「分析線対」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

配電システム分析器９３が、利用可能な需要資源に対する電圧トリップ点を得るために、母線電圧もしくは負荷電圧とシステムパラメータとを分析するために、システム内に設けられる。例文帳に追加

A distribution system analyzer 93 is provided in the system for analyzing the bus voltage or the load voltage and system parameters to obtain voltage trip points for the available demand resources. - 特許庁

検体の測定に必要な複数の測定項目に対応する複数の乾式分析素子の検量線データを容易に生化学分析装置に提供することを目的とする。例文帳に追加

To easily provide calibration curve data of a plurality of dry analytical elements corresponding to a plurality of measurement items required for measurement of a specimen to a biochemical analyzer. - 特許庁

分析検査エレメント上には、分析対象物を検出するための検出化学系を含む領域と、装填試料に関するデータおよび／または測定値を無線送信するトランスポンダーとが存在する。例文帳に追加

The analysis inspection element has thereon a domain, including a detection chemical system for detecting an analysis object; and a transponder for transmitting by radio, data on a loading sample and/or a measurement value. - 特許庁

平滑な表面を有する基板とその表面に付着した点状の被測定物とからなる試料を、検出器に対し十分正確に位置設定して分析を行える蛍光Ｘ線分析方法および装置を提供する。例文帳に追加

To provide a method and a device for fluorescent X-ray analysis for making an analysis by setting accurately, to a detector, the position of a sample comprising a substrate with a smooth surface and a dotted measured object stuck to the surface. - 特許庁

光学部品５は、分析用具２０が接合部３に接合されたときに、分析用具２０の法線方向において、いずれかのセル２４に対向するようにテーブル２に固定する。例文帳に追加

When the analysis tool 20 is bonded to the bonding part 3, the optical member 5 is fixed to the table 2 oppositely to some cell 24 in the normal direction of the analysis tool 20. - 特許庁

放射線ＣＴ装置による組成分析方法について、対象物の構成物質における固有の密度に範囲がある場合でも高精度な組成分析を行えるようにする。例文帳に追加

To provide a composition analyzing method by a radiation CT apparatus for accurately analyzing a composition even if a specific density has a range in a constituent of an object. - 特許庁

作成した検量線が確認範囲内で変曲点を有する場合でも対応でき、使い勝手の良さと分析信頼性との両方を兼ね備えた分析装置を提供する。例文帳に追加

To provide an analyzer capable of corresponding even to a case that a formed calibration curve has an inflection point within a confirmation range and having both of user's convenience and analytical reliability. - 特許庁

“多重共線性”を解消する回帰分析と価格対価格形成要因の対話的調整によって標準宅地を評価する装置。例文帳に追加

DEVICE TO ASSESS STANDARD HOMESITE BY REGRESSION ANALYSIS WHICH SOLVES "MULTICOLLINEARITY" AND INTERACTIVE ADJUSTMENT BETWEEN PRICE AND PRICE FORMING FACTORS - 特許庁

それぞれ異なる分光結晶を搭載する複数のＸ線分光器を装備し各Ｘ線分光器毎に検出する波長を設定して複数の元素の同時分析を行う波長分散型のＸ線分析装置において、Ｘ線分光器に対する分析対象元素の割り当てを適切に行うことで測定回数を減らしながら正確な測定を行う。例文帳に追加

To carry out accurate measurement while reducing a measuring frequency, by allocating properly an analytical objective element to each X-ray spectrometer, in a wavelength dispersive X-ray analyzer equipped with the plurality of X-ray spectrometers for mounting respectively different spectroscopic crystals, and for setting a detecting wavelength in every of the respective X-ray spectrometers to analyze the plurality of elements at the same time. - 特許庁

種々の形状の試料に対応した試料ホルダにより、試料より発生する蛍光Ｘ線の強度が最大になるようにＸ線源からの一次Ｘ線の照射位置を自動調整し、常に短時間で高感度、高精度の分析が行える斜入射蛍光Ｘ線分析装置を提供する。例文帳に追加

To provide an oblique-incidence fluorescent X-ray analyzer for automatically adjusting the irradiation position of the primary X rays from an X-ray source by the sample holder corresponding to a sample having every shape so that the intensity of the fluorescent X rays emitted from the sample becomes maximum and capable of always performing analysis with high sensitivity and high precision. - 特許庁

