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silicon substrateの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 10158



例文

Since a metallic material film is formed on a semiconductor layer such as Si substrate, a material for constituting a semiconductor layer, such as a silicon oxide film, is tends to be difficult to formed, so a dielectric film with a large capacitance per unit area, which comprises a base material layer such as MgO layer with high dielectric constant as well as crystalline CeO2 layer, is provided.例文帳に追加

つまり、Si基板などの半導体層の上に、金属材料の膜が形成されていることで、シリコン酸化膜等の半導体層を構成する材料の酸化膜が形成されにくいので、比誘電率の高いMgO層などの下地層及び結晶性CeO_2 層を含む単位面積当たりの容量の大きい誘電体膜が得られる。 - 特許庁

Landing pads 8 are formed on a silicon substrate 1, a second interlayer insulating film 9 is formed, bit line contact holes 100 each leading to the landing pad 8 and lower storage node contact holes 130a are bored in the second interlayer insulating film 9 at the same time, and lower storage node contacts 13a are formed together with bit line interconnect lines 11.例文帳に追加

シリコン基板1上にランディングパッド8を形成し、第2層間絶縁膜9を形成して、第2層間絶縁膜9中にランディングパッド8に至るビットラインコンタクトホール100および下部ストレージノードコンタクトホール130aを同時に開口し、ビットライン配線11とともに下部ストレージノードコンタクト13aを形成する。 - 特許庁

This hydrogen gas detecting element is provided with a diaphragm type silicon substrate 1, a gas sensitive membrane 5 comprising an oxide semiconductor such as SnO_2, a pair of comb-toothed electrodes 4 comprising Pt or the like, a catalyst cluster 6 comprising Pd, Pt or the like, and a patially poisoned body 7 comprising SiO_2 which is formed by oxidizing a Si film without heating.例文帳に追加

ダイアフラム型のシリコン基板1と、SnO_2等の酸化物半導体からなるガス感応膜5と、Pt等からなる一対の櫛歯電極4と、Pd、Pt等からなる触媒クラスタ6と、SiO_2からなる部分被毒体7と、を備え、部分被毒体がSi膜を加熱せずに酸化させて形成された水素ガス検出素子を得る。 - 特許庁

This method of forming a CMOS device having improved electrostatic-discharge protection characteristics contains a step of preparing a silicon substrate, a step of forming an n-well for a pMOS active region, a step of forming a p-well for an nMOS active region, and a step of implanting ions to at least one active region to form a lightly-doped drain series resistor.例文帳に追加

改善された静電気放電保護特性を有するCMOSデバイスを製造する方法は、シリコン基板を用意する工程と、pMOS活性領域のためのnウエルを形成する工程と、nMOS活性領域に対するpウエルを形成する工程と、少なくとも1つの活性領域において少量ドープされたドレイン直列レジスタを形成するためにイオンを注入する工程とを含む。 - 特許庁

例文

A Co silicide layer 17 is formed as a cap layer in a specified region of a silicon substrate 1 provided with a polymetal gate electrode 9 including tungsten by using a TiN film 16, and the TiN film 16 is wet-etched using an H_2SO_4 solution, for example, so that a TiN/W selection ratio becomes 5 or larger.例文帳に追加

タングステンを含むポリメタルゲート電極9が設けられたシリコン基板1の所定の領域に、キャップ膜としてTiN膜16を用いてCoシリサイド層17を形成した後、TiN/W選択比が5以上となるように、TiN膜16に対して例えばH_2SO_4溶液を用いてウェットエッチングを行なう。 - 特許庁


例文

The balloon transformer includes first and second ground potential layers 20, 40 formed on a silicon substrate 10, an unbalanced signal first transmission line 50 having a dielectric layer 30 interposed between the layers 20 and 40 and provided in the layer 30, and a second transmission line 60 and a third transmission line 70 vertically arranged in parallel with the layers 20 and 40.例文帳に追加

バルントランスは、シリコン基板10上に形成された第1、第2アース電位層20、40と、それに挟まれた誘電体層30を有し、誘電体層30内部には不平衡信号第1伝送線路50と、第2伝送線路60および第3伝送線路70が第1、第2アース電位層20、40と平行に上下に配される。 - 特許庁

