「test data」に関連した英語例文の一覧と使い方(16ページ目) - Weblio英語例文検索

In generating the source code, a setting method configuring a program for setting the test data of input items is generated as well as the source code, and before the test, the setting method is called, and test data are set, and during the test, the setting method is called, and the display screen is displayed with the test data set in the input items.例文帳に追加

このテスト方法において、ソースコード生成時に、ソースコードと共に入力項目のテストデータを設定するためのプログラムとなる設定メソッドを生成し、テスト実行前に、設定メソッドを呼び出してテストデータを設定し、テスト実行時に、設定メソッドを呼び出して入力項目内にテストデータが設定された状態で表示画面を表示する。 - 特許庁

A test printing designation means 13 designating test printing for tentatively printing data on printing paper and recognizing it for judging whether the printing position of data is correct or not and a test printing means 13 which tentatively prints designated printing data when the test printing designation means designates test printing are installed.例文帳に追加

データの印刷位置が正しいか否かを判断するために試験的に印刷用紙上に印刷して確認するためにテスト印刷を指定するテスト印刷指定手段１３と、このテスト印刷指定手段によりテスト印刷が指定された場合には、指定された印刷データを試験的に印刷する試験印刷手段１３とを具備したことを特徴とする。 - 特許庁

During the period of reuse, additional use, or test use of the instrument, the operation data are sent to a data acquisition device.例文帳に追加

器具の再使用又は追加の使用やテスト使用の期間中、操作データをデータ取得装置に送信する。 - 特許庁

Shifting to the test mode and selecting the income data allow the income data of a token game machine to be displayed on a liquid crystal monitor.例文帳に追加

テストモードに移行しインカムデータを選択することによりメダルゲーム機のインカムデータが液晶モニタに表示される。 - 特許庁

Encoded image data (code data) is stored in a memory 14 and a test pattern is detected by a detecting means 28.例文帳に追加

コード化された画像データ（コードデータ）をメモリ１４に保存し、検出手段２８によってテストパターンを検出する。 - 特許庁

For each folder to which a sorting setting of form data has been made, a propriety setting for registration of the test form data is made.例文帳に追加

帳票データの仕分け設定を行ったフォルダごとに、テスト帳票データの登録の可否設定を行う。 - 特許庁

To cope with data storage devices having different specifications by one processor, in a test device of a data storage device.例文帳に追加

データ記憶装置のテスト装置において、一つのプロセッサによって異なる仕様のデータ記憶装置に対応する。 - 特許庁

A wiring for test data TD is not connected to the path 91 of the real data RD1 of a PS conversion circuit.例文帳に追加

ＰＳ変換回路９４のリアル・データＲＤ１のパス９１にテスト・データＴＤ用の配線を接続しない。 - 特許庁

A first testing circuit 24 compares received data of the receiver 5 with the test data, and this compared result is monitored.例文帳に追加

第１テスト回路２４は、そのレシーバ５の受信データを上記テストデータと比較し、この比較結果がモニタされる。 - 特許庁

Data indicating what relay control is expected to be performed is set to the test data.例文帳に追加

そのテストデータには、どのような中継制御を行われることが期待されるかを示すデータを設定しておく。 - 特許庁

To reduce a resource of an external memory for storing data for configuration of an IO circuit, or a data quantity of a test pattern.例文帳に追加

ＩＯ回路のコンフィグレーション用のデータを格納する外部メモリのリソースやテストパターンのデータ量を削減する。 - 特許庁

To provide a technology for performing an operation test where data Read and data Write of a memory chip are consecutive.例文帳に追加

メモリチップのデータＲｅａｄとデータＷｒｉｔｅとを連続させた動作テストする技術を提供する。 - 特許庁

To provide an automatic test system for station data that accurately and efficiently executes an update job of station data.例文帳に追加

局データの更新作業を正確かつ効率的に実施し得る局データ自動試験システムを提供する。 - 特許庁

In this semiconductor memory test apparatus 1, when a test of a device 20 of a synchronous type to be tested is performed, output data of the device 20 to be tested corresponding to a test pattern is held by an output holding part 11, it is compared with expected value data by an expected value data comparing part 12, and log data are generated.例文帳に追加

本発明の半導体メモリ試験装置１は、同期型の被試験デバイス２０の試験を行う際、テストパターンに対応する被試験デバイス２０の出力データを出力保持部１１で保持し、期待値比較部１２にて期待値データと比較してログデータが生成される。 - 特許庁