貨物駅と線区に基づいた貨物流動計測システムにおいて、分析対象貨物駅の貨物量（Ｅ_i ）が鉄道貨物総輸送量（Ａ）に占める割合と、前記分析対象貨物駅の貨物の発送量と、分析対象線区の貨物の通過量とを計測し、貨物輸送経路データベースを構築する。例文帳に追加

A freight flow measurement system based on a freight station and a line section is configured to measure the rate of a freight volume (Ei) of an analysis object freight station to a railroad freight total transportation volume (A), the shipping volume of the freight of the analysis object freight station, and the passage volume of the freight of the analysis object lien section, and to construct a freight transportation route database. - 特許庁

この負極材のＸ線光電子分析において炭素に対するケイ素のピーク強度比は０〜０．２程度であってもよい。例文帳に追加

A peak strength ratio of silicon to carbonthe negative electrode material against carbon at an X-ray photoelectron analysis may be in a level of 0 to 0.2. - 特許庁

走査透過型電子顕微鏡装置で分析対象物（５）を透過した電子線は元素マッピング装置に入射する。例文帳に追加

An electron beam transmitting through an object 5 to be analyzed in this scanning transmission electron microscope enters the element mapping device. - 特許庁

パケット分析に対する処理負担を加重させずにピアツーピア通信を支援できる無線通信機器を提供する。例文帳に追加

To provide a radio communication apparatus that can support peer-to- peer communication without increasing the processing workload for packet analysis. - 特許庁

電子銃１１から分析すべき試料Ｓに対して電子線を照射し、試料Ｓからオージェ電子を放出させる。例文帳に追加

An electron beam is projected from an electron gun 11 onto a sample S to be analyzed, in order to cause Auger electrons to be emitted from the sample S. - 特許庁

測定対象ガスが１つの試料セルに導入されているか否かの判定を行うことができる赤外線ガス分析計を提供すること。例文帳に追加

To provide an infrared gas analyzer capable of judging whether gas to be measured is introduced into one sample cell. - 特許庁

透明電極層１８を設ける前の半製品３０に対し、Ｘ線の入射角度θを固定してＸＲＦ分析を行う。例文帳に追加

XRF analysis is performed by fixing the incident angle θ of an X-ray with respect to a semifinished product 30 before arranging a transparent electrode layer 18. - 特許庁

このデータ群に対して主成分分析を施して得たスコアについて、メラニン量の検量線を求めた。例文帳に追加

The calibration curve of the melanin amount is obtained concerning a score obtained by performing main component analysis with respect to the data group. - 特許庁

コンピュータによって実施される方法は、スパース線形判別分析の基数制約あり組み合わせ最適化問題に対する候補解を最大にする。例文帳に追加

To provide a computer implemented method which maximizes candidate solutions to a cardinality-constrained combinatorial optimization problem of sparse linear discriminant analysis. - 特許庁

制御ＰＣ３では、受信信号強度が所定レベル未満であるＩＤを分析対象から除外した後、残ったＩＤの受信信号強度の推移に対する回帰分析を行い、回帰分析の結果、回帰直線の傾きの絶対値が最小となるＩＤが読取り対象物品のＩＣタグから発信されたＩＤと判断する。例文帳に追加

The control PC 3 excludes the ID having the reception signal intensity less than a prescribed level from an analysis target, thereafter performs regression analysis to transit of the reception signal intensity of the left IDs, and decides that the ID having a minimum absolute value of a gradient of a regression line as the result of the regression analysis is the ID transmitted from the IC tag of the reading target article. - 特許庁

テキスト・ピクセルの決定は、分析されるピクセルについて、分析されるピクセルを中心としストローク幅Ｗに等しい半径を有する円１２が行線、列線、及び４５゜の角度を有する２つの線と交差する位置にある２つのピクセルの値と分析されるピクセルの値との差のいずれが相対しきい値よりも大きいかを検査する。例文帳に追加

In the determination of a text pixel, which difference out of differences between two pixels located on positions where a circle 12 having a radius equal to stroke width W around a pixel to be analyzed intersects with a row line, a column line and two lines having an 45° angle and the value of the pixel to be analyzed is larger than the relative threshold is examined. - 特許庁

一般的に蛍光Ｘ線分析の分析対象外である元素により構成されており、かつ一次Ｘ線が照射された場合においても分解しない耐放射線性高分子であるポリベンゾイミダゾールなどの高分子材料または炭素材料でマスク６０を構成する。例文帳に追加