In the manufacturing method of the semiconductor device in which the gate insulation film is formed on a silicon single crystal substrate for the gate insulation film, an oxide layer is formed by an organic metal chemical vapor deposition method using a gaseous mixture having an oxidizing gas and an organic metal gas composed of the cyclopentadienyl complex of elements composed of one or more kinds of Ln (Ln is rare earth element).例文帳に追加

本発明は、シリコン単結晶基板上に、ゲート絶縁膜を形成する半導体装置の製造法において、前記ゲート絶縁膜を、Ln(Lnは希土類元素)の1種類以上からなる元素のシクロペンタジエニル錯体からなる有機金属ガスと酸化性ガスとを有する混合ガスを用いた有機金属化学気相成長法によって酸化物層を形成することを特徴とする。 - 特許庁

The temperature of the substrate 12 becomes high at a position that is irradiated with the laser beam 13 for depositing a deposition material 11C, the crystallization of the deposited deposition material 11C advances since a low temperature suitable for crystallization is achieved at a prior irradiation position when the laser beam 13 moves to the other position, and a thin film 20 made of polycrystalline silicon remains.例文帳に追加

レーザビーム13が照射された位置で基板12が高温となって蒸着材料11Cが堆積し、レーザビーム13が他の位置へ移動すると、以前の照射位置では結晶化に適した低温となるので堆積した蒸着材料11Cの結晶化が進行し、多結晶シリコンからなる薄膜20が残る。 - 特許庁

This semiconductor device comprises a silicon substrate 31 having a planar active region 201 and an active region consisting of a prominent active region 202B on the planar active region 201, a gate insulating film 39 formed on the active region, and a gate 400 located on the gate insulating film 39 and including a gate wiring films 40, 41 covering the prominent active region 202B.例文帳に追加

プレーナ活性領域201及びプレーナ活性領域201上のプロミネンス活性領域202Bで構成された活性領域を有するシリコン基板31、活性領域上に形成されたゲート絶縁膜39と、ゲート絶縁膜39上に位置し、プロミネンス活性領域202Bを覆うゲート配線膜40、41を含むゲート400を備えている。 - 特許庁

例文

A formation method of a silicone oxide film comprises a step of depositing a polysilicon film on a substrate and a step of forming the silicon oxide film on the surface of the polysilicon film by exposing the surface of the polysilicon film to an atomic oxygen O* formed by exciting a plasma with a microwave to a mixed gas composed of a gas including oxygen and an inert gas mainly composed of a Kr gas.例文帳に追加

シリコン酸化膜の形成方法は、基板上にポリシリコン膜を堆積する工程と、 前記ポリシリコン膜の表面を、酸素を含むガスとKrガスを主体とする不活性ガスとよりなる混合ガスにマイクロ波によりプラズマを励起することで形成される原子状酸素O*に曝すことにより、前記ポリシリコン膜の表面にシリコン酸化膜を形成する工程とよりなる。 - 特許庁

例文

An acid and water are contained in a coating liquid so as that the acid/water weight ratio is ≥0.58 and the acid is obtained by dissolving a hydrogen halide in an alcohol solvent in a method for producing a siliceous film-coated article comprising coating a substrate with the coating liquid containing a silicon alkoxide and the acid in the alcohol solvent.例文帳に追加

アルコール溶媒中にシリコンアルコキシドおよび酸を含むコーティング液を基材に塗布するシリカ系膜被覆物品を製造する方法において、前記コーティング液は、前記酸および水を酸/水の重量比が0.58以上であるように含有し、そして前記酸はハロゲン化水素を前記アルコール溶媒に溶解させたものであることを特徴とするシリカ系膜被覆物品を製造する方法である。 - 特許庁

A semiconductor wafer before a dicing comprises a silicon substrate 50 with its surface divided into a element forming region 42 and a scribing line region 43, with a passivation film 55 and a polyimide film 56 covering the element forming region 42, and with the accessary pattern 53 comprising a top layer interconnection layer 52 exposing to the scribing line region 43.例文帳に追加

ダイシング前の半導体ウェーハは、シリコン基板50上が素子形成領域42とスクライブ線領域43とに分けられ、パッシベーション膜55及びポリイミド膜56が素子形成領域42を覆い、最上層配線層52からなるアクセサリパターン53がスクライブ線領域43に露出しているものである。 - 特許庁

