「surface defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(25ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a multilayer wiring board having a surface wiring layer whose plating defect and no plating are suppressed not through glass etching while maintaining consistency of shrinkage with an insulating base.例文帳に追加

絶縁基体との収縮率の整合を保ちつつ、ガラスエッチングを経ることなくメッキ欠けおよび無メッキが抑制された表面配線層を有する多層配線基板を提供する。 - 特許庁

To provide a developing roller that can decrease the pressure to a developer between the developing roller and a developing blade, suppress sticking of the developer to the surface and suppress a stripe image defect.例文帳に追加

現像ローラーと現像ブレード間における現像剤への圧力を軽減させ、表面への現像剤の固着を抑制し、すじ状の画像不良を抑制できる現像ローラーを提供する。 - 特許庁

To stably manufacture a transfer master disk substrate with a surface formed with rugged pattern excellent in line width accuracy, and excellent in pattern shape accuracy where pattern defect is inhibited.例文帳に追加

表面凹凸パターンの線幅精度が良好で、パターン欠陥が抑制されパターン形状精度が良好な転写用原盤基板を安定的に製造することを可能とする。 - 特許庁

To detect the defect of the pole surface layer of a semiconductor substrate with satisfactory efficiency by using a photoluminescence concerning the checking method of the semiconductor substrate and the checking device of a semiconductor substrate.例文帳に追加

半導体基板の検査方法及び半導体基板の検査装置に関し、フォトルミネッセンスを用いて良好な効率で半導体基板の極表層の欠陥を検出する。 - 特許庁

The defect inspection apparatus has a spot light source 2 and a sample stage 7 to be placed on with a sample 5 and aligns the focus of the light to the surface of the sample 5 by an objective lens 4.例文帳に追加

本発明にかかる欠陥検査装置は点光源１と、試料５を載置する試料ステージ７を備え、対物レンズ４により試料５の表面に光の焦点を合わせている。 - 特許庁

To provide a roll for a film and a manufacturing method for a thermoplastic resin film which enable attainment of the thermoplastic resin film being free of a surface defect and having smoothness with excellent productivity.例文帳に追加

フィルムの表面欠点がない平滑な熱可塑性樹脂フィルムを生産性よく得ることが可能となるフィルム用ロールと熱可塑性樹脂フィルムの製造方法を提供すること。 - 特許庁

Thereby, it is possible to reduce defect that a bonding wire connecting the uppermost semiconductor chip 2C and a wiring substrate 3 comes into contact with a major surface corner part of the lower semiconductor chip 2M2.例文帳に追加

これにより、最上の半導体チップ２Ｃと配線基板３とを接続するボンディングワイヤが下層の半導体チップ２Ｍ２の主面角部に接触する不良を低減できる。 - 特許庁

To provide a pneumatic tire effectively restricted in occurrence of a rubber flow defect in vulcanization in the case of providing a side wall part with a display part projecting from the surface of the side wall part.例文帳に追加

サイドウォール部にその表面から突出する表示部を設けるにあたって、加硫時のゴム流れ不良の発生を効果的に抑制するようにした空気入りタイヤを提供する。 - 特許庁

To suppress the occurrence of a transfer defect when transferring a fine transfer pattern formed on a planar portion of a mold to one surface in a thickness direction of a planar molded product.例文帳に追加

型の平面状の部位に形成されている微細な転写パターンを、平板状の被成型品の厚さ方向の一方の面に転写するときに、転写不良の発生を抑制する。 - 特許庁

To enable embedding of a defect-free wiring material in recesses for wiring, such as trenches, by carrying out electroplating directly on a surface of a ruthenium film serving as a barrier layer.例文帳に追加

バリア層としてのルテニウム膜の表面に直接電解めっきを行って、トレンチ等の配線用凹部内に内部に欠陥のない配線材料を埋込むことができるようにする。 - 特許庁

To permit taper working for a curved part of a backer by eliminating a cutting defect due to a difference in the cutting speed of a surface and a rear face in taper working of the curved part by gas fusion cutting.例文帳に追加