The sample container is constituted of an element other than those which are considered to be objects of a fluorescent X-ray analysis in general and a mask 60 is made of a carbonaceous material or a polymer material such as polybenzimidazole which is a radiation-resistant macromolecule not undergoing decomposition even in the case of irradiation with a primary X-ray. - 特許庁

撮影カメラ１０が被覆電線９０の端面に対向して配置され、被覆電線９０の端面画像を撮影するように構成され、分析ユニット２０はその撮影カメラ１０から得られる端面画像を分析することにより、被覆電線９０の端部の状態を検査するように構成される。例文帳に追加

A photography camera 10 is arranged opposite to the end face of the sheathed wire 90, the end-face image of the sheathed wire 90 is photographed, and the end-face image obtained by the photography camera 10 is analyzed by an analysis unit 20, thus inspecting a state at the edge of the sheathed wire 90. - 特許庁

エックス線分析装置を用いて測定対象の組成物質を測定する場合に、不用意にエックス線が発せらると作業者が被曝するおそれがあることに鑑みて、作業中における被曝の機会を極力減じるエックス線分析装置を提供する。例文帳に追加

To provide an X-ray analyzer for reducing an exposure chance during work to the utmost in consideration of that there is fear for exposing a worker to X rays if X rays are emitted carelessly in the case where the composition substance of a measuring target is measured using the X-ray analyzer. - 特許庁

測定時のＸ線の利用効率を高めると共に、このＸ線が照射された結果として放出される分析対象物からの電子信号のＳ／Ｎ比を向上させることにより、測定結果の信頼性を一段と高めたＸ線電子分光分析器を提供する。例文帳に追加

To provide an X-ray electron spectroscopic analyzer which increases the reliability of the result of a measurement by a method wherein the utilization efficiency of X-rays in the measurement is increased and the S/N ratio of an electronic signal from an object, to be analyzed, discharged when it is irradiated with the X-rays is enhanced. - 特許庁

次に、モルタル乾燥試料の質量Ｍ_Tを計測して水分除去前後の質量差を（１）式で算出し(104)、モルタル乾燥試料に対して蛍光Ｘ線分析を行う一方、セメント単体及び細骨材単体に対して個別に蛍光Ｘ線分析を行う(106,107)。例文帳に追加

Next, the mass M_T of a mortar dry sample is measured to calculate mass difference before and after moisture is removed according to formula (1) (104), and fluorescent X-ray analysis is performed with respect to the mortar dry sample, while fluorescent X-ray analysis is individually performed with respect to cement alone and fine aggregate alone (106, 107). - 特許庁

半導体製造システムに用いられ、所定濃度とすることが不可能あるいは困難であるガスを測定対象ガスとする赤外線ガス分析計の感度校正を容易かつ正確に行うことができる赤外線ガス分析計の校正方法を提供すること。例文帳に追加

To provide a calibration method capable of calibrating easily and accurately sensitivity of an infrared gas analyzer used in a semiconductor manufacturing system, and using gas impossible or difficult to be brought into a prescribed concentration as a measuring objective gas. - 特許庁

本発明は、赤外線や光線によるガス分析計（ＮＤＩＲ）用の光源に係り、詳しくは、サンプルガスが供給されるセルに対して光をパルス的に照射するためのガス分析計用光源であって、可動部分を必要とすることなくパルス光を照射できるようにする技術を提供する。例文帳に追加

To provide a technique for applying pulse beams without requiring any movable sections in a light source for gas analyzers (NDIR) due to infrared rays and rays, and specifically in a light source for gas analyzers for pulsively applying light to a cell where a sample gas is supplied. - 特許庁

使用後の転がり軸受の回転輪と固定輪に対してＸ線分析を行い、このＸ線分析の結果から回転輪の最大転動体荷重の推定値を得ると共に、固定輪の任意の１点以上の位置での転動体荷重の推定値を得る（Ｓ１）。例文帳に追加

X-ray analysis is performed for a turning wheel and a fixed wheel of an after-use rolling bearing to obtain an estimate value of a maximum rolling element load of the turning wheel from the result of the X-ray analysis while acquiring estimate values of a rolling element load in one or more arbitrary positions of the fixed wheel (S1). - 特許庁

