「surface defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(22ページ目) - Weblio英語例文検索

To adjust automatically a threshold of defect determination corresponding to characteristic fluctuation of a pattern image detection part 110 or individual dispersion of a surface characteristic of a wafer 6 to be inspected.例文帳に追加

パターン画像検出部１１０の特性変動や被検査ウェーハ６の表面特性の個体ばらつきに応じて、欠陥判定のしきい値を自動的に調整する。 - 特許庁

To provide a wire drawing method of a coated metal wire effectively suppressing generation of a surface defect and hardly causing wire breaking.例文帳に追加

特に最終伸線工程において、表面欠陥の発生を有効に抑制して断線が生じにくい被覆金属線材の伸線方法を提供することにある。 - 特許庁

When an optical disk is inserted, the defect is detected based on measurement results of curvature of the optical disk, intensity of reflected light from a recording surface and error rate in reproduction.例文帳に追加

光ディスクが挿入されると、光ディスクの反りと記録面からの反射光の強度と再生時のエラーレートの計測結果に基づいて欠陥を検出する。 - 特許庁

To obtain a metal cast slab having no surface defect and having high quality without bringing about such problems as the development of sweating zone, defective draw-out from a mold, breakout, etc.例文帳に追加

発汗帯の発生や鋳型からの引き出し不良，ブレークアウト等の問題を生じることなく、表面欠陥のない高品質の金属鋳塊を得ることができる。 - 特許庁

To provide a thin steel plate with extremely less surface defect originating in cracks caused in the hot rolling, even in the straight forward rolling process and its manufacturing method.例文帳に追加

この発明は、直送圧延プロセスにおいても、熱間圧延での割れに起因した表面欠陥が極めて少ない薄鋼板およびその製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for removing surely even a crystal defect formed on a position deep from the surface of an SiC layer deposited by an epitaxial growth method.例文帳に追加

エピタキシャル成長法により堆積させたＳｉＣ層の表面から深い位置に形成された結晶欠陥でも、確実に除去することができる方法を提供する。 - 特許庁

Moreover, The irradiation of laser beam allows a defect of crystal to be removed and an impurity existed in the amorphous semiconductor film and a contamination deposited on a surface to be removed.例文帳に追加

さらにレーザ光の照射により結晶欠陥を除去し、また非晶質半導体膜内に内在する不純物や表面に付着しているコンタミネーションを除去する。 - 特許庁

The laser is emitted from a lower reflecting mirror side in a surface-emitting laser having an upper reflecting mirror structure comprising a photonic crystal structure with a point defect at the central part.例文帳に追加

中央部に点欠陥を持つフォトニック結晶構造を有する上部反射鏡構造を有する面発光レーザで、下部反射鏡側からレーザを出射させる。 - 特許庁

Therefore, as compared with the case in which the surface of the separator base material is exposed at the defect 32 part of the resin coat 30, corrosion resistance of the fuel cell separator 10 is improved.例文帳に追加

そのため、樹脂コート３０の欠陥３２部分でセパレータ基材の表面が露出したままの場合に比べて、燃料電池セパレータ１０の耐食性が高められる。 - 特許庁

The surface inspection device includes a moving stage for the body to be inspected; a lighting device; an inspection coordinate detecting device; a light detector; an A/D converter; and a foreign object/defect determining unit.例文帳に追加

表面検査装置は、被検査体移動ステージ、照明装置と、検査座標検出装置、光検出器と、Ａ／Ｄ変換器と、異物・欠陥判定部、を有する。 - 特許庁

To provide a cleaning method of a roller in a film forming method which can continuously form a film-like object with little surface defect demanded by an optical film.例文帳に追加

光学的フィルムで要求される表面欠陥の少ないフィルム状物を連続的に成形できるフィルム成形方法におけるロールの清掃方法を提供する。 - 特許庁

To provide a connector for substrate mounting which prevents solder defect of a substrate connection part of a contact terminal caused by warpage and twist of a housing in mounting on a surface of a substrate.例文帳に追加

