「sample device」に関連した英語例文の一覧と使い方(60ページ目) - Weblio英語例文検索

The device is configured with a hydrogen permeable film that makes only hydrogen permeate through a part of a sample container, when measuring, especially the amount of adsorption of hydrogen or the amount of occlusion thereof.例文帳に追加

これは試料容器に試料を充填した後も水素以外の様々な気体を吸着あるいは吸蔵する可能性が残されていたからである。 - 特許庁

This device is a container assembly equipped with a multilayer coating composition, preferably equipped with a multilayer coating composition for coagulating the blood sample quickly.例文帳に追加

本発明は、多層コーティング組成物を具えた容器アセンブリであり、より好ましくは、血液試料を迅速に凝固させるための多層コーティング組成物を具える。 - 特許庁

To provide an optical interference tomographic device which selectively captures an approximate tomographic image and a detailed local tomographic image of a sample object, with a simple procedure in a short time.例文帳に追加

簡単な手順によって短時間に被測定物体の概略の断層画像および局所の詳細な断層画像を選択的にとらえる。 - 特許庁

MANUFACTURING METHOD, ANALYSIS METHOD AND MANUFACTURING DEVICE OF OPTICAL RECORDING MEDIUM SAMPLE, AND MANUFACTURING METHOD OF OPTICAL RECORDING MEDIUM例文帳に追加

光記録媒体試料の作製方法、光記録媒体試料の分析方法、光記録媒体試料の作製装置及び光記録媒体の製造方法 - 特許庁

To provide a compact dispensing device having a simple structure that can bring a liquefied sample reception member closer to or away from the lower end of a dispensing nozzle.例文帳に追加

液状試料受容部材が分注ノズルの下端に接近・離間することができ、且つ、構造が簡単でコンパクトな分注装置を提供する。 - 特許庁

To provide a weightlessness generating device capable of recovering samples while holding in a vacuum a sample recovery part connected to the lower part of a drop pipe.例文帳に追加

落下管の下部に接続する試料回収部を真空状態に保持したまま試料を回収することができる無重量発生装置を提供する。 - 特許庁

To provide an electron-beam applied device capable of determining correctly whether or not a contact state is good between an earth needle and a sample.例文帳に追加

本発明は、アース針と試料との接触状態が良好か否かを誤りなく判定できる電子線応用装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a method of accurately and rapidly detecting and/or quantitatively determining a bone mixing into a solid sample with a production line, and to provide a device for it.例文帳に追加

固体試料に混入する骨を、生産ラインで正確かつ迅速に検出及び／又は定量する方法及びそのための装置を提供する。 - 特許庁

To provide an optical measuring device capable of calculating easily a film thickness or an optical constant of each layer over a measuring object domain of a sample.例文帳に追加

試料の測定対象領域に亘って各層の膜厚または光学定数を容易に算出することが可能な光学測定装置を提供する。 - 特許庁

To provide a charged particle beam device capable of accurately determining a state of conductivity of a sample with an insulating film to a ground even when a single contact pin is used.例文帳に追加

絶縁膜付き試料のアースとの導通状態を、単一のコンタクトピンを用いる場合でも、正確に判断可能な荷電粒子線装置を実現する。 - 特許庁

To provide a supporting device, method and program that are capable of efficiently generating a signature which is directed to a text format sample in an intrusion detection system.例文帳に追加

侵入検知システムにおけるテキスト形式の検体を対象としたシグネチャを効率的に生成できる支援装置、方法及びプログラムを提供すること。 - 特許庁

The assay device has a housing with a plurality of channels and a common blood sample introduction port coupled to each of a channel of the plurality of channels.例文帳に追加

該アッセイ装置は、複数のチャンネルおよび該複数のチャンネルの各々のチャンネルと連結した共通の血液サンプル導入ポートを有するハウジングを有する。 - 特許庁

To provide a detecting method and a detecting device for simply and quickly detecting a target compound in a sample solution without washing operation.例文帳に追加

