「sample point」に関連した英語例文の一覧と使い方(9ページ目) - Weblio英語例文検索

When the sample area indicated with a rectangular frame 41x is dragged-and-dropped to an area 42a desired to perform color tone correction thereon in the correction object image 42, coordinates of a drop point are inputted to a correction coordinate receiving section 11c.例文帳に追加

矩形枠４１ｘで示される見本領域を、補正対象画像４２の色調補正を行いたい領域４２ａへドラッグアンドドロップすると、ドロップ地点の座標が補正座標受付部１１ｃへ入力される。 - 特許庁

At this point, the pass band of the reception filter 22 is wider than the pass band of the transmission filter 12, and the pass band of the sample pulse filter 24 is a band except the resonance band of a substrate of an equIvalent time sampling pulse radar.例文帳に追加

このとき、受信フィルタ２２の通過帯域は、送信フィルタ１２の通過帯域より広く、サンプルパルスフィルタ２４の通過帯域は、等価時間サンプリングパルスレーダの基板の共振帯域を除いた帯域である。 - 特許庁

To provide an ultrasonic diagnostic device for directly obtaining physical sonic speed at each sample point in a subject on the basis of a receiving signal of an ultrasonic echo reflected in the subject.例文帳に追加

被検体内において反射された超音波エコーの受信信号に基づいて、被検体内の各サンプル点における物理的な音速を直接的に求めることができる超音波診断装置を提供する。 - 特許庁

The image observation visual field is rotated at the middle point of the image observation visual field, thus the probe is not moved unlike in the past, and the tip of the probe does not collide with a sample surface.例文帳に追加

これによれば、像観察視野の回転の動作は像観察視野の中点の位置で行われるので、従来のようにプローブの移動は行われず、プローブの先端と試料表面とが衝突することはない。 - 特許庁

Since the absolute humidity of the air in the dry air passage 18 is already lowered at this point of time, no dew condensation is caused on the plate 10, nor in the sample container housed therein even if the plate 10 is cooled.例文帳に追加

その時点では既に乾燥空気用通路１８内の空気の絶対湿度が低下しているので、プレート１０が冷却してもプレート１０やそこに収容されている試料容器に結露は生じない。 - 特許庁

The R rate is obtained by collecting a sample of approximately 20 g, measuring its mass under a standard state and its absolutely dried mass, and calculating by "formula": R(%)=[(m-m')/m']×100, and rounding at double figures below decimal point.例文帳に追加

Ｒ率は、試料約２０ｇを採り、その標準状態の質量及び絶乾質量を量り、〔式〕Ｒ（％）＝［（ｍ−ｍ’）／ｍ’］×１００によって算出し、小数点以下２桁を四捨五入して得る。 - 特許庁

To provide a radioactive gas monitor capable of precisely measuring even a rare gas which is to be measured by making an instruction accurately follow a change in radiation concentration of an exhaust gas at a headstream point, to suppress dropping of pressure of a sample gas.例文帳に追加

源流点の排ガスの放射能濃度変化に対して指示が正確に追従し、試料ガスの圧力低下を抑制して測定対象の希ガスを高精度で測定できる放射性ガスモニタを提供する。 - 特許庁

By adjusting the height of an observation point on a sample to the height of the mark 47 and by using known offsets of the views of a slanting column and a vertical column at that time, the view of the slanting column is made coincident with that of the vertical column.例文帳に追加

試料上の観察点の高さをマーク４７の高さに調整し、その時の傾斜カラムと垂直カラムの視野の既知のオフセットを用いることにより、傾斜カラムと垂直カラムの視野を一致させる。 - 特許庁

The light signal analyzer 100 has a light detection part 130 for detecting the light emitted from the measuring point in a sample S and a control part 160 for performing the control required in the analysis of a light signal.例文帳に追加

光信号解析装置１００は、試料Ｓ内の測定点から発せられる光を検出する光検出部１３０と、光信号解析に必要な制御を行なう制御部１６０とを有している。 - 特許庁

In relation to a specific measuring item, a control part 18 recognizes the position of the reagent container on reagent disks 71a and 71b at the point of time when work for dispensing a reagent in a reaction tube 3 containing a specimen sample is completed.例文帳に追加

