| 例文 |
surface scanの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 333件
Servo beams are allowed to scan on a light receiving surface of a photodetector (PSD 106) by an optical element (a mirror 15) turning in association with turning of the mirror 13.例文帳に追加
ミラー13の回動に伴って回動する光学素子(ミラー15)によってサーボ光を光検出器(PSD106)の受光面上において走査させる。 - 特許庁
The imaging part 10 can scan the road surface by imaging it in a plurality of times during progression of the vehicle, and also can organize a two-dimensional image.例文帳に追加
撮像部10では、車両が進行中に複数回撮像することにより、路面を走査でき、2次元画像を構築することも可能である。 - 特許庁
To provide an apparatus, in which when slit scan development slit scan rinsing is performed, even if a rinse solution discharge nozzle is separated from the upper surface of a substrate and is moved horizontally, the rinse solution discharged from a slit-shaped discharge outlet is prevented from turning into shower.例文帳に追加
スリットスキャン現像・スリットスキャンリンスを行う場合に、リンス液吐出ノズルを基板の上面から離して水平移動させてもスリット状吐出口から吐出されるリンス液がシャワー状とならないようにすることができる装置を提供する。 - 特許庁
The apparatus 10 uses a cross-scan filter, it filters a signal reflected from the surface S of the workpiece in a cross-scan direction, and it efficiently removes an important noise part in the reflected signal used to detect the defect of the workpiece W.例文帳に追加
該装置10は、クロススキャン・フィルタを使用して、クロススキャン方向において、該ワークピース表面Sから反射された信号をフィルタし、該ワークピースWの欠陥を検出するために使用される反射信号の重大なノイズ部分を効率的に除去する。 - 特許庁
A substrate holding member moves on a Y step surface table in a scan direction with a prescribed stroke so that a substrate held by the substrate holding member moves in the scan direction with a prescribed stroke while being held by an air float device from below.例文帳に追加
基板支持部材がYステップ定盤上でスキャン方向に所定のストロークで移動することにより、その基板支持部材に保持された基板が、エア浮上装置に下方から支持された状態でスキャン方向に所定のストロークで移動する。 - 特許庁
The scan control part 22 controls an X-ray bulb 14, the X-ray detector 16 and a rotary frame 12 to scan a subject so that at least a concerned region on the detection surface of the X-ray detector 16 is irradiated with X-rays.例文帳に追加
そしてスキャン制御部22は、X線管球14とX線検出器16と回転フレーム12とを制御して、X線検出器16の検出面のうちの少なくとも注目領域にX線が照射されるように被検体をスキャンする。 - 特許庁
To stably observe the surface of a sample without changing a state of a probe and a state of the sample surface when making the probe scan to measure tunnel current.例文帳に追加
探針を走査させてトンネル電流の測定を行なうときに、探針の状態及び試料表面の状態を変化させることなく、安定した試料の表面観察を行なうことができるようにする。 - 特許庁
An apparatus for measuring spectral reflection characteristics in any arbitrary part on a surface of an object to be measured is used to scan spectral reflection characteristics of a tree surface that is an object to be measured, in a straight line.例文帳に追加
測定対象物表面の任意の箇所の分光反射特性を計測する装置を用いて、測定対象物である樹木表面の分光反射特性を一文字に走査する。 - 特許庁
The mainframe 3 is equipped with a surface extraction part (a surface position extraction part) 31 for extracting the surface position of the subject from a scan line of ultrasound echo data acquired by sending and receiving ultrasound to and from the subject, and a correction part (a surface position correction part) 32 for correcting the surface position of the subject extracted by the surface extraction part 31.例文帳に追加
装置本体3は、被検体に対して超音波を送受信して得た超音波エコーデータのスキャンラインから被検体の表面位置を抽出する表面抽出部(表面位置抽出部)31と、この表面抽出部31で抽出した被検体の表面位置を補正する補正部(表面位置補正部)32とを具備して構成される。 - 特許庁
The correction part 32 groups the surface positions of the subject extracted by the surface extraction part 31 for a prescribed number of the scan lines and calculates an intermediate value of a prescribed number of data groups, and statistically processes this calculated intermediate value to be replaced as relevant data of the scan lines.例文帳に追加
補正部32は、表面抽出部31で抽出した被検体の表面位置をスキャンラインの所定数に対してグループ化すると共に、このグループ化した所定数のデータ群に対して中間値を算出し、この算出した中間値を該当するスキャンラインのデータとして置換する統計的処理を施す。 - 特許庁
