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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > 分析線対の意味・解説 > 分析線対に関連した英語例文

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分析線対の部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 219



例文

本発明に係る化学成分分析システムは、サンプルと、サンプルの化学的主成分を含む第1のコンテナと、関心象の化学的成分を含む第2のコンテナと、第1のコンテナおよび第2のコンテナにより放出されたIR放射の差を増幅する差動増幅器と、サンプルの表面層から放出されるIR放射を集光し、集光されたIR放射と差動増幅器により増幅されたIR放射との差を比較してサンプルの化学的成分中に関心象の化学的成分が含まれているか否かを分析する化学成分分析器とを含む。例文帳に追加

The chemical agent analyzing system, using a simple, indirect method, quickly determines whether a sample contains the chemical components of interest. - 特許庁

音声の母音ようなスペクトルの集合として構成される信号にして、その各スペクトルの周波数を特定するスペクトル分析装置の改良に関し、未知の入力信号f(nT)を構成するスペクトルの周波数を、短時間で精度よく特定できるスペクトル分析装置を提供することを目的とする。例文帳に追加

To provide a spectrum analyzer precisely specifying a frequency of a line spectrum constituting an unknown input signal in a short time in relation to improvement of a spectrum analyzer specifying a frequency of each line spectrum with respect to a signal constructed as an aggregation of line spectra such as a vowel of sound. - 特許庁

被測定試料にしXを照射してX回折測定を実施するとともに、当該被測定試料および標準試料を加熱して熱分析測定を同時に実施する機能を備えたX回折・熱分析同時測定装置であり、被測定試料および標準試料を加熱する加熱炉を備えている。例文帳に追加

An X-ray diffraction and thermal analysis simultaneous measurement device includes functions for executing X-ray diffraction measurement by irradiating a sample for measurement with X-rays and simultaneously executing thermal analysis measurement by heating the sample for measurement and the standard sample, and includes a furnace heating which heats the sample for measurement and the standard sample. - 特許庁

高分子材料または炭素材料以外の金属や合金でマスク60を構成していた従来の場合とは異なり、一次Xや蛍光X分析象外のマスク60に照射されたとしても、そのマスク60中の元素から分析結果に甚大な誤差を及ぼすおそれのある不要な蛍光Xが発生することが抑制される。例文帳に追加

Differently from a conventional mask 60 made of a metal or an alloy other than the carbonaceous material or the polymer material, even when the mask 60 which is not the object of analysis is irradiated with the primary X-ray or fluorescent X-ray, the element in the mask 60 is prevented from emitting an unnecessary fluorescent X-ray which can cause a big error on the result of analysis. - 特許庁

例文

ヨハンソン型X分光器を用いた既存の波長分散型X分析装置にし、簡単な改造で以て検出感度及び波長分解能を改善させる。例文帳に追加

To improve detection sensitivity and wavelength resolution, by simple modification in an existing wavelength dispersive X-ray analyzer using a Johansson type X-ray spectroscope. - 特許庁


例文

形変換および/またはワープされたスペクトル特性情報はその後形予測分析によるなどして符号化され、応する符号化音声信号を生じる。例文帳に追加

The non-linear transformed and/or warped spectral characteristic information is then coded by linear predictive analysis, to produce a corresponding coded speech signal. - 特許庁

予測係数分析部は、あらかじめ定めた数の時系列信号と時系列信号を形予測した時系列予測信号との差を、応信号と予測係数によって評価し、予測係数を生成する。例文帳に追加

The prediction coefficient analysis part evaluates a difference between the time series signals of a predetermined number and time series prediction signals linearly predicting the time series signals by the linear correspondence signals and prediction coefficients to generate the prediction coefficients. - 特許庁

分析象試料に赤外とXとを同時に透過させて測定することができると共に、装置の小型化を図ることができる赤外透過スペクトル測定装置を提供する。例文帳に追加

To provide an infrared transmission spectrum measurement device which can measure an analysis object sample by simultaneously transmitting infrared rays and X-rays to the analysis object sample, and can be miniaturized. - 特許庁