特定の測定項目に関して、検体試料を含む反応管３に試薬を分注する作業が終了した時点での試薬ディスク７１ａ、７１ｂ上の試薬容器位置を制御部１８が認識する。 - 特許庁

To automatically image a desired evaluation point (EP) on a sample, and automatically measure a circuit pattern formed at the evaluation points, in the dimension measurement of a circuit pattern using a scanning electron microscope (SEM).例文帳に追加

走査型電子顕微鏡（ＳＥＭ）を用いた回路パターンの寸法計測において、試料上の任意の評価ポイント（ＥＰ）を自動で撮像し，評価ポイントに形成された回路パターンを自動で計測することを可能にする。 - 特許庁

A focus displacement direction and a focus displacement amount are detected from the incident light quantity of the photodiode so as to perform focusing point operation to move a lens or a sample in a focusing direction so as to correct it by the focus displacement amount.例文帳に追加

このフォトダイオードの入射光量から、焦点ずれの方向と、ずれ量を検出して、レンズまたは試料をその合焦点方向にずれ量だけ補正するように移動させる合焦点動作を行う。 - 特許庁

The confocal optical system 40 includes a lens for converging the fluorescence, a confocal diaphragm having a positional relation conjugated all the time with the condensed point of the excited light inside the sample, and a lens for collimating the transmitted fluorescence.例文帳に追加

共焦点光学系４０は、蛍光を集光するレンズと、試料内の励起光の集光点と常に共役な位置関係にある共焦点絞りと、これを通過した蛍光をコリメートするレンズを含んでいる。 - 特許庁

An X-ray beam 48 emitted from the focal point 34 become parallel beams 60 when the beam 48 is reflected by the mirror 16 and the beams 60 strike the sample 12 through the opening 52 of the slit device 18.例文帳に追加

Ｘ線焦点３４から出射されたＸ線ビーム４８は放物面多層膜ミラー１６で反射して平行ビーム６０となり，選択スリット装置１８の開口５２を通過して試料１２に当たる。 - 特許庁

The time delay appears synchronized with a time point corresponding to the delay time between the transmission signal and the reception signal, by obtaining the sample value within an observation time and by finding a zero intersection, using an observation time length of the signal as the maximum delay time.例文帳に追加

信号の観測時間長を予測される最大遅延時間として観測時間内のサンプル値を取得しゼロ交差求めると、送受信信号間遅延時間に相当する時点と同期して出現する。 - 特許庁

In an objectivizing method for a (surface) inspection method by image processing, information z (x, y) is derived on each image point (x, y) in a measurement region on the surface of the sample, and a resultant amount is calculated from them.例文帳に追加

本発明は画像処理による（表面）検査方法の客観化方法は、検査試料表面の測定域の各像点（ｘ，ｙ）に対し情報ｚ（ｘ，ｙ）を求め、これから結果量を算出する。 - 特許庁

The support member 4 or 5 is constituted so as to be posture-adjustable in such a way that beams of light 8, 9 connecting the optical window to the measuring point of the sample are perpendicular to the optical window 6 or 7.例文帳に追加

そして前記光学窓支持部材は、前記光学窓と前記試料の測定点を結ぶ光８，９が前記光学窓６または７に垂直になるように姿勢調節可能に構成されている。 - 特許庁

As a result, color tone correction is performed by a color tone correcting section 11e in such a way that the area 42a having the same texture or color and spread around the drop point can have the color tone similar to the sample area.例文帳に追加

その結果、ドロップ地点の周囲に広がる同一のテクスチャや色味を持った領域４２ａが見本領域と同様の色調を持つように、色調補正部１１ｅにより色調補正が行われる。 - 特許庁

When the equipment is used, the pattern is positioned to an accurate position, and high-accuracy electron beam lithography can be performed even when the height of a sample in the image forming surface of the beam changes by preventing unnecessary deflection of electrons caused by the focal point correction.例文帳に追加

本発明によれば、焦点補正による不要な電子偏向防止されてビーム結像面である試料面の高さ変化があっても正確な位置にパターン露光され高精度の電子ビーム描画が可能となる。 - 特許庁

The oscillator (sine wave generating means) 4 successively computes a value of each sample point of the waveform by using a recurrence formula, according to an initial value instructed by the means 3, thereby generating a sine wave signal.例文帳に追加

