「surface defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(31ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a composition for textured finish capable of suppressing occurrence of surface defect in a substrate after textured finish and to provide a method for producing a memory hard disk by using the composition.例文帳に追加

優れた加工力を維持しつつ、テクスチャー加工後のサブストレートにおける表面欠陥の発生を抑制することができるテクスチャー加工用組成物及びそれを用いたメモリーハードディスクの製造方法を提供する。 - 特許庁

According to a simple approach, a reflection component in the reflection elastic wave Wref on a surface S1 of the inspection object 2 is reduced and a reflection component in a cavity (defect) 21 inside the inspection object 2 can easily be detected.例文帳に追加

簡易な手法によって、反射弾性波Ｗrefにおける被検査体２の表面Ｓ１での反射成分が低減され、被検査体２内部の空隙（欠陥）２１での反射成分が検出し易くなる。 - 特許庁

To provide a device and a method for inspecting defects appropriately detecting defects on the surface of a band body such as a thin steel plate to be inspected for a defect, by accurately specifying the position of the edge of the band body.例文帳に追加

疵の検査対象である薄鋼板等の帯状体のエッジの位置を精度良く特定して帯状体表面の疵を適切に検出する疵検査装置及び疵検査方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a manufacturing method for a spherical valve member capable of solving such problems that a defect occurs in a valve member produced according to a conventional manufacturing method, in particular, a leakage and a stagnant flow occur due to a scratch on a surface thereof.例文帳に追加

従来の製造方法によるバルブ部材の欠点、特に、表面にきずがあることで生じる漏れや流れが滞ることなどの問題を解決できる球状バルブ部材の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for weaving a filament woven fabric, with which a defect of Barabike (seemingly sink mark-like interval unevenness in the weft direction on the surface of woven fabric) is prevented without quickening an opening timing and the conventional problem caused by the quickening of the opening timing can be solved.例文帳に追加

開口タイミングを早めることなくバラビケ欠点を防止し、開口タイミングを早めることで起こる従来の問題を解決することが可能なフィラメント織物の製織方法を提供する。 - 特許庁

By preparing a non-foamed skin layer in the whole periphery of a foamed layer, under having superior characteristics of the foamed plastic such as heat insulation, impact resistance and processability or the like, a defect such as a low strength part or the like is diminished on the surface.例文帳に追加

発泡層の外周面全体に無発泡のスキン層を設けると、断熱性、耐衝撃性、加工性などに優れる発泡プラスチックの特徴を有しながら、表面に低強度部分などの欠点が無くなる。 - 特許庁

To provide a polyester film for a transfer medium substrate, which can improve glossiness of a surface of printed matter transferred from a transfer medium, and which enables uniform transfer without a defect such as a wrinkle.例文帳に追加

転写媒体から転写された印刷物表面の光沢度を改善することができるとともに、シワなどの欠点がなく均一に転写することができる転写媒体基材用ポリエステルフィルムを提供する。 - 特許庁

Dispersion of the additive 21 in the rubber band 16 at packing or unpacking is prevented and the occurrence of a surface defect such as a cissing failure or the like at coating in the next process caused by the additive 21 can be restrained.例文帳に追加

ゴムバンド１６中の添加剤２１が梱包時や開梱時に飛散することがなくなり、添加剤２１に起因する次工程での塗布時におけるハジキ故障等の面状欠陥の発生が抑えられる。 - 特許庁

To precisely detect, with uniform precision along the width direction, a defect on a surface of a wide inspected object moving at a high speed, by a lighting system using an optical fiber bundle.例文帳に追加

本発明は、高速で移動する広い幅の被検査物の表面の欠陥を光ファイバ束を用いた照明装置によって、幅方向に均一な精度で、且つ高精度で検出できる表面検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a surface treatment of a cylinder block which can be adopted even to the cylinder block or V-engine block having journal parts without the occurrence of defect, such as a difference in level of plating films and plating scorching, on the inside surfaces of cylinder bores.例文帳に追加