ガス溶断による曲線部のテーパー加工での、表面と裏面との切断速度差による切断不良を解消して、バッカーの曲線部のテーパー加工を可能とする。 - 特許庁

To provide an optical film in which generation of a surface defect and thickness unevenness is sufficiently prevented and a method and an apparatus for manufacturing the optical film by melting casting film making method.例文帳に追加

表面欠陥や厚みムラの発生が十分に防止された光学フィルム、ならびに該光学フィルムを溶融流延成膜法により製造する方法および装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a method for diffusing impurity in a semiconductor wafer by which dispersion of sheet resistance and generation of surface defect can be restrained, even when high concentration impurity diffusion is conducted.例文帳に追加

高濃度の不純物拡散を行う場合であっても、シート抵抗のバラツキや表面欠陥の発生を抑制できる半導体ウェーハへの不純物拡散方法を提供する。 - 特許庁

Since the electrode 12 covering the photoreceptor 2 in its axial direction throughout is provided, the surface potential in the axial direction of the photoreceptor 2 and the image quality defect can be detected at once.例文帳に追加

このように感光体２の軸方向全体をカバーする電極１２を設けたことで、感光体２の軸方向の表面電位や、画質欠陥を一度に検出することができる。 - 特許庁

To provide equipment or a chuck securing a thin and/or flexible substrate, and thereby sucking the substrate uniformly over the entire surface without a defect such as a warp or a bend.例文帳に追加

本発明は、薄くおよび／または可撓性のある基板を固定し、これにより反りや曲げの欠点なく基板を均一に全面的に吸引することができる装置またはチャックを提供する。 - 特許庁

To provide an inspection method and device capable of discriminating an unevenness generated on an inspected object surface from a deposit for detecting only the harmful unevenness precisely as a defect.例文帳に追加

被検査対象物表面に生じる凹凸と付着物とを識別し、有害である凹凸のみを欠陥として高精度に検出可能な検査方法及び装置を提供する。 - 特許庁

An inclination of the edge part of the metal cast slab obtained by the continuous casting is measured with a cross sectional view by using the horizontal line as a standard, and the measured value is compared with a threshold value for judging whether the defect exists under the surface skin.例文帳に追加

連続鋳造で得た金属鋳片の縁部の傾斜を、断面視で水平を基準にして測定し、該測定値を表皮下欠陥の存在を判定する閾値と比較する。 - 特許庁

To provide a periodical defect detecting device capable of fast and accurately detecting periodical defects on the surface of a running strip-shaped object without needing vast amounts of hardware.例文帳に追加

走行する帯状物表面の周期性欠陥を、膨大なハードウェアを要することなく高速かつ正確に検出することのできる周期性欠陥検出装置を提供する。 - 特許庁

As a result, boiled liquid dripping on the stop plate 6 can be prevented from entering into the burner body loading surface 122 and such a defect that the burner body 2 becomes difficult to be removed from the venturi 1 can be prevented.例文帳に追加

よって止め板６上に滴下した煮こぼれがバーナボディ載置面１２２に侵入するのを阻止でき、バーナボディ２がベンチュリ１から外れ難くなる不具合を防止できる。 - 特許庁

To provide a manufacturing method of a magnetic recording medium having high reliability, in which a thin magnetic layer having e.g. ≤60 nm dry film thickness can be formed while a surface defect is suppressed.例文帳に追加

表面の欠陥を抑制しつつドライ膜厚が例えば６０ｎｍ以下の薄い磁性層を形成できる信頼性が高い磁気記録媒体の製造方法を提供する。 - 特許庁

To prevent a linear defect and a surface detect in a semitransmissive reflection type optoelectronic device, even if a transparent electrode and a metal reflecting film are electrically connected to each other in some pixel region.例文帳に追加

半透過反射型の電気光学装置において、ある画素領域内で透明電極と金属反射膜との導通が生じた場合でも、線欠陥や面欠陥となることを防止する。 - 特許庁

A coil 3a for magnetic particle flaw detecting is inserted to the impeller 1 and is magnetized by a magnetizer which is not shown in the figure, and a defect is checked by a pattern of the magnetic particle by sprinkling the magnetic particle over an inspection target surface.例文帳に追加