発振器（正弦波生成手段）４は、初期設定手段３より指示される初期値に従い、漸化式を用いて波形の各サンプル点の値を順次計算することにより、正弦波信号を生成する。 - 特許庁

The method includes the step of sampling the digital signal V1 or a sample value signal V4 of the digital signal V1 using a sampling device 166 in a sampling point to which controllable phase-shifting is applied.例文帳に追加

本方法は、ディジタル信号Ｖ１、または該ディジタル信号Ｖ１のサンプル値信号Ｖ４を、サンプリング装置１６６を使用して、制御可能な移相が施されるサンプリング・ポイントにおいてサンプリングするステップを含む。 - 特許庁

By supplying a current to the anode and the cathode, the target protein in the sample solution, having an isoelectric point between the pH of one gel filled column and the pH of the other gel-filled column.例文帳に追加

そのアノードとカソードとに通電することにより、一方のゲル充填カラムのｐＨと他方のゲル充填カラムのｐＨとの間に等電点を有する試料溶液中の目標タンパク質をサンプルチャンバ内に集束させる。 - 特許庁

This observation system is constituted of an inspected lens 4 for inspection, an illumination system 6 for emitting parallel light, a beam splitter 5, a spherical mirror 3 of a reflecting sample for the inspected lens 4, and a point image magnification observation system 7 for magnification-observing a point image generated by light reflected on the spherical mirror 3 and transmitted through the inspected lens 4.例文帳に追加

検査する被検レンズ４と、平行光を射出する照明系６と、ビームスプリッタ５と、被検レンズ４の反射用標本である球面ミラー３と、この球面ミラー３で反射し、被検レンズ４を通した光による点像を拡大観察する点像拡大観察系７とで構成している。 - 特許庁

A dilution rate control section 53 perform the discharge operation of a syringe pump 19 so that a preset amount of sample can be fed to a merged point 51 at a preset flow rate, and at the same time drives a pump 49 for feeding diluent to the merged point 51 at a preset flow rate.例文帳に追加

希釈率制御部５３により、予め設定された量の試料が予め設定された流速で合流点５１に送液されるようにシリンジポンプ１９を吐出動作させ、同時に予め設定された流速で希釈液が合流点５１に送液されるように希釈液送液用ポンプ４９を駆動させる。 - 特許庁

In the device for processing a sample 2 by generating an ion beam 1, this plate for detecting an irradiation point of the ion beam 1 by irradiating it with the ion beam 1 is composed by using a material allowing the irradiation point of the ion beam 1 to be discriminated from its circumferential part without emitting gas by the ion beam irradiation.例文帳に追加

イオンビーム１を発生させて試料２を加工する装置において、イオンビーム１を照射してイオンビーム１の照射点を検出するための板であって、イオンビーム１の照射点と周囲の部位との区別がつくような材料であって、且つイオンビーム照射によりガス放出がない材料を用いて構成される。 - 特許庁

At each measuring point of a revolver 7, the detection data of the photodetector 15 about each measuring point of a surface of the sample 10 and the detection data of the photodetector 19 thereabout are acquired.例文帳に追加

そして、レボルバ７の各測定位置において、試料１０の表面の各測定点についての光検出器１５の検出データと光検出器１９の検出データを取得し、予め設定された閾値以上の光検出器１９の検出データがあった場合には、それを、光検出器１５の対応する検出データに置き換える。 - 特許庁

The diameter D of a sample chamber 11 is set to 16-24 mm, the depth L is set to 36 mm or more, and the distance LS from an opening 11a in the sample chamber 11 to a temperature sensor 2 is set to 7-22 mm, thus reducing time before reaching an eutectic point and also reducing the inclination of a cooling curve in eutectic.例文帳に追加

試料室１１の直径Ｄを１６〜２４ｍｍ、深さＬを３６ｍｍ以上とし、試料室１１の開口部１１ａから温度センサ２までの距離ＬＳを７〜２２ｍｍの範囲とすることにより、共晶点に到達するまでの時間を短くすることができ、しかもその共晶時における冷却曲線の傾きを小さくすることができる。 - 特許庁