In the formation of source-drain region of a MOS transistor with LDD structure, after forming a gate electrode 103 via a gate insulating film 102 on a p-type silicon substrate 101, ion implantation is performed using the gate electrode 103 or the like as an ion implantation mask, furthermore, an n-low concentration impurity region 106 is formed by heat treatment.例文帳に追加

LDD構造を有するMOSトランジスタのソース・ドレイン領域の形成において、P型シリコン基板101上にゲート絶縁膜102を介して、ゲート電極103を形成後、ゲート電極103等をイオン注入マスクとして、イオン注入を行い、さらに熱処理によって、n−低濃度不純物領域106を形成する。 - 特許庁

A p-type doped silicon wafer 50 is employed as a semiconductor substrate, an aqueous solution 20 of potassium hydroxide is employed as an etching liquid and etching is performed by conditioning the concentration of KOH in the aqueous solution 20 of potassium hydroxide in the range of 40-50 wt% and the liquid temperature at 110°C or above.例文帳に追加

半導体基板としてp型にドープされたシリコンウェハ50を用い、エッチング液として水酸化カリウム水溶液20を用い、水酸化カリウム水溶液20のKOH濃度を40重量%以上50重量%以下の範囲とし、液温度を110℃以上にて調整することにより、エッチング処理を行う。 - 特許庁

The semiconductor device comprises lower storage nodes 10a-10d provided on a main surface 1a of a silicon substrate 1; a dielectric film 15 provided on the lower storage nodes 10a-10d; an upper cell plate electrode 11 provided on the dielectric film 15; and an interlayer insulating film 3 for covering the upper cell plate electrode 11.例文帳に追加

半導体装置は、シリコン基板1の主表面1a上に設けられた下部ストレージノード電極10aから10dと、下部ストレージノード電極10aから10d上に設けられた誘電体膜15と、誘電体膜15上に設けられた上部セルプレート電極11と、上部セルプレート電極11を覆う層間絶縁膜3とを備える。 - 特許庁

The information recording medium 10 is composed of an information recording film 13 which is formed on an oxidized film 12 on the silicon (Si) substrate using iron (Fe) as a ground surface layer and consists of an iron-platinum (FePt) ordered alloy containing isolated iron-platinum (FePt) ordered alloy particles below 40 nm in crystal grain size.例文帳に追加

表面に酸化膜12が形成されたシリコン(Si)基板11と、上記シリコン(Si)基板11の酸化膜12上に鉄(Fe)を下地層として形成された結晶粒径が40nm以下の孤立した鉄プラチナ(FePt)規則合金粒子を含む鉄プラチナ(FePt)規則合金による情報記録膜13にて情報記録媒体10を構成する。 - 特許庁

The light transmitting carbon thin film which has a refractive index of 1.98 and to which nitrogen or nitrogen and hydrogen are added is obtained by depositing a carbon thin film on a silicon substrate, adding nitrogen to the carbon thin film at the same time, and adjusting the refractive index and the absorption coefficient by reducing the content of nitrogen by performing heat treatment.例文帳に追加

シリコン基板上にカーボン薄膜を成膜すると同時にカーボン薄膜に窒素を添加し、その後熱処理を行うことで窒素の含有量を減少させて屈折率および吸収係数を調整し、窒素あるいは窒素と水素が添加された屈折率が1.98の光透過性カーボン系薄膜を得る。 - 特許庁

In the dry etching of an insulating film 10 containing silicon and carbon formed on a wafer 4 (substrate 9), a plasma 3 is generated from a gas mixture containing a first molecule gas containing carbon and fluorine and a second gas containing nitrogen, and RF bias of 2 MHz or lower is applied to an electrode 5 which installs the wafer 4.例文帳に追加

ウエハ4(基板9)上に形成された、シリコンと炭素とを含む絶縁膜10のドライエッチングにおいて、炭素と弗素とを含む第1の分子ガスと窒素を含む第2の分子ガスとを含む混合ガスからプラズマ3を生成し、且つ、ウエハ4を設置する電極5に2MHz以下のRFバイアスを印加する。 - 特許庁

A methyl methacrylate resin in which fine particles of a cesium tungstate compound are dispersed is applied and cured on a surface of a polycarbonate substrate 1 to form an acrylic primer layer 2, and siloxane-based coating is applied and cured on a cured surface of the acrylic primer layer 2 to form a silicon-based hard coat film 3.例文帳に追加

