| 例文 |
third layerの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 2440件
A semiconductor device comprises first, third and fifth impurity regions of a first conductivity type, second and fourth impurity regions of a second conductivity type, and a control electrode layer.例文帳に追加
半導体装置は、第1導電型の第1、第3および第5不純物領域と、第2導電型の第2および第4不純物領域と、制御電極層とを備えている。 - 特許庁
The VDD and VSS lines 2a and 2b are electrically connected to the VDD line 2a and VSS line 2b in a third layer through contact sections 6a and 6b provided in each memory cell.例文帳に追加
これら補助V_DD線5aおよび補助V_SS線5bは、メモリセル内に設けたコンタクト部6a,6bを介して第3層目のV_DD線2a,V_SS線2bに対して電気的に接続されている。 - 特許庁
This makes it possible to make a position to which an electron is injected into at the time of writing and a position to which a positive hole is injected at the time of deleting coincided with each other in the vicinity of the step of the third layer.例文帳に追加
これにより、書き込み時に電子が注入される位置と、消去時に正孔が注入される位置とを、第3層の段差部近傍に一致させることができる。 - 特許庁
The detection electrode 54 contains Pt which is noble metal, ZrO_2 which is component of the third solid electrolyte layer 14c, and a mixture of silica (SiO_2) and alumina (Al_2O_3).例文帳に追加
この検出電極54は、貴金属であるPtと、第3固体電解質層14cの構成材料であるZrO_2と、シリカ(SiO_2)とアルミナ(Al_2O_3)を含む混合物とを含む。 - 特許庁
After removing the external magnetic field, their entire are heat treated at a temperature higher than a blocking temperature of an AFM layer and lower than a Curie temperature of the first to third patterns 43A to 43 C.例文帳に追加
外部磁場を取り除いたのち、AFM層のブロッキング温度よりも高く、かつ第1から第3のパターン43A〜43Cのキュリー温度よりも低い温度で全体を熱処理する。 - 特許庁
A photoresist layer 9 is selectively formed on an SiO_2 film 8 at a first region R1 and a third region R3, and the SiO_2 film 8 at a second region R2 is removed by etching.例文帳に追加
第1の領域R1及び第3の領域R3のSiO2膜8上にホトレジスト層9を選択的に形成し、第2の領域R2のSiO2膜8をエッチングにより除去する。 - 特許庁
Breakages from the sintered metal fibers in the first and second layers 59a and 59b are filtrated in the third layer 59c to prevent admixture of a foreign matter of a metal fiber in the dope.例文帳に追加
第1層59a,第2層59bの金属繊維から生じる破損物は第3層59cで濾過され、金属繊維異物としてドープに混入してしまうことがなくなる。 - 特許庁
A reflecting pixel electrode 11 (third metal film) and a second transparent conductive film 12 as a layer above it are patterned with the same mask pattern and subjected to a batch wet etching process using the same etchant.例文帳に追加
反射画素電極11(第3の金属膜)とその上層の第2の透明導電性膜12を同じマスクパターンでパターニングし、同じエッチング液を用いて一括ウェットエッチング処理した。 - 特許庁
The substrate for semiconductor chip loading is manufactured by etching at least an outermost third metal layer side of the member, so that solder ball connectable terminals are formed.例文帳に追加
上記の部材の最外層の第3金属側を少なくとも、はんだボール接続可能端子が形成されるようエッチングすることにより半導体チップ搭載用基板を製造する。 - 特許庁
The surface layer part 15 is formed of a foamed urethane with a smaller rebound resiliency and greater hysteresis loss and rebound time than those of a foamed urethane constituting the first to third center parts 11 to 13.例文帳に追加
表層部15は、第1〜第3中央部11〜13を構成する発泡ウレタンよりも反発弾性が小さいと共にヒステリシスロス及び戻り時間が大きい発泡ウレタンからなる。 - 特許庁
Silicon particles are formed by immersing a silicon wafer into a third solution containing hydrofluoric acid (HF) and alcohols and then applying a voltage to the silicon wafer to form a porous silicon layer on the silicon wafer.例文帳に追加
シリコン粒子は、フッ化水素(HF)酸およびアルコール類を含む第3の溶液中に浸漬し、電圧を印加し、シリコンウエハ上にポーラスシリコン層を形成することによって形成される。 - 特許庁
When a high AC voltage signal is applied between the first and third electrodes, a fluid flow is induced between the electrodes excited to assist the delay of the peeling of a boundary layer.例文帳に追加