To determine a mass spectrum of high mass resolution by eliminating its influence, even if there is a difference in a flight distance with every measuring point by a recess-projection of a sample surface, when determining the mass spectrum in a measuring area by using data gathered by performing mass spectrometry on a plurality of different measuring points in the narrow measuring area on a sample.例文帳に追加

試料上の狭い測定領域内の異なる複数の測定点についての質量分析を行って収集されたデータを用い該測定領域におけるマススペクトルを求める場合に、試料表面の凹凸により測定点毎の飛行距離に差異があっても、その影響をなくして高い質量分解能のマススペクトルを求める。 - 特許庁

A protocol and a destination IP address are fixedly set to an attribute being commonly set between the rules, a combination of the source IP address and the source port number is sequentially changed and set to each of the selected sample points, and a verification packet which is set by sequentially changing a destination port number for each sample point within a suitable range is sequentially generated.例文帳に追加

プロトコルと終点ＩＰアドレスを前記ルール相互間で共通に設定されている属性に固定設定し、かつ始点ＩＰアドレスと始点ポート番号の組み合わせを前記選択された各サンプル点に順次変化させて設定し、かつ該サンプル点ごとに終点ポート番号を適宜の範囲で順次変化させて設定した検証パケットを順次発生する。 - 特許庁

To provide a device and a method of inspecting a failure of the charged particle beam capable of performing the focused clear observation and the accurate failure inspection even in the case of using a charged up sample by automatically correcting a displacement of the focal point position due to the charge up generated in the sample as an object of observation.例文帳に追加

観察対象の試料に生ずるチャージアップに起因する焦点位置のずれを操作者の手を煩わすことなく補正することができ、その結果として試料がチャージアップしている場合であっても焦点のあった鮮明な観察及び高精度の欠陥検査を行うことができる荷電粒子ビーム欠陥検査装置及び方法を提供する。 - 特許庁

X-ray intensity I obtained from an X-ray beam diffracted by a specimen and passed through a portion not shielded by the movable blade 54 is computed on a computer side, and a difference of the X-ray intensity I per the sample point interval is computed therein.例文帳に追加

コンピュータ側では、被検体で回折されて可動ブレード５４に遮蔽されていない部分を通過したＸ線ビームから得たＸ線強度Ｉを演算し、標本点間隔あたりのＸ線強度Ｉの差分を演算する。 - 特許庁

A normal vector N is determined at the position of the sample point Q, an intersection angle ξ between a projection vector N^* obtained by projecting the normal vector N onto the projection surface Syz and the reference axis R is determined and an azimuth θ is defined as θ=ξ/2.例文帳に追加

標本点Ｑの位置において法線ベクトルＮを求め、これを投影面Ｓｙｚに投影して得られる投影ベクトルＮ^＊と基準軸Ｒとの交差角ξを求め、θ＝ξ／２なる方位角θを定義する。 - 特許庁

To provide a sample hold circuit using perfect differential operation implifier which is increase in operational stability, and the stability and precision of A/D converter by sustaining the equilibrium point shift of the mean value of the differential output signal.例文帳に追加

完全差動型演算増幅回路を用いたサンプル・ホールド回路において、動作安定性を高めるとともに差動出力信号の中心値の平衡点の変動を抑え、Ａ／Ｄ変換器の安定性、精度を向上させる。 - 特許庁

To provide an image recognition device and an image recognition method, efficiently setting a sample point for comparing a characteristic of an image, and capable of executing an identification process in a short time, and to provide a program making a computer to execute the method.例文帳に追加

画像の特徴を比較するサンプル点を効率的に設定し、本人確認処理を短時間で実行することができる画像認識装置、画像認識方法およびその方法をコンピュータに実行させるプログラムを提供すること。 - 特許庁

In addition, shots 508 and 509 symmetrically positioned with respect to a straight line 503 passing the center of a shot layout or shots which are point symmetrically positioned about the center 500 of the layout are selected as other sample shots.例文帳に追加

さらには、ショットレイアウトの中心を通る直線５０３についてほぼ対称の位置にあるショット５０８、５０９、またはショットレイアウトの中心５００についてほぼ点対称の位置にあるショットを他のサンプルショットとして選択する。 - 特許庁

When a designer is not satisfied with the Pareto optimal solution, it maps a sample point group out of the initial constraints of a design parameter set in the objective space, an objective function display section 105 displays its result and presents an improvement solution to the designer (107).例文帳に追加

