「surface scan」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

When the time Δt elapses after an ECG trigger signal is received, a transmission-reception section 4 changes a scanning surface and makes a two-dimensional ultrasonic probe 2 scan a scanning surface after the change.例文帳に追加

ＥＣＧトリガ信号を受けてから、時間Δｔが経過した時点で、送受信部４はスキャン面を変えて２次元超音波プローブ２に変更後のスキャン面をスキャンさせる。 - 特許庁

The equally good alternative is to impart the refractive index compensation media of the respectively different refractive indices to the surface on a base material 41 side of the negative film 12 and the surface on the photosensitive agent layer side and to scan the negative film.例文帳に追加

尚、ネガフィルム１２のベース材１４側の面と感光剤層１６側の面とにそれぞれ異なる屈折率の屈折補償媒体を付与してスキャンしてもよい。 - 特許庁

In this event, the Y step surface table moves in the cross scan direction together with the substrate holding member and the Y step guide so the substrate holding member is always held by the Y step surface table.例文帳に追加

この際、Ｙステップ定盤も基板支持部材及びＹステップガイドと共にクロススキャン方向に移動するので、基板支持部材は、常にＹステップ定盤に支持される。 - 特許庁

In this plasma display panel constituted by arranging a front surface substrate wherein a plurality of pairs of scan electrodes and sustaining electrodes are arranged and a rear surface substrate wherein a plurality of data electrodes arranged perpendicular to the scan electrodes and the sustaining electrodes facing each other, a linear expansion coefficient of the front surface substrate is smaller than a linear expansion coefficient of the rear surface substrate.例文帳に追加

複数の対となる走査電極および維持電極が配列された前面基板と、前記走査電極および前記維持電極と直交するように複数のデータ電極が配列された背面基板とを対向配置して構成したプラズマディスプレイパネルにおいて、前記前面基板の線膨張率が前記背面基板の線膨張率よりも小さい。 - 特許庁

The scanning speed at the time of emitting the light beam LB to a photoreceptor drum 14 is equalized by the 1st scan lens 32, and an image forming spot is focused on the circumferential surface of the photoreceptor drum 14 by the 2nd scan lens 33.例文帳に追加

第１走査レンズ３２により、感光体ドラム１４に光ビームＬＢを照射するときの走査速度が等速度になり、第２走査レンズ３３により、感光体ドラム１４の周面上に結像点が結ばれる。 - 特許庁

To provide a light beam scanner which can accurately adjust a light beam on a scan object surface to be in a prescribed state.例文帳に追加

光ビームの被走査面での状態を規定の状態に正確に調整することができる、光ビーム走査装置を提供すること。 - 特許庁

To scan the whole surface of a sample in a short period of time and enable any minute defect to be detected without inflicting thermal damage on the sample.例文帳に追加

試料全面を短時間で走査し、試料に熱ダメージを与えることなく微小な欠陥を検出することができるようにする。 - 特許庁

A first surface contour of the sample is determined from the response of the probe 301 and the tilt angle of the stage during the forward scan.例文帳に追加

試料の第１の表面輪郭が、順方向走査の間のプローブ３０１の応答及びステージの傾斜角度から決定される。 - 特許庁

The electron beam (e) scans the surface of the assessment sample S in any arbitrary direction such as in a diametric direction, for example, using a scan coil 4 as needed.例文帳に追加

電子線ｅは必要に応じ走査コイル４で評価試料Ｓの面上を任意の方向、例えば直径方向に走査される。 - 特許庁

The illumination light lighting up the document surface is turned on and a preliminary scan is started to gather information showing the state of the document (P1 to P3).例文帳に追加

原稿面を照明する照明光を点灯、予備スキャンを開始し、原稿の状態を示す情報を収集する（Ｐ１〜Ｐ３）。 - 特許庁

To nearly uniform a level shift caused in pixel potential due to parasitic capacitance existing parasitically to a scan signal line in a display surface.例文帳に追加

走査信号線に寄生的に存在する寄生容量に起因して画素電位に生じるレベルシフトを表示面内で略均一にする。 - 特許庁

A polygon mirror 240 deflects the laser beam emitted from the semiconductor laser 210 to scan the surface of the photoreceptor drum 22.例文帳に追加