Storing a data state before and after the update of a data base as history information facilitates automatic creation of the test data creation suitable for the test case and execution of the test, regardless of the existence or nonexistence of the past input online journal and regardless of the change in data layout.例文帳に追加

データベースの更新前後のデータ状態を履歴情報として格納しておくことにより、過去の入力オンラインジャーナルの有無に関わらず、かつ、データのレイアウト変更に関わらず、テストケースに適合したテストデータ作成を自動的に生成してテストを実行することを可能にする。 - 特許庁

This building inspection support device 1 acquires photograph data formed by photographing a test position to be tested in a building via an I/F 9, and then, associates the photograph data with test position data showing the location of the test position to store them in a result data storage area 46 in a storage part 4.例文帳に追加

建物検査支援装置１が、Ｉ／Ｆ９を介して、建物の検査すべき検査箇所を撮像した撮像データを取得すると、その撮像データに、その検査箇所の位置を示す検査位置データを対応つけて、記憶部４の結果データ格納領域４６に記憶する。 - 特許庁

To ensure a reduced volume of data transmitted when, in a voice data transmission test for a wireless mobile communications apparatus, voice data as results of the test is transmitted to an operations center, and to carry out the voice data transmission test without using special voice recognition software.例文帳に追加

無線移動通信装置の音声導通試験において、試験結果を司令センタに音声データを伝送する際、データ伝送量が少なくなるようにすると共に、特別な音声認識のソフトウエアを用いることなく音声導通試験を行うようにすることをことを目的とする。 - 特許庁

A test data recording part 15 is provided to store the digital data on electricity quantity of all digitalized plant operating patterns (accident data, normal operation data, plant starting data, plant stopping data, etc.), and the data required by a test data selection signal 16 is selected from these data and is outputted to a relay part 11 for testing.例文帳に追加

ディジタル化されたあらゆるプラント運転パターン（事故データ，通常、運転データプラント起動時データ，プラント停止時データなど）のディジタル電気量データを記憶した試験データ記録部１５を設け、これらのデータの中から試験データ選択信号１６によって必要とするデータを選択し、これをリレー部１１に出力して試験するようにした。 - 特許庁

When the data group D does not satisfy the approximation termination condition, split test subroutine Split-Data (D, D_1, and D_2) is performed to the data group D to divide the data group D to D_1 and D_2.例文帳に追加

データ集合Ｄが近似終了条件を満たさないときは、データ集合Ｄに対して分割テストサブルーチンSplit-Data（Ｄ，Ｄ_1，Ｄ_2）を行い、データ集合ＤをＤ_1とＤ_2に分割する。 - 特許庁

The unit test device 10 is provided with a storage device 13 for storing information related with a transition picture for a test object screen 100-2 as test data; and a stab execution part 8 for executing a stab in the unit test.例文帳に追加

ユニットテスト装置１０は、テスト対象画面１００−２に対する遷移画面に関連する情報を、テストデータとして格納する記憶装置１３と、ユニットテストの際、スタブを実行するスタブ実行部８とを具備する。 - 特許庁

The function blocks 10a-10C copy the test cell, separates the copied test cell from the original test cell, writes data denoting a loopback to the LBF-x fields of the separated test cell and inserts the resulting cell to a cell transmission line 15.例文帳に追加

各機能ブロック１０ａ〜１０ｃは、試験セルをコピーし、コピーした試験セルをもとの試験セルから分離し、分離した試験セルのＬＢＦ_xフィールドに折返しを示すデータを書き込んでセル伝送路１５に挿入する。 - 特許庁

This simulation system includes: a test result database storing test result data set with an output result of a tested device (DUT) model to a prescribed test item; and a framework operating the test plan program.例文帳に追加

シミュレーションシステムは、所定のテスト項目に対する被試験デバイス（ＤＵＴ）モデルの出力結果を設定した試験結果データを格納する試験結果データベースと、テストプランプログラムを動作させるフレームワークとを備える。 - 特許庁

To provide a device capable of acquiring stable test data in a drop impact testing machine constituted so as to perform the drop impact test of a test sample by attaching the test sample 10 to a jig 1 to drop the jig 1.例文帳に追加

試験サンプル１０を治具１に取り付け、この治具１を落下させて試験サンプルの衝撃試験を行なうようにした落下衝撃試験装置において、安定した試験データの得られる装置を提供する。 - 特許庁

