・ホールドするサンプル・ホールド回路２１の増幅器２４に、電流制御回路２６（２７）を接続し、アナログ信号をＡＤ変換したディジタル信号の値に応じて可変定電流回路２５を制御し、増幅器２４に流れる動作電流を変化させる。 - 特許庁

When a third switch SW3 is OFF, an operational current balance controller BC reduces an operational current to the first latch pair part L1 or to a sample pair part S so as to cancel a component varied by the current control, so that an output amplitude of data is made constant.例文帳に追加

第３のスイッチＳＷ３がオフ時には、この電流制御による変動分を相殺するように、動作電流均衡制御部ＢＣは、第１ラッチペア部Ｌ１やサンプルペア部Ｓに対する動作電流を低減することで、データの出力振幅が一定となるようにする。 - 特許庁

A control method of a weld current for manufacturing this measuring sample is constituted so that a current attenuation point timing signal corresponding to the unwelded part of the welding can is inputted into a weld current wave forming part of a seam welding machine via CPU so as to control a current value to be a given attenuation volume.例文帳に追加

上記の測定用試料を製作するための溶接電流制御方法は、シーム溶接機の溶接電流波形生成部に、ＣＰＵを介して溶接缶の未溶接部位置に対応した電流減衰位置タイミング信号を入力し、溶接缶の未溶接部位置において所定の減衰量となるように電流値を制御する。 - 特許庁

An energization control part 26 monitors a temperature of the sample holder 11 upper surface through a temperature sensor 24, and controls a current carrying amount into the transparent conductive film 11a through a power source device 22 so that the temperature of the sample holder 11 upper surface becomes a prescribed temperature.例文帳に追加

通電制御部２６は試料ホルダー１１上面の温度を温度センサ２４を介してモニタし、試料ホルダー１１上面の温度が所定の温度となるように電源装置２２を介して透明導電膜１１ａへの通電量を制御する。 - 特許庁

To measure irregular images of a sample and electric current of a cantilever in contact mode, and perform measurement of a high bias voltage such as an electric field emission in lift mode without damaging a minute probe, the cantilever and the sample.例文帳に追加

コンタクトモードで試料の凹凸像の測定およびカンチレバーの電流の測定を行い、またリフトモードで電界放出のような高バイアス電圧を必要とする測定を、探針、カンチレバーや試料に損傷を与えることなく行うようにする。 - 特許庁

An electric current is made to flow in a force coil 2, a compression or tension load is impressed onto the sample 10 via the rod 5 by interaction with the magnet 3, and a temperature of the sample 10 is changed at a fixed speed by a heating furnace 8 and a temperature sensor 9.例文帳に追加

フォースコイル２に電流を流し磁石３との相互作用により検出棒５を介して試料１０に圧縮又は引張荷重を印加し、加熱炉８と温度センサ９によって、試料１０の温度を一定の速度で変化させる。 - 特許庁

When a voltage is impressed on the two probes, and a sample 13 is brought close, electrons 14 emitted from the tipmost atom 12 of one probe are collected by the tipmost atom 12 of the other probe through the sample 13 to pass a tunneling current.例文帳に追加

この２本の探針に電圧を印加し、試料を近づけていくと、一方の探針の最先端の原子１２から出た電子１４を試料１３を通してもう一方の探針の最先端の原子１２で拾い、トンネル電流が流れる。 - 特許庁

Here, the current flowing through the sample impedance 2 is changed by inserting/not inserting a known impedance 4 with a predetermined impedance value into the series circuit or parallelly inserting/not inserting it into the sample impedance 4.例文帳に追加

ここで、供試インピーダンス２に流れる電流は、予め定められたインピーダンス値をもつ既知インピーダンス４を直列回路に挿入/非挿入、または供試インピーダンス４に並列に挿入/非挿入することにより変化さすることにより変化させる。 - 特許庁

To prevent a sample from being irradiated with radiant heat from a heat source and to prevent thermoelectric measurement from being affected by a current flowing through a heater by disposing a conductive heater container on the back side of the sample in a thermoelectric measuring instrument.例文帳に追加

熱電気測定装置において、試料の裏側に導電性のヒータ容器を配置することにより、熱源からの輻射熱が試料に当たることがないようにし、また、ヒータに流れる電流が熱電気測定に影響を及ぼさないようにする。 - 特許庁

The sample analyzer stores the element that is an object to be analyzed in the analysis of a sample using an electronic probe and a combination of the irradiation current value of an electron beam that is the optimum condition at the time of analysis of the element and an accelerated voltage value.例文帳に追加

試料分析装置は、電子プローブを用いた試料分析において分析対象となる元素と、当該元素の分析時に最適条件となる電子線の照射電流値及び加速電圧値の組み合わせとが記憶されている。 - 特許庁

The production method comprises sintering a powder sample comprising a matrix composed of an amorphous powder mixed with a specified amount of a plate crystal containing the amorphous powder by uniaxially compacting the powder sample and simultaneously applying direct pulsed current to the same parallel to the pressurization direction.例文帳に追加

アモルファス粉体をマトリックスとし、このマトリックスに前記アモルファス粉体と、板状結晶と、を所定量混合した粉体試料を一軸加圧成形しながら加圧方向と平行に直流パルス電流を印加することにより焼結した。 - 特許庁

A phase detector 10 detects the phase of the color burst from demodulated U, V signals and a correction circuit 11 corrects an offset of a color subcarrier phase for each sample of a current line from the color burst phase of a preceding line and the current line.例文帳に追加