ポリゴンミラー２４０は、半導体レーザ２１０から射出されたレーザ光を偏向して感光体ドラム２２の表面上を走査させる。 - 特許庁

The method for imaging a surface includes: scanning a first region of the surface with a primary charged particle beam at a first scan rate so as to generate a first secondary charged particle beam from the first region; and scanning a second region of the surface with the primary charged particle beam at a second scan rate faster than the first scan rate so as to generate a second secondary charged particle beam from the second region.例文帳に追加

表面を像形成する方法は、表面の第１領域を一次荷電粒子ビームで第１スキャン速度においてスキャニングして、その第１領域から第１の二次荷電粒子ビームを発生し、表面の第２領域を一次荷電粒子ビームで上記第１スキャン速度よりも速い第２スキャン速度においてスキャニングして、その第２領域から第２の二次荷電粒子ビームを発生することを含む。 - 特許庁

To provide an optical measurement method and apparatus, which can enhance the accuracy in detecting a foreign body on a surface to be detected and which detect the states of the front surface and the back surface, without increasing the required scan time.例文帳に追加

スキャン所要時間を増大させる事なく、被検出面の異物検出精度を高め、しかも、表面のみならず裏面の状態をも検出する光学的測定方法およびその装置を提供する。 - 特許庁

The projector 700 is configured so as to scan the display surface 500a with the address light so that an area of the display surface 500a corresponding to an image displayed on the display surface becomes to be the light diffusion state.例文帳に追加

プロジェクター７００は、表示面５００ａのこの表示面に表示する画像に対応した領域が光拡散状態となるように、アドレス光を表示面５００ａに走査するよう構成されている。 - 特許庁

An electrostatic latent image is formed on a surface of a photoreceptor by interlace scan by a multiple beam scanner deflecting a plurality of light beams by the light emission of each of a plurality of light emitting parts possessed by a light source element by a deflection element to mainly scan and expose the electrified surface of a photoreceptor.例文帳に追加

光源素子が有する複数の各発光部の発光による複数本の光ビームを偏向素子によって偏向して、感光体の帯電された表面を主走査して露光するマルチビーム走査装置により、インタレース走査によって感光体の表面に静電潜像を形成する。 - 特許庁

The gauges 29a and 29b then rotate by 10° in an arrowed direction Y2 and scan the sintered pellet P in an arrowed direction Y3 at each angle to detect the upper end surface height and lower end surface height thereof.例文帳に追加

そして、矢印Ｙ2方向に１０°ずつ回転し、各角度において矢印Ｙ3方向への走査を行い、焼結ペレットＰの上端面高さ及び下端面高さの検出を行う。 - 特許庁

The shape measuring instrument has a probe 1 to scan a surface G1 of a measuring object G and computes a radius of curvature of the surface G1 from its displacement quantity in the Z axial direction.例文帳に追加

形状測定器は、測定対象物Ｇの表面Ｇ１を走査する触針１を有し、そのＺ軸方向の変位量から表面Ｇ１の曲率半径を算出する。 - 特許庁

To convert a magnification and to scan a wide range at high quality, in a device for scanning an object surface by a light beam from a laser beam source and for observing an object surface shape by a reflected beam thereof.例文帳に追加

レーザ光源からの光束で物体表面を走査し、その反射光で物体表面形状を観察する装置で、倍率の変換と広範囲の走査を高品質で行う。 - 特許庁

In the area more on the center side of the ID token 10 than an ID code scan line 70 on an ID code formation surface, that is in the area more on the inner side than a scan line contact circle 85, an intrinsic identification mark 90 which can be visually identified is attached.例文帳に追加

ＩＤコード形成面におけるＩＤコードスキャンライン70よりもＩＤメダル10の中心側の領域に、すなわち、スキャンライン接円85よりも内側の領域に、視覚的に識別できる固有の識別マーク90を付する。 - 特許庁

To provide a multi-probe type scan probe microscope apparatus and a sample surface evaluation method which can reduce labor and time required for measuring work by facilitating the measurement of multiple kinds of scan probe microscope images.例文帳に追加