洗いの作業を行うことなく、試料溶液中の標的化合物を簡便に且つ迅速に検出する検出方法及び検出装置を提供する。 - 特許庁

An image storing and regenerating device 7 is equipped further to display an image stored in the sample-observing camera 1, in the fluorescent X-ray measurement.例文帳に追加

さらに、試料観察用カメラ１で記憶された画像を、蛍光Ｘ線測定の時に表示するための画像記憶再生装置７を装備した。 - 特許庁

To quickly select a separation mode of each microcolumn suitable for a sample, while securing compactness of a device, in analysis using the microcolumn.例文帳に追加

マイクロカラムを用い分析する上で、装置のコンパクト性を確保しながら、試料に適した名マイクロカラムの分離モードを迅速に選択できるようにする。 - 特許庁

To provide a device for measuring fluorescent life distribution image capable of minimizing the damage on a sample such as cells and realizing a measurement in a short time.例文帳に追加

細胞等の試料へのダメージを最小にするとともに、短時間での測定を実現することができる蛍光寿命分布画像測定装置を提供する。 - 特許庁

To provide a device and method for measurement of an ignition temperature, capable of measuring the ignition temperature of a sample under a condition different from air in the concentration of oxygen.例文帳に追加

酸素濃度が空気とは異なる条件下で試料の発火温度を測定し得る発火温度測定装置および発火温度測定方法を提供する。 - 特許庁

A fluorescence measurement apparatus 1, for measuring fluorescence from a sample in a held state by a sample holding member such as a microplate 20, comprises an image acquiring section 40 for acquiring two-dimensional fluorescence images by fluorescence emitted from the sample, and a data analysis device 50 for performing analysis processings of measured data, including the fluorescence image.例文帳に追加

マイクロプレート２０などの試料保持部材によって保持された状態の試料からの蛍光を測定する蛍光測定装置１を、試料から放出される蛍光による２次元の蛍光画像を取得する画像取得部４０と、蛍光画像を含む測定データに対して解析処理を行うデータ解析装置５０とを備えて構成する。 - 特許庁

To provide a charged particle beam device for processing and observing a sample by irradiating the sample with both an ion beam and an electron beam, which includes a common detector for both the ion beam and the electron beam, and in which the detector can be provided at a suitable position in accordance with details of processing on the sample and an observation technique.例文帳に追加

イオンビームと電子ビームの両方を試料へ照射して、試料の加工と観察を行う荷電粒子線装置において、イオンビームと電子ビームの両方に対して共通の検出器を有し、試料の加工内容や観察手法に応じて適した位置に検出器を設けることができる荷電粒子線装置を提供する。 - 特許庁

This emission microscope has an ultraviolet-ray irradiating device 11 for irradiating an ultraviolet ray on a sample 1 to emit electrons from the sample 1, a phosphor plate 8 for indicating an electron image formed by the electrons emitted from the sample 1 and an electron lens system (respective lenses 4, 5 and 6) for imaging the electron image on the phosphor plate 8.例文帳に追加

エミッション顕微鏡には、試料１に紫外線光を照射して試料１から電子を放出させる紫外線照射装置１１と、試料１から放出された電子によって形成される電子像を表示する蛍光板８と、その電子像を蛍光板８上に結像させる電子レンズ系（各レンズ４，５，６）とを有する。 - 特許庁

In the laser ablation device 2, when the laser ablation for the sample S is started, an arithmetic section 50 subtracts the energy of the laser beam measured by photodetectors 43 and 44 from the energy of the laser beam measured by a photodetector 45, and calculates the energy of the laser beam absorbed by the sample S of the laser beams radiated to the sample S.例文帳に追加

レーザアブレーション装置２においては、試料Ｓに対するレーザアブレーションが開始されると、演算部５０によって、光検出器４５により測定されたレーザ光のエネルギから、光検出器４３，４４により測定されたレーザ光のエネルギが減ぜられて、試料Ｓに照射されたレーザ光のうち試料Ｓに吸収されたレーザ光のエネルギが算出される。 - 特許庁