Basic test pattern data Db, e.g. a basic dot pattern or a basic lattice pattern, is stored in a memory 402 and a CPU 320 generates a variety of developed test patterns from the basic test pattern data Db.例文帳に追加

メモリ４０２に基本網点パターン、基本格子パターン等の基本テストパターンデータＤｂを記憶しておき、ＣＰＵ３２０によりこの基本テストパターンデータＤｂから多種多様な展開済みのテストパターンを生成する。 - 特許庁

To make fitness to a specification coincide with the acceptance result of a test, even when the sequence among communication data or there is a change in timing, in the range of the specification in a test to a test object device accompanied by transmission/reception of data.例文帳に追加

データの送受信を伴う試験対象装置への試験において、通信データ間の順序やタイミングが仕様の範囲内で変化した場合でも、仕様への適合性と試験の合否結果を一致させる。 - 特許庁

The test is performed by the time element data of a time element table for a normal action at a normal time, and by the time element data of a time element table for the interlinking test which is shorter than the time element table for the normal action at the time of the interlinking test.例文帳に追加

通常時には通常動作用時素テーブルの時素データで、連動検査時には通常動作用時素テーブルに比較して短い連動検査用時素テーブルの時素データによって検査を行う。 - 特許庁

In the testing method for the nonvolatile memory device, test data are stored and held in a buffer in the semiconductor memory device when a test is conducted instead of loading the test data from outside each time memory cells are programmed.例文帳に追加

本発明の不揮発性メモリ装置のテスト方法は、テスト時に、メモリセルがプログラムされるとき毎にテストデータを外部からローディングしてくる代わりに、テストデータを半導体メモリ装置の内部のバッファに貯蔵して置く。 - 特許庁

To provide a method and a system, which conduct a test by automatically creating a test data creation suitable for a test case regardless of existence or nonexistence of past input online journal and regardless of a change in data layout.例文帳に追加

過去の入力オンラインジャーナルの有無に関わらず、かつ、データのレイアウト変更に関わらず、テストケースに適合したテストデータ作成を自動的に生成してテストを実行することができる方法及びシステムを提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor test device and a semiconductor test method in which handling of data is made easy while test efficiency is improved by reducing quantity of data relayed between processes.例文帳に追加

工程間で引き継がれるデータの量を削減可能にすることで、そのデータの取り扱いを容易にするとともに試験効率の向上を図ることができる半導体試験装置及び半導体試験方法を提供する。 - 特許庁

A test processing function section 35 extracts station data from a storage medium to start the test scenario for a new communication processing unit and executes a connection test with a new existing communication processing unit on the basis of the station data.例文帳に追加

試験処理機能部３５は新規通信処理装置に対し試験シナリオを起動するために記憶媒体３２から局データを取り出し、この局データを基に新規既存通信処理装置との接続試験を実施する。 - 特許庁

Design data D101 including circuit data of a test point and information relevant to the test method attached to this test point is input, and design data having undergone code analysis by a design data code analysis section K102 in a data input section K101 is stored in a storage device 700 with a database storage section K103.例文帳に追加

テストポイントの回路データと、このテストポイントに付属するテスト手法に関連した情報を含む設計データＤ１０１を入力し、データ入力部Ｋ１０１における設計データコード解析部Ｋ１０２によるコード解析を経た設計データがデータベース格納部Ｋ１０３により記憶装置７００に格納される。 - 特許庁

After a test device 20 writes data for test in the first register 11 of the non-volatile memory 10, transfers the data for test to the second register 12 through each bit line, reads out data of the second register 12, compares this read out data with data written in the first register 11, and discriminates existence of discontinuity of each bit line.例文帳に追加

検査装置２０は、不揮発性メモリ１０の第１レジスタ１１に検査用データを書き込んだのち、その検査用データを各ビット線２を介して第２レジスタ１２に転送させ、第２レジスタ１２のデータ読み出し、この読み出したデータを第１レジスタ１１に書き込んだデータと比較し、各ビット線２の断線の有無を判定する。 - 特許庁

When a data communication test is performed, a host device 12 outputs test data, indicates that the data is outputted by setting a Strobe signal at a low level and the handshake part 24 replies by setting a Busy signal at a high level by receiving the test data and fetches the data in the FIFO memory.例文帳に追加