複数種の走査プローブ顕微鏡像の測定を容易に行えて、測定作業に要する労力および時間を軽減できるマルチプローブ型走査プローブ顕微鏡装置およびそれを用いた試料表面評価方法を提供する。 - 特許庁

An optical scan element formed in a semiconductor process is preferred to be used to direct the lighting beam to the surface 2 to be detected, for deflection scanning.例文帳に追加

好ましくは、半導体プロセスによって形成した光学的走査素子を用い、照射光を被検出面に向けて偏向走査する。 - 特許庁

The treatment object substrate and the treatment electrode arranged oppositely to each other are relatively moved to scan a surface of the treatment object board.例文帳に追加

対向配置された処理対象基板と処理電極とを相対移動させ、処理対象基板の表面を処理電極により走査する。 - 特許庁

In step S101, a first probe is allowed to scan a measurement target surface to obtian measurement data including three-dimensional position data by the first probe.例文帳に追加

ステップＳ１０１では、被測定面に対して第１プローブを走査させ、第１プローブの３次元位置データを含む測定データを取得する。 - 特許庁

To provide laser beam machining equipment enabled to scan at high speed a surface to be machined and to converge laser light on a micro- converging image.例文帳に追加

高速で加工面を走査することができ、レーザ光を微小集光像に集光することができるレーザ加工装置を提供する。 - 特許庁

A plurality of display electrodes 8 are formed in parallel with one another, in a direction orthogonal to the scan electrodes, on the inner surface of the counter side glass substrate 1.例文帳に追加

対向側ガラス基板１の内面には、複数の表示電極８が走査電極６に直交する方向に平行に形成されている。 - 特許庁

Therefore, it is not required to scan the line beam and the thin film is uniformly formed on the whole surface only by moving a moving stage 96 to the arrow A direction.例文帳に追加

このため、ラインビームを走査する必要がなく、移動ステージ９６を矢印Ａ方向へ移動させるだけで全面を均一に成膜できる。 - 特許庁

To detect a position of a ridge line in a surface shape of a sample by one scan, by a surface shape measuring machine for measuring the surface shape of the sample by detecting respectively each height from a prescribed reference face to each position on the surface shape of the sample.例文帳に追加

所定の基準面から試料の表面の各位置までの高さを各々検出することによって試料の表面形状を測定する表面形状測定機にて、１回の走査で試料の表面形状の稜線の位置を検出する。 - 特許庁

The laser beam 16A, emitted from the laser beam source part 12A, is made incident on the reflection surface of a polygon mirror 18 and deflected toward a surface to be scanned 20 by the mirror 18 so as to scan the surface 20 from P0 to P2.例文帳に追加

レーザ光源部１２Ａから射出されたレーザビーム１６Ａは、ポリゴンミラー１８の反射面に入射され、ポリゴンミラー１８により被走査面２０の方向へ偏向され、被走査面２０上をＰ０からＰ２まで走査する。 - 特許庁

To determine a two-dimensional surface shape without uncertainty even when there is a step with a height of a half wavelength or over on the surface of an object to be measured by adding a mechanism for mechanically driving a reference surface before and after wavelength scan.例文帳に追加

波長走査の前後に基準面を機械駆動する機構を付加することにより、被測定体の表面に半波長以上の高さの段差が存在しても、不確定さなしに二次元表面形状を決定可能とする。 - 特許庁

To provide a surface potential measuring method and a surface potential measuring apparatus that quickly obtain an accurate two-dimensional distribution map when evaluating a state on the surface of an insulator or a photoconductor by probe scan.例文帳に追加

本発明は、絶縁体あるいは光導電体の表面状態をプローブ走査で評価する際短時間にかつ正確な２次元分布図が得られる表面電位計測方法及びその装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

An interest range 202 is set in a scan surface 200, and from the interest range 202, a plurality of echo data 202A are extracted as time-series data.例文帳に追加

走査面２００上に関心領域２０２が設定され、関心領域２０２から複数のエコーデータ２０２Ａが時系列データとして抽出される。 - 特許庁

To provide a surface inspecting device in which scan images taken at different angles are obtained without degrading efficiency in inspecting an inspection target for increasing accuracy in defect determination.例文帳に追加