To allow continuous scanning in a wide range with good workability and compact constitution while improving versatility to the surface shape of an inspected body in a scanner (a non-destructive inspection device for flaw detection) constituted to allow a scan head to scan along the surface of the inspected body formed of a ferromagnetic substance.例文帳に追加
強磁性体からなる被検査体の表面に沿って走査ヘッドを走査させるように構成された走査装置(探傷用非破壊検査装置)において、コンパクトな構成で、作業性よく広域にわたる連続的な走査を可能とし、かつ被検査体の表面形状に対する汎用性を高める。 - 特許庁
The scanning system includes the oscillating mirror 406 and can be operated to generate the image beam and cause the oscillating mirror to reflect the image beam to bidirectionally scan the photoconductive surface across the surface with the image beam for making the surface region discharge.例文帳に追加
走査システムは、振動ミラーを含み、イメージビームを生成し、光導電性表面を横切ってイメージビームを双方向に走査して表面上の領域を放電するために、振動ミラーからイメージビームを反射するように動作可能である。 - 特許庁
A transmission/receiving part 3 makes a two-dimensional array ultrasonic probe 2 execute a 2D scan for scanning a two-dimensional scanning surface and a 3D scan for scanning a three-dimensional space alternately while the ultrasonic contrast agent which is destroyed by the high sound pressure is injected into a subject.例文帳に追加
高音圧で破壊される超音波造影剤が被検体に注入された状態で、送受信部3は、2次元のスキャン面をスキャンする2Dスキャンと、3次元空間内をスキャンする3Dスキャンとを、交互に2次元アレイ超音波プローブ2に実行させる。 - 特許庁
A positioning image 201 to be a double oblique surface is set; pre-scan and radial scan are executed; a phase encoding direction is determined so that a visual field in the phase encoding direction becomes minimum, and the number of phase encodes to be minimum is determined while maintaining a prescribed space resolution.例文帳に追加
ダブルオブリーク面である位置決め画像201を設定し、プリスキャン、ラジアルスキャンを実行し、位相エンコード方向の視野が最小となるように位相エンコード方向を決定し、所定の空間分解能を保持したまま、最小となる位相エンコード数を決定する。 - 特許庁
In this defect inspection apparatus 10, the surface S of a workpiece W is scanned repeatedly in different parts of the workpiece by using a beam of light which forms a scanning region having a cross-scan dimension 26 perpendicular to an in-scan dimension 24 parallel to its scanning direction.例文帳に追加
本発明の欠陥検査装置10は、ワークピースWの表面Sに、走査方向に平行なインスキャン次元24と垂直なクロススキャン次元26を有する走査領域を形成する光線を使って、該ワークピースの異なった部分を繰り返し走査する。 - 特許庁
To provide an optical scanner and a mirror surface adjusting device which can eliminate a position shift in the scanning direction of a light beam deflected to scan a scanned surface and make the light beam reach a correct position.例文帳に追加
被走査面上を偏向走査される光ビームの走査方向における位置ずれをなくす事ができ、正しい位置に光ビームを到達させることが可能な光走査装置およびミラー面調節装置を提供する。 - 特許庁
To provide an object recognition device capable of determining whether a detection result (distance measurement data) of a road surface obtained by reflection of a transmission wave is obtained by reflection from the road surface or not with respect to two-dimensional scan type object recognition technique.例文帳に追加
二次元走査タイプの物体認識技術において、送信波の反射によって得られる路面の検出結果(測距データ)が、路面からの反射なのか否かを判定できる物体認識装置を提供する。 - 特許庁
The light of a lamp 26 is guided to an exposure head 31 by a flexible light guide body 30, the light is condensed by the exposure head 31 and irradiated to an exposed surface 12, and the exposure head 31 is caused to move and scan along the exposed surface 12 by a moving means 32.例文帳に追加
可撓性導光体30でランプ26の光を露光ヘッド31に導き、露光ヘッド31で光を集光して被露光面12に照射し、移動手段32で露光ヘッド31を被露光面12に沿って走査移動させる。 - 特許庁
This system includes a laser energy source, and a probe which is interconnected with the laser energy source to receive a laser beam, then orient the laser beam on the surface of a component and scan the surface area while the component remains stationary a static condition.例文帳に追加
本システムは、レーザエネルギー源と、レーザエネルギー源と相互接続されてレーザビームを受け取り、次に部品が静止状態の間に部品の表面上にレーザビームを配向し、表面区域を走査するプローブとを含む。 - 特許庁