The content evaluation device acquires sample content to be used for evaluating content to be evaluated, in order to evaluate the content to be evaluated as an evaluation object, tries to detect each of a plurality of features from the acquired sample contents, and specifies a detection amount which is the amount of the sample contents from which the feature is detected for each feature.例文帳に追加

コンテンツ評価装置は、評価対象である被評価コンテンツの評価を行うため、被評価コンテンツの評価に用いる標本コンテンツを取得して、取得した各標本コンテンツから複数の特徴それぞれの検出を試み、各特徴についてその特徴が検出された標本コンテンツの量である検出量を特定する。 - 特許庁

A test device 1 for evaluating an asphalt mixture 41 evaluates at least one among a transverse elasticity modulus, flow resistance and durability of a sample 4 formed by molding an asphalt mixture 41 into a cylindrical form, based on a response of the sample 4, when torsion is applied about the axial of the sample 4.例文帳に追加

このアスファルト混合物４１を評価するための試験装置１は、アスファルト混合物４１を円柱形状に成形した供試体４の軸心まわりにねじりを加えたときのその供試体４の応答に基づいて、供試体４のせん断弾性係数、耐流動性及び耐久性の少なくとも一つを評価するように構成されたものである。 - 特許庁

To provide a device capable of measuring the softening point and thermal conductivity with only at a contact part, by preventing thermal influence from being exerted on a peripheral part of a measuring point, by allowing heat exchange only at the contact part between an explorer and a sample, when measuring the softening point of the sample or the thermal conductivity by heating the sample locally, using a cantilever having a heating element.例文帳に追加

発熱体を有するカンチレバーを用いて試料へ局所加熱をして試料の軟化点や熱伝導を測定する場合に、探針と試料との接触部のみの熱交換とすることで測定ポイントの周辺部に熱影響を与えなくし、接触部のみの軟化点測定および熱伝導測定を可能にした装置を提供する。 - 特許庁

This surface rugged shape observation method with a charged particle beam device comprises a step for drawing a straight line on a sample surface in a part to be observed for shape observation, a step for tilting a sample stage, and a step for scanning a periphery area including the straight line part with a beam while the sample is tilted for obtaining a microscopic image.例文帳に追加

本発明の荷電粒子ビーム装置による表面凹凸形状の観察方法は、形状を観察したい個所の試料表面に直線を引くステップと、試料ステージを傾斜させるステップと、試料を傾斜させた状態で前記直線部分を含む近傍領域をビーム走査して顕微鏡画像を取得するステップとからなる。 - 特許庁

A constitution, where a function 11 for irradiating a sample surface with a light having energy larger than the band gap of a sample and smaller than the work function of the sample and functions 12 and 13 modulating light intensity and detecting the fluctuation components of Auger electron intensity synchronized with light intensity added in addition to the function of a conventional Auger electron spectral device are added, is arranged.例文帳に追加

本発明では、従来のオージェ電子分光装置の機能に加え、試料表面に試料のバンドギャップより大きくかつ試料の仕事関数より小さいエネルギーを持つ光を照射する機能１１と、その光強度を変調しそれと同期したオージェ電子強度の変動成分を検出する機能１２，１３を付加した構成を有している。 - 特許庁

The laser microdissection unit for cutting a microscopic sample (3) using a laser beam of a laser (19) includes a microscope (1) including an illumination beam path directed onto the sample (3) and an imaging beam path configured to image the sample (3), and the microscope includes a fluorescence device (14) including an excitation filter (15), a dichroic beam splitter (16) and a blocking filter (17).例文帳に追加