パレート最適解に満足できない時、設計パラメータ組の当初の制約条件外のサンプル点群について目的空間への写像を行い、目的関数表示部１０５に表示させて改善解を提示する（１０７）。 - 特許庁

The initial value of the parameter for obtaining the portfolio is inputted from an input part 1 and the value of the parameter in each period or at each point of time is obtained for a plurality of sample paths (routes) by Monte Carlo simulation in a simulation device 2.例文帳に追加

入力部１から、ポートフォリオを求めるためのパラメータの初期値を入力され、シミュレーション装置２で、モンテカルロ・シミュレーションにより、複数のサンプル・パス（経路）について、各期間又は各時点のパラメータの値が求められる。 - 特許庁

To provide an information processor capable of confirming an execution state by providing a function unit with a break point and interrupting processing of the function unit in a process of software debug using a sample substrate.例文帳に追加

本発明は、サンプル基板を用いたソフトウェアデバッグの過程において、機能ユニットにブレークポイントを設けることで機能ユニットの処理を中断させ、実行状態を確認可能である情報処理装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

Furthermore, the refractive index of an identical point on a sample to be subjected to interference measurement is determined, by using an identical light source, to measure a Brewster's angle that is determined solely by the refractive index of a reflective substance, using slope incidence and reflection measuring gauge.例文帳に追加

また、干渉測定する対象試料の同一点の屈折率を同一光源を用いて、傾斜入反射測定計で反射物質の屈折率のみで決まるブリュースター角を測定することで、屈折率を決定する。 - 特許庁

An ExB 16 for a detection part supplying a field acting on tracks of secondary particles generated from a sample 2, is arranged at the convergence point 24 of the primary electron beam, and only the secondary particles in a specific energy range is guided to a detection part 13.例文帳に追加

一次電子線の収束点２４には，試料２から発生する二次粒子の軌道に作用する場を供給する検出部用ExB１６を設け，特定のエネルギー範囲の二次粒子のみを検出部１３に導く。 - 特許庁

To solve the problem wherein inspection of a sample easy to charge with high sensitivity/high stability is difficult since continuous irradiation thereof with electron beam causes drifting of the position or focal point of an electron beam image by change with time of the charged potential.例文帳に追加

帯電が蓄積しやすい試料に対して電子線を照射し続けると、帯電電位が経時変化することにより電子線画像の位置や焦点がドリフトするため、高感度・高安定での検査が困難である。 - 特許庁

The electron microscope has an objective lens 151b for connecting the focus point of an electron beam on the sample, a lens controller 150b which applies exciting current applied to the objective lens 151b, and a host computer 102 which measures feature structures.例文帳に追加

電子顕微鏡は電子ビームの焦点を試料上に結ぶための対物レンズ151bと、対物レンズ151bに供給される励磁電流を供給するレンズ制御部150bと、特徴構造を測定するホストコンピュータ102を有している。 - 特許庁

The radar system capable of searching the required covering area with the short data updating interval is attained by controlling the radars, based on a result obtained by executing the switching for the sample point flags until the data updating interval difference comes within an allowable value.例文帳に追加

データ更新間隔差が許容値以内となるまでサンプル点フラグの切り換えを実施した結果に基づいてレーダを制御することにより、短いデータ更新間隔で要求覆域を探知できるレーダ装置を得ることができる。 - 特許庁

A normal vector N is found at the position of the sample point Q, an angle ξ of intersection of a projection vector N^* obtained by projecting the normal vector N on the projection surface Syz and the reference axis R is found, and an azimuth angle θ satisfying θ=ξ/2 is defined.例文帳に追加

標本点Ｑの位置において法線ベクトルＮを求め、これを投影面Ｓｙｚに投影して得られる投影ベクトルＮ^＊と基準軸Ｒとの交差角ξを求め、θ＝ξ／２なる方位角θを定義する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope for avoiding the trouble of sample stand changing, and accurately measuring the temperature depending characteristic of physical properties by tracing measurement of the temperature variation on an identical measurement point and an identical measurement area.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡において、試料を測定する際、試料台の交換の手間をなくすとともに、同一測定ポイント同一測定領域の温度変化を追跡測定し、物性の温度依存特性を正確に測定すること。 - 特許庁