データ通信テストを行う場合、上位装置１２はテストデータを出力すると共にＳｔｒｏｂｅ信号をローレベルにしてデータが出力されていることを示し、これを受けてハンドシェイク制御部２４は、Ｂｕｓｙ信号をハイレベルにして応答すると共にデータをＦＩＦＯメモリ２６に取り込ませる。 - 特許庁

An operation reproducing means 54 executes the same operation as that of the information processing means 51 on the basis of the test alarm data generated by the test data generation means 53.例文帳に追加

動作再現手段５４は、テストデータ生成手段５３により生成されたテスト用アラームデータに基づいて、情報処理手段５１と同一動作を実行する。 - 特許庁

Generated test pattern data is stored in a standard memory, repeatedly written in all the areas of the mounted expansion memory and written test pattern data is printed out.例文帳に追加

発生したテストパターンデータを標準メモリに記憶し、装着した増設メモリの全ての領域に対して繰り返し書き込み、書き込み済みのテストパターンデータをプリントアウトする。 - 特許庁

For example, the test data are recorded to an optical disk 10 tilted in a prescribed amount, and the tilt is returned to zero to reproduce the test data, and then the jitter and error rate of a reproducing signal are measured.例文帳に追加

例えば、光ディスク１０を所定量だけチルトさせてテストデータを記録し、チルトをゼロに戻してテストデータを再生し、再生信号のジッタやエラーレートを測定する。 - 特許庁

Since the limit region exists, when test data are recorded from the inner peripheral side to the outer peripheral side, the test data are never written outside the outermost peripheral cylinder [Max].例文帳に追加

限界領域が存在するので試験データを内周側から外周側に記録してゆくとき、試験データが最外周シリンダ［Max］より外側に書き込まれることはない。 - 特許庁

In a test mode, test data TD are transmitted to an output buffer circuit synchronizing with the PS conversion control signal PSCLK 2 utilizing the path of real data RD2.例文帳に追加

テスト・モード時には、テスト・データＴＤをリアル・データＲＤ２のパスを利用してＰＳ変換制御信号ＰＳＣＬＫ２に同期させて出力バッファ回路に伝送する。 - 特許庁

In the method for adjusting the lens for spectacles for the moving astigmatic testee, the eye examination data are obtained in a test stage using an eye test instrument, and the lens is worked and formed on the basis of the examination data.例文帳に追加

特に、移動乱視の被検者に対しては、眼鏡用レンズの調整がうまくいかない場合が多く、かえって眼精疲労の要因にもなっていた。 - 特許庁

To provide a load test system and a load test data creation method, which create data for load tests properly incorporating fluctuation of a machine load due to usage by a user.例文帳に追加

ユーザの使用方法によるマシン負荷の変動を適切に組み込んだ負荷試験のデータを作成することができる負荷試験システムおよび負荷試験データ作成方法の実現 - 特許庁

A test I/O data control circuit 1-2 is synchronized with a clock signal and performs writing and reading of test data to/from a memory cell included in a memory core 1-1.例文帳に追加

テスト入出力データ制御回路１−２は、クロック信号に同期してメモリコア１−１が有するメモリセルに対しテストデータの書き込み及び読み出しを行う。 - 特許庁

When a main control unit switches a data class, it extracts a first test value or a second test value corresponding to the data class of authentication information to be generated next time.例文帳に追加

主制御部はデータ種別を切り替える場合、次回生成する認証情報のデータ種別に対応した第１検査値又は第２検査値を抽出する。 - 特許庁

A processing part 8 compares the shape data of the annular region with inputted shape data of the test surface 1b, and acquires the position of the surface top 1tb of the test surface 1b.例文帳に追加

処理部８は環状領域の形状データと入力された被検面１ｂの形状データを対比して被検面１ｂの面頂１ｔｂの位置を取得する。 - 特許庁

The scan flip-flop 12 is arranged at the head of the first scan chain and holds asynchronous test data corresponding to the first test data outputted from the OR element 17.例文帳に追加

スキャンフリップフロップ１２は、前記第１のスキャンチェーンの先頭に配置され、ＯＲ素子１７が出力した第１のテストデータに対応する非同期テストデータを保持する。 - 特許庁

When the transfer to the test mode is commanded, data provided to the multiplier 66 is switched to data for test, and an output value of the SRAM 90 is compared with a predetermined expected value.例文帳に追加

テストモードへの移行が指示されると、乗算器６６に与えるデータをテスト用データに切り替えるとともに、ＳＲＡＭ９０の出力値と所定の期待値とを比較する。 - 特許庁