「surface defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(35ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a coating method capable of obtaining a beautiful coating surface at high efficiency or under widespread conditions by suppressing the coating defect of roll mark generated between a pickup roll and an applicator roll in the coating of a belt like material by a roll coater.例文帳に追加

ロールコータを用いた帯状材の塗装において、ピックアップロールとアプリケータロール間で生じるロール目の塗装欠陥を抑制し、高能率または広範囲の操業条件のもとで美麗な塗装面が得られる塗装方法を提供する。 - 特許庁

To provide a hot-rolling method of a steel strip for which the grazing defect is not caused on the rear surface of the steel strip between a rolling stand through which the steel strip is passed without rolling the steel strip and a rolling stand on its upstream side.例文帳に追加

本発明の目的は、鋼帯を圧延することなく通板させる圧延スタンドとその上流側の圧延スタンドとの間に、鋼帯裏面にスリ疵欠陥を発生させない鋼帯の熱間圧延方法を提供することにある。 - 特許庁

To make output of an excellent image quality possible to be stably maintained over a long period by preventing deterioration of a contact charging member and the image defect as a result of the wear on the image carrier surface layer, with regard to an image forming device adopting a contact charging device.例文帳に追加

接触帯電装置を用いた画像形成装置について、接触帯電部材の劣化、像担持体表面層の削れによる画像不良を防止して良好な画質画像の出力を長期にわたって安定に維持させること。 - 特許庁

To provide a urethane resin coating material which allows no yellowing of resins with time, inhibits foaming which is a defect of urethane resins and imparts a moderate anti-skid effect to the coated surface without deteriorating the trowelability nor the feeling of aggregate itself.例文帳に追加

経時における樹脂の黄変を無くし、ウレタン樹脂の欠点である発泡を抑制し、鏝塗り作業性を低下させず、骨材そのものの風合いを損なうことなく、塗布面に適度な滑り止め効果を付与するウレタン樹脂系塗材を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductive polyamidimide belt having a stable surface resistance value, and in which density unevenness and a spot-shaped defect are hard to occur; to provide a method for producing a semiconductive polyamidimide belt; and to provide an image forming apparatus provided with the semiconductive polyamidimide belt.例文帳に追加

安定した表面抵抗値を有し、濃度ムラ、斑点状ディフェクトを生じ難い半導電性ポリアミドイミドベルト、半導電性ポリアミドイミドベルトの製造方法、及び半導電性ポリアミドイミドベルトを備えた画像形成装置を提供する。 - 特許庁

To prevent effectively occurrence of a surface defect such as hillock or orange peel on an epitaxial layer formed when a compound semiconductor layer is grown epitaxially on a semiconductor substrate.例文帳に追加

半導体基板上に化合物半導体層をエピタキシャル成長させたときに、形成されたエピタキシャル層にヒロックやオレンジピール等の表面欠陥が発生するのを効果的に防止できるエピタキシャル成長方法及びエピタキシャル成長用基板を提供する。 - 特許庁

A defect classification defining section 221 defines a region that classifies defects on a surface of the inspected device, by using layout design data corresponding to a layer formed on the inspected device and a layer formed in an upper layer or lower layer thereof.例文帳に追加

欠陥分類定義部２２１は、被検査デバイスにそのとき形成されているレイヤおよびその上層または下層に形成されたレイヤに対応するレイアウト設計データを用いて、被検査デバイスの表面に欠陥を分類する領域を定義する。 - 特許庁

Since prescribed electrodes among one electrode and the other electrode come into contact with each other on a housing outside surface, insulation defect is hardly generated even between electrodes even if the electrode spacing is narrow, thus realizing proximity of the pitch of the electrodes.例文帳に追加

また、一方の電極と他方の電極のうち、所定の電極同士が筐体外部面上で接触することで、電極間隔が狭い場合でも、電極間の絶縁不良が生じにくくなり、電極のピッチを近接させることが可能となる。 - 特許庁

To solve the problems wherein, when an illuminance distribution in an illumination spot by an actual illumination optical system is not a Gaussian distribution, each accuracy of particle size calculation of a foreign matter or a defect to be detected and coordinate position detection on the inspection object surface is lowered.例文帳に追加