第1および第3の電極にわたって高いAC電圧信号が与えられると、境界層の剥離の遅延を助ける励起された電極間の流体流を誘導する。 - 特許庁
The conductive layer 106 includes the third electrode part 106a facing the first electrode part 103a and the fourth electrode part 106b facing the second electrode part 103b.例文帳に追加
導電層106は、第1の電極部103aと対向する第3の電極部106a及び第2の電極部103bと対向する第4の電極部106bを含む。 - 特許庁
Furthermore, the semiconductor device 10 includes a first main electrode, connected to the third diffusion layer 2, a second main electrode connected to the semiconductor substrate 21 and a bus line 12 connected to both ends of the gate electrode.例文帳に追加
さらに、第3の拡散層27と接続する第1主電極と、半導体基板21と接続する第2主電極と、ゲート電極の両端に接続されるバスライン12とを含む。 - 特許庁
The first transfer electrode 3-1, the second transfer electrode 3-2, and the third transfer electrode 3-3 of a single layer transfer electrode structure are repeatedly arrayed in a vertical direction V.例文帳に追加
単層転送電極構造の第1転送電極3−1、第2転送電極3−2、第3転送電極3−3が、垂直方向Vに繰り返し配列されている。 - 特許庁
Providing a plurality of second vias 8 designed as such enlarges the surface areas of recesses 9a and increases corrugations on the third metal layer 10, and this further improves bonding wire adhesion.例文帳に追加
そして、そのような第2のビア8を複数設けることで、凹部9aの面積が増加して、第3の金属層10の凹凸も増加するため、ボンディングワイヤーの密着性は更に向上する。 - 特許庁
Then, a third resist layer 18 is selectively formed on the second insulating film located at the boundary between the side wall of the opening 10w and the bottom thereof from the back of the semiconductor substrate 10.例文帳に追加
次に、半導体基板10の裏面から開口部10wの側壁と底部との境界に位置する第2の絶縁膜上に、第3のレジスト層18を選択的に形成する。 - 特許庁
In the third step, the first substrate is separated from the first functional region by irradiating a release layer 115 with light in a state wherein the first substrate is provided with a light blocking member 117.例文帳に追加
第3工程では、第1の基板と第1の機能性領域を、第1の基板に遮光部材117を設けた状態で分離層115に光照射して分離する。 - 特許庁
Additionally, the second semiconductor layer including a plurality of the layers are formed by repeating the first step, the second step, and the third step in this order.例文帳に追加
さらに、前記第1の工程と、前記第2の工程と、前記第3の工程と、をこの順に繰り返すことにより、複数の前記層を含む前記第2半導体層を形成する。 - 特許庁
The first and third strip line conductor layers 16, 19 are set mutually opposed via the dielectric layer.例文帳に追加
第1及び第2の段のストリップライン共振器L1、L2は、誘導体2と少なくとも第1、第2、第3及び第4のストリップライン導体層16、1719,20とグランド導体層22,25とを具備する。 - 特許庁
The first SRAM circuit 12 realizes the SRAM function with the SRAM cell and the wiring formed on the first to third wirings in the lower layer side among the wiring layers formed of six layers.例文帳に追加
第1SRAM回路12は、SRAMセルと、6層の配線層のうち、下層側の第1〜第3配線に形成された配線とによってSRAM機能が実現されている。 - 特許庁
Heat generating resistors 11c-1 in the first region 11-1 traverse the surface side of the third region 11-3 via an insulating layer 11a and are pulled out up to the input/output terminals 11d-1 thereof.例文帳に追加
前記第1領域(11-1)の発熱抵抗線状体(11c-1) は前記第3領域(11-3)の表面側を絶縁層(11a) を介して横断し、その入出力端子(11d-1)まで引き出されている。 - 特許庁
A fourth insulation film 109 and a third insulation 108 film are polished and planarized, applying a CMP method so that the top of the plug 106 and the contact layer 106a is not exposed.例文帳に追加
プラグ106と密着層106aの上面が露出しないように、第4の絶縁膜109および第3の絶縁膜108をCMP法により研磨して平坦化する。 - 特許庁
In the third step, it is prefereble to remove the masking oil layer by subjecting the film 11 to a discharge step, and as the discharge step, glow discharge step is preferable.例文帳に追加
第3工程においては、高分子フィルム11に放電処理を施してマスキングオイル層を除去することが好ましく、このような放電処理としてはグロー放電が好ましい。 - 特許庁