インペラ１には磁粉探傷用のコイル３ａが挿通され、図示省略の磁化装置により励磁され、検査対象面に磁粉を振りかけ磁粉の模様により欠陥を調べる。 - 特許庁

To provide an image forming apparatus capable of carrying out a refresh process on an image carrier surface for the purpose of removing a corona product while suppressing the striking occurrence of an image defect.例文帳に追加

画像不良の顕著な発生を抑制しながら、放電生成物を除去するための像担持体表面のリフレッシュ工程を遂行することが可能な画像形成装置を提供する。 - 特許庁

To provide a CVD (chemical vapor deposition) system and an apparatus for manufacturing glass in which the occurrence of a defect caused by a foreign substance deposited on a peripheral surface and fallen on a glass ribbon is prevented.例文帳に追加

周面で析出し、落下した異物がガラスリボン上に落下して欠点を生じることが防止されたＣＶＤ装置及びガラス製造装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

In this defect checking device, first an electron beam is applied to the wafer having the mirror polished surface to obtain image data, and the image data is stored in a first area of a first storing part 20 of an image data processor 12.例文帳に追加

欠陥検査装置において、まず、鏡面研磨面のウエハに電子ビームを照射して画像データを得、画像データ処理装置１２の第１記憶部２０の第１領域に記憶する。 - 特許庁

To provide a surface acoustic wave filter with stable quality by eliminating in advance things with probability of causing a defect later in the case of mounting the filter on a radio equipment or the like.例文帳に追加

無線機器への実装時など後で不良が発生する可能性のあるものをあらかじめ取り除いて、品質の安定した弾性表面波フィルタを提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a nitride based LED which is realized by making effective use of a surface of a high defect density part formed in an epitaxial layer corresponding to the stripe core of a substrate, the epitaxial layer being formed on a GaN substrate which is the stripe core substrate.例文帳に追加

ストライプコア基板であるＧａＮ基板上に形成したエピタキシャル層中には、基板のストライプコアに対応してエピタキシャル層中に高欠陥密度部が形成される。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a substrate having a thin film which suppresses a display defect on a display surface of an electrooptical panel formed thereon, an electrooptical device and an electronic appliance.例文帳に追加

電気光学パネルの表示面の表示不良を抑制することができる薄膜が形成された基板の製造方法、電気光学装置及び電子機器を提供すること。 - 特許庁

To provide a method and a device for inspecting a surface defect of a disc, capable of shortening a handling time for the disc to enhance a through-put for disc inspection.例文帳に追加

ディスクのハンドリング時間を短縮して、ディスク検査のスループットを向上させることができるようなディスクの表面欠陥検査方法および検査装置を提供することにある。 - 特許庁

To provide an optical disk device capable of preventing collision of an objective lens with an optical disk surface when focus servo is shifted during recording/reproducing of a reflected light omitted part by a defect or the like.例文帳に追加

ディフェクト等による反射光欠落部分を記録再生する際のフォーカスサーボ外れ時において、光ディスク面への対物レンズ衝突を防止する光ディスク装置を提供する。 - 特許庁

To provide a surface defect inspection method allowing grading for deciding whether delivery is allowed, in response to required quality in a customer side, and to provide a device therefor.例文帳に追加

顧客側での要求品質に応じて出荷可能なものであるかどうか判断するための格付けをすることを可能にした表面欠陥検査方法及びその装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method for acquiring high-resolution image of a defect of the upper surface of a wafer edge, that does not have the problem of degrading the quality of images to be acquired.例文帳に追加

撮影する画像の品質を低下させる焦点調節の問題のない、ウエハ縁端部の上部表面の欠陥の高分解能画像を取得する方法を提供すること。 - 特許庁

The depth distribution in the overetched portion of the glass is obtained with an atomic force microscope, and the film thickness to fill the defect is controlled according to the distribution to flatten the surface of the filled transparent film.例文帳に追加

原子間力顕微鏡でガラスのオーバーエッチ部の深さ分布を求め、その深さ分布に従って埋める膜厚を制御し埋めた透明膜表面が平坦になるようにする。 - 特許庁

To provide a defect inspection apparatus for metal materials for inspecting defects which occur in the surface and inside of a metal material as continuously feeding the metal material.例文帳に追加