A charge-sensing probe and a voltage-controlled electron generator array are configurationally and operatively coupled in a closed feedback loop, and are made to scan the surface of the workpiece, in close but non-contacting proximity to the surface of the workpiece.例文帳に追加
電荷検知プローブと電圧制御電子発生器アレーとを閉フィードバックループ内で配列的にも機能的にも結合させて、ワークピースの表面に近づけるが接触させることなく、ワークピースの表面を走査させる。 - 特許庁
The laser beam reflected by this polygon mirror 4 is reflected by the curved-surface reflecting mirror 5 obliquely in the vertical scanning direction and then converged on the scan object surface through a field curvature correcting lens 6.例文帳に追加
このポリゴンミラー4によって反射されたレーザビームは、曲面反射鏡5によって副走査方向において斜めに反射された後に、像面湾曲補正レンズ6を介して走査対象面に集束する。 - 特許庁
In the mixing process, gas flow 9 swept in a scan manner over at least some region of the support body surface 3 is made to collide to the liquid 5 by a jet 7 turned to the support body surface 3.例文帳に追加
該混合処理において、液体(5)に、支持体表面(3)へ向けられたジェット(7)により、支持体表面(3)の少なくとも一部の領域にわたって走査方式で掃引する気体流(9)を衝突させる。 - 特許庁
The image signal wiring d, a first insulating-layer INS1, a second insulating-layer INS2, a contact electrode ELC, a scan signal wiring s and an upper electrode AED are laminated on a principal surface of a rear surface substrate SUB1.例文帳に追加
背面基板SUB1の主面に画像信号配線d、第1の絶縁層INS1、第2の絶縁層INS2、コンタクト電極ELC、走査信号配線s、上部電極AEDが積層されている。 - 特許庁
A solution fixed point P1 of a nitrohydrofluoric acid on the top surface of a wafer W moves along a scan path S1 in a shape of an arc (almost linear) around an arm support axis.例文帳に追加
ウエハWの上面におけるフッ硝酸の着液点P1は、アーム支持軸を中心とする円弧形状(ほぼ直線状)のスキャン経路S1に沿って移動する。 - 特許庁
In the driving method of the plasma display panel, the temperature of a panel surface corresponding to a cell is measured and the pulse widths W of a driving voltage scan pulse Py and an address pulse Pa are varied in accordance with temperature variation.例文帳に追加
セルに対応したパネル表面の温度を測定し、温度変化に合わせて駆動電圧スキャンパルスPy,アドレスパルスPaのパルス幅Wを変更する。 - 特許庁
A scan control part 22 sets the position and size of an X-ray irradiation field (scanning range) on a detection surface of an X-ray detector 16 according to instructions from an operator.例文帳に追加
スキャン制御部22は、X線検出器16の検出面におけるX線照射野(スキャン範囲)の位置及び大きさを操作者からの指示に従って設定する。 - 特許庁
To solve a problem in a mechanical sector scan type ultrasonic probe that an ultrasonic tomogram is deteriorated by multiple reflections within an opening film provided on the front surface of an oscillator.例文帳に追加
メカニカルセクタ走査型超音波探触子において振動子の前面に設けられる開口膜内での多重反射により超音波断層画像が劣化する。 - 特許庁
A negative-electrode active material layer having an uneven pattern is formed on a surface of a copper foil as a negative-electrode current collector by applying application liquid by a nozzle-scan coating method (a step S102).例文帳に追加
負極集電体たる銅箔表面に対し、ノズルスキャン法により塗布液を塗布して凹凸パターンを有する負極活物質層を形成する(ステップS102)。 - 特許庁
In the first KTN element 2208A, an applied voltage is controlled so that the position of a light spot in a sub-scan direction on the surface of a photoreceptor drum is a desired position.例文帳に追加
第1KTN素子2208Aは、感光体ドラム表面での光スポットの副走査方向に関する位置が所望の位置となるように印加電圧が制御される。 - 特許庁
A scanning optical system 20 includes a polygon mirror 4 and deflects a luminous flux from a light source 1 by the polygon mirror 4 to optically scan a surface 8 to be scanned.例文帳に追加
走査光学系20は、ポリゴンミラー4を備え、ポリゴンミラー4でもって光源からの光束を偏向させて被走査面8を光走査するためのものである。 - 特許庁
Next, the laser displacement gauge 302 is made to scan at the surface of a work 41 in which the weld zone W is not exposed, so as to cross the confronted part V with the weld zone W.例文帳に追加
次に、溶接部Wが露出していないワーク41の表面で、溶接部Wの対向部位Vを横断するようにレーザ変位計302を走査させる。 - 特許庁
A CPU sets the bending quantity of a cantilever to an initial value (step S21) and allows the cantilever to reciprocally scan the surface of the sample so as to hold the bending quantity (step S22).例文帳に追加