実際の照明光学系による照明スポット内の照度分布がガウス分布になっていない場合には、検出される異物・欠陥の粒径算出および被検査物体表面上での座標位置の検出精度が低下してしまう。 - 特許庁

The liquid crystal display device further includes; a recessed section 8 corresponding to a predetermined pixel (a pixel 7 having turned into the bright spot defect) formed on the surface of the array substrate 1 or the counter substrate 3; and an opaque material 9 (a non light transmitting material) filled in the recessed section 8.例文帳に追加

そして、本発明は、所定の画素（輝点欠陥となった画素７）に対応するアレイ基板１又は対向基板３の表面に形成された凹部８と、凹部８に充填された不透明材料９（非透光性材料）とをさらに備える。 - 特許庁

To provide a continuously casting method, with which a cast slab having no surface defect thereof such as oscillation mark and cold shut is effectively manufactured with extremely small consumed electric power when the continuous casting under electro-magnetic field is carried out by impressing the high frequency magnetic field in a mold.例文帳に追加

鋳型内に高周波磁場を印加して連続電磁界鋳造を行なう際に、極力小さな消費電力でオッシレーションマークや湯じわ等の鋳片表面欠陥のない鋳片を効率よく製造できる連続鋳造法を提供すること。 - 特許庁

The pattern defect inspecting device is constituted to detect the surface of a wafer 1 on almost the same region at different timing using two detectors 702 and to add and average output signals from the two detectors 702 to eliminate noise.例文帳に追加

ウエハ１面のほぼ同一領域について、２つの検出器７０２を用いて、タイミングを異ならして表面を検出し、２つの検出器７０２からの出力信号を加算し、平均することにより、ノイズを除去するように構成した。 - 特許庁

To provide a color filter which is free from a defect such as surface roughness, has high contrast by using a black matrix having satisfactory accuracy and can be manufactured at low costs, to provide its manufacturing method, and to provide a liquid crystal display which has a constant cell gap and can perform high contrast display.例文帳に追加

表面アレなどの欠陥がなく、精度の良いブラックマトリクスを用い高コントラストであり、且つ低コストで作製可能なカラーフィルタ、その製造方法及びセルギャップが一定で、高コントラストな表示可能な液晶表示装置を提供する。 - 特許庁

To provide a magnetic carrier, a two components series developer, a supply developer and a developing method for preventing carrier deposition on the surface of a photoreceptor even when a magnetic carrier of a small particle size is used and for obtaining an image of high picture quality without an image defect.例文帳に追加

小粒径の磁性キャリアを用いても感光体表面へのキャリア付着を防止し、画像欠陥のない高画質画像を得ることができる磁性キャリア、二成分系現像剤、補給用現像剤及び現像方法を提供すること。 - 特許庁

To provide conductive ball feeder and feeding method capable of feeding micro conductive balls to a predetermined region of an electronic component manufacturing apparatus while suppressing occurrence of surface defect or deformation.例文帳に追加

本発明は、表面欠陥や変形の発生を抑制しつつ徴小な導電性ボールを電子部品製造装置の所定の被供給領域に供給可能な導電性ボールの供給装置および供給方法を提供することを目的ている。 - 特許庁

As a result, the surface potential of the seed film is controlled highly precisely, the dissolution of the seed film is prevented and the strength of a high polymer coating film is made uniform and thus the film deposition defect of the plated film is prevented.例文帳に追加

上述した本発明によれば、シード膜の表面電位を高精度に制御することが可能となり、シード膜の溶解を防止し高分子皮膜の強度を均一にすることができるので、メッキ膜の成膜不良を防止することができる。 - 特許庁

Thus, by measuring the dislocation density of the cross section crossing the main surface equivalent to the defect density in the lateral direction, selecting the GaN substrate for which the dislocation density is equal to or lower than the fixed numerical value and using it, the yield of the semiconductor device is improved.例文帳に追加

したがって、この横方向の欠陥密度に相当する主面と交差する断面の転位密度を測定し、当該転位密度が一定の数値以下であるＧａＮ基板を選択して用いることで、半導体デバイスの歩留まりが向上する。 - 特許庁

To provide a triangular corner, a holder for the triangular corner and a holder for a draining bag, for eliminating a defect of a conventional technology wherein garbage in the triangular corner is wetted with water and easily gets rotten or the triangular corner is easily movable or prevents a sink bottom surface from being used widely.例文帳に追加