シリンダボア内面にメッキ皮膜の段差やメッキ焦げ等の不良を発生させず、ジャーナル部を有するシリンダブロックやＶ型エンジンブロックにでも採用することができるシリンダブロックの表面処理方法等を提供する。 - 特許庁

To provide a photodiode where a high integration, high density, and shallow pinning layer are formed, and a method for manufacturing this; and to provide a photodiode where any substrate surface defect is minimized and a noise is reduced, and to provide a method for manufacturing it.例文帳に追加

高集積、高濃度及び浅いピンニング層のフォトダイオード及びその製造方法並びに基板表面欠陥を最小化して、ノイズの少ないフォトダイオード及びその製造方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a diode with reverse recovery characteristics is excellent, and breakdown voltage never deteriorates since no defect is generated on the upper main surface of a Si substrate even when wires are bonded onto an anode electrode and a manufacturing method of the same.例文帳に追加

逆回復特性が良好で、また、アノード電極上にワイヤがボンディングされる際にもＳｉ基板の上主面内に欠陥が生じないため耐圧が低下しない、ダイオードおよびその製造方法を提供する。 - 特許庁

The method for manufacturing the sample to observe the defect in the silicon crystal by the transmission electron microscope comprises the steps of releasing only a shallow region on the surface of the crystal, and thinning the region to the thin piece samples.例文帳に追加

シリコン結晶中の欠陥を透過型電子顕微鏡で観察するための試料作製方法であって、結晶表面の浅い領域のみを剥離させて薄片化し薄片試料とするようにした。 - 特許庁

To provide a method, with which a surface defect generated in an epitaxially grown crystal can be reduced, in a production method for compound single crystal for epitaxially growing a compound single crystal layer different from a substrate.例文帳に追加

基板とは異なる化合物単結晶層をエピタキシャル成長させる化合物単結晶の製造方法であって、エピタキシャル成長させた結晶内に生じる面欠陥を低減し得る方法を提供すること。 - 特許庁

With this method for forming a semiconductor layer, a structural defect suppressing substance which suppresses structure defects in the semiconductor layer is supplied to then top surface of a substance layer, where the semiconductor layer is formed.例文帳に追加

半導体層を形成する半導体層の形成方法において、半導体層中の構造欠陥を抑制する構造欠陥抑制物質を、当該半導体層が形成される物質層の表面に供給する。 - 特許庁

To quantitatively and accurately stratify a defect such as a surface flaw or segregation with respect to a large number of permanent magnets without relying on visual observation though a powder figure method is utilized.例文帳に追加

粉末図形法を利用しつつも、目視に依存することなく、多数の永久磁石について、表面のきずや偏析等の欠陥を、定量的に、かつ正確に層別する方法と、その装置を提供すること。 - 特許庁

The large high quality diffraction grating, which has a carefully formed blaze angle and a defect-free reflection surface, is manufactured on a specially oriented substrate by the use of photolithography and micro machining techniques.例文帳に追加

注意深く形成されたブレーズ角と欠陥のない反射表面を有する大きく高品質の回折格子が、写真平版又は微小機械加工技術を使用して、特別に方向付けた基板上に製造できる。 - 特許庁

The formed boule is of microelectronics device quality, such as having a transverse dimension greater than 1 cm, a length greater than 1 mm, and a top surface defect density of less than 10^7 defects per 1 cm^2.例文帳に追加

形成されるブールは、マイクロエレクトロニクス・デバイス品質を含み、例えば、１ｃｍより大きい断面寸法、１ｍｍを超える長さ、および１ｃｍ^2あたり１０^7未満欠陥の上面欠陥密度を有する。 - 特許庁

To provide an aluminum nitride single crystal laminated substrate which has an aluminum nitride single crystal film having improved crystallinity and a low defect density on the surface of a crystalline α-alumina substrate.例文帳に追加

結晶α−アルミナ基板表面に窒化アルミニウム単結晶膜を有する窒化アルミニウム積層基板において、結晶性が向上し欠陥密度の低い窒化アルミニウム単結晶膜を有する基板を提供する。 - 特許庁