ポリカーボネイト基板1の表面にタングステン酸セシウム化合物の微粒子を分散したメタクリル酸メチル樹脂を塗布硬化させてアクリル系プライマー層2を成膜し、アクリル系プライマー層2の硬化表面にシロキサン系塗料を塗布硬化させてシリコン系ハードコート膜3を成膜する。 - 特許庁

The thin film transistor 100 includes a substrate 11, a gate electrode 112, a gate insulating film 113, a semiconductor layer (channel region) 114 formed of the microcrystal silicon, first ohmic contact layers 116 and 117, second ohmic contact layers 118 and 119, a drain electrode 120, and a source electrode 121.例文帳に追加

薄膜トランジスタ100は、基板11と、ゲート電極112と、ゲート絶縁膜113と、微結晶シリコンから形成された半導体層(チャンネル領域)114と、第1のオーミックコンタクト層116,117と、第2のオーミックコンタクト層118,119と、ドレイン電極120と、ソース電極121と、を備える。 - 特許庁

To solve the problem wherein, in a conventional solid-state imaging device in which a single-layer silicon oxide film formed on a semiconductor substrate is patterned into a prescribed shape by wet etching to form a field insulation film, a short circuit between electrodes is easily caused on a side face (etching face) of the field insulation film when forming various electrodes by patterning a conductive film by etching.例文帳に追加

半導体基板上に形成した単層のシリコン酸化膜をウェットエッチングにより所定形状にパターニングしてフィールド絶縁膜を形成する従来の固体撮像素子では、導電膜をエッチングによってパターニングして種々の電極を形成する際に、フィールド絶縁膜の側面(エッチング面)上において電極同士の短絡が生じやすい。 - 特許庁

The method for manufacturing the semiconductor device includes the steps of forming a first insulating film 25 on the upper side of a silicon substrate 10, forming an impurity layer 22 to the first insulating film 25 by implanting impurity ion in the predetermined depth of the first insulating film 25, and thereafter reforming the impurity layer 22 to a barrier insulating film 23 by annealing the first insulating film.例文帳に追加

シリコン基板10の上方に第1絶縁膜25を形成する工程と、第1絶縁膜25の所定の深さに不純物をイオン注入することにより、第1絶縁膜25に不純物層22を形成する工程と、不純物層22を形成した後、第1絶縁膜をアニールすることにより、不純物層22をバリア絶縁膜23に改質する工程とを有する半導体装置の製造方法による。 - 特許庁

The semiconductor photodetector SP includes: a silicon substrate 21 that includes a first conductivity type semiconductor and has first and second main surfaces 21a, 21b opposing to each other and a second conductivity type semiconductor layer 23 formed at the side of the first main surface 21a; and a charge transfer electrode 25 that is provided on the first main surface 21a and transfers generated charges.例文帳に追加

半導体光検出素子SPは、第1導電型の半導体からなり、互いに対向する第1主面21a及び第2主面21bを有すると共に第1主面21a側に第2導電型の半導体層23が形成されたシリコン基板21と、第1主面21a上に設けられ、発生した電荷を転送する電荷転送電極25と、を備えている。 - 特許庁

The semiconductor device is characterized in that the deuterium concentration in the neighborhood of the interface between with the gate electrode of the gate insulating film 3 is ≥1×10^17 cm^-3 and that the deuterium concentration in the neighborhood of the interface between with the silicon substrate of the gate insulating film is larger than the deuterium concentration in the neighborhood of the interface between with the gate electrode.例文帳に追加

ゲート絶縁膜3のゲート電極との界面近傍における重水素濃度が1×10^17cm^−3以上であり、かつゲート絶縁膜のシリコン基板との界面近傍における重水素濃度はゲート電極との界面近傍における重水素濃度よりも大きいことを特徴とする半導体装置。 - 特許庁

Impurity diffusion layers 4, a buffer insulating layer 4 composed of (Ce, Zr)O2 (or CeO2), the second ferroelectric layer 5 comprising Bi3TiNbO9, the first ferroelectric layer 6 consisting of Bi4Ti3O12, and a gate electrode 7 composed of polysilicon are laminated successively in an active region surrounded by the LOCOS film 2 of a silicon substrate 1.例文帳に追加