被検査体の検査効率を低下させることなく異なる角度の走査画像を取得し、欠陥判定の精度を高める表面検査装置を提供する。 - 特許庁

A developing roller 21 carries the sheet 12 by the pitch of scan line for every projection thereof thus forming an image by exposure on the entire surface of the sheet 12.例文帳に追加

展開ローラ２１が走査線の投影ごとにシート１２を走査線ピッチだけ搬送することにより、シート１２の全面に画像が露光形成される。 - 特許庁

At least one of the sample and the X-ray beam is shifted to scan the spot along a scanning path crossing a characterizing portion of the surface.例文帳に追加

表面上の特徴部を横断するスキャン経路に沿ってスポットをスキャンするべく、サンプル及びＸ線ビームの中の少なくとも１つをシフトさせる。 - 特許庁

The oscillator array 18 includes a plurality of ultrasonic oscillators arranged in an annular shape, and electronically performs radial scan with ultrasonic wave along the ultrasonic scanning surface D.例文帳に追加

振動子アレイ１８は、円環状に配列した複数の超音波振動子からなり、超音波走査面Ｄに沿って超音波を電子的にラジアル走査する。 - 特許庁

A planarizing protective film 5 is deposited on the black mask 4, and a plurality of scan electrodes 6 are formed in parallel with one another on the flat surface.例文帳に追加

ブラックマスク４には、平坦化保護膜５が被着され、その平坦な表面には、複数本の走査電極６が互いに平行に形成されている。 - 特許庁

A display device includes a display surface 11, a detection light output part 50 (and BL scan liquid crystal part LCS), a plurality of light receiving elements 36 and a height detection part.例文帳に追加

表示面１１と、検出光出力部５０（およびＢＬ走査液晶部ＬＣＳ）と、複数の受光素子３６と、高さ検出部とを有する。 - 特許庁

To provide a double-sided optical inspecting system for detecting and classifying particles, pits, or scratches on a thin-film disk or on a wafer, with a single scan on the surface.例文帳に追加

表面の単一走査で薄膜ディスクまたはウェハー上の粒子、ピットまたはスクラッチを検出・分類する両面光学検査システムを提示する。 - 特許庁

A scanning means 4 makes a scan at constant intervals with an irradiation light which is made incident directly on an object surface 20a of the object 20 to be measured.例文帳に追加

測定対象物２０の測定対象面２０ａに垂直入射される照射光は走査手段４により一定の間隔で走査される。 - 特許庁

In the calibration stage, a calibration surface-binding optical resonance scan is obtained over a range sufficient to include full resonance profiles for all regions.例文帳に追加

較正段階では全ての領域について完全な共振プロファイルを含むのに十分な範囲にわたって較正表面結合光学共振走査を得る。 - 特許庁

The pulse laser beam is made to scan with a beam scanner so that the incident position of the pulse laser beam is moved on the surface of the object.例文帳に追加

加工用経路に沿って伝搬するパルスレーザビームの入射位置が加工対象物の表面上で移動するように、ビーム走査器がパルスレーザビームを走査する。 - 特許庁

PHASED SCAN EDDY CURRENT ARRAY PROBE AND PHASED SCANNING METHOD FOR PROVIDING COMPLETE AND CONTINUOUS COVERAGE OF TEST SURFACE WITHOUT SCANNING MECHANICALLY例文帳に追加

同期式走査渦電流アレイプローブ及び機械的に走査することなく検査面の完全で連続的な到達範囲を提供する同期式走査方法 - 特許庁

On the substrate 100, where a surface structural body 101' composing an MEMS device is constituted, a resist membrane 120 is formed through the use of the scan coating method.例文帳に追加

ＭＥＭＳデバイスを構成する表面構造体１０１’が形成された基板１００上に、レジスト膜１２０をスキャン塗布法を用いて形成する。 - 特許庁

By arranging the plurality of antenna elements 120 on the outer surface of the three-dimensional shape in a circumferential direction, an array antenna 100 can scan in a wide angle.例文帳に追加

立体形状の外面に複数のアンテナ素子１２０を周方向に配列することにより、アレーアンテナ１００は広角度にスキャンすることができる。 - 特許庁