The liquid crystal display element has a second liquid crystal layer formed to be brought into contact with the same electrode keeping a third liquid crystal for selecting and reflecting a second wavelength band, and a fourth liquid crystal for selecting and reflecting a third wavelength band different from the first wavelength band and the second wavelength band, and allowing a threshold voltage required for drive to differ from the third liquid crystal arranged in a pixel unit.例文帳に追加
液晶表示素子は、第二波長帯域を選択反射する第三液晶と、第一波長帯域及び第二波長帯域とは異なる第三波長帯域を選択反射し、駆動に要する閾値電圧が第三液晶とは異なる第四液晶とが、画素単位で配置される同一の電極に接して形成される第二液晶層を有する。 - 特許庁
The method includes steps of depositing a hard mask on a substrate in a first processing chamber, depositing a resist layer on the substrate, patterning the resist layer, etching the hard mask through apertures formed in the patterned resist layer in a second chamber, and etching a chromium layer through apertures formed in the hard mask in a third chamber.例文帳に追加
また、第1の処理チャンバにおいて基板上にハードマスクを堆積するステップと、レジスト層を該基板上に堆積するステップと、該レジスト層をパターニングするステップと、第2のチャンバにおいて該パターニング済みレジスト層上に形成されたアパーチャを介して該ハードマスクをエッチングするステップと、第3のチャンバにおいて該ハードマスクに形成されたアパーチャを介してクロム層をエッチングするステップと、を含んでいる。 - 特許庁
The formation method of a thin-film transistor comprises a first process for forming a source electrode and a drain electrode in the element side board, a second process for forming a semiconductor layer brought into contact with the source electrode and the drain electrode, a third process for forming a gate insulating layer which overlaps with the semiconductor layer, and a fourth process for forming a gate electrode which overlaps with the gate insulating layer.例文帳に追加
薄膜トランジスタの形成方法が、素子側基板にソース電極およびドレイン電極を設ける第1の工程と、前記ソース電極およびドレイン電極に接する半導体層を設ける第2の工程と、前記半導体層に重なるゲート絶縁層を設ける第3の工程と、前記ゲート絶縁層に重なるゲート電極を設ける第4の工程と、を包含している。 - 特許庁
This semiconductor device includes a first group III-V nitride semiconductor layer 12 and a second group III-V nitride semiconductor layer 13 having a large bandgap relative to that of the first group III-V nitride semiconductor layer 12, a third group III-V nitride semiconductor layer 21 having a p-type conductivity, and first ohmic electrodes 14, all of which are sequentially formed on a substrate 11.例文帳に追加
半導体装置は、基板11の上に順次形成された、第1のIII−V族窒化物半導体層12及び第1のIII−V族窒化物半導体12と比べてバンドギャップが大きい第2のIII−V族窒化物半導体層13と、p型の導電型を有する第3のIII−V族窒化物半導体層21と、第1のオーミック電極14とを備えている。 - 特許庁
The method of raising the energy band gap of an aluminum oxide layer includes a first step of forming an amorphous aluminum oxide layer on a bottom film, a second step of introducing hydrogen (H) or hydroxyl group (OH) into the amorphous aluminum oxide layer, and a third step of crystallizing the amorphous aluminum oxide layer with the introduced hydrogen or hydroxyl group.例文帳に追加
下部膜上に非晶質アルミニウム酸化物層を形成する第1ステップと、非晶質アルミニウム酸化物層内に水素(H)または水酸基(OH)を導入する第2ステップと、水素または水酸基が導入された非晶質アルミニウム酸化物層を結晶化させる第3ステップと、を含むことを特徴とするアルミニウム酸化物層のエネルギーバンドギャップを高める方法である。 - 特許庁
In a negative electrode 12 including a negative electrode current collector 23 and a negative electrode active material layer 24 consisting of a plurality of columnar bodies 32 containing at least one alloy-based negative electrode active material selected from a group consisting of silicon, tin, silicon oxide, and tin oxide are contained, the columnar bodies 32 are formed by sequentially laminating a first layer 35, a second layer 36, and a third layer 37.例文帳に追加
負極集電体23と、珪素、錫、珪素酸化物および錫酸化物よりなる群から選ばれる少なくとも1つの合金系負極活物質を含有する複数の柱状体32からなる負極活物質層24とを含む負極12において、第1層35、第2層36および第3層37を順次積層して柱状体32を形成する。 - 特許庁
