「surface defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(27ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a defect correction method by a laser beam in which a compound substrate disposed with a resin section of a correction object and an underlayer composed of ITO which is the underlayer thereof, successively from the surface side of a substrate on the substrate can be readily and surely subjected to correction of a projection defect of the resin section.例文帳に追加

基材上に、その表面側から順に、修正対象の樹脂部とその下地であるＩＴＯからなる下地層を配設した複合基材において、下地層を損傷することなく、簡単に、且つ、確実に、樹脂部の突起欠陥の修正を行える、レーザ光による欠陥修正方法を提供する。 - 特許庁

Since the substrate warp state in component mounting processes can be obtained from the substrate ID information and its approximate curved surface data when a substrate defect occurs as the years pass, it is possible to analyze the causal relationship of the defect and the substrate warp and take appropriate measures to meet the situation such as review of production conditions.例文帳に追加

経年的に基板に不具合が発生した場合に、基板のＩＤ情報に基づいて近似曲面データから実装過程における基板の反り状態を把握することができるので、不具合と基板の反りとの因果関係を解析し、生産条件の見直し等の有効な対策を講じることができる。 - 特許庁

When a defect 13 is detected by applying various types of image processing to an image of a surface of the sheet like product 1 picked up by an image pickup means 12, a marking means 14 applies marking scratches 15 parallel to a conveying direction 11a on both sides in a width direction of a defect position.例文帳に追加

撮像手段１２が撮像するシート状製品１１の表面の画像に対して各種の画像処理を施すなどによって、欠陥１３が検出されると、マーキング手段１４は、欠陥位置を、幅方向の両側から挟むように、搬送方向１１ａに平行なマーキング用の傷１５をつける。 - 特許庁

When an optical disk 1 which serves as the information recording medium is inserted, a control unit having a CPU controller 11 as the main component judges whether the optical disk 1 needs defect detection depending on whether defect detection (verification) of the optical disk 1 has been finished and, if the verification has not been finished, the whole surface of the optical disk 1 is formatted and verified.例文帳に追加

情報記録媒体である光ディスク１が挿着されたとき、ＣＰＵコントローラ１１を中心とする制御部によって、その光ディスク１が欠陥検出（ベリファイ）済みか否かによって欠陥検出の要否を判定し、ベリファイ済みでなければ光ディスク１の全面をフォーマットした後ベリファイする。 - 特許庁

To provide a treatment method which can remove fine particles and metal impurities on the surface of a semiconductor substrate without causing corrosion or oxidation of the semiconductor substrate and a metal wiring, and can simultaneously remove carbon defect on the surface of the substrate without removing a metal corrosion inhibitor-Cu coating film.例文帳に追加

半導体基板や金属配線の腐食や酸化を起こすことなく、基板表面の微細粒子や金属不純物を除去し得、金属腐食防止剤-Cu皮膜の除去せずに基板表面のカーボン・ディフェクトをも同時に除去し得る処理方法。 - 特許庁

To provide a manufacturing method of a semiconductor device, capable of easily processing shapes different in etching depth on a same surface without inducing a defect (group V atomic vacancy) by desorption of a constituent atom of a semiconductor and causing degradation of a surface morphology.例文帳に追加

半導体の構成原子の脱離による欠陥（Ｖ族原子空格子）の誘起または表面モフォロジーの劣化を生じさせずに、同一面内でエッチング深さが異なる形状を容易に加工することができる半導体素子の作製方法を提供する。 - 特許庁

To suppress the generation of distortion in a glass substrate due to eccentric wear of a surface plate and suppress the generation of a defect in the glass substrate due to an outer edge of the surface plate in a grinding work or a polishing work using a planetary gear mechanism.例文帳に追加

遊星歯車機構を用いた研削加工又は研磨加工において、定盤の編摩耗に起因してガラス基板に歪みが生じることを抑制すると共に、定盤の外縁に起因してガラス基板に欠陥が生じることを抑制することを目的の一とする。 - 特許庁