蛍光Ｘ線分析方法による分析対象試料の形状を補正するための試料形状補正方法であって、試料の蛍光Ｘ線スペクトルにおけるピークの出ない高エネルギー領域ＡＲ−Ｈのバックグラウンド強度ＢＧ１、ＢＧ２に基づいて試料の厚みを補正する。例文帳に追加

In a sample profile correcting method for correcting a profile of the analyzed sample by using the fluorescent X-ray analysis method, the thickness of the sample is corrected based on background intensities BG1, BG2 in a high-energy region AR-H without peaks in fluorescent X-ray spectrums of the sample. - 特許庁

周波数特性を有する複数のイコライザ線路１３ａ，１３ｂと、このイコライザ線路１３ａ，１３ｂ各々に対し接続されている検波器１４ａ，１４ｂと、これ等検波器１４ａ，１４ｂの出力レベルを分析することにより周波数を算出する分析手段１５０とを備える。例文帳に追加

This frequency analyzing receiver is provided with a plurality of equalizer lines 13a and 13b with frequency characteristics, detectors 14a and 14b each connected to the equalizer lines 13a and 13b, and an analyzing means 150 to compute frequencies by analyzing the output levels of the detectors 14a and 14b. - 特許庁

ＳＥＭの試料観察が終了して（Ｓ１）Ｘ線分析が開始されると（Ｓ２、Ｓ３）、合焦状態となっている対物レンズの励磁電流に基づいて試料観察終了時の試料位置を検知し、その位置がＸ線分析に適切な位置であるか否かを判定する（Ｓ４）。例文帳に追加

When the sample observation by the SEM is finished (S1) to start the X-ray analysis (S2, S3), the sample position at the time when the sample observation is finished is detected, based on an excitation current of an objective lens under a focused condition, to determine whether the position is proper for the X-ray analysis or not(S4). - 特許庁

試料に中性原子線又はイオン線を照射する過程と、中性原子線又はイオン線の照射後に、試料に対して放射線を照射し、試料からの電子を分析する過程とを含む。例文帳に追加

The method includes a step of irradiating the sample with a neutral atomic beam or ion beam, and a step of irradiating the sample with radiation after the irradiation of the sample with the neutral atomic beam or ion beam and analyzing the electrons from the sample. - 特許庁

印字対象の画像データを分析して，予め定めた色彩の画像が含まれる領域を抽出し，抽出された領域に重ねてハッチングを形成する時，前記特定色彩領域抽出手段により抽出された領域のドット構造を分析し，分析されたドット構造に応じて，その領域に重ねて形成するハッチング線の種類とその方向を決定する。例文帳に追加

When analyzing image data of a print object to extract a region including an image of a predetermined color, and then forming hatching with superimposing on the extracted region, the apparatus analyzes the dot structure of the region extracted by a specific color region extraction means, and determines the type and direction of hatching lines to be superimposed on the region according to the analyzed dot structure. - 特許庁

廃液を処理することが容易にできると共に、作業員に対する放射線被曝の影響を大きく抑制することができるウラン及びプルトニウムの分離方法及びその分離装置並びにその分析方法及びその分析装置を提供する。例文帳に追加

To provide a separating method of uranium and plutonium, a separator therefor, an analyzing method thereof, and an analyzer therefor, capable of easily processing a waste liquid and capable of suppressing the effect of radiation exposure on operators. - 特許庁

また、本発明にかかる認証方法は、本発明にかかる識別対象物(6)を用いたもので、該人工ＤＮＡを抽出、分析することで再現される塩基配列情報を第１の識別情報とし、該線スペクトルを分析することで得られる情報を第２の識別情報として使用することを特徴とする。例文帳に追加

In the authentication method, using the object (6) to be identified, base sequence information reproduced by extracting and analyzing the artificial DNA, as first identification information, and information obtained by analyzing the line spectrum, as second identification information, are used. - 特許庁

外線から到来する着信情報を分析し、この分析結果が所定の条件を満たすときには、本来当該外線の着信対象ではない内線電話機が有する回線キーのいずれかに当該外線の着信を臨時に表示させると共に当該着信を当該内線電話機に臨時に接続する。例文帳に追加

When incoming call information coming from an outside line is analyzed to find that this analysis result meets a predetermined condition, any of line keys belonging to the extension telephone set which is not originally an incoming call target of the outside line is made to temporarily display an incoming call from the outside line, and the incoming call is temporarily connected to the extension telephone set. - 特許庁