その露出させた面にし、TEMにより電子を照射して、その強誘電体膜のTEM像や電子回折像の取得、元素組成分析等を行う(ステップS2)。例文帳に追加

The exposed surfaces are irradiated with an electron beam by a TEM (Transmission Electron Microscope) to acquire a TEM image and an electron-beam diffraction image of the ferroelectric film, and element composition analysis etc., is carried out (step S2). - 特許庁

例文

センサ2は、回路配111に向する位置に、非接触に配置され、LSI110を駆動することによって回路配111上の電圧値を検出し、その検出信号が検査装置1で分析される。例文帳に追加

A sensor 2 is placed noncontactly at a position facing the circuit wiring 111, and a voltage value on the circuit wiring 111 is detected by driving the LSI 110 and the detected signal is analyzed by the inspection device 1. - 特許庁

例文

エネルギー分散型X分析装置において検出器で検出されたXし、高いエネルギー分解能を保ちつつ計数効率を上げることで感度や精度を向上させる。例文帳に追加

To enhance counting efficiency to enhance sensitivity and precision, while keeping high energy resolution, as to an X-ray detected by a detector in an energy dispersion type X-ray analyzer. - 特許庁

試料2(硫化バリウム膜)に保護膜10(酸化アルミニウム膜)を形成したのち、試料2の膜面にしてほぼ直交する方向から一次XX1を照射して蛍光X分析を行う。例文帳に追加

After forming a protection film 10 (aluminum oxide film) on a specimen 2 (barium sulfide film), fluorescent X-rays analysis is performed by irradiating the primary x-ray X1 from a direction almost perpendicular to a film surface of the specimen 2. - 特許庁

任意の分析象食品について、殺菌などのために食品が放射照射処理を受けたときの照射量を、該食品をESR法で測定することによって定量的に求めることができるようにする。例文帳に追加

To quantitatively find an irradiated radiation dose when food is irradiated with a radiation for the purpose of pasteurization or the like, by measuring the food by an ESR method, as to the optional analytical objective food. - 特許庁

検量が不良であるか否かを容易に判断することができると共に、該検量が不良であった場合に速やかな処を行うことができる分析装置を提供することである。例文帳に追加

To provide an analysis apparatus for easily judging whether a calibration curve is faulty or not, and for speedily coping with the case when the calibration curve is faulty. - 特許庁

このとき、プロトンの入射により励起され、分析象の基板から放射される特性Xは、エネルギー分散型のX検出器等により計測される。例文帳に追加

Impurity elements present in the substrate to be analyzed are identified on the basis of the measured characteristic X-ray. - 特許庁

分析装置1は、計数手段により計数した出力レベルに応する計数値のなかから、所定範囲の出力レベルに応する計数値を抽出する。例文帳に追加

An X-ray analyzer 1 extracts the counted values corresponding to the output level in a specified range among the counted values corresponding to the output level counted by the counting means. - 特許庁

の基板の向する面に設けられた電極の配を確実に基板の外部に引き出し、接続信頼性を向上させることが可能な光フィルター、光フィルターモジュール、および分析機器を提供すること。例文帳に追加

To provide an optical filter, an optical filter module, and an analyzer which surely extract a wiring of an electrode provided on opposing surfaces of a pair of substrates to an outside of the substrates, thereby enabling an improvement of connection reliability. - 特許庁

分析装置1は、反応容器141内の反応液を排出し反応容器141を洗浄する洗浄部20と検査象を破壊または変質させて検査象を消失させる電子照射部21とを備える。例文帳に追加

The analyzer 1 includes a cleaning part 20 for discharging reaction liquid in the reaction container 141 and cleaning the reaction container 141, and an electron beam irradiation part 21 for breaking or altering an inspection object and vanishing the inspection object. - 特許庁

検出象が移動した位置を追跡するにあたり、検出象ごとの移動の履歴の分析を容易にするとともに情報の秘匿性を高めた動計測システムを提供する。例文帳に追加

To provide a system for measuring a flow line for following the positions of a moving detection target while making it easy to analyze a history of movements of each detection target and enhancing confidentiality of information. - 特許庁

判定象物に含まれる特定物質のX分析において、処理にかかる時間の短縮化、さらには作業工程の簡易化や判定象物の処理量の向上を図る。例文帳に追加

To shorten a time required for processing, to facilitate a working process, and to improve the processing amount of a determination object, in X-ray analysis of a specific material included in the determination object. - 特許庁