On the other hand, the singal generated by the internal defect 8 is not detected or detected slightly from the probe 5b, and the noise generated in the vicinity of the surface of the thin steel plate 1 is detected mainly from the prove 5b.例文帳に追加

それに対し、渦流プローブ５ｂからは、内部欠陥８によって発生する信号は検出されないか検出されても小さく、主として薄鋼板１の表面近傍から発生するノイズが検出される。 - 特許庁

To provide a liquid crystal display element capable of preventing complication of design, cost increase and a display defect and obtaining satisfactory visual angle characteristics without feeling rough surface of display even when a visual angle is inclined.例文帳に追加

液晶表示素子において、設計の複雑化やコストアップ、また表示不良の発生を防止でき、視角を傾けた場合でも表示のざらつき感を感じることなく、良好な視角特性が得られるようにする。 - 特許庁

To provide a process for continuous galvanizing of a metal strip capable of attaining an extremely low defect density for satisfying the request of a customer demanding a surface free from visual defects, and to provide an apparatus therefor.例文帳に追加

外観欠陥のない表面を求める顧客の要求を満足させるだけの、きわめて低い欠陥密度を達成することのできる、金属ストリップの連続亜鉛めっきプロセスおよび装置を提供する。 - 特許庁

The light-transmitting member is a light transmitting member made of molten quartz glass and is characterized in that the concentration of oxygen defect structures is 5×10^-3 mol/L or lower in its surface region.例文帳に追加

光透過部材は、溶融石英ガラスよりなる光透過部材であって、当該光透過部材は、表面層領域において酸素欠陥構造の濃度が５×１０^−３ｍｏｌ／Ｌ以下であることを特徴とする。 - 特許庁

To provide a developing apparatus constituted so that the deviation of the carried developer quantity in the axial direction of a developer carrier is prevented, and the occurrence of an image defect such as surface staining is prevented on the side with less developer carried.例文帳に追加

現像剤坦持体の軸方向における現像剤の坦持量の片寄りを防止し、現像剤量の少ない側で地汚れ等の画像不良が発生しないようにした現像装置を提供する。 - 特許庁

To provide an evaluation method of a silicon substrate where surface defect observation due to etching after device film peeling is facilitated, by creating a clear surface for observing crystal defects on a semiconductor substrate and surface defects due to a device process, and it can be made clear that defects on the surface are caused by crystal itself or stress and contamination due to the process.例文帳に追加

半導体基板上の結晶欠陥やデバイスプロセス起因の表面欠陥を観察するための綺麗な表面を作成することによってデバイス膜剥離後のエッチングによる表面欠陥観察がし易くなり、表面にある欠陥が結晶起因の欠陥か、又はプロセス起因のストレスや汚染による欠陥なのかを明らかにすることができるようにしたシリコン基板の評価方法を提供する。 - 特許庁

The vicinity of crack type defect 10 caused on a welded material 9 of reactor structure irradiated by neutron is cut (a), a new welding material 12 is provided to the cut surface (a) and contact surfaces are welded with a laser welder 13.例文帳に追加

中性子照射を受けた原子炉構造物の被溶接部材９に生じたき裂状の欠陥10近傍を切断ａし、切断ａ面に新たな被溶接部材12を設けて、レーザ溶接機13により接合面を溶接して接合する。 - 特許庁

To provide a detecting method for a crystalline defect with high measurement sensitivity in which even a microdefect such as a small BMD formed nearby a wafer surface after a low-temperature process as an advanced device process can be measured.例文帳に追加

先端デバイスプロセスである低温プロセス後のウェーハ表面近傍に形成される小さなＢＭＤなど微小な欠陥であっても測定することができる測定感度の高い結晶欠陥の検出方法を提供する。 - 特許庁

To provide a drying method of a coating film, in which the defect of the coating film is prevented from occurring because a solvent is dew-condensed on the surface of a trough and the dew-condensed solvent is formed into droplets and deposited on the coating film.例文帳に追加