基板表面への実装の際に、ハウジングの反りや捩れによりコンタクト端子の基板接続部の半田不良が発生し難い基板実装用コネクタを提供する。 - 特許庁

To provide a means for forming an oxide film on a metal surface, a means for repairing a defect in an oxide film, a high-performance electrolytic capacitor using such means, and an electrolyte of the same.例文帳に追加

金属表面の酸化皮膜形成手段、酸化皮膜欠陥の修復手段、その手段を用いた高性能電解コンデンサおよびその電解質を提供する。 - 特許庁

To reduce occurrence of movement defect of grain culm and threshed materials after treatment and unthreshed remains in a treatment space between a threshing cylinder and the internal surface of a threshing chamber.例文帳に追加

扱胴と扱室の内面との間の処理空間において、処理後の穀稈や脱穀物の移動不良が発生したり、扱ぎ残しが生じたりすることを少なくする。 - 特許庁

To provide a bent part manufacturing method to manufacture a bent part by bending in the plane parallel to its surface without generating a defect of crack, etc.例文帳に追加

亀裂などの不具合を発生させずに板材をその表面に平行な面内で曲げて曲げ加工品を製造する曲げ加工品製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a manufacturing method for a biaxially oriented polyester film, the oxidative degradation of which is suppressed and which is extremely defect-free and excellent in surface quality, with a high productivity.例文帳に追加

酸化分解が抑制され、極度に欠点がなく表面品質の優れた二軸配向ポリエステルフィルムを、高い生産性で製造するための方法を提供する。 - 特許庁

To provide a new image forming apparatus capable of surely forming a high-quality image by surely preventing an image defect in a white spot state and the back surface staining of transfer material.例文帳に追加

白ポチ状の画像欠陥や転写材の裏面汚れの発生が確実に防止され、画質の高い画像が確実に得られる新規な画像形成装置を提供すること。 - 特許庁

The shape is corrected by filling a shape defective part 2 with optical material 3 when the defect of the surface shape of the lens 1 is based on the shape of a recessed part.例文帳に追加

レンズ１の表面形状不良が凹部形状に基づく場合は形状不良部２に光学材料３を充填することにより形状修正を行う。 - 特許庁

To manufacture a vertical boat for heat treatment which can avoid generation of a surface defect called a slip in heat treatment steps of semiconductor substrate (silicon wafer) oxidization, CVD, annealing, etc.例文帳に追加

半導体基板（シリコンウェーハ）の酸化、CVD、アニール等の熱処理工程のいてスリップと呼ばれる表面欠陥の発生のない縦型熱処理用ボートを作成する。 - 特許庁

Both a noise generated in the vicinity of a surface of a thin steel plate 1 and a signal generated by an internal defect 8 are detected thereby from the probe 5a.例文帳に追加

これにより、渦流プローブ５ａからは、薄鋼板１の表面近傍から発生するノイズと共に、内部欠陥８によって発生する信号が検出される。 - 特許庁

Further, there are also provided a substantially relaxed SiGe-on-insulator, having an SiGe layer in which the flat surface defect density is decreased, and a heterostructure comprising the insulator.例文帳に追加

また、平面欠陥密度が低下したＳｉＧｅ層を有する実質的に緩和したＳｉＧｅ−オン−インシュレータおよびこれを含むヘテロ構造も提供する。 - 特許庁

To prevent deterioration in reliability due to generation of a defect at the interface between the side surface of capacitor and glass ceramics when the capacitor is formed like a block within the glass ceramic multilayer wiring substrate.例文帳に追加

ガラスセラミック多層配線基板内に形成したコンデンサ部がブロック形状の場合、コンデンサ部の側面とガラスセラミックスとの界面の欠陥が生じ、信頼性を損なう。 - 特許庁

To provide a polypropylene-based composite resin composition which hardly causes the defective phenomena of surface formation defect, even when a molding cycle in injection molding is shortened.例文帳に追加