シリコン基板1のLOCOS膜2によって囲まれる活性領域には、不純物拡散層4と、(Ce,Zr)O_2 (又はCeO_2 )からなるバッファ絶縁層4と、Bi_3 TiNbO_9 からなる第2の強誘電体層5と、Bi_4 Ti_3 O__12からなる第1の強誘電体層6と、ポリシリコンからなるゲート電極7とが順に積層されている。 - 特許庁

The electron emission element using a nanocarbon material composite comprises an electrically conductive layer disposed on a substrate and a nanocarbon material composite obtained by forming a nanocarbon material having a spiral structure and a fibrous nanocarbon material on a silicon oxide particle directly or through a metal or metal compound, wherein the nanocarbon material composite is disposed on the electrically conductive layer and emits electrons under a strong electric field.例文帳に追加

ナノ炭素材料複合体を用いた電子放出素子は、基体上に設けた導電層と、酸化シリコン粒子に直接又は金属若しくは金属化合物を介してらせん構造を有するナノ炭素材料およびファイバー状ナノ炭素材料を形成してなるナノ炭素材料複合体とを含み、ナノ炭素材料複合体が導電層上に設けられ、強電界により電子を放出する。 - 特許庁

The optical switch has movable micromirrors 1a to 1d which are supported through the beam 11 formed integrally with the silicon substrate and enabled to move to projection positions and sinking positions by the beam 11 and performs switching for selecting a waveguide for a light signal by the movement of the movable micromirrors 1a to 1d; and the movable micromirrors 1a to 1d are formed of photosensitive material.例文帳に追加

シリコン基板に一体に形成された梁11を介して支持されその梁11により突出位置及び没入位置に移動可能に構成された可動マイクロミラー1a〜1dを有し、その可動マイクロミラー1a〜1dの移動により光信号の導波路選択のスイッチングを行うようにした光スイッチにおいて、可動マイクロミラー1a〜1dを感光性材料で形成する。 - 特許庁

While forming a sidewall 107 for covering the sidewall of the gate electrode 105 by etching back the insulating film, an almost horizontal engraved surface is formed to the element formation surface in a region for forming the source and drain regions 109 of the side of the sidewall 107 by carrying out the etching removal of the element formation side of the silicon substrate 101.例文帳に追加

絶縁膜をエッチバックしてゲート電極105の側壁を覆うサイドウォール107を形成するとともに、サイドウォール107の側方のソース・ドレイン領域109が形成される領域において、シリコン基板101の素子形成面をエッチング除去し、素子形成面に略水平な掘り下げ面を形成する。 - 特許庁

The method is constituted of a step of forming a storage-node electrode on a semiconductor substrate, a step of forming a dielectric film composed of a cycle silicon nitride film (cycle Si_3N_4 or SiO_xN_y) on the surface of the storage-node electrode, and a step of forming an upper electrode on the dielectric film.例文帳に追加

半導体ウェハ上にストレージノード電極を形成する段階と、前記ストレージノード電極の表面上にサイクルシリコン窒化膜(サイクルSi_3N_4またはSiO_xN_y)で構成された誘電体膜を形成する段階と、前記誘電体膜上に上部電極を形成する段階とを含んで構成される。 - 特許庁

The composite material has the fingerprint adhesion-resistant coating film, which contains silicon compound and hydrophilic metal oxide fine particles having the average particle size of 1-100 nm and is formed on the surface of a substrate, wherein the glossiness of the coating film is defined as ≤8 and the color difference is defined as <4.6.例文帳に追加

基板の表面に珪素化合物と平均粒子径1〜100nmの親水性金属酸化物微粒子を含む耐指紋付着性コーティング被膜が形成された複合材であって、前記コーティング被膜の光沢度が8以下、色差が4.6未満とすることで、耐指紋付着性コーティング被膜が形成された複合材。 - 特許庁

To provide a solar cell of high photoelectric conversion efficiency at low cost without deteriorating a back passivation effect and a back electric field effect in a process of forming a backside structure when the solar cell is manufactured using a sheet-like silicon substrate whose either surface is at least rugged and to provide a method of manufacturing the same.例文帳に追加