シンク底面が広く使えない、三角コーナー内の生ごみが水で濡れて腐りやすい、あるいは移動しやすいといった従来技術の欠点を解消した三角コーナー、三角コーナーの保持具及び水切り袋の保持具を提供する。 - 特許庁

Since a large bending moment can be prevented from acting on an upper beam part 12, even if the force generated when the hood is closed is large, such a defect that a crack occurs in and near the stopper surface 12a can be prevented from occurring.例文帳に追加

したがって、上梁部１２に大きな曲げモーメントが作用することを防止できるので、フードを閉める際に力が大きい場合であっても、ストッパ面１２ａ及びその近傍に亀裂が発生する等の不具合が生じることを防止できる。 - 特許庁

To obtain the manufacturing method for a master for heat sensitive stencil printing, in which the lowering of the smoothness of the surface of a film is small when master raw textiles are reeled-up in a roll, no defect such as white point or the like develops in a printed image, the printed image excellent in image quality can be obtained.例文帳に追加

マスタ原反をロール状に巻き取ったときのフィルム表面の平滑度の低下が小さく、印刷画像に白点等の欠点が発生しない、画質の優れた印刷画像が得られる感熱孔版印刷用マスタの製造方法を得る。 - 特許庁

An evaluation method of a polycrystalline silicon wafer comprises: revealing crystal defects on a surface a polycrystalline silicon wafer to be evaluated by selectively etching the surface; obtaining a macro image of the surface of the polycrystalline silicon wafer whose crystal defects are revealed as a scattering image; and quantitatively evaluating a crystal defect distribution in the polycrystalline silicon wafer based on a luminance distribution of the obtained macro image.例文帳に追加

評価対象の多結晶シリコンウェーハ表面を選択エッチングし、該表面において結晶欠陥を顕在化させること、結晶欠陥を顕在化させた多結晶シリコンウェーハ表面のマクロ画像を散乱画像として取得すること、および、取得したマクロ画像の輝度分布に基づき、前記多結晶シリコンウェーハにおける結晶欠陥分布を定量的に評価すること、を含む多結晶シリコンウェーハの評価方法。 - 特許庁

The evaluating method for the crystal defect of the semiconductor single-crystal substrate is performed at least by detecting the crystal defect obviously developed on the surface of the thermally processed semiconductor single-crystal substrate after thermally processing it under a hydrogen atmosphere at 800 to 1,100°C.例文帳に追加

半導体単結晶基板の結晶欠陥評価方法であって、少なくとも、前記半導体単結晶基板を水素雰囲気下８００〜１１００℃で熱処理した後、該熱処理した半導体単結晶基板の表面に顕在化した結晶欠陥の検出を行うことによって、前記半導体単結晶基板の結晶欠陥の評価を行うことを特徴とする半導体単結晶基板の結晶欠陥評価方法。 - 特許庁

In the nitride semiconductor light emitting element and its manufacturing method, a low defect region having a defect density of 10^6 cm^-2 or less and a trench region with a recess formed in the surface of a nitride semiconductor substrate and the etching angle θ between the side face of the recess and its bottom side extension line ranges as 75° ≤ θ≤ 140° in a sectional view of the recess.例文帳に追加

本発明の窒化物半導体発光素子及びその製造方法は、窒化物半導体基板の表面に、欠陥密度が１０^6ｃｍ^-2以下の低欠陥領域と、凹部が形成された掘り込み領域とが設けられ、前記凹部の断面形状において、前記凹部の側面部と前記凹部の底面部延長線との間の角度であるエッチング角度θが、７５度≦θ≦１４０度であることを特徴とする。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a gallium nitride single crystal substrate having small crystal defect density and a large surface area from a gallium nitride single crystal layer laminated on the surface of silicon (Si) single crystal used as a substrate and having low dislocation density, excellent crystal quality and a large diameter and to provide the gallium nitride single crystal substrate manufactured by the same method.例文帳に追加

転位密度が低く結晶品質に優れ、且つ大口径の珪素（Ｓｉ）単結晶を基板として利用し、その表面上に積層した窒化ガリウム単結晶層から結晶欠陥密度の小さい大面積の窒化ガリウム単結晶基板を製造する方法とその方法により製造された窒化ガリウム単結晶基板を提供する。 - 特許庁