レーザー（１９）のレーザービームを用いて顕微鏡サンプル（３）を切断するレーザー顕微解剖ユニットは、サンプル（３）に向けられた照明ビーム路とサンプル（３）を映し出す画像形成ビーム路とを有する顕微鏡（１）を含み、当該顕微鏡は更に励起フィルター（１５）、二色性ビームスプリッター（１６）及び阻止フィルター（１７）を備える蛍光装置（１４）を含む。 - 特許庁

To provide a defect evaluation method capable of precisely and rapidly preparing a flaky sample for electron microscope observation by a converged ion beam sample preparing device in relation to a semiconductor crystal including an internal defect used as an observation object and capable of evaluating the crystalline defect in detail by observing the flaky sample with an electron microscope.例文帳に追加

観察対象とする内部欠陥を含む半導体結晶に対し、収束イオンビーム試料作製装置による電子顕微鏡観察用薄片試料の作製を高精度かつ短時間で行うことができ、該薄片試料を電子顕微鏡で観察することによって詳細に結晶欠陥の評価を行うことができる欠陥評価方法を提供する。 - 特許庁

A thermophysical property measuring device D of the invention measures, for example, in the case shown in FIG. 1, thermal conductivity as a thermophysical property value of a sample SM, and includes two irradiation sections for heating which respectively irradiate the sample SM with first and second heating light having different irradiation diameters so as to heat the sample SM to be measured.例文帳に追加

本発明の熱物性測定装置Ｄは、例えば、図１に示す例では、試料ＳＭの熱物性値として熱伝導率を測定するものであって、測定対象の試料ＳＭを加熱するために、互いに照射径の異なる第１および第２加熱光を試料ＳＭにそれぞれ照射する２個の加熱用照射部を備えている。 - 特許庁

This device includes a measurement part 110 which irradiates X-rays to a sample including crystals of the perovskite type oxide placed on a sample stand and detects characteristic X-rays generated from the sample, and a processing part 50 which determines kinds of elements located at a specific crystal site based on intensity of the characteristic X-rays detected by the measurement part.例文帳に追加

試料台に載置されているペロブスカイト型酸化物の結晶を含む試料に、Ｘ線を照射し、前記試料から発生した特性Ｘ線を検出する測定部１１０と、前記測定部が検出した特性Ｘ線の強度に基づいて、特定の結晶サイトに位置する元素の種類を決定する処理部５０と、を含む。 - 特許庁

The resistivity measuring device for measuring the resistivity of the semiconductor sample 22 generating the electromotive force upon receiving light irradiates light from a light source 21 to the semiconductor sample 22 and detects the electromotive force generated by the semiconductor sample 22 between two exploring needles b, c of a probe 15 with four exploring needles for output to a voltage measurement unit 17.例文帳に追加

受光すると起電力が発生する半導体試料２２の抵抗率を測定する抵抗率測定装置において、光源部２１から半導体試料２２に光を照射し、半導体試料２２が発生する起電力を４探針プローブ１５の２つの探針ｂ、ｃ間で検出して電圧測定部１７へ出力する。 - 特許庁

To provide a standard sample plate for calibration which calibrates a particle size distribution measuring device with high accuracy and improves the calibration workability by setting the binarized level by a standard sample of the shape similar to that of the particles of the powder sample to be actually measured, and setting the measurement field of view and the binarized level by the same calibration plate.例文帳に追加

実際に測定する粉体試料の粒子と同様の形状の標準サンプルで二値化レベルの設定を行うと共に、測定視野設定と二値化レベル設定とを同一校正板で行うことにより、粒度分布測定装置の校正を精度良くし、校正時の作業性を向上することができる校正用標準サンプル板を提供する。 - 特許庁

With this kind of the electron beam inspection device, a means for generating active species of hydrogen is provided in the sample room, where hydrocarbon system gas remaining in the sample room is dissolved into carbon dioxide (CO2) and water (H2O) through oxidization by activated species of oxygen, to eliminate hydrocarbon system gas from inside the sample room, thus, contamination of the samples can be cut off.例文帳に追加

