「表面温度測定～」に関連した英語例文の一覧と使い方(9ページ目) - Weblio英語例文検索

表面層を高効率にて加熱処理する連続搬送式焼成炉としながら、加熱処理中の被処理物の実体温度を測定することが出来る連続加熱処理装置を提供すること。例文帳に追加

To provide a continuous heating treatment device capable of measuring a substance temperature of a workpiece during heating treatment while constituting a continuous conveyance type kiln of highly efficiently heating a surface layer. - 特許庁

質量センサにおいて、計測時は被測定物以外の物質の付着によるセンサ素子表面の汚染や、環境温度変化などの外部擾乱による影響を極力排除することができる構造を得ることを目的とする。例文帳に追加

To obtain a structure capable of excluding effects of external disturbance, such as contamination of sensor surface with deposited matter, other than a matter to be measured or environmental temperature variations at the measurement with a mass sensor. - 特許庁

パーソナルコンピュータなどから作像要求を受けたら、定着ローラの回転を開始して、定着ローラを所定計測時間、定着ローラ表面の温度低下量ΔＴを測定する。例文帳に追加

The rotation of a fixing roller is started when receiving an image preparation request from a personal computer or the like, and a temperature decrease amount ΔT on a fixing roller surface is measured for a prescribed measuring time, in the fixing roller. - 特許庁

接着材の塗布範囲および塗布量を制御できるので、被測温部材の表面積を維持しつつ熱容量を低減でき、もって、熱電対の温度測定特性を向上でき、熱電対間の個体差を抑制できる。例文帳に追加

The coating range and coating quantity of the adhesive can be controlled, so while the surface area of the temperature-measured member is maintained, the heat capacity is reducible. - 特許庁

目の周囲の体液循環の状態の変化は、血流量の変化、表面温度の変化、血中ヘモグロビンの酸素飽和度の変化などで測定する。例文帳に追加

The changes in the states of the body fluid circulation around the eyes are measured by a change in the blood flow, a change in the surface temperature, a change in hemoglobin oxygen saturation in blood and the like. - 特許庁

次に有機物質分圧の最低値より低い有機物質分圧中で表面伝導型放出素子の素子電極間に電圧を印加し、素子電流Ｉf、電子放出部の温度Ｔを測定する（Ｄ）。例文帳に追加

Then, after organic partial pressure is decreased by exhausting gas with a pump 104, the voltage Vf is impressed between element electrodes, the element current If and the surface temperature T are measured, and a coefficient W0 is derived. - 特許庁

光硬化性接着剤１０を介在して２枚のディスク基板８，９を重ね合わせた光ディスク素体７が取り付けられるパレット１４の表面温度を測温装置１３で測定する。例文帳に追加

The surface temperature of a pallet 14 on which an optical disk element assembly 7 formed by superposing the two disk substrates 8 and 9 on each other via a photosetting adhesive 10 interposed therebetween is to be mounted, is measured by a temperature measuring instrument 13. - 特許庁

そして、表面温度が２５±１０℃の範囲内となるように、前記フレーム体２を断熱材２ｄで被覆することで、被測定物５による熱放射から前記フレーム体２を断熱して熱膨張を防止する。例文帳に追加

The frame body 2 is insulated from heat radiation by the measuring object 5 by coating the frame body 2 with an insulating material 2d so that a surface temperature is within a range of 25±10°C, to thereby prevent thermal expansion. - 特許庁

本装置は光ファイバセンサ１０８，１０９のブリルアン散乱により温度、変位量を測定し、表面プラズモン共鳴光ファイバセンサ１１０によりｐH、水分、酸素、水素を測定して、人工バリア環境モニタリングを可能にする。例文帳に追加

In this device, a temperature and a displacement amount are measured by Brillouin scattering of optical fiber sensors 108, 109, and pH, moisture, oxygen and hydrogen are measured by a surface plasmon resonance optical fiber sensor 110, to thereby enable artificial barrier environmental monitoring. - 特許庁

高圧配電盤等の高電圧主回路の電圧を測定するための、量産性が高く、かつ温度特性に優れ、さらに汚損・吸湿等による表面抵抗の変化に対して測定精度が低下しない抵抗素子及び抵抗素子を用いた電圧センサを提供することを目的としている。例文帳に追加

To provide a resistive element and a voltage sensor using the resistive element, of high mass-productivity, excellent temperature characteristics, with no degradation in measurement precision depending on changes of surface resistance caused by contamination, moisture absorption, etc., to measure the voltage of a high-voltage main circuit of a high-voltage distribution panel, etc. - 特許庁

表面プラズモン共鳴等による全反射減衰を利用したセンサーにおいて、Ｓ／Ｎを悪化させることなく、測定チップに入射する光ビームの総光量を低減して、試料液の温度上昇を抑制し、全反射減衰の状態の測定精度を向上する。例文帳に追加