射出成形における成形サイクルを短縮した場合でも、面張り不良の不良現象が発生し難いポリプロピレン系複合樹脂組成物を提供する。 - 特許庁

The bonding position of a wire (301) to an electrode (113) provided on the upper surface of a semiconductor laminated structure is deviated from the upper side of the dislocation (crystal defect) concentrated area (X) of a substrate.例文帳に追加

半導体積層構造上面に設けた電極（１１３）へのワイヤー（３０１）のボンディング位置を、基板の転位（結晶欠陥）集中領域（Ｘ）の上方から外す。 - 特許庁

To provide a multilayered film improved in surface defect or thickness irregularity by electrostatic adhesion and a film (single layer film) comprising the first polymer layer peeled from the mulilayered film.例文帳に追加

静電密着による表面欠点や厚み斑の良好な多層フィルム及び該多層フィルムから剥離した第１のポリマー層からなるフィルム（単層フィルム）を提供する。 - 特許庁

To provide a method for forming a relaxed SiGe-on-insulator substrate having improved relaxation, comparatively low defect density, and improved surface quality.例文帳に追加

向上された緩和、かなり低い欠陥密度、および改善された表面品質を有する緩和されたＳｉＧｅオンインシュレータ基板を形成する方法を提供すること。 - 特許庁

To grow the crystal of a homogeneous and high quality nitride semiconductor film having a uniform film thickness, small surface defect and almost free from warp or crack.例文帳に追加

膜厚が均一であり、表面欠陥が少なく、しかも反りや亀裂のほとんどない均質かつ良質な窒化物半導体膜を結晶成長できるようにする。 - 特許庁

To provide a detecting method with high precision of abnormal casting conditions inside a mold such as a breakout, a defect on the casting surface or an abnormal flow of molten metals.例文帳に追加

高い精度でブレークアウト、表面欠陥、または溶融金属流動異常などの鋳型内鋳造異常を検出する方法を提供することを課題とする。 - 特許庁

To efficiently and easily obtain a substrate for epitaxial growth of a GaN compound semiconductor monocrystal membrane which has little crystal defect and favorable surface morphology.例文帳に追加

結晶欠陥が少なく、表面モフォロジーが良好な、ＧａＮ系化合物半導体単結晶薄膜エピタキシャル成長用の基板を、効率よく、且つ簡単に得る。 - 特許庁

A method for measuring the fluorescence comprises the step of measuring a defective fluorescence present from a defect level of a surface site mainly having an energy level existing in a forbidden band of the energy level in the semiconductor nanoparticles.例文帳に追加

半導体ナノ粒子内部のエネルギーレベルの禁制帯内に存在するエネルギーレベルを持つ主に表面サイトの欠陥準位から現れる欠陥蛍光を測定する。 - 特許庁

To provide a transparent polyester film which has no frosting defect on the film surface and is hardly wounded and has good sliding properties while high transparency is ensured.例文帳に追加

フィルム表面に霜降り欠陥がなく、さらに傷付きにくく、しかも高い透明性を確保しながら良好な滑り性を有する透明積層ポリエステルフィルムを提供する。 - 特許庁

To provide an optical disk recording and playing-back device, in which the malfunction of the information recording is prevented by detecting the defect over the whole surface of the optical disk in a short time.例文帳に追加

短時間で光ディスク全面にわたりディフェクトを検出し、情報記録不具合を未然に防ぐことができる光ディスク記録再生装置を提供する。 - 特許庁

To surely prevent a defect of precision of a form at a corner due to a delay in follow-up of a plasma arc processing machine and a delay of cutting of a lower part of a cutting surface without generating a waste of material.例文帳に追加

材料の無駄を生じずに、加工機の追従遅れや切断面下部の切断遅れに起因するコーナ部での形状精度不良を確実に防止する。 - 特許庁

To provide a process for producing a silicon wafer in which a defect is eliminated from the surface layer of the wafer for forming a device without sacrifice of productivity or production cost of the wafer.例文帳に追加