金属材料を連続的に送りながら、金属材料の表面や内部に生じる欠陥を検査することができる金属材料の欠陥検査装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To manufacture a sheet-like article such as an optical material or an imaging material having regular fine embossed patterns formed on its surface with high quality without defect and with good productivity and at a high line speed.例文帳に追加

表面に規則的な微細凹凸パターンが形成された光学材料やイメージング材料のシート状物を、欠陥なく高品質で、かつ高ラインスピードで生産性よく製造する。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a plasma display panel and an electrode structure of a plasma display panel capable of suppressing occurrence of unevenness defect on the surface of a dielectric coating layer in an effective display face.例文帳に追加

有効表示面内の誘電体塗布層表面に凹凸欠陥が発生することを抑制することができるプラズマディスプレイパネルの製造方法と電極構造を提供する。 - 特許庁

To provide an optical inspection apparatus capable of identifying a defect of optical characteristics, removing foreign matters from a panel surface during an inspection process, and supplying power to a panel being inspected.例文帳に追加

光学特徴の欠陥を識別でき、かつ検査工程においてパネル表面の異物を除去でき、また検査中のパネルに電力が供給できる光学検査装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a method and an apparatus for inspecting an external form of a lumber product, capable of automating a sensor-based detection of a defect of a surface-machined lumber product and improving production efficiency.例文帳に追加

表面が加工された製材品の欠陥部をセンサによって検出して自動化を図り、生産効率を高めるようにした製材品の外形検査方法及び装置を提供する。 - 特許庁

To provide a composition for memory hard disk polishing having a high polishing speed and giving an excellent surface with small roughness and no defect and a polishing method using the same.例文帳に追加

大きい研磨速度を有し、表面粗さが小さく、表面欠陥のない優れた表面をもたらす、メモリハードディスク研磨用組成物およびそれを用いた研磨方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for avoiding the surface defect, particularly, occurrence of web cracking, in a continuous casting of a beam blank disposing one immersion nozzle at one side of flange parts in a mold.例文帳に追加

１本の浸漬ノズルをモールドの一方のフランジ部に配置して行うビームブランクの連続鋳造において、表面欠陥、特にウェブ割れの発生を回避する手法について提案する。 - 特許庁

To correctly binarize reproducing signals even in the case that the signal level of the reproducing signals from an optical disk largely fluctuates by a defect on an optical disk surface.例文帳に追加

光ディスク表面上のディフェクトにより光ディスクからの再生信号の信号レベルが大きく変動する場合であっても、正しく再生信号を２値化することを可能にする - 特許庁

To provide a manufacturing method of silicon epitaxyial which remarkably reduces defect of crystal detected optically as large particles on the surface of the silicon epitaxyial wafer.例文帳に追加

シリコンエピタキシャルウエーハの主表面において光学的に大きなパーティクルとして検出される結晶欠陥の発生を大幅に抑制することができるエピタキシャルウエーハの製造方法を提供する。 - 特許庁

Fluctuation of a rotating torque of the tapered shaft 3 is detected by a torque sensor 5, and a signal detected by the torque sensor 5 is subjected to signal processing, to thereby detect a defect on the rolling contact surface or on the roller.例文帳に追加

このテーパ軸３の回転トルクの変動をトルクセンサ５で検出し、トルクセンサ５で検出された信号を信号処理することで前記転走面またはころの欠陥を検出する。 - 特許庁

To reduce surface defect by reducing the density of dislocation of a crystal layer in a process for forming a crystal layer of a nitride semiconductor using a lateral growth technology of seed crystal.例文帳に追加

種結晶による横方向成長技術を用いて窒化物半導体の結晶層を形成する工程において、結晶層の転位密度を低減し、表面欠陥を少なくする。 - 特許庁

The groove portions 3 and 6 adjacent to the terminal electrodes 4 are irradiated with laser beam 8 heating the solder 5 to preheat solder paste on the lower surface of the semiconductor device 1, thereby preventing a joining defect.例文帳に追加

はんだ５を加熱するレーザー光８を、端子電極４に隣接する溝部３、６に照射することで、半導体装置１の下面のはんだペーストを予備加熱し、接合不良を防ぐ。 - 特許庁