To inhibit the rise of a temperature of the sample liquid and to improve the measuring accuracy under a condition of the attenuated total reflection in a sensor utilizing the attenuated total reflection by the surface plasmon resonance and the like, by reducing the total light intensity of the optical beam entering into a measurement chip without impairing S/N. - 特許庁

ウェーハの一側表面に配置され、温度によって電気伝導度が変化する少なくとも１つの導電体構造物と、ウェーハを中心に、導電体構造物と対向して設置された磁場生成部と、導電体構造物の上方に設置される磁場測定センサーとを備えることを特徴とするウェーハ温度測定装置。例文帳に追加

A wafer temperature measurement device comprises at least one conductor structure which is arranged on the surface of one side of wafer and in which electric conductivity is changed by temperature, a magnetic field formation portion centered around the wafer and provided in opposition to the conductor structure, and a magnetic field measurement sensor provided above the conductor structure. - 特許庁

熱間状態で移動している形鋼の表面から発する輻射光を測定する光学検出装置と、この光学検出装置が測定し２次元輝度画像データを２次元温度データを変換するデータ変換部と、２次元温度データに基づいて形鋼の疵発生位置を検出する検出するデータ演算処理部を備えている。例文帳に追加

This device is equipped with an optical detector for measuring radiation light emitted from the surface of the shape steel moving in a hot condition, a data conversion part for converting two-dimensional luminance image data measured by the optical detector into two-dimensional temperature data, and a data processing part for detecting a flaw occurrence position of the shape steel based on the temperature data. - 特許庁

グロー放電掘削装置１は、グロー放電管２に放射温度測定器３０の赤外線センサ３１を併設し、グロー放電に伴うスパッタリングで掘削される試料表面から放射される赤外線をスパッタリングに伴う発光が生じていないときに赤外線センサ３１で受光して、試料Ｓの掘削箇所の温度を測定する。例文帳に追加

This glow discharge excavation device 1 is provided with an infrared sensor 31 of a radiation temperature measuring instrument 30 in parallel to a glow discharge tube 2, and receives an infrared ray radiated from a sample surface drilled by spattering accompanied to the glow discharge, by the infrared sensor 31, when light emission is not generated accompanied to the spattering, to measure the temperature of the excavated portion in the sample S. - 特許庁

高周波電流を測定可能な高速のＡ／Ｄ変換器を必要とすることなく、かつモードに関係なく、かつ電流測定回路をプローブ内の複数の振動子の各々ごとに必要とすることなく、消費電力算出、温度予測を行ってプローブ表面温度が安全規格内に収まるように制御する。例文帳に追加

To settle a probe surface temperature within a safety standard by calculating power consumption and predicting a temperature without the need of a high-speed A/D converter capable of measuring a high frequency current, regardless of a mode, and without the need of a current measuring circuit for each of a plurality of vibrators inside a probe. - 特許庁

その概要は、誘導コイル及び／又はストレッチ・レデューサの出側で、通過する素鋼管の同一外周上の複数箇所で表面温度を測定し、その測定値の最低値及び最高値を除いた算術平均値が目標温度に一致するように、前記誘導コイルに流す電力量を調整するものである。例文帳に追加

The outline of the method is as follows: the surface temperature of the tube stock is measured at a plurality of positions on the same outer circumference of the passing tube stock in the outlet side of the induction coil and/or the stretch reducer; and the amount of power flowing into the induction coil is adjusted so that the arithmetic average calculated excluding the highest and lowest values of the measured temperatures conforms to a target one. - 特許庁

そして、算定された放射率と、フラッシュ光照射が開始された後に測定された半導体ウェハーの表面からの放射光の強度と、に基づいてフラッシュ光照射によって加熱された半導体ウェハーの表面の温度を算定する。例文帳に追加

Subsequently, the heat treatment apparatus calculates the temperature of the surface of the semiconductor wafer heated by the flash light irradiation based on the calculated emissivity and the intensity of radiation light emitted from the surface of the semiconductor wafer measured after the start of the flash light irradiation. - 特許庁

モリブデンを成膜した参照試料表面を加熱用レーザビームにより加熱し、この加熱位置に加熱用レーザ径より小さな測温用レーザを照射し、検出したサーモリフレクタンス信号光に基づいて参照試料表面の温度変化の振幅を測定する。例文帳に追加

A reference sample surface having a molybdenum film formed thereon is heated with a heating laser beam, a temperature measuring laser smaller in diameter than the heating laser is emitted to the heated position, and the amplitude of temperature change of the reference sample surface is measured based on a detected thermo-reflectance signal light. - 特許庁

該電子写真感光体の最表面層を周波数１［Ｈｚ］温度２５［℃］の条件で動的粘弾性測定を行った際における貯蔵弾性率Ｅ'［Ｐａ］が、３．５×１０^９≦Ｅ'≦６．０×１０^９であり、さらに、該最表面層が酸化防止剤を含有することを特徴とする画像形成装置。例文帳に追加