ウエハの生産性や生産コストを損なうことなく、デバイスが形成されるウエハ表層部に欠陥が存在しないシリコンウエハの製造方法を提供する。 - 特許庁

To prevent the occurrence of an image defect due to an image flow by efficiently removing the discharge product from the surface of an electrophotographic photoreceptor while maintaining the lifetime of the photoreceptor.例文帳に追加

感光体の寿命を保ちつつ電子写真感光体表面から効率よく放電生成物を除去して、画像流れによる画像欠陥の発生を防止する。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing an optical recording medium which can effectively expel an optical recording medium of which the defect projects largely from the surface of a light transmission layer.例文帳に追加

光透過層の表面から欠陥が大きく突き出している光記録媒体を効果的に排除することができる光記録媒体の製造方法を提供する。 - 特許庁

When the defect parts are the foreign matters adhered on the surface, the apparatus distinguishes between the vanishing points and the foreign matters since the color arrangement of pixels reflected in a background by the visual angles changes.例文帳に追加

欠陥部位が表面に付着した異物の場合には、視角によって背景に写り込む画素の色配列が変わるため、滅点と異物とを区別することができる - 特許庁

To provide a double heating thermostat formed such that a product defect due to a solvent component hardly occurs when a plate-form object to be heated having a surface coated layer is thermally treated.例文帳に追加

表面塗布層を有する板状被加熱物を熱処理する際に、溶剤成分に起因する製品欠陥を発生し難い二重加熱恒温槽を提供する。 - 特許庁

To provide a simple and convenient method for manufacturing a strain Si-SOI substrate wherein the surface of a strain Si layer is flat and has no defect, and only the strain Si layer is formed on an insulating layer.例文帳に追加

歪Ｓｉ層表面が平坦で欠陥が少なくかつ絶縁層上に歪Ｓｉ層しか有しない歪Ｓｉ−ＳＯＩ基板を簡便に製造する。 - 特許庁

To provide a high-strength dual-phase hot-dip galvannealed steel sheet which has high strength and superior formability, and can inhibit the occurrence of a surface defect such as an unplated pattern.例文帳に追加

高強度で成形性に優れ、不めっき模様等の表面欠陥の発生を抑制できる高強度複合組織合金化溶融亜鉛めっき鋼板を提供すること。 - 特許庁

Since the image pick-up part 18 uses a high-resolution line CCD 21, it can detect even a small defect that could not be detected by a conventional surface-inspecting device.例文帳に追加

撮像部１８は、高解像度のラインＣＣＤ２１を使用しているため、従来の表面検査装置では検出できなかった小さな欠陥も検出する。 - 特許庁

To measure, effectively in a short time, an internal defect or a surface flaw generated in the diameter direction or the like by an ultrasonic inspection method relative to the side part of a rotor inspection object.例文帳に追加

回転体被検査物の側面部に対する超音波探傷方法で径方向等に生じた内部欠陥や表面傷を短時間で効率よく測定する。 - 特許庁

A temperature-measuring device 19 measures the surface temperature of the specimen in a time series manner and outputs the measured data to a data-recording means 13 of a defect inspection controller 10.例文帳に追加

温度計測器１９は、被検査体の表面温度を時系列で計測し、計測データを欠陥検査制御装置１０のデータ記録手段１３に出力する。 - 特許庁

To provide a method for automatically detecting an external surface defect (outside diameter dimple) of a tubular material in production equipment in which a sizer is installed downstream of an elongator.例文帳に追加

延伸圧延機の下流に定径圧延機を設置した管材の製造設備において、管材の外面疵（外径凹み疵）を自動的に検出する方法を提供する。 - 特許庁

To precisely perform the inspection of a surface state such as defect inspection on an object to be inspected by removing the influence of variance of elements of a linear image sensor constituting a camera.例文帳に追加

カメラを構成する一次元イメージセンサの素子ばらつきの影響を除去して、検査対象物上の欠陥検知などの表面状態の検査を精度よく行う。 - 特許庁