To provide a visual inspection device and a visual inspection method, capable of confirming the propriety of a production process of forming a pattern appearing on the surface of a semiconductor wafer or the like, at the same time as with the visual inspection of a defect appearing on a wafer surface.例文帳に追加

半導体ウエハなどの表面に現れるパターンを形成した製造プロセスが適切であるか否かを、このウエハ表面に現れる欠陥の外観検査と同時に確認することが可能な外観検査装置及び外観検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide an injection molding mold device for a product having an appearance surface where an appearance defect such as a flow mark or the like to be trouble on the appearance, an injection molding method for a product having an appearance surface, and a resin molded article molded with its injection molding method.例文帳に追加

外観上支障となるフローマーク等の外観不良の発生のない外観面を備える製品の射出成形金型装置、外観面を備える製品の射出成形方法及びその射出成形方法で成形された樹脂成形品を提供する。 - 特許庁

To provide a quality improving method and device for improving product finishing surface quality, by cladding and contracting a fine casting defect in the vicinity of a surface in a cast steel workable at the rotation center like a round bar.例文帳に追加

丸棒のような、回転中心にて加工可能な鋳鋼品に対して、表面近傍の微少鋳造欠陥を圧着・縮小させることにより、製品仕上げ表面性状を向上させるための性状改善方法及びその装置を提供すること。 - 特許庁

Because the white defect part has greater influence, the adhesion strengths of the first and second close contact surfaces are set such that the generation of cavities with the time degradation of the adhesion member progresses in the second close contact surface more than in the first close contact surface.例文帳に追加

白欠陥の方が影響が大きいため、密着部材の経時劣化に伴う空隙の発生が第１の密着面内よりも第２の密着面内で進行するように、第１の密着面の密着力及び第２の密着面の密着力を設定する。 - 特許庁

The device for inspecting photosensitive material for surface defect has the reflection type optical sensor 12 and detects the defective part formed on the surface of the heat developable photosensitive material 10 by projecting inspection light upon the material 10 from a light source 14 and receiving the reflected light from the material 10 by means of a light receiving section 16.例文帳に追加

本発明に係る表面欠陥検査装置は、反射型光センサ１２を有し、光源１４から熱現像感光材料１０に検査光を照射し、その反射光を受光部１６で受光することによって表面欠陥部を検出する。 - 特許庁

To provide a defect inspecting device inspecting defects with a change in the surface state including projection and recesses, transparent foreign matter, fish eyes and lines, and colored defects including very faint yellow defects without change in the surface state, such as burn and oil spots by a single series of optical systems.例文帳に追加

凹凸、透明異物、フィッシュアイ、スジなど表面状態が変化した欠陥と、焼け、油汚れなど表面状態が変化しない非常に淡い黄色などの有色欠陥を１系列の光学系で検査することができる欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

To consistently manufacture a product steel strip of excellent quality and performance without raising degradation of the surface quality of the product steel strip or problems associated with the secondary working such as pressing by defect removal trace caused by removing surface defects of a hot-rolled steel strip.例文帳に追加

熱延鋼帯の表面欠陥除去で生じた欠陥除去痕により製品鋼帯の表面品質の低下やプレス成形などの２次加工に伴う問題を生じさせることなく、優れた品質及び性能を有する製品鋼帯を安定して製造する。 - 特許庁

To effectively suppress looseness by minutely coping with the unevenness of a building floor face while suppressing the occurrence of a defect that the strength of one of a surface material and a backing material is lowered in comparison with that of the other in a floor panel with the surface material placed over the backing material.例文帳に追加

表材と裏材とを重合させている床パネルにおいて、表材又は裏材の一方の強度が他方の強度と比べて低下する不具合の発生を抑えつつ建築床面の不陸にきめ細かく対応させてがたつきを効果的に抑える。 - 特許庁

Preferably, a depth di from the surface 2 to the internal defect 5 or the buried body in the diagnosed portion 4 is calculated based on a concrete elastic characteristic v of the diagnosed portion 4 and a time ti from the detection of the surface wave 9 to the detection of the each elastic wave 10i.例文帳に追加