塗布膜の乾燥方法において、溶剤が樋表面に結露し、この結露した溶剤が滴となり塗布膜に付着してしまうことで塗布膜の欠陥が生じるのを防ぐことができる塗布膜の乾燥方法を提供する。 - 特許庁

To provide a fixing device and an image forming device which prevent a defect of image fixing to a synthetic resin plate by making the length in the endlessly moving direction of a fixing member surface longer than that in the carrying direction of the synthetic resin plate.例文帳に追加

定着部材表面の無端移動方向の長さを合成樹脂板の搬送方向の長さ以上にして、合成樹脂板への画像の定着不良を防止できる定着装置及び画像形成装置を提供する。 - 特許庁

To provide an optical disk having high reliability by preventing prepit from generating noise by forming the prepit signals around the inner peripheral side wall surfaces of land regions in order to avert the molding defect which arises on the inner peripheral side wall surface.例文帳に追加

ランド領域の内周側壁面に生じる成形不良を抑制すべく、内周側壁面を中心にプリピットを形成することで、プリピット信号のノイズ発生を防止して信頼性の高い光ディスクを提供する。 - 特許庁

In the region of the silicon carbide drift layer 20 where a basal plane defect exists, an integral p-type second well region 31 is formed in the top-surface portion of the silicon carbide drift layer 20 so as to overlap the first well regions 30.例文帳に追加

炭化珪素ドリフト層２０の基底面欠陥が存在する領域においては、炭化珪素ドリフト層２０の上面部に、一体的なｐ型の第２ウェル領域３１が第１ウェル領域３０に重ねて形成される。 - 特許庁

As a result, the existence of painting defect on the substrate 1 can be detected, based on the temperature decline of the substrate 1 surface, caused by vaporization heat removed, when a solvent in the paint 2 is evaporated, after the application of the paint 2 onto the substrate 1.例文帳に追加

これにより、基材１に塗料２を塗布した後、塗料２中の溶剤が揮発する際に奪われる気化熱に起因する基材１表面の温度低下に基づいて基材１の塗装不良の有無を検出することができる。 - 特許庁

In the reflection light detection type defect detection process, the surface of the electrophotographic photoreceptor is irradiated with light, reflection light reflected by the electrophotographic photoreceptor is received by a light receiving means and the defective part of the electrophotographic photoreceptor is detected.例文帳に追加

反射光検出式欠陥検出工程は、電子写真感光体の表面に光を照射し、電子写真感光体で反射される反射光を受光手段で受光して電子写真感光体の欠陥部を検出する。 - 特許庁

To provide a fixing device hardly causing an image defect without making a toner reservoir held by a cleaning blade flow out in restarting fixing even when a comparatively high temperature deformed part is made on the surface of a fixing rotary body.例文帳に追加

定着回転体の表面に比較的高温の変形部分が生じても、定着が再開された際にクリーニングブレードが保持しているトナー溜まりを流出させず、画像欠陥が生じにくい定着装置を提供する。 - 特許庁

To suppress an occurrence of a crystal defect, an interface state density or the like at a main surface side of a semiconductor substrate in a method for manufacturing an element isolation in a semiconductor memory or a semiconductor arithmetic processing unit.例文帳に追加

本発明は半導体記憶装置や半導体演算処理装置における素子分離の製造方法に関し、半導体基板の主表面側における結晶欠陥や界面準位等の発生を抑制することを目的とする。 - 特許庁

To provide a mold wash for metal molds which insures casting in a manner as not to give rise to casting defects, such as a casting surface defect, chill and misrun, at the time of casting cast iron castings and cast steel castings by a low-pressure casting method.例文帳に追加

低圧鋳造法によって鋳鉄鋳物や鋳鋼鋳物を鋳造するにあたり、鋳物に鋳肌不良、チル及び湯廻り不良などの鋳物欠陥が発生しないようにすることの可能な金型用塗型剤を提供する。 - 特許庁