任意の周波数に応してフィルタバンクを設定し、非形周波数軸に応した音響信号分析を行うと、音声フレームの微小なずれや微小ノイズにより、スペクトル包絡情報が変動する。例文帳に追加

To solve the problem that when a filter bank is set corresponding to an arbitrary frequency and an analysis of an audio signal corresponding to a nonlinear frequency axis is taken, spectrum envelope information varies owing to a very small shift or very small noise of a speech frame. - 特許庁

本発明は、測定ヘッド(10)から一定距離に配置された試験象物(14)および特に尿または血液などの体液用試験片の標的面(12)を反射光により分析するための、放射発生源(36)および放射検出器(26)を含む測定ヘッド(10)を有する反射光分析システムに関する。例文帳に追加

To provide a reflection-photometric analytical system provided with a measuring head (10), including a radiation source (36) and a radiation detector (26) for the reflection-photometric analysis of a target surface (12) of a test object (14) especially body fluids specimen, such as urine or blood which is arranged apart from a measuring head (10) with a specific distance. - 特許庁

陽電子ビームを測定象物に走査して照射し、放出される消滅ガンマ又は散乱粒子を検出して分析画像を作成するとともに、消滅ガンマの検出数をコントラストとする画像を作成して、これらの画像の組み合わせから新しい分析画像を作成することにより、高性能な画像を得る。例文帳に追加

The high-performance image is obtained through a step of irradiating a measuring object with a positron beam in a scanning manner; a step of preparing an infographic by detecting discharged annihilation gamma-rays or scattered particles and preparing an image using the number of detected annihilation gamma-rays as contrast; and a step of preparing a new infographic from a combination of these images. - 特許庁

上記放射源が,上記測定象物表面の放射照射点に向する円錐面状に形成されてなり,且つ上記放射源を保持する放射源ホルダに,上記放射源から上記測定象物表面の放射照射点に向けて先細りする放射通路が形成されてなることを特徴とする粒子励起X分析装置。例文帳に追加

This particle beam-induced X-ray analyzer is such that the radiation source is formed into the conical surface shape opposite to the radiation irradiating point on the surface of the measuring target and a radiation passage, which is tapered toward the radiation irradiating point on the surface of the measuring target starting from the radiation source, is formed to the holder of the radiation source for holding the radiation source. - 特許庁

本願発明においては、斜入射蛍光X分析法において、入射Xの入射角度を変えた一連の深さ分布を持つ測定象元素からの蛍光X強度を測定し、その強度変化から、測定象元素の物質表面からの深さ方向の元素分布情報を、非破壊的に測定するものである。例文帳に追加

The information on the element distribution from the surface of the material of the to-be-measured element in the depth direction is noncontactly measured based on the change in the intensity. - 特許庁

測定象物表面に放射を照射する放射源が,単純な平面的なものであったので,微小な測定象や,局所的な元素分析が必要なときにも,広い範囲に放射を照射してしまうという欠点を解消すること。例文帳に追加

To eliminate defects where since radiation is irradiated over a wide range, even when a fine measuring target or local element is required, because a radiation source for irradiating the surface of the measuring target with radiation has a simple planar shape. - 特許庁

研究象は,プロセス・オートメーションのさまざまな分野にまたがる.たとえば,非形プロセス制御技術,分布定数系(distributed parameter system)の分析や制御などである.例文帳に追加

The research interests encompass various fields of process automation such as nonlinear process control techniques, distributed parameter system analysis and control, ...  - コンピューター用語辞典

時忠は、高倉の意向を無視する清盛の独裁と強硬路が事態の悪化に拍車をかけていると分析し、還都後に公卿議定を開いて応策を打ち出そうと考えていたらしい(『吉記』11月21日条)。例文帳に追加

It seems that Tokitada reasoned that Kiyomori's dictatorial attitude and hardline ignoring of Takakura's intention was accelerating deterioration of the situation, and intended to hold kuge-gijo after the return of the government to the former capital in order to establish countermeasures (Article for December 16 in "Kikki").  - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス

カセットに収納されるウエハを試料とする蛍光X分析装置において、サイズや形状が異なる複数種類のカセットにしてもマッピングができる装置を提供する。例文帳に追加

To allow mapping for plural kinds of cassettes different in their sizes and shapes, in a fluorescence X-ray analyzer using wafers stored in the cassettes as samples. - 特許庁

液体試料中の特定の成分を分析するバイオセンサにおいて、安定性に優れ、且つ、センサの基質濃度にする応答性(感度、直性)の高い、高性能なバイオセンサを提供することを目的とする。例文帳に追加

To provide a high-performance biosensor for analyzing the specified component of a liquid-sample, having excellent stability and the high responsiveness (sensitivity and linearity) of the sensor to substrate concentration. - 特許庁

波長分解能の高い湾曲分光結晶を用いた分光器を試料から離して配置できるようにすることで、EPMAだけでなく走査顕微鏡等の他のX分析装置にも応可能とする。例文帳に追加

To cope with not only an EPMA but also other X-ray analyzer such as a scanning microscope, by arranging a spectrometer using a curved analyzing crystal of high wavelength resolution distantly from a sample. - 特許庁

聴覚分析ビット割当て部13は各サブバンド信号にして等ラウドネス曲に準じた重み付けをした後、重み付けされた量子化誤差が各サブバンドで均等になるようにビット割当て量を算出する。例文帳に追加

A hearing analysis bit allocation part 13 weights each sub-band signal according to an equal loudness curve, and then calculates a bit allocation quantity so that the weighted quantized errors are equalized in each sub-band. - 特許庁

(一次電子のエネルギー/結合エネルギー)にするイオン化断面積の関係データから試料5を成すTiとNの分析情報変化率r_Ti、r_Nを算出する。例文帳に追加

Analysis information change rates r_Ti, r_N of Ti and N constituting the sample 5 are calculated from relation data of an ionization cross section to (energy of a primary electron beam/binding energy). - 特許庁

蛍光X分析方法では、炭素にする感度がないが、第2の測定方法を利用することにより、定量可能とし、試料に含まれている元素の定量を非破壊で迅速に行う。例文帳に追加

Though not having sensitivity to carbon, in the fluorescence X-ray analysis method, determination is possible by utilizing the second measuring method, and an element contained in the sample can be determined quickly and nondestructively. - 特許庁

サブルーチンPLM-Approx(データ集合D)では、データ集合Dにして主成分回帰分析法により形近似し、データ集合Dが近似終了条件を満たすなら終了する。例文帳に追加

In a subroutine PLM-Approx (data assembly D), the data group D is linearly approximated by main component regression analysis, and when the data assembly satisfies an approximation termination condition, the approximation is terminated. - 特許庁

螢光X光子を捕捉しそれに応して標本の分析に適した複数の電気パルスを生成する複数の半導体検出器18をスポット26のまわりに配置する。例文帳に追加

A plurality of semiconductor detectors 18 which capture fluorescent X-ray photons and which generate a plurality of electric pulses suitable for the analysis of the sample so as to correspond to the photons are arranged around a spot 26. - 特許庁

ピーク検出回路19は、各電子走査位置にするサンプリング値のラインプロファイルを作成し、そのピーク位置から分析位置が電子分光器のフォーカス点より上に位置するか下に位置するかを求める。例文帳に追加

A peak detecting circuit 19 creates a line profile of a sampling value respective to each position scanned by the electron beam and determines whether an analysis position is positioned from its peak position above or under a focus point of an electrospectrometer. - 特許庁

リアルタイムで表示される測定曲して必要な情報を提示し、分析装置の操作を視覚的に支援する測定支援システムを提供する。例文帳に追加

To provide a measurement support system which presents necessary information for a measurement curve displayed in real time and supports an analyzer operation visually. - 特許庁

制御部11Cで、分析象20の表面の曲率1/Rまたは半径Rに基づいて、蛍光X強度から算出される量的情報を補正する。例文帳に追加

An quantitative information calculated from the fluorescence X-ray intensity is corrected based on the curvature 1/R or radius R of the surface of an analysis target 20 in a control part 11C. - 特許庁

検量が未知の試料にしても、試料に加わる局所的な圧力をより正確に算出することができる試料分析方法を提供する。例文帳に追加

To provide a sample analysis method enables the accurate computation of local pressure applied to a sample even when a calibration curve of the sample is not known. - 特許庁