このような電子ビーム検査装置において、試料室に酸素の活性種を生成する手段を設け、試料室内に残留しているハイドロカーボン系ガスを、酸素の活性種により酸化し二酸化炭素（ＣＯ_2 ）および水（Ｈ_2Ｏ）へ分解させ、ハイドロカーボン系ガスを試料室内から無くし、試料汚染を低減することができる。 - 特許庁

In this collecting device for the printed cassette and/or the printed examined sample support body for a histological or cytological sample, trays 2 for collecting the examined sample support bodies and/or cassettes, arranged to be stacked each other, and constituted to be height-adjustable on an elevation table 1 are arranged on the motor-driven table 1.例文帳に追加

組織学的又は細胞学的試料のためのプリントされたカセット又は被検試料支持体の収集装置において、モータ駆動される昇降テーブル（１）に、被検試料支持体及び／又はカセットを収集するための、互いに積み重なるよう配置されかつ該昇降テーブル（１）上で高さ調節可能に構成されるトレイ（２）が配設される。 - 特許庁

As one embodiment for achieving above purposes, in the method and the device for observing, inspecting, or measuring a sample by scanning a second electron beam after scanning a first electron beam to the sample to charge the sample, a beam diameter of the first electron beam is made larger than that of the second electron beam.例文帳に追加

上記目的を達成するための一態様として、試料に第１の電子ビームを走査して、試料上を帯電させた後に、第２の電子ビームを走査して試料の観察，検査、或いは測定を行う方法、及び装置において、第１の電子ビームのビーム径を、第２の電子ビームのビーム径より大きくする方法、及び装置を提案する。 - 特許庁

To prevent particles generated from a moving part of an electronic beam lens barrel from falling onto an observation face of a sample in an electronic microscope in which a floor area of a device is saved by positioning the electronic beam lens barrel at a position of observing respective points on the observation face of the sample to be retained by a sample retaining part by moving the electronic beam lens barrel.例文帳に追加

電子ビーム鏡筒を移動させることによって、試料保持部に保持される試料の観察面上の各箇所を観察する位置に電子ビーム鏡筒を位置付けることにより、装置の床面積を節約する電子顕微鏡において、電子ビーム鏡筒の移動部から発生するパーティクルが試料の観察面に落ちることを防止する。 - 特許庁

A detecting device comprises an imparting means for imparting an oscillatory wave to the local portion of a sample, a reinforcement means that provide a quasi electrostatic field to the entire or a part of the sample for reinforcing vibrational energy of a carrier applied to the sample by a polarization in the local portion, and a detection means for detecting the carrier in which vibrational energy is reinforced by the reinforcement means.例文帳に追加

試料の局所部位に振動波を授与する授与手段と、前記試料の全体又は一部に準静電界を与えて、前記局所位置での分極により試料に得られるキャリアの振動エネルギーを増強する増強手段と、前記増強手段により振動エネルギーが増強されるキャリアを検出する検出手段とを設ける。 - 特許庁

This control device of the optical probe for controlling the probe tip to the sample in the noncontact state and detecting evanescent light oozing out to the sample surface has a constitution having a means for detecting the resonance frequency of the probe by detecting the change in the scattered light intensity of the evanescent light generated on the probe tip or the sample surface.例文帳に追加

サンプルに対してプローブの先端を非接触に制御し、サンプル表面へ滲み出すエバネッセント光を検出する光プローブの制御装置において、前記プローブが有する共振周波数を、プローブ先端またはサンプル表面に発生したエバネッセント光の散乱光強度の変化を検出することによって検出する手段を有する構成とする。 - 特許庁

This device/method/unit has a port 19 connected to a separation column 35, a pump 33 for supplying the mobile phase, a pair of sample injection needles 10A, 10B, a syringe 11, and the valve 15 for connecting the sample injection needle 10A selectively to the pump 33 or the syringe 11, and for connecting the sample injection needle 10B to the pump 33.例文帳に追加