The thin-film transistor forming method includes a first process of forming a source electrode and a drain electrode on an element-side substrate, a second process of forming a semiconductor layer for covering the source electrode and the drain electrode, a third process of forming a gate insulation layer overlapping the semiconductor layer, and a fourth process of forming a gate electrode on the semiconductor layer.例文帳に追加
薄膜トランジスタの形成方法が、素子側基板にソース電極およびドレイン電極を設ける第1の工程と、前記ソース電極およびドレイン電極を覆う半導体層を設ける第2の工程と、前記半導体層に重なるゲート絶縁層を設ける第3の工程と、前記半導体層に重なるゲート絶縁層を設ける第4の工程と、を包含している。 - 特許庁
Regarding the laminated body as a fixing member used for an image forming apparatus in which the surface of a substrate is successively provided with: a first layer composed of heat resistant rubber; a second layer composed of an adhesive resin essentially consisting of a fluororesin; and a third layer composed of a fluororesin, the second layer is obtained using a reactive silicone compound.例文帳に追加
画像形成装置に使用する定着部材として、基体上に、耐熱性ゴムからなる第1の層、フッ素樹脂を主成分とする接着樹脂からなる第2の層、及びフッ素系樹脂からなる第3の層が順次設けられた積層体において、前記第2の層が、反応性シリコーン化合物を用いて得られることを特徴とする積層体を主たる構成にする。 - 特許庁
The method for manufacturing the laminated structure for the disk driving suspension assembly and the laminated structure uses the multilayer sheet having the first layer 50 made of the metallic spring material, the second layer 90 in between consisting of the electric insulation material and the third layer 70 consisting of the conductive material and uses only the wet etching process as the molding process of the second layer 90.例文帳に追加
金属ばね材からなる第1層50と、電気絶縁材からなる中間の第2層90と、導電材からなる第3層70とを有する多層合わせシートを使用し、第2層90の成形工程としてウェットエッチングのみを用いることを特徴とするディスク駆動サスペンションアセンブリ用の積層構造体の製造方法及びその積層構造体を提供する。 - 特許庁
The memory device includes a first electrode 14, a first ferroelectric polymer layer 16 formed over the first electrode 14, a second electrode 18, a second ferroelectric polymer layer 22 formed over the second electrode 18, a third electrode 24, and a protective layer 20 formed between the first ferroelectric polymer layer 16 and the second ferroelectric polymer layers 22.例文帳に追加
メモリ素子は、第1の電極14と、第1の電極14上に形成された第1の強誘電性ポリマー層16と、第2の電極18と、第2の電極18上に形成された第2の強誘電性ポリマー層22と、第3の電極24と、第1の強誘電性ポリマー層16と第2の強誘電性ポリマー層22との間に形成された保護層20とを有する。 - 特許庁
Moreover, the dielectric layer 2 includes a first buried oxide film 10 formed on the surface of the silicon substrate 1, a shield layer 11 formed under the first buried oxide film 10 oppositely to the element region, a second buried oxide film 12 formed in the periphery of the shield layer 11, and a third buried oxide film 13 formed below the shield layer 11 and the second buried oxide film 12.例文帳に追加
誘電体層2は、シリコン基板1の表面に形成された第1の埋込酸化膜10と、素子領域に対向して第1の埋込酸化膜10の下に形成されたシールド層11と、シールド層11の周りに形成された第2の埋込酸化膜12と、シールド層11および第2の埋込酸化膜12の下に形成された第3の埋込酸化膜13とを含む。 - 特許庁
The semiconductor device also includes a second gate electrode 109 formed on the channel layer 101 between the first gate electrode 103 and the source 104, the second gate electrode 109 being insulated from the first gate electrode 103, and a third gate electrode 111 formed on the channel layer 101 between the first gate electrode 103 and the drain 105, the third gate electrode 111 being insulated from the first gate electrode 103.例文帳に追加
また、第1ゲート電極103およびソース104の間のチャネル層101の上に、第1ゲート電極103と絶縁分離されて形成された第2ゲート電極109と、第1ゲート電極103およびドレイン105の間のチャネル層101の上に第1ゲート電極103と絶縁分離されて形成された第3ゲート電極111とを備える。 - 特許庁