To provide a cooling device in a continuous annealing furnace employing an air-jet cooler as a cooling device of a steel strip and capable of avoiding a problem that foreign matters such as rust are mixed in the air jet and jetted on a surface of the steel strip and product defect occurs on the surface of the steel strip without degrading the productivity.例文帳に追加

鋼帯の冷却装置としてエアージェットクーラーを採用した連続焼鈍炉において、錆等の異物がエアー噴流に混入して鋼帯の表面に噴射され、鋼帯表面に製品欠陥を生じる問題を、生産性を低下させることなく回避可能とした連続焼鈍炉における冷却装置を提供する。 - 特許庁

The inspection device includes a pressing member 31 for pressurizing the image display surface 19 of the liquid crystal display device 1, a light receiving element 42 that receives light going out from a place of the image display surface 19 that is pressurized by the pressing member 31, and a quality determination section 46 that determines based on signals output from the light receiving element 42 whether or not short-circuit defect occurs.例文帳に追加

液晶表示装置１の画像表示面１９を加圧する押圧部材３１と、画像表示面１９の押圧部材３１によって加圧された箇所から出射する光を受光する受光素子４２と、受光素子４２から出力される信号に基づいて短絡欠陥の有無を判定する良否判定部４６と、を備えた。 - 特許庁

To provide an evaluation method for accurately evaluating a wafer surface quality, especially fine defects on the surface of a wafer and to provide a silicon wafer, for which a contamination or defect level that cannot be confirmed conventionally, is confirmed with this evaluation method, and especially a silicon wafer with which device characteristics will not degrade.例文帳に追加

従来のウェーハ評価方法では十分な評価を行うことができなかった、ウェーハ表面品質、特にウェーハ表面の微小な欠陥を精度良く評価方法を提供すると共に、この評価法により、今まで確認できなかった汚染や欠陥レベルまで確認されたウェーハ、特にデバイス特性が劣化しないシリコンウェーハを提供する。 - 特許庁

To provide a method of preparing chemical mechanical polishing aqueous dispersion capable of preventing a surface defect such as dishing, erosion, scratch or fang in a planarization process of a polishing object surface by chemical mechanical polishing, and to provide a chemical mechanical polishing aqueous dispersion preparing set excelling in long-term preservation stability, even in a condensed state.例文帳に追加

化学機械研磨による被研磨面の平坦化工程においてディッシング、エロージョン、スクラッチないしファング等の表面欠陥を抑制することができる化学機械研磨用水系分散体の調製方法、および濃縮状態においても長期保存安定性に優れる化学機械研磨用水系分散体調製用セットを提供することにある。 - 特許庁

In the induction current detection type defect detection process, the surface of the electrophotographic photoreceptor and at least one detection electrode are relatively moved, an induction current is generated at least on one detection electrode by a potential change on the surface of the electrophotographic photoreceptor, and by detecting the induction current, the defective part of the electrophotographic photoreceptor is detected.例文帳に追加

誘導電流検出式欠陥検出工程は、電子写真感光体の表面と少なくとも１つの検知電極とを相対的に移動させ、電子写真感光体の表面の電位変化により少なくとも１つの検知電極に誘導電流を発生させ、誘導電流を検出することによって電子写真感光体の欠陥部を検出する。 - 特許庁

Color tone levels of defective portions on both the pick-up images are compared by a comparator 102 and it is determined that the defect is present on the flip-chip bonded surface if the color tone level on the pick-up image to the flip-chip bonded surface is higher than that on the pick-up image to the substrate backplane.例文帳に追加

上記両方の撮像画像に存在する欠陥部の色調レベルは比較部１０２によって比較され、フリップチップ接合面に対する撮像画像での色調レベルが基板裏面に対する撮像画像に対する撮像画像での色調レベルよりも高い場合に、該欠陥がフリップチップ接合面に存在するものであると判断される。 - 特許庁

To provide a polishing cloth which performs texture machining to the finish of super-high precision with extremely small surface roughness of a substrate, suppresses a defect caused by micro chips from polishing and abrasive grains biting into the substrate surface, has a high cleaning effect, and minimizes scratch defects caused by the local cohesion of abrasive grains.例文帳に追加