少なくとも一方の面が表面に凹凸を有する凹凸面であるシート状シリコン基板を用いた太陽電池を作製する際に、裏面構造の形成過程において裏面パッシベーション効果と裏面電界効果を損なうことがなく、低コストで光電変換効率の高い太陽電池およびその製造方法を提供する - 特許庁

In this method of forming the film having the composition containing Si, C, and N and used as the etching stopper layer, the film having the composition containing Si, C, and N is formed on a substrate disposed in a reaction chamber having a heated heating body by causing the vapor of an amino silicon component to exist in the reaction chamber.例文帳に追加

例えば、エッチングストッパ層として用いられるSiとCとNとを含む組成の膜を設ける方法であって、加熱された加熱体を有する反応室内にアミノシリコン化合物の蒸気を存在させることにより、反応室内に配置された基体上にSiとCとNとを含む組成の膜を設ける膜形成方法。 - 特許庁

The invention also provides a device for measuring deformation, which device comprises the first alumina coating 30 obtained by atmospheric thermal spraying onto the silicon carbide layer covering the substrate of the part after it has been treated by superposing laser impacts, a free filament strain gauge 40 placed on the coating 30, and an additional alumina coating obtained by atmospheric thermal spraying onto the strain gauge.例文帳に追加

本発明はまた、変形を測定する装置を提供し、装置は、レーザー衝突を重ねることによって処理された後、部品の基材を被覆する炭化ケイ素層上の、常圧溶射によって得られた第1のアルミナコーティング(30)と、コーティング(30)上に置かれたフリーフィラメントひずみゲージ(40)と、ひずみゲージ上への常圧溶射によって得られたさらなるアルミナコーティングと、を含む。 - 特許庁

A first hydrogen barrier film 101, a lower electrode film 30, a ferroelectric film 4, an upper electrode film 50 and a second hydrogen barrier film 102 are successively deposited on a silicon substrate 1 through an insulating film 2, and an upper electrode 5 is patterned by successively etching the hydrogen barrier film 102 and the upper electrode film 50 while using a mask 103.例文帳に追加

シリコン基板1上に絶縁膜2を介して、第1の水素バリア膜101、下部電極膜30、強誘電体膜4、上部電極膜50及び第2の水素バリア膜102を順次堆積し、マスク103を用いて水素バリア膜102及び上部電極膜50を順次エッチングして上部電極5をパターン形成する。 - 特許庁

In the fabricating method for the cold cathode device having a field emission cold cathode comprising a cathodic bus bar formed on a substrate and silicon electrically connected to the cathodic bus bar and a gate electrode arranged away from the electron emission cold cathode, a process is provided of adding an n-type impurity in an electron emitting area of the field emission cold cathode.例文帳に追加

基板に形成された陰極母線及び該陰極母線に電気的に接続されるシリコンからなる電界放出冷陰極を有すると共に、前記電界放出冷陰極から離間して配設されるゲート電極を有する冷陰極装置の作製方法において、前記電界放出冷陰極の電子放出領域にn型の不純物を添加する工程を備える。 - 特許庁

In this field emission electron source 10, an electron injected from the n-type silicon substrate 1 is drift in the strong electric field drift part 6 and is emitted through the surface electrode 7 by disposing the surface electrode 7 in a vacuum and applying a direct current voltage to the surface electrode 7 treated as a positive electrode relative to the ohmic electrode 2.例文帳に追加

この電界放射型電子源10では、表面電極7を真空中に配置し、表面電極7をオーミック電極2に対して正極として直流電圧を印加することにより、n形シリコン基板1から注入された電子が強電界ドリフト部6をドリフトし表面電極7を通して放出される。 - 特許庁

In the semiconductor device having a gate insulation film 6 formed on a silicon substrate 1 and a gate electrode 7 formed on the gate insulation film 6, the gate insulation film 6 comprises a first insulation film 9, a second insulation film 10 formed on the first insulation film 9, and a metal nitride film 11 formed on the second insulation film 10.例文帳に追加

シリコン基板1上に形成されたゲート絶縁膜6と、ゲート絶縁膜6の上に形成されたゲート電極7とを有する半導体装置において、ゲート絶縁膜6が第1の絶縁膜9と、第1の絶縁膜9の上に形成された第2の絶縁膜10と、第2の絶縁膜10の上に形成された金属窒化膜11とからなる。 - 特許庁