This display element includes an organic light emitting layer which is successively arranged with metallic electrodes, first transparent electrodes, second transparent electrodes and third transparent electrodes, is arranged between the metallic electrodes and the first transparent electrodes and performs driving by each of pixels, and a guest-host liquid crystal layer which is arranged between the second transparent electrodes and the third transparent electrodes and performs driving by each of the pixels.例文帳に追加
金属電極と第1の透明電極、第2の透明電極、第3の透明電極が順に配置され、金属電極と第1の透明電極との間に配置され画素毎に駆動を行う有機発光層と、第2の透明電極と第3の透明電極との間に配置され画素毎に駆動を行うゲスト・ホスト液晶層とを具備する事を特徴とする表示素子。 - 特許庁
A plurality of parallel second level metal runners are formed within the second insulating layer, and a plurality of conductive vias and third level metal runners are formed within the third insulating layer to interconnect the plurality of second level metal runners, forming a continuously conductive structure having a generally helical shape and disposed partially within the outer transformer winding.例文帳に追加
複数の平行する第2のレベルの金属ランナを第2の絶縁層の中に形成し、複数の導電性バイアおよび第3のレベルの金属ランナを第3の絶縁層の中に形成して複数の第2のレベルの金属ランナを接続して、全体的に螺旋形状を有するとともに、外部トランスフォーマ巻線内に部分的に配置された連続導電構造体を形成する。 - 特許庁
A plurality of (first to third) light receiving pn junction diodes D1 to D3 are formed by providing a plurality of (first to third) p-type regions 31 to 33 at different depths from the surface of an n-type semiconductor layer 2 at different positions of the n-type semiconductor layer 2 which is provided on a p-type semiconductor substrate 1 with substantially uniform thickness.例文帳に追加
p型の半導体基板1上にほぼ均一な厚さのn型半導体層2が設けられ、そのn型半導体層2の異なる場所に、n型半導体層2の表面から複数個(第1〜第3)のp型領域31〜33が異なる深さで設けられることにより、複数個(第1〜第3)の受光用pn接合ダイオードD1〜D3が形成されている。 - 特許庁
The method for processing a semiconductor substrate includes a first processing step for polishing the metal layer on a barrier layer, a second processing step for oxidizing the metal layer left on the insulating layer by supplying an oxidizing processing liquid after the first processing step, and a third processing step for polishing the oxidized metal layer with a chemical/mechanical water system dispersing element after the second processing step.例文帳に追加
本発明の半導体基板の処理方法は、バリア層上の金属層を研磨する第1の処理工程と、前記第1の処理工程後において、前記絶縁層の上に残留する金属層を、酸化性の処理液を供給することにより酸化させる第2の処理工程と、前記第2の処理工程後において、酸化処理された金属層を、化学機械研磨用水系分散体を用いて研磨する第3の処理工程と、を含む。 - 特許庁
The steel cord 10 has a three-layer structure obtained by successively twisting a first layer A composed of three wires 11, a second layer B positioned on the outer periphery side thereof and including nine wires 12, and a third layer C positioned on the outer periphery side of the second layer B and including fifteen wires 13.例文帳に追加
3本の素線11からなる第1層Aと、その外周側に9本の素線12を含む第2層Bと、第2層Bの外側に15本の素線13を含む第3層Cとを順次撚り合わせてなる3層構造のスチールコード10において、第1層Aと第2層Bとの間に未加硫ゴム配合物Rを挿入し、未加硫ゴム配合物Rの断面積Sを下式(1)及び(2)にて表される最小値S_min 及び最大値S_max に対してS_min ≦S≦S_max の関係にする。 - 特許庁
A method for manufacturing a p-type gallium nitride compound semiconductor comprises a first step of manufacturing a gallium nitride compound semiconductor layer 3 in which a p-type impurity is added, a second step of manufacturing a catalytic layer 7 made of a metal or the like on the layer 3, and a third step of heat treating the layer 3 in a state in which the layer 7 is attached.例文帳に追加
この発明のp型窒化ガリウム系化合物半導体の作製方法では、p型不純物を添加した窒化ガリウム系化合物半導体層3を作製する第1の工程と、その窒化ガリウム系化合物半導体層3上に金属等からなる触媒層7を作製する第2の工程と、その触媒層7を付けた状態での窒化ガリウム系化合物半導体層3を熱処理する第3の工程とを含む、ことを特徴とする - 特許庁