基板表面粗さが極めて小さい超高精度の仕上げでテクスチャー加工を行うことができ、且つ微細な研磨屑及び砥粒の基板表面への食い込みに起因する欠陥を抑制し、クリーニング効果が高いとともに、局所的な砥粒の凝集などに起因するスクラッチ欠点を極小化することができる研磨布を提供する。 - 特許庁

On both end edges in the width direction of the flexible sheet 11, seal defect detection display 12 where many slanting lines SL are printed on an inner surface side at regular intervals is performed and, when the end edge in the width direction of the flexible sheet 11 is partially folded toward the inner surface side, many of the slanting lines SL are changed into V shaped lines.例文帳に追加

柔軟性シート１１の幅方向の両端縁には、内面側に多数の斜線ＳＬが一定間隔で印刷されたシール不良検出用表示１２が施されており、柔軟性シート１１の幅方向の端縁が部分的に内面側に折り込まれると、多数の斜線ＳＬが、逆「く」字状の線に変化するようになっている。 - 特許庁

To provide an image processing and inspecting method and an image processing and inspecting device capable of extracting the whole shape of a defect quickly and precisely even if a defective image includes many gray-white- flecked noises caused by the surface characteristic of a rubber material and is intermittent, e.g. a defective image existing on the surface of the rubber material.例文帳に追加

たとえば、ゴム材料の表面に存在する欠陥の画像のように、画像中にゴム材料の表面特性に起因したゴマ塩ノイズが多く含まれ、欠陥画像が途切れがちな画像であっても、欠陥の全体的な形状を迅速かつ精度良く抽出することができる画像処理検査方法および画像処理検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a manufacturing method of polarizing plate for suppressing the occurrence of a defect in a polarizing plate with regard to the method of manufacturing the polarizing plate which is prepared by laminating a cyclo-olefin-based resin film on one surface of the polarizing film made of polyvinyl alcohol-based resin via an adhesive layer and by laminating a cellulose-based resin film on the other surface via an adhesive layer.例文帳に追加

ポリビニルアルコール系樹脂からなる偏光フィルムの一方の面に接着剤層を介してシクロオレフィン系樹脂フィルムが積層され、他方の面には接着剤層を介してセルロース系樹脂フィルムが積層されてなる偏光板を製造する方法であって、偏光板の欠陥発生を抑制できる方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a machine part having a sound surface unnecessary for a later machining work therefor without developing surface defect such as burning at the compressing and pulling-out time and an abnormal hardened phase, by promoting good lubrication between an alloy blank and a metallic mold when quenching is applied while compressing the iron-based alloy blank in the metallic mold.例文帳に追加

金型内で鉄基合金素材を圧縮しながら焼入れする際に、合金素材と金型間の良好な潤滑を促し、圧縮及び抜出し時の焼付きや異常硬化相などの表面欠陥が生じることがなく、後の機械加工が不要な健全な表面を有する機械部品を製造する方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method of suppressing in-process contamination and a defect in outward appearance of a polarizing plate due to production of a particulate substance even when a surface of a cycloolefin-based resin film is treated by a corona discharge when the polarizing plate is manufactured by sticking the cycloolefin-based resin film on at least one surface of a polyvinyl-alcohol-based polarizing film.例文帳に追加

ポリビニルアルコール系偏光フィルムの少なくとも一方の面にシクロオレフィン系樹脂フィルムを貼り合わせて偏光板を製造する際、シクロオレフィン系樹脂フィルムの表面にコロナ放電処理を施しても、微粉末状物質の発生による工程内汚染や偏光板の外観不良を抑制しうる方法を提供する。 - 特許庁

To provide a graphite tray used for sintering a product of cemented carbides or cermets, each having a thermally sprayed coating of an oxide on its surface, which is almost free from oxidation phenomenon at the interface between the coating and its surface even when the coating is prevented from becoming oxygen defect type and which thereby improves the durability of the coating.例文帳に追加

酸化物の溶射皮膜を表面に有する、超硬合金またはサーメット類製品の焼結に用いるグラファイトトレーであって、被膜が酸素欠損型になるのを防止した場合においても、被膜とグラファイトとの境界面において酸化現象が起こりにくく、その結果、被膜の耐久性を向上させることができる、焼結用グラファイトトレーを提供する。 - 特許庁