時間をかけずに簡便に、試料にして同じ倍率、位置、及び、角度の外観状態の画像と内部状態の画像とを撮影することができるX透視分析装置を提供する。例文帳に追加

To provide an X-ray fluoroscopic analyzer capable of easily and rapidly photographing an image of the state of appearance and an image of the internal state with the same magnification, position, and angle with respect to those of a sample. - 特許庁

検査内容情報に応じて電子部品の検査部位にXを照射し、検出した検出データに基づいて検査象元素の濃度を分析し、検査結果を検査結果データベース(362)に記録する。例文帳に追加

The inspection region of the electronic component is irradiated with X rays corresponding to the inspection content data and the concentration of an element to be inspected on the basis of the detected data to record an inspection result on an inspection result database (362). - 特許庁

本発明の符号化方法は、分析応変換候補出力ステップ、形予測ステップ、量子化ステップ、予測値算出ステップ、減算ステップ、係数符号化ステップ、残差符号化ステップ、最適選定ステップを有する。例文帳に追加

The coding method of the invention includes: a corresponding conversion candidate output step for analysis; a linear prediction step; a quantization step; a prediction value calculation step; a subtraction step; a coefficient coding step; a residue coding step; and an optimum selection step. - 特許庁

白煙の発生を目視して硝酸の駆逐完了を行うと分析に誤差が生じ、接触式温度計あるいは細状熱電温度計を用いると前処理工程中の蒸発濃縮時間が長くなる。例文帳に追加

To solve a problem wherein an error is generated in analysis when expulsion of nitric acid is finished after generation of white smoke is observed, and a problem wherein an evaporation concentration time is prolonged in a pretreatment process when using a contact type thermometer or a fine filament type thermocouple. - 特許庁

異常発生時に、異常を表す警報の重要度およびユーザの処方法を表示する画面を有する自動分析装置と、それに公衆回網で接続されたリモートコンピュータを設ける。例文帳に追加

Both the automatic analysis device with a window displaying both the level of importance for alarm indicating abnormality and the user's coping strategy at the time of occurrence of abnormal events and a remote computer connected with a public line network are established. - 特許庁

包埋材に包埋された試料からなる試料包埋体にするEPMAによる面分析法において、包埋材への電子照射をできるだけ低減できるようにする。例文帳に追加

To reduce electron rays to an embedding material in a surface analysis method by an EPMA(electronic probe microanalyzer) for a sample embedding material consisting of a sample that is embedded by the embedding material. - 特許庁

この警告にしてオペレータが自動調整を選択すると(S8)、現在の試料位置と目標位置との差に基づいて試料ステージを自動的に移動させ(S9、S10)、X分析を再開する。例文帳に追加

When an operator selects automatic regulation to cope with the alarm message (S8), a sample stage is automatically moved, based on a difference between the sample position in the present and a target position (S9, S10) to start again the X-ray analysis. - 特許庁

この比を用いることによって、分析象試料の形状や固定位置の補正を行い、材や湾曲板のような平坦でない形状の試料の薄膜についても、高い測定精度で安定性した定量値を得る。例文帳に追加

The shape or the fixing position of the analysis object sample is corrected with the use of the ratio, so that quantitative values having high measurement accuracy and stability are obtained for the thin film of the sample not flat such as a wire rod or a curved plate. - 特許庁

樹脂に含まれる母材を除去して測定象の元素を濃縮することにより、樹脂に含まれる金属元素の検出感度を向上させることができる蛍光X分析方法を提供する。例文帳に追加

To provide a fluorescent X-ray analysis method which enhances the detection sensitivity of a metal element contained in resin, by removing a matrix contained in a resin and by concentrating the element of a measuring target. - 特許庁

例文

撮影の際に、およびX撮影像に基づく定量的な分析等に、有利な効果を発揮することを可能ならしめた、改良された、口腔形態応型の、歯科用Xフィルムおよび歯科用Xフィルム体を提供する。例文帳に追加

To provide the improved X-ray film and X-ray film body for dentistry corresponding to the oral cavity shape, capable of exercising the effect advantageous to the X-ray radiography and the quantitative analyzation or the like on the basis of the X-ray image. - 特許庁

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