Of the electrode board for the dye-sensitized solar cell provided with a transparent base material, and a transparent electrode formed on one face of the transparent electrode, the transparent electrode is equipped with a transparent first conductive layer made of metal oxide formed on the transparent base material, a second conductive layer made of a metal formed on the first conductive layer, and a third conductive layer made of carbon formed on the second conductive layer.例文帳に追加
透明基材と、透明基材の片面に形成された透明電極とを有する色素増感型太陽電池用電極基板であって、その透明電極が、透明基材の上に形成された金属酸化物製の透明な第1導電層、第1導電層の上に形成された金属製の第2導電層、及び、第2導電層の上に形成されたカーボン製の第3導電層を有することにより、上記課題を解決した。 - 特許庁
An empty space for one tray portion is ensured in each of both end sections on one diagonal line of the circular transit ways in every layer of the first to the third layers in a state to set one tray 4 on the lift 3a, and the circulating operation can be separately performed in every layer.例文帳に追加
そして、リフト3a上に1枚のトレー4がある状態で、第1〜3層すべての層における循環移送路の一方の対角線上の両端部にそれぞれトレー1枚分の空きスペースが確保され、各層個別に循環運転可能とされている。 - 特許庁
The inter-wiring distance of a third layer wiring M3 which is the uppermost layer wiring is set as a distance d1, sufficiently smaller than the grain diameter (2.X) of a filler 20, for example, 1 μm or smaller, or a distance d2 sufficiently larger than the grain diameter of the filler 20, for example, 4 μm or larger.例文帳に追加
最上層配線である第3層配線M3の配線間距離をフィラー20の粒径(2・x)よりも十分に小さい距離d1たとえば1μm以下、またはフィラー20の粒径よりも十分に大きい距離d2たとえば4μm以上とする。 - 特許庁
A package body 1 is configured in such a way that a rectangular flat first layer 1a, and rectangular annular second and third layers 1b and 1c having different opening areas are laminated, and a shelf portion being rectangular annular in plan view is formed on the top surface of the second layer 1b.例文帳に追加
パッケージ本体1は、矩形平板状の第一層1aと、開口面積の異なる矩形環状の第二層1b及び第三層1cが積層して構成され、第二層1bの上面に平面視で矩形環状の棚部が形成されている。 - 特許庁
The light shielding layer BM is an insulator which is provided on a position corresponding to a separation region between the second and third electrodes 24 of a surface on the side of the light emitting layer 26 of the first electrode 22, shields the irradiation light IL and the reflected light RL, and has an opening.例文帳に追加
遮光層BMは、第1電極22の発光層26側の表面のうち第2,第3電極24間の離間領域に対応する位置に設けられ、照射光ILと反射光RLを遮光すると共に開口部が形成された絶縁体である。 - 特許庁
The wiring board 10 comprises a first conductor 20 and a second conductor 30 whose electrical potentials are equal to each other, a dielectric layer 40 provided between the first conductor 20 and the second conductor 30, and a third conductor 50 embedded in the dielectric layer 40.例文帳に追加
配線基板10は、電位が等しい第1の導体20および第2の導体30と、第1の導体20と第2の導体30との間に設けられた誘電体層40と、誘電体層40に埋設された第3の導体50とを備える。 - 特許庁
It further includes second conductivity type fourth semiconductor layers 4 disposed respectively to make contact with the upper portion of the third semiconductor layer, between the second semiconductor layers and first conductivity type fifth semiconductor layers 5 formed respectively on the surface of the fourth semiconductor layer.例文帳に追加
装置は更に、第2半導体層間で第3半導体層の上部と夫々接するように配設された第2導電型の第4半導体層4と、第4半導体層の表面に夫々形成された第1導電型の第5半導体層5と、を有する。 - 特許庁
One end of the L-shaped conductor pattern 111 is connected to the scoop-shaped conductor pattern, and the other end is connected to the end part 114 and the end part 115 of the linear conductors 107 in the J-shaped conductor patterns 106 in the first layer 102 and the third layer 104.例文帳に追加
L字状導体パターン111の一端は前記柄杓型導体パターンに繋がり、その他端116は第1層102及び第3層104のJ字導体パターン106の直線状導体107の端部114及び115に接続されている。 - 特許庁
| 例文 |
| Copyright © Japan Patent office. All Rights Reserved. |
|
ログイン |
Weblio会員(無料)になると
|
|
ログイン |
Weblio会員(無料)になると
|