To provide a shading correction method wherein, in detection of surface defects using an image, a part or all of a large-area defect flatly extending over a wide range on a surface to be inspected is not removed from an image by correction, and no rebounding phenomenon occurs in the corrected image in the vicinity of a boundary between the inside and outside of the target to be inspected.例文帳に追加

画像を用いた表面欠陥検出に際し、検査対象表面上の広い範囲に平坦に広がる大面積欠陥が補正によって画像からその一部または全体が除去されず、かつ検査対象内と外との境界部付近において補正された画像に跳ね返り現象が発生しないシェーディング補正方法を提供すること。 - 特許庁

To prevent occurrence of any surface defect on a plated steel plate by the increasing effect of the pressure or the flow rate of gas blown to a steel strip by a gas wiping device even when the traveling speed of the steel strip is increased, and to effectively suppress any increase in apparatus cost.例文帳に追加

鋼帯の走行速度が速くなっても、ガスワイピング装置により鋼帯に吹き付けられるガスの圧力又は流量の増加の影響によりめっき鋼板に表面欠陥が生じることを防止し、かつ設備コストの増加を効果的に抑制する。 - 特許庁

Minute crystal defect caused by carbon is formed at a lamination interface by carrying out lamination in a state in which an organic substance exists on the surface of a wafer before lamination, and carrying out a bonding-enhancing heat treatment in a state in which the organic substance is confined in the lamination interface.例文帳に追加

貼り合わせ前のウェーハ表面に有機物が存在する状態で貼り合わせ、貼合せ界面に前記有機物を閉じこめた状態で接合強化熱処理を行うことにより、貼合せ界面に炭素に起因する微小な結晶欠陥を形成させる。 - 特許庁

The silicon oxide layer 4 is formed by removing the carbon not coupled with the silicon existing in the silicon carbide semiconductor layers 18, 6, 8; by correcting a crystal defect of the silicon carbide semiconductor layers 18, 6, 8; and by oxidizing the surface of the silicon carbide semiconductor layers 18, 6, 8.例文帳に追加

炭化珪素半導体層１８，６，８に存在する珪素と結合していない炭素を除去したり、炭化珪素半導体層１８，６，８の結晶欠陥を補修しつつ、炭化珪素半導体層１８，６，８の表面を酸化して酸化珪素層４を形成する。 - 特許庁

In the process of cutting out a part of the surface from the wiring board material for the core, a part having defects is cut out of the wiring board material, and a defect-free wiring board material part is fit into the space created by the cutting-out, aligned, and fixed therein.例文帳に追加

コア部分とすべき配線板素材においてその面内一部を切り出す工程により、不良が発生している部分を配線板素材から切り出し、このあと、切り出された空間に新たな不良のない配線板素材を嵌め込み、位置合わせ・固定する。 - 特許庁

Light is emitted toward the steel pipe of an inspection object, reflected light from the first area of the steel pipe surface is received by a two-dimensional camera to measure luminous energy thereof, and a reference level used in defect detection is set based on the measured luminous energy (S3).例文帳に追加

検査対象物である鋼管に光を照射し、鋼管表面の第１領域から反射光を２次元カメラにより受光してその光量を計測し、計測した光量に基づき、欠陥検出の際に用いる基準レベルを設定する（Ｓ３）。 - 特許庁

To provide particles for a display medium, in which firmly fixed ruggedness can be obtained on each surface, and which can exhibit high fluidity as well, and to provide a panel for information display in which a display defect and the reduction of a contrast ratio can be solved using the same.例文帳に追加

粒子表面に強固に固定化した凹凸を得ることができ、しかも更なる高流動性を発現できる表示媒体用粒子及びそれを用いて表示不良やコントラスト比の低下を解消できる情報表示用パネルを提供する。 - 特許庁

To provide an excellent-electroconductivity electroconductive paste composition having required excellent electrical conductivity, preventing generation of corrosion defect, and especially suitable for surface covering of a separator for a fuel cell, and to provide an electroconductive separator covered with the electroconductive paste composition.例文帳に追加

要求される良好な導電率を有し、腐食不良の発生を防止し、導電性に優れ、特に燃料電池用セパレータの表面被覆に好適する導電性ペースト組成物及び導電性ペースト組成物を被覆した導電性セパレータを提供する。 - 特許庁