好ましくは、被診断部位４のコンクリート弾性特性ｖと表面波９の検出から各弾性波10iの検出までの時間tiとから被診断部位４における表面２から内部欠陥５又は埋設物までの深さdiを算出する。 - 特許庁

To determine, even if minute irregularity is made at an irradiation position of light in the surface of an object, while eliminating an influence of the irregularity, whether or not a defect of a foreign substance equal to or higher than a predetermined height exists on the surface of the object.例文帳に追加

対象物の表面における光の照射位置に微小な凹凸が形成されている場合でも、この凹凸の影響を排除しつつ、予め規定された高さ以上の異物欠陥が対象物の表面上に存在するか否かを判定する。 - 特許庁

To provide an adhesive sheet for an electronic photographic recording free from the failures in label releasability, stacking and the like attributable to curling generated by the heat shrinkage of a surface base material, and the troubles of appearance defect of flapping and the like caused by the heat shrinkage of the surface base material.例文帳に追加

表面基材の熱収縮により発生するカールが原因となるラベル剥がし性不良、スタッキング不良等がなく、かつ表面基材の熱収縮により波打ち等の外観不良の問題がない電子写真記録用粘着シートを提供する。 - 特許庁

To provide a manufacturing method of an inkjet recording material having glossiness comparable to a conventional silver salt photograph with no surface defect such as pits or losses and which can be operated for a long period of time.例文帳に追加

従来の銀塩写真に匹敵する光沢を有し、ピットやトラレ等の表面欠陥が無く、長時間での連続操業も可能なインクジェット記録材料の製造方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a cast slab cooling apparatus in a continuous casting facility with which the cast slab can be cooled without developing surface defect, such as crack, at both edge parts in the width direction of the cast slab drawn out from a mold.例文帳に追加

鋳型から引抜かれた鋳片の幅方向両端部に割れ等の表面欠陥を発生させることなく鋳片を冷却することのできる連続鋳造設備の鋳片冷却装置を提供する。 - 特許庁

The magnetic disk unit carries out surface defect checking (S5) after raising the temperature of the unit by a temperature raising operation (S2) which controls a voice coil motor to repeatedly move a head on the magnetic disk.例文帳に追加

磁気ディスク装置は、ヘッドが磁気ディスク上で繰返し移動するようにボイスコイルモータを制御する温度上昇動作（Ｓ２）によって装置温度を上昇させた後に、表面欠陥検査（Ｓ５）を行う。 - 特許庁

To provide a continuous casting method of steel with which the sticking of oxide in molten steel to the inner surface of an immersion nozzle can be prevented and the development of defect in a product hot-rolled to an obtained cast slab can be prevented.例文帳に追加

浸漬ノズル内面への溶鋼中の酸化物の付着を防止でき、得られた鋳片を熱間圧延した製品の欠陥の発生を防止できる鋼の連続鋳造方法の提供。 - 特許庁

The defect inspection method employs an inspection device having a beam source 1 for irradiating a sample 10 with a charged particle beam 2 and a detector 18 for detecting a charged particle from the sample surface.例文帳に追加

欠陥検査方法は、荷電粒子ビーム２を試料１０に照射するビーム源１と、試料表面からの荷電粒子を検出部する検出部１８とを備える検査装置を用いる。 - 特許庁

To prevent an image forming apparatus in which a defect in end fixation in the beginning of printing and a rise in temperature of a non-paper-feed part in continuous printing irrespective of parameters of the surface roughness, thickness, etc., of a recording material.例文帳に追加

画像形成装置において、記録材の表面粗さや厚み等のパラメータに関わらず、プリント初期における端部定着不良と連続プリントにおける非通紙部昇温を防止する。 - 特許庁

To provide an epitaxial wafer and method of manufacturing the same capable of preventing the occurrence of the surface defect of the epitaxial film and a slip of the outer circumferential part of the film, and capable of lowering its manufacturing cost in having a gettering site.例文帳に追加