復調したＵ、Ｖ色差信号からカラーバーストの位相を位相検出器１０により検出し、前ラインおよび現ラインのカラーバースト位相から現ラインのサンプル毎のカラーサブキャリア位相のずれを補正回路１１により補正する。 - 特許庁

To accurately calibrate the measuring result by a temperature measuring system used in a thermal analyzer for measuring items to be measured such as current, voltage, electric resistance, dielectric constant, electrostatic capacity, thermoelectromotive force, thermal stimulation current or the like related to a sample.例文帳に追加

試料に関する電流、電圧、電気抵抗、誘電率、静電容量、熱起電力、熱刺激電流等を測定対象とする熱分析装置に用いられる温度測定系による測定結果を正確に校正できるようにする。 - 特許庁

In this luminance compensation circuit, a current detecting circuit 4 detects a gate current at the time of reproduction driving of the display panel of the electric field discharging type display as voltage, and a sample and hold circuit 5 samples it by synchronizing with a control signal impressed to a terminal 3.例文帳に追加

電界放出型表示装置の表示パネルの再生駆動時のゲート電流を電流検出回路４で電圧として検出し、端子３に加えられる制御信号に同期してサンプル及びホールド回路５でサンプリングする。 - 特許庁

Furthermore, the device 18 acquires a reference data that shows a relationship between film thickness and substrate current in a reference sample, takes the reference data into consideration, and calculates the film thickness of the thin film on the basis of the corrected board current value.例文帳に追加

膜厚測定装置１８は、標準試料における膜厚と基板電流との関係を示す参照データを取得し、参照データを考慮して、補正された基板電流値から測定対象の薄膜の膜厚を算出する。 - 特許庁

To provide an apparatus and a method for measuring current, capable of measuring minute current which flows in a measurement sample such as a semiconductor substrate or the like under a probe irradiation such as an electron beam or the like, over a wide frequency band with low noises.例文帳に追加

電子ビーム等のプローブ照射により半導体基板等の測定サンプルに流れる微小電流を、低ノイズでかつ広周波数帯域で測定できる電流測定装置及び電流測定方法を提供する。 - 特許庁

The indenter 3 is pressed to the objective sample, based on electromagnetic force generated by supplying a current to a solenoid coil 5 provided with a current regulating part 6 in the each force generating part 4, using the principle of the electromagnetic force generation.例文帳に追加

そして、電流調整部６が各力発生部４に備えられた電磁コイル５に電流を供給することにより発生する電磁力に基づき、てこの原理を利用し、圧子３を対象物である試料に押圧する構成にした。 - 特許庁

The detected sample current is fed to a main controller 14, after being subjected to noise- removing treatment by a signal processing module 23, and displayed on a CRT 15 at the same time as a SIM image.例文帳に追加

検出された試料電流は、信号処理モジュール２３でノイズ除去処理を経て、メインコントローラ１４へ送られ、ＳＩＭ像と同時にＣＲＴ１５に表示される。 - 特許庁

With this, a deflection region W on a sample stand 14 is kept large, and a required current volume is obtained to improve the resolution of the low-vacuum SEM.例文帳に追加

これにより、試料台１４上の偏向領域Ｗを大きく確保するとともに、所望電流量を得て、低真空ＳＥＭの分解能を向上することができる。 - 特許庁

In the method, an electron beam is radiated to the surface of the insulating film through a metal thin film, and a sample current is measured when the electron beam is radiated to the surface of the insulating film.例文帳に追加

本方法では、電子線を、金属薄膜を介して絶縁膜表面に照射し、電子線を絶縁膜表面に照射したときの試料電流を測定する。 - 特許庁

The failure analysis part 6 analyses the cause of failure and a failure part in a sample 3 by referring to the first to third stored electric current images.例文帳に追加

故障解析部６は、記憶している第１〜第３の電流像を参照することにより、試料３内における故障原因及び故障箇所を解析する。 - 特許庁

Only when the invariable time of the phase state exceeds a prescribed time, a voltage from the current sensor is held at the sample hold circuit, and otherwise an error voltage is held.例文帳に追加

相状態の不変時間が所定時間を超えた場合にのみ、サンプルホールド回路で電流センサからの電圧が保持され、それ以外はエラー電圧が保持される。 - 特許庁

A visual field is automatically moved by controlling a sample XY driving motor, an auto-focus function is actuated after stage movement, and a lens current value Ia of the object lens 3 is detected.例文帳に追加

試料ＸＹ駆動モータを制御して自動で視野移動を行い、ステージ移動後にオートフォーカスを作動させ対物レンズ３のレンズ電流値Ｉ_aを検出する。 - 特許庁

Therefore, it is possible to supply a sampling clock CLK2 for an A/D converter 13 at any timing and to sample a detection signal S1 of a current detecting circuit 12.例文帳に追加

よって、任意のタイミングでサンプリングクロックＣＬＫ２をＡ／Ｄ変換器１３に供給して電流検出回路１２の検出信号Ｓ１をサンプリングすることができる。 - 特許庁

To provide a method for minimizing dark current errors with respect to an electronic sample image formed by sampling the response of a CMOS photosensitive semiconductor element array.例文帳に追加

CMOS感光半導体素子アレイの応答をサンプリングすることによって形成される電子的サンプルイメージに関する暗電流エラーを最小限に抑える方法を提供する。 - 特許庁