CPUは、カンチレバーのたわみ量を初期値に設定し(ステップS21)、そのたわみ量を保つように試料の表面にカンチレバーを往復走査させる(ステップS22)。 - 特許庁
To provide an apparatus for cleaning a fingerprint authentication machine which is capable of quickly, surely, and safely cleaning a scan glass surface with which a finger to be authenticated comes into contact.例文帳に追加
認証すべき指が接触するスキャンガラス面を、高速で確実かつ安全にクリーニングを行うことが可能な、指紋認証機クリーニング装置を提供する。 - 特許庁
On the surface of the support 11, a barrier 11a is provided in a direction crossling the scan direction A of a heating means for recording an image at an angle θ.例文帳に追加
支持体11の表面には、画像を記録するための加熱手段の走査方向Aと角度θで交差する方向に障壁11aが設けられている。 - 特許庁
A sensor device comprises a timing management part 414 that outputs a timing signal at a timing corresponding to each of discrete scan points of a light beam LB1 on an irradiated surface 410a.例文帳に追加
被照射面410a上の光ビームLB1の離散的な走査点それぞれに対応するタイミングでタイミング信号を出力するタイミング管理部414を備える。 - 特許庁
To obtain an optical information reader which can have a polygon mirror made small-sized while capable of making a raster scan and also easily detect multiple mirror surface positions of the polygon mirror.例文帳に追加
ポリゴンミラーをラスター走査可能で小型化し、かつ簡単にポリゴンミラーの複数の各鏡面位置を検出することのできる光学的情報読取装置を提供すること。 - 特許庁
To provide a pressurizing and infiltrating method and a pressurizing and infiltrating apparatus for scanning and inspecting flaws which infiltrate a penetrant into fine surface layer defects of an object to be inspected and facilitate detection of the surface layer defects in an infiltrating flaw scan inspection for nondestructively inspecting the surface layer defects of a material.例文帳に追加
材料の表層欠陥を非破壊的に検査する浸透探傷検査において、被検査物の微細な表層欠陥内にも浸透液を浸透させ、表層欠陥の検出を容易にする加圧式浸透探傷検査方法及び装置を提供する。 - 特許庁
The impeller 11 includes a plurality of rotary blades each of which has at least a partial mirror surface that reflects ultraviolet rays radiated by the ultraviolet ray source 10 toward the absorbing surface 5A, and the ultraviolet rays reflected on the mirror surface scan the absorbing surface 5A of the HEPA filter as the impeller 11 rotates, and sterilizes the absorbing surface 5A.例文帳に追加
羽根車11は紫外線光源10から照射される紫外線を吸入面5Aに向けて反射する鏡面を少なくとも一部に有する複数枚の回転羽根から構成されており、前記鏡面で反射された紫外線が羽根車11の回転に伴ってHEPAフィルタ5の吸入面5Aを走査して殺菌する。 - 特許庁
To provide surface property measuring equipment that increases the relative posture of a detector to a work and the degree of freedom in the relative scan direction and can highly precisely scan an arbitrarily work surface, and to provide a method for precisely, accurately, and easily measuring inner- and outer-diameter values (diameter values) in a cylinder, or the like.例文帳に追加
本発明の目的は、ワークに対する検出器の相対姿勢および相対走査方向の自由度を向上させ、任意のワーク表面に対して、精度の高い走査を行うことが可能な表面性状測定機を提供するとともに、円筒などの内径値や外径値(直径値)について精度よく正確かつ容易な測定方法を提供する。 - 特許庁
The image forming apparatus in which light subjected to scan by an optical deflection means 63 is emitted from the optical surface plate 100 whose housing 51 houses a scanning optical system including an optical deflection means 63 and images are formed with the scan light, is provided with, on the external face of the housing 51, a heating means 123 that heats the optical surface plate 100.例文帳に追加
光偏向手段63を含む走査光学系を筐体51の内側に収容した光学定盤100から、光偏向手段63により走査された光を出射させ、この走査光により画像形成を行う画像形成装置であって、筐体51の外側面に、光学定盤100を加熱する加熱手段123を備えた。 - 特許庁
Accordingly, the main scan can be performed on each original once without reading the entire read area of the placing surface, so that memory consumption can be suppressed and the time required for completing the main scan to all the originals disposed on the read area is appropriately shortened.例文帳に追加
よって、載置面の読取領域の全域を読み取ることなく、各原稿に対して1回ずつ本スキャンできるので、メモリ消費量を抑制できると共に、読取領域に配置された全ての原稿の本スキャンが終了するまでに要する時間を好適に短くできる。 - 特許庁