The planar optical waveguide is manufactured by depositing an under clad layer 20 on a silicon substrate 10, depositing a core layer on the under clad layer 20 by using an aerosol process, etching the core layer to produce the core 30, and forming the over clad layer 40 on the under clad layer 20 and on the core 30 in an aerosol process.例文帳に追加

シリコン基板10上にアンダークラッド層20を被着し、エアゾール工程を用いてアンダークラッド層20上にコア層を被着し、このコア層をエッチングしてコア30を生成し、エアゾール工程を通じてアンダークラッド層20及びコア30上にオーバークラッド層40を形成することによって、プレーナ型光導波管が製造される。 - 特許庁

To provide a plasma etching method and a plug formation method, with which deposition of a foreign matter to a copper or a failure in shape caused by production of copper sulfide, in plasma etching using sulfur hexafluoride as plasma generation gas on a substrate with copper and silicon present on its front layer.例文帳に追加

表層部に銅とシリコンが存在する基板を対象として、六フッ化硫黄をプラズマ発生用ガスとして用いたプラズマエッチングにおいて、硫化銅の生成に起因して生じる銅部分への異物付着や形状不良を防止することができるプラズマエッチング方法およびプラグ形成方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a silicon semiconductor substrate exhibiting excellent electric characteristics and having high gettering power by reducing not only grown-in defect in crystal but also oxygen deposit remaining in the OSF region and becoming the nucleus of OSF growth while growing the crystal under growth conditions becoming the OSF region, and to provide its production process.例文帳に追加

結晶をOSF領域となる育成条件で育成したうえで、結晶中のグロウンイン欠陥を低減するのみならず、OSF領域に残存していたOSF成長の核となる酸素析出物をも低下させ、電気特性に優れ、かつ高いゲッタリング能を持つシリコン半導体基板とその製造方法を提供する。 - 特許庁

A semiconductor device, which is provided with an integrated injection logic (IIL1) formed on a semiconductor substrate 11 and has the PNP bipolar transistor construction, has a layer at least of insulating films 17 formed on the base region 20 of the PNP bipolar transistor structure being made of a silicon film 16.例文帳に追加

半導体基板11に形成されたものでPNPバイポーラトランジスタ構造を有してなるインテグレーテッド・インジェクション・ロジック(IIL1)を備えた半導体装置において、PNPバイポーラトランジスタ構造のベース領域20上に形成された絶縁膜17のうちの少なくとも1層は窒化シリコン膜16からなるものである。 - 特許庁

In drilling a silicon substrate by irradiating it with a pulsed laser beam more than one time under a plurality of irradiation conditions, the laser output of the second irradiation condition is made larger than that of the first, thereby enabling a small bore to be efficiently secured by the device and method.例文帳に追加

パルス発振するレーザを用いて複数回照射して複数の照射条件にてシリコン基板に穴あけ加工する際に、第一の照射条件におけるレーザ出力よりも第二の照射条件におけるレーザ出力を大きくすることで、効率よくかつ小さい穴径を確保する装置および方法を提供する。 - 特許庁

The method is characterized by mixing a solution containing titanium with a solution containing at least one element selected from the group consisting of silicon, aluminum, nickel, iron, zirconium, phosphorus and boron, hydrolyzing the resultant mixture at a temperature range of 40-90°C to produce the composite oxide slurry and supporting the slurry on the substrate.例文帳に追加

チタンが存在する溶液と、ケイ素、アルミニウム、ニッケル、鉄、ジルコニウム、リン及びホウ素からなる群から選ばれた少なくとも1種の元素が存在する溶液とを混合し、これを温度40〜90℃の範囲で加水分解することにより得られた複合酸化物スラリーを、基材に担持させることを特徴とする。 - 特許庁

A metal deposited film 4 formed in a single layer or a multi- layer of silicon oxide, magnesium fluoride, or the like is formed on a recessed stage part 2b formed on a surface of a transparent dial substrate 2 made of a plastic material or the like.例文帳に追加

プラスチック材等よりなる透明文字板基板2の表面に形成した凹形状の段部2bに酸化シリコン又はフッ化マグネシウム等の一層又は多層に形成した金属蒸着膜4を形成し、この金属蒸着膜4を介して、塩化ビニール又はメタクリル樹脂からなる装飾模様を施した壁紙5(装飾部材)を接着剤6により貼付する。 - 特許庁