To obtain a hot-dip galvanized steel sheet having beautiful surface appearance with a plating deposition amount of 55 g/m^2 or more and no plating defect and excellent corrosion resistance, and to obtain an alloyed hot dip galvanized steel sheet having excellent powdering resistance.例文帳に追加

めっき付着量が55g/m^2以上の不めっきのない美麗な表面外観を有し、耐食性にも優れた溶融亜鉛めっき鋼板、あるいはさらに耐パウダリング性にも優れた合金化溶融亜鉛めっき鋼板を得る。 - 特許庁

To provide a semiconductor device which has a Cu wiring containing a basic crystal structure which is not affected by variation in wiring width and capable of reducing a surface defect to a level lower than a practicable level, and to provide its inspecting technique.例文帳に追加

配線幅の変遷に影響されない、表面欠陥を実用可能なレベルよりさらに低いレベルまで低減できる基本的な結晶構造を具備したＣｕ配線を有する半導体装置及びその検査技術を提供する。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing an inkjet recording medium free from a defect such as a crack on a surface of an ink reception layer, and having a satisfactory coating layer strength, and the inkjet recording medium manufactured by the method.例文帳に追加

本発明は、インク受理層の表面に亀裂等の欠陥がなく、且つ良好な塗層強度を有するインクジェット記録媒体の製造方法および、本製造方法で製造するインクジェット記録媒体を提供することである。 - 特許庁

In the manufacturing method of the diamond electronic device, a site which becomes a nucleus of a crystal defect present on the side of one surface 10 of a diamond substrate can be terminated by boron on forming P^+diamond semiconductor layer 11.例文帳に追加

このダイヤモンド電子素子の製造方法では、Ｐ^＋ダイヤモンド半導体層１１の形成の際、ダイヤモンド基板１０の一面１０側に存在する結晶欠陥の核となるサイトをホウ素によって終端させることができる。 - 特許庁

To provide a nanoimprint stamper having novel structure capable of following simultaneously both a warpage and a surface protrusion (foreign matter) different in shape wavelengths of a substrate to be transferred, and allowing uniform transfer of reduced defect.例文帳に追加

被転写基板の形状の波長が大きく異なる反り及び表面突起（異物）の双方に同時に追従し、欠陥が少なく均一な転写を行うことができる新規な構造を有するナノインプリント用スタンパを提供する。 - 特許庁

To provide an optical scanning device and an image forming apparatus for effectively blocking reflected light produced at a scanning lens by incidence of a light beam emitted to a surface to be scanned and preventing occurrence of image defect caused by the reflected light.例文帳に追加

被走査面に配光されるビーム光の入射により走査レンズで発生する反射光を効果的に遮光し、反射光による画像不良の発生を防止可能な光学走査装置及び画像形成装置を提供する。 - 特許庁

To provide an image forming apparatus capable of suppressing dew condensation in a conveyance path disposed at the downstream side of fixing means and suppressing deterioration in the state of a paper surface and an image defect without reducing an operation rate of the apparatus.例文帳に追加

装置の稼働率を低下することなく、定着手段の下流側に配置された搬送路の結露を抑制することができ、紙面状態の劣化及び画像不良を抑制することのできる画像形成装置を提供する。 - 特許庁

The control part specifies an LED 63a existing in a rear surface direction of the pixel 21a having the bright spot defect based on input information in the input I/F part and reduces the luminance of the LED 63a from the set value to the lower limit value.例文帳に追加

制御部は、入力Ｉ／Ｆ部への入力情報に基づき、輝点不良の画素２１ａの背面方向に在るＬＥＤ６３ａを特定し、そのＬＥＤ６３ａの輝度を設定値から下限値にまで低減する。 - 特許庁

When gap servo is executed in the area of a recording surface on which gap servo is to be started by a gap servo control system 35, if a defect is detected in the area by a camera 33, control is executed not to execute gap servo.例文帳に追加

ギャップサーボ制御システム３５によりギャップサーボが開始されるべき記録面上の領域でギャップサーボが実行される場合、カメラ３３によりその領域に欠陥が検出された場合は、ギャップサーボを実行しないように制御される。 - 特許庁