A scanner system for imaging the transparent medium object comprises an illumination source for simultaneously irradiating with light a first scan line and a second scan line of the medium object, a carriage wherein the photo-sensitive device is disposed, and a photoconductor that is fixed on the surface of the carriage.例文帳に追加
透明媒体物をイメージングするためのスキャナシステムであって、媒体物の第1の走査線と第2の走査線とに同時に光を照射するための照明源と、その中に感光デバイスが配置されたキャリッジと、キャリッジの表面に固定された光導体とを備えたもの。 - 特許庁
A signal light 20 is scan-moved (y-direction) relatively to the array 42 by the scanner to scan transversely a surface of the array 42 along a scanning route by the signal light 20, and the photon within the corresponding subrange is thereby detected by the subrange cell group positioned in the each y-directional position.例文帳に追加
走査器によりアレイ42に対して信号光20を相対走査運動(y方向)させ信号光20によって走査経路沿いにアレイ42の表面を横断走査させると、各y方向位置に位置するサブレンジセル群により対応するサブレンジ内の光子が検知される。 - 特許庁
This display device is equipped with the data signal wiring DL to supply a display signal to the thin film electron source ELS, and the scan signal wiring GL crossing the data signal wiring DL through the interlayer insulating layers INS1, INS2 to impress a scan signal on the thin film electron source on the inner surface of a cathode substrate SUB1.例文帳に追加
カソード基板SUB1の内面に、薄膜電子源ELSに表示信号を供給するデータ信号配線DLと、このデータ信号配線DLとは層間絶縁層INS1,INS2を介して交叉し、薄膜電子源ELSに走査信号を印加する走査信号配線GLとを備える。 - 特許庁
To provide a scan type storage device configured to prevent increase in a data read time even if structure is reduced and recording density is increased, in the scan type storage device reading and writing data by scanning a surface of resistance change type recording medium using a plurality of probes.例文帳に追加
抵抗変化型記録媒体の表面を複数のプローブを用いて走査を行うことによりデータの読み書きを行う走査型記憶装置において、構造を微細化して記録密度を増大させてもデータ読み出し時間の増加を回避し得る構成の走査型記憶装置を提供する。 - 特許庁
Specifically, the irradiating laser beam has a wave length in the ultraviolet region of 100 to 400 nm, and the surface-modified layer is formed on the metal surface by the steps of condensing the ultraviolet laser beam, and irradiating the metal surface with the condensed laser beam while making the beam scan the metal surface with a two-dimensional shape.例文帳に追加
つまり、照射するレーザ光は、その波長が100nm以上400nm以下の紫外領域にあるものであり、この紫外レーザ光を集光させ、集光されたレーザ光を、金属表面上を2次元状に走査しながら照射させて、金属表面に表面改質層を形成するようにしている。 - 特許庁
The number of inclusions with a diameter of 20 μm or more included in a surface part from the surface to 15 mm of depth of a round bar 10 made of steel is measured by one scan by using needle beam type ultrasonic test equipment.例文帳に追加
ニードルビーム型超音波探傷装置を用いて、鋼製の丸棒材10のうち表面から深さ15mmまでの表層部分に含まれる直径20μm以上の介在物の個数を、1スキャンで測定した。 - 特許庁
The image read device 1 includes a housing 2 provided with a light-transmissive reading surface 3 where a document is placed on the upper surface, a scanning part 4 which moves in the housing to scan an image of the document, and a CCD 12 which reads the image.例文帳に追加
画像読取装置1は、上面に原稿を載置する透光性の読取面3が設けられた筐体2と、筐体内を移動して原稿の画像を走査する走査部4と、画像を読取るCCD12を備える。 - 特許庁
To enable a user to treat a three-dimensional scan data model area as a surface body so as to eliminate the necessity of converting a model area to a parametric surface as an essential condition for performing part body modeling work.例文帳に追加
パートボディーモデリング作業を行うための必須条件としてモデル領域を媒介サーフィスに変換しなければならない必要をなくすために、ユーザーが3次元スキャンデータモデル領域をサーフィスボディーのように取り扱うことをできるようにする。 - 特許庁
A decision is then made whether the print surface of the print sheet is white or not based on the scan data (S15), and if the print surface of the print sheet is white (S15; Y), normal printing is performed on that print sheet (S16).例文帳に追加
スキャンデータを基に印刷用紙の印字面が白面であるか否かの判断を行い(S15)、印刷用紙の印字面が白面であると判断された場合(S15;Y)、この印刷用紙に通常の印刷を実行する(S16)。 - 特許庁
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