There is disclosed a solid-state image pickup apparatus 1, that includes a photoelectric converter 10 formed on a substrate 2; a wiring portion 40 formed above the photoelectric converter 10 and constituted of multilayer wirings 41; and an insulating portion 30, in which the multilayer wirings 41 of the wiring portion 40 are embedded, the insulating portion 30, having a refractive index larger than a silicon oxide.例文帳に追加

本発明は、基板2に形成される光電変換部10と、光電変換部10の上方に形成される複数層の配線41から成る配線部40と、配線部40の複数層の配線41を埋め込む材料であって、酸化シリコンより屈折率が大きい絶縁部30とを有する固体撮像装置1である。 - 特許庁

As an initial manufacturing process of ink jet head, a drive circuit and the terminals thereof are formed on a silicon substrate followed by formation of an oxide film, wiring electrodes, fine resistors (heating elements 15) of Ta-Si-SiO, for example, and electrodes (common electrode 12, individual wiring electrodes 14) of Ni, for example, before determining the position and shape of the heating element 15.例文帳に追加

インクジェットヘッド製造の最初の工程としてシリコン基板に駆動回路とその端子を形成し、酸化膜と配線電極を形成し、Ta−Si−SiOなどの微細抵抗(発熱素子15)、Niなどによる電極(共通電極12、個別配線電極14)を形成して発熱素子15の位置と形状を決める。 - 特許庁

This device has an opening 32 formed on an underlying substrate 10, an insulating barrier layer 34 for prevention of Cu diffusion, and an electrically conductive layer 36 comprising a Cu layer formed inside the opening 32, wherein the insulating barrier layer 34 is either of a silicon base insulating layer containing carbon and fluorine, an organic film, or a C-axis-oriented BN(boron nitride) film.例文帳に追加

下地基板10上に形成され、開口部32を有し、Cuの拡散を防止するバリア絶縁層34と、開口部32内に形成されたCu層より成る導電層36とを有し、バリア絶縁層34は、炭素とフッ素とを含むシリコン系絶縁層、有機膜、又はC軸方向に配向されたBN膜のいずれかである。 - 特許庁

The method for producing carbon nanofibers 20 as the electrically conductive fiber material in a fibrous or tubular form includes film-forming an electrically conductive catalyst layer 12 having direct electrical conductivity on the surface of a substrate 11 made of silicon, heating the electrically conductive catalyst layer 12 and introducing a mixed gas around the layer 12 under a reduced-pressure atmosphere to generate a plasma so as to conduct a CVD (chemical vapor deposition).例文帳に追加

繊維状または管状を成す導電性繊維物質としてのカーボンナノファイバ20の製造方法であって、シリコンからなる基板11の表面に直接導電性を有する導電触媒層12を成膜し、導電触媒層12を加熱し、減圧雰囲気下において、導電触媒層12の周囲に混合ガスを導入し、プラズマを発生させてCVDを行うことを特徴とする。 - 特許庁

When forming a sensor region by n-type ion implantation onto a silicon substrate and then providing an HAD structure by p-type ion implantation onto a surface of the sensor region, the step of p-type ion implantation is divided into multiple times and before or after sidewall formation of a transfer gate electrode, a p-type ion is implanted into the gate electrode by self-alignment with an approximately half concentration.例文帳に追加

シリコン基板にn型イオン注入でセンサ領域を形成後、センサ領域の表面にp型イオンを注入してHAD化を行う際に、p型のイオン注入の工程を複数回に分け、転送ゲート電極のサイドウォール形成前後に、それぞれ約半分程度の濃度でp型イオンをゲート電極にセルフアラインで注入する。 - 特許庁

例文

This manufacturing method comprises: a step for adhering a plurality of first conductive-type spherical substrates 11 to a conductive module substrate 13; a step for coating the spherical substrates 11 with an insulating resin 14; and a step for disposing a second conductive-type silicon thin film 17 on the surfaces of the spherical substrates 11 and the surface of the insulating resin 14.例文帳に追加

複数の第1導電型の球状基板11を導電性のモジュール基板13に接着する工程と、この球状基板11を絶縁性の樹脂14により覆う工程と、球状基板11の表面および絶縁性樹脂14表面に第2導電型のシリコン薄膜17を堆積する工程とを含んで構成されている。 - 特許庁

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