分離用カラム３５に接続されたポート１９と、移動相を供給するポンプ３３と、一対の試料注入用ニードル１０Ａ，１０Ｂと、シリンジ１１と、試料注入用ニードル１０Ａをポンプ３３またはシリンジ１１のいずれか一方に選択的に接続すると共に、他方の試料注入用ニードル１０Ｂをポンプ３３にするバルブ１５とを有する。 - 特許庁

In this combustion method of the sample for analysis, a combustion device equipped with a temperature rising furnace for heating and decomposition and a constant temperature furnace for combustion is used, the sample is heated and decomposed in the constant temperature furnace, the obtained combustion gas is burned in the constant temperature furnace under an oxygen atmosphere, and the combustion gas is recovered as the sample gas for analysis.例文帳に追加

分析用試料の燃焼方法は、加熱分解用の昇温炉と燃焼用の恒温炉とが備えられた燃焼装置を使用し、昇温炉において試料を加熱分解し、得られた分解ガスを恒温炉において酸素雰囲気下で燃焼させて燃焼ガスを分析用の試料ガスとして回収する方法である。 - 特許庁

To provide an optical device which is capable of observing the total range of a sample with the same objective lens by scanning a stage on which the sample is mounted in the two-dimensional direction, recording multiple scan images, joining together a plurality of the scan images and reproducing one image without the sense of incongruity, particularly when performing the fluorescent observation of the sample larger than the visual field of the objective lens.例文帳に追加

特に対物レンズの視野より大きな標本を蛍光観察する際、標本を載置したステージを２次元方向にスキャンさせて標本の全範囲を同一の対物レンズで観察可能にし、その複数回のスキャン画像を記録し、またその複数のスキャン画像を張り合わせて違和感のない一枚の画像に再生すること。 - 特許庁

The semiconductor manufacturing device is provided with a sample holder, to which a semiconductor substrate is to be mounted, a mask which has at least one or more first openings for selectively growing crystal in the semiconductor substrate, a mask holder which pinches the semiconductor substrate and the mask between the sample holder and itself and is combined with the sample holder, and an elastic body provided between the mask and the mask holder.例文帳に追加

半導体基板が搭載される試料ホルダと、半導体基板に選択的に結晶を成長させるための少なくとも１つ以上の第１の開口を有するマスクと、半導体基板およびマスクを試料ホルダとの間に挟み、試料ホルダと組み合わされるマスクホルダと、マスクとマスクホルダとの間に設けられた弾性体とを有する構成である。 - 特許庁

The impedance of data acquisition sample 11B for correction is measured with a reference measurement device 1 and an actual measurement device 2, respectively, and a correlation between the measurement result by the actual measurement device 2 and the measurement result by the reference measurement device 1 is obtained.例文帳に追加

補正用データ取得試料１１Ｂのインピーダンスを、基準測定装置１と実測測定装置２とによりそれぞれ測定したうえで、実測測定装置に２よる測定結果と基準測定装置２による測定結果との間の相互関係式を求める。 - 特許庁

To provide a spotting device, a spotting method, and a control device of the spotting device capable of performing spotting of a sample onto the accurate position on the surface of a base material regardless of an attitude of the base material on the XY-plane.例文帳に追加

基材がＸＹ平面中でどのような姿勢になっていても、試料を基材の表面の正確な位置に点着することができる点着装置及び点着方法並びに点着装置の制御装置を提供すること。 - 特許庁

An observation device 45 is moved to a determined target position in X and Y directions, a load device 55 is moved two-dimensionally when not on a crystal grain boundary for observing the sample by the observation device 45, and an indentation is formed at the measuring target position by a penetrator.例文帳に追加

決定された目標位置へ観察装置４５をＸＹ移動し、観察装置４５で供試体を観察する、結晶粒界上でなければ負荷装置５５を２次元移動し、測定目標位置に圧子５５ａで圧痕を形成する。 - 特許庁