エピタキシャル膜の表面欠陥と、この膜の外周部のスリップとの発生を防止でき、ゲッタリングサイトを有して製造コストも低減可能なエピタキシャルウェーハおよびその製造方法を提供する。 - 特許庁

A lubricant layer 140 is formed on a surface of the anisotropic conductive film 130 to prevent an electrical connection defect occurring during mounting the driving chip 120 on the display panel.例文帳に追加

潤滑層１４０は前記異方性導電フィルム１３０の表面上に形成され、表示パネル上に前記駆動チップ１２０を付着する過程で発生する電気的な接続不良を防止する。 - 特許庁

To provide a paper guide device, removing toner adhering to be deposited on the surface of a guide rib for guiding paper by simple constitution, thereby restraining the occurrence of an image defect such as a linear scratch.例文帳に追加

用紙を案内する案内リブ表面に付着、堆積したトナーを簡便な構成により除去し、線状擦痕等の画像不良の発生を抑制することが可能な用紙案内装置を提供する。 - 特許庁

To provide a polishing composition capable of polishing a quickly polishing target material even if grain diameter of alumina is small, and reducing surface defect of the polishing target material after being polished.例文帳に追加

アルミナの粒径が小さくても迅速に研磨対象物を研磨することができ、尚かつ研磨後の研磨対象物の表面欠陥を低減することができる研磨用組成物を提供する。 - 特許庁

Thereby, a film-deposition defect and partial perturbation of an alignment direction of a liquid crystal layer are not generated and the reflection surface of a pixel part 500 can have high reflectance.例文帳に追加

このため、下部配向膜２０８には成膜不良や部分的な液晶層の配向方向の乱れは発生せず、よって画素部５００の反射面は極めて高い反射率を有することができる。 - 特許庁

To reduce a banded defect on a cast slab by impressing amplitude modulated magnetic field having a signal wave having the same period as the vertical oscillation of a mold to cancel the surface wave motion generated by the mold oscillation.例文帳に追加

鋳型の上下振動と同周期の信号波を有する振幅変調磁場を溶鋼に印加して鋳型振動に伴い生成する表面波動を打ち消して、鋳片の縞欠陥を軽減する。 - 特許庁

To provide a polishing composition which can improve flatness of an object after it is polished and can reduce surface defect in the object caused by the polishing.例文帳に追加

研磨後の研磨対象物の平坦性を改善することが可能であるのに加えて研磨により研磨対象物に生じる表面欠陥を低減することが可能な研磨用組成物を提供する。 - 特許庁

To provide a soldering inspection device for a PGA (Pin Grid Array) mounting substrate capable of detecting and evaluating a defect precisely by measuring directly a solder creeping-up height on the side surface of a pin erected on a substrate.例文帳に追加

基板上に立設されたピン側面における半田はい上がり高さを直接的に計測して、欠陥を精密に検出評価できるＰＧＡ実装基板の半田付け検査装置を提供する。 - 特許庁

To improve dischargeability of swarf while improving resistance to defect of an end cutting edge, improve durability of a tool and also stability in machining, and improve machining accuracy on an end surface in end mill machining.例文帳に追加

底刃の耐欠損性を高めながら切屑の排出性も向上させ、工具の耐久性と併せて、加工の安定性向上、エンドミル加工での端面の加工精度向上を図ることを課題としている。 - 特許庁

A second detection means 3a, 3b outputs a detective signal by finding a transmission light of the beam corresponding to the defect on the surface of the opposite side of the above substrate.例文帳に追加

第２の検出手段３ａ及び３ｂは、上記透光性基板の基板表面とは反対側で該基板表面の欠陥に応じた光ビームの透過光を検出して、検出信号を出力する。 - 特許庁

To provide a cutting tool formed of a surface-coated cubic boron nitride base ultra high-pressure sintered material, that exhibits excellent chipping resistance, defect resistance and finished face accuracy in the high-speed cutting of high-hardness materials.例文帳に追加