原子間力顕微鏡を使って原子レベルでの形状観察と元素分析とを同時に行うことができ、さらには試料表面の化学状態を分析することが可能となり、また、液体中でも動作可能であるため生体試料に対する元素分析や化学状態分析を原子レベルの分解能で行うことが可能な量子線支援原子間力顕微法および量子線支援原子間力顕微鏡を提供する。例文帳に追加

To provide a quantum line-supported atomic force microscopic method and a quantum line-supported atomic force microscope capable of performing simultaneously shape observation and elemental analysis in the atomic level by using the atomic force microscope, analyzing the chemical state on the sample surface, and performing the elemental analysis or chemical state analysis with respect to a biosample with a resolution in the atomic level because of being operable even in liquid. - 特許庁

試料に対向する導電性探針を有するカンチレバーと、前記カンチレバーの前記探針部分に電子線を照射する電子線源と、前記探針から発生したＸ線により前記試料から発生した荷電粒子を捕集して分光する分光器を備えた表面分析装置であって、前記電子線が前記カンチレバーの探針反対面に照射する表面分析装置。例文帳に追加

This surface analyzer is provided with a cantilever having a conductive probe opposed to a sample, an electron beam source for emitting an electron beam to a probe portion of the cantilever, and a spectrometer for collecting a charged particle generated from the sample by the X-ray generated from the probe, and for dispersing it spectrally, and the electron beam is emitted toward a probe opposite face of the cantilever. - 特許庁

本発明の線形予測係数算出装置は、元の信号の振幅を圧縮した時系列信号から線形予測係数を生成する装置であり、線形対応部と予測係数分析部とを備える。例文帳に追加

The linear prediction coefficient calculator is a calculator for generating linear prediction coefficients from time series signals compressing the amplitude of original signals, and includes a linear correspondence part and a prediction coefficient analysis part. - 特許庁

湾曲分光結晶を用いるＸ線分光器において、分光結晶の有効回折領域のみを使用するようにして、分析に用いる特性Ｘ線の波長分解能、特性Ｘ線対バックグランド比の向上を図る。例文帳に追加

To improve the wavelength resolution of a characteristic X-ray used for analysis and the ratio of characteristic X-ray to background by using only a valid diffraction area of a dispersive crystal in an X-ray spectrometer using the curved dispersive crystal. - 特許庁

放射線画像に対するエネルギーサブトラクション処理に独立成分分析の手法を適用する際に生じうる、放射線画像特有の課題を解決し、分離対象の画像成分をより高い精度で分離する。例文帳に追加

To solve a problem specific to a radiograph image which could arise when applying an independent component analysis technique for performing energy subtraction on the radiograph image, and to separate an image component to be separated with higher precision. - 特許庁

また、分析表示制御部１５は、検出された複数のキャリア周波数に対し、回線種別情報テーブル１２で対応づけられた回線種別情報を検索する（ステップＳ１１）。例文帳に追加

Also, an analysis display control part 15 retrieves the line-kind information made to associate with a line-kind information table 12, with respect to a plurality of detected carrier frequencies (step S11). - 特許庁

各々データ端末に接続された対向する第１及び第２の無線局３ａ、３ｂ間で無線通信する無線通信システムにおいて、各無線局３（３ａ，３ｂ）では、接続されたデータ端末から入力された少なくとも送信すべきデータの性質及びデータ量をデータ分析手段７により分析する。例文帳に追加

In the radio communication system wherein radio communication is carried out between opposed first and second radio stations 3a, 3b connected to data terminals respectively, each radio station 3 (3a, 3b) analyzes at least the property and the amount of data, which is input from the data terminal and is to be transmitted, by a data analyzing means 7. - 特許庁

試料５に電子線１２を照射し、これにより試料５から発生する特性Ｘ線１３を検出して、試料５中の特定の元素についての定量分析を行う際に、当該元素に対応する特性Ｘ線１３における複数のＬ線の検出強度に基づいて定量分析を行う。例文帳に追加

In the sample analysis method, when a certain element in a sample 5 is quantitatively analyzed by irradiating the sample 5 with an electron beam 12 and detecting characteristic X-rays 13 generating from the sample 5, the quantitative analysis carried out on the basis of detection intensity of two or more L lines of the characteristic X-rays 13 corresponding to the element. - 特許庁