高硬度材の高速切削加工で、すぐれた耐チッピング性、耐欠損性と仕上げ面精度を発揮する表面被覆立方晶窒化ほう素基超高圧焼結材料製切削工具を提供する。 - 特許庁

To provide a mold for continuous casting and its continuous casting method capable of preventing the surface defect and the restrictive breakout of a solidified shell caused by ununiform cooling of a cast slab at the initial stage of solidification.例文帳に追加

凝固の初期段階における鋳片の不均一冷却に起因する表面欠陥や凝固シェルの拘束性ブレークアウトを防止する連続鋳造用鋳型および連続鋳造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a silicon wafer wherein no crystal defect is present in a surface layer part of the wafer, and an oxygen precipitate and other crystal defects are reduced in the wafer as well, and to provide a method of manufacturing the same.例文帳に追加

ウェーハの表層部に結晶欠陥が存在せず、ウェーハ内部においても酸素析出物やその他の結晶欠陥が低減されたシリコンウェーハ、およびその製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for forming the gate of a semiconductor element capable of obtaining the gate electrode having no defect by reducing the generation of an alien substance at the upper part of the surface of a doped silicon film.例文帳に追加

ドープトポリシリコン膜の表面上部に異常異物が発生することを抑制し、欠点のないゲート電極を実現することが可能な半導体素子のゲート形成方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a titanium material for sputtering in which a cast ingot is used as a starting raw material, and this titanium material has clean macro-structure and fine micro-structure and the defect on a surface layer is little and good upsetting forgeability is provided.例文帳に追加

溶解インゴットを出発原料として、清浄なマクロ組織、微細なミクロ組織を備え、表層欠陥が少なく、良好な据え込み鍛造性を具備するスパッタリング用チタン材を提供。 - 特許庁

To prevent the elution of any impurities, such as metal ion from voids or the development of rust, even in the case the fine voids, such as cast defect, exist on the surface of a casting part.例文帳に追加

鋳造部品の表面に鋳造欠陥等の微細な空孔があっても、この空孔から金属イオン等の何らかの不純物が溶出したり、または発錆したりすることがないようにする。 - 特許庁

To provide an SOS (silicon on sapphire) substrate low in the defect density of a surface even in an extremely thin silicon film by solving a problem that defective density increases due to incompatibility in a lattice constant between silicon and sapphire.例文帳に追加

シリコンとサファイアとの格子定数の不適合に起因して欠陥密度が増大する問題を克服し、極めて薄いシリコン膜においても表面の欠陥密度が低いＳＯＳ基板を提供する。 - 特許庁

To prevent a highly precisely-finished molded surface from being scratched by collision of both molding faces of the upper and lower molds with each other even if the supply of a glass material falls into defect by any possibility.例文帳に追加

万が一、ガラス素材の供給不良が起こったとしても、上金型及び下金型の成形面同士が衝突して高精度に仕上げられた成形面にキズが付くことを防止する。 - 特許庁

In one embodiment, the method includes a defect counting step of detecting impurities contained in the silica particles by optically counting defective parts on the surface of the precision component before the solving step after the cleaning process.例文帳に追加

ある態様では、洗浄工程後、溶解ステップ前に、精密部品の表面にある欠陥部位を光学的にカウントして、シリカ微粒子に含まれる不純物を検出する欠陥カウントステップを備えている。 - 特許庁

To produce a hot-dip galvanized steel sheet in which the surface quality of the produced hot-dip galvanized steel sheet can be improved by restraining the occurrence of wrinkle-like defect while achieving the uniformity of galvanized matter stuck amount.例文帳に追加

鍍金付着量の均一化を図りつつ、シワ状の欠陥発生を抑えることで、製造する溶融亜鉛鍍金鋼板の表面品質を向上可能な溶融亜鉛鍍金鋼板を製造する。 - 特許庁

To provide a moving handrail defect detector of passenger conveyer capable of reducing measurement errors of positions or speeds of respective parts of the moving handrail even when aging deterioration occurs on the surface of the moving handrail.例文帳に追加

移動手摺の表面に経年劣化を生じている場合でも、移動手摺の各部の位置あるいは速度の計測誤差を少なくすることができる乗客コンベアの移動手摺探傷装置の提供。 - 特許庁