The image forming apparatus is characterized in that a storage modulus of elasticity E'[Pa] is 3.5×10^9≤E'≤6.0×10^9, when the dynamic viscoelasticity measurement of the outermost surface layer of the electrophotographic photoreceptor is performed under the conditions of the frequency being 1[Hz] and the temperature being 25 [°C], and that the outermost surface layer contains antioxidant. - 特許庁

鋳型内の溶鋼を移動磁場によって水平方向に旋回させながら鋳造する連続鋳造工程において、鋳型銅板温度の測定値に基づいてオンラインで鋳片表面の欠陥の発生を判定することのできる表面欠陥判定方法を提供する。例文帳に追加

To provide a surface defect-determining method, in a continuous casting process in which a molten metal within a mold is cast while being whirled horizontally by a moving magnetic field, which can judge the occurrence of the defect in the surface of a slab on-line based on the measured value of the temperature in each mold copper plate. - 特許庁

流体の流量を測定する素子部と、該素子部の入出力信号を制御する回路部より構成され、加熱温度３５０℃以上，７００℃以下で制御されるガス流量計であって、該素子部の表面に形成されている保護コートが、排気ガス中に含まれるＰＭ成分の付着を防止する温度まで加熱可能な耐熱温度を有するガラスであることを特徴とするガス流量計である。例文帳に追加

A protective coating, formed on the surface of the element part, is glass having heatresistant temperature, which enables heating up to a temperature capable of preventing adhesion of a PM component contained in an exhaust gas. - 特許庁

一方、測定された温度が予め設定された温度範囲内にないときは、決定された回転速度で上下定着ローラを回転させることにより、定着ローラの表面温度を制御することにより、定着装置が保持する熱エネルギー量が大きい場合でも、オーバーシュートの発生を防止する。例文帳に追加

When the measured temperature is not within the previously set temperature range, on the other hand, the upper and lower fixing rollers are rotated at the determined rotating speed to control the surface temperature of the fixing rollers, so that even when the heat energy quantity that the fixing device holds is large, overshooting is prevented from occurring. - 特許庁

半導体基板上にエピタキシャル層を成長させる気相成長方法において、予め半導体基板の室温におけるキャリア濃度を測定し、該半導体基板のキャリア濃度に関わらず実際の基板の表面温度が所望の温度となるように、前記室温におけるキャリア濃度に応じて基板の設定温度を制御し、エピタキシャル層を成長させるようにした。例文帳に追加

The method for vapor growth of growing the epitaxial layer on a semiconductor substrate comprises growing the epitaxial layer by measuring previously the concentration of a carrier of the semiconductor substrate at a room temperature and then by controlling a set temperature of the substrate responding to the carrier concentration at the room temperature so that a real surface temperature of the substrate may become a desired temperature regardless of the carrier concentration of the semiconductor substrate. - 特許庁

高温部品の表面に施されたＴＢＣの熱伝導率の経年的な変化と運転時間（曝露時間）ｔおよび運転温度（曝露温度）Ｔとの相関を求め、この相関に基づいて運転前および運転後の熱伝導率の測定値と運転時間ｔとからＴＢＣの運転温度Ｔを推定する。例文帳に追加

A correlation is computed between a secular change in thermal conductivity of a TBC applied to a surface of a high temperature part, an operating time t (exposure time) and an operating temperature T (exposure temperature), and according to the correlation, the operating temperature T of the TBC is estimated from measured values of thermal conductivity before and after an operation and the operating time t. - 特許庁

母材上にセラミック層が形成された高温部材の温度を推定する方法において、前記セラミック層に生成される単斜晶の量もしくは膜状欠陥の面積率もしくは硬さを測定することにより、セラミック層の表面温度を推定することを特徴とする高温部材の温度推定方法。例文帳に追加

In the method of estimating the temperature of a high- temperature member comprising a ceramic layer on a matrix, the method of estimating the temperature of a high-temperature member estimates the surface temperature of the ceramic layer by measuring either the content of the monoclinic system or the area ratio of membraneous defects formed on the ceramic layer, or hardness of the ceramic layer. - 特許庁

単結晶や坩堝壁からの輻射熱の影響をできるだけ小さくし、融液表面温度を安定的に、正確に測定し得る温度センサーを備えた単結晶引き上げ装置の提供と、輻射スクリーンと融液表面との間隔を常に一定値に制御可能な単結晶引き上げ方法の提供にある。例文帳に追加

To provide a single crystal pulling device equipped with a temperature sensor capable of stably and accurately measuring the temperature of the surface of a melt while suppressing the effects of radiation heat from a single crystal and the wall of a crucible and to provide a single crystal pulling method by which the distance between a radiation screen and the surface of the melt is always controlled to be a constant value. - 特許庁

構造物の外表面に接触させることにより、当該構造物に超音波振動を与える超音波振動発生装置と、構造物中の測定対象面に発生する温度変化を、赤外線サーモグラフィ装置で計測する表面温度検出手段とを備えていることを特徴とする赤外線亀裂検出装置。例文帳に追加

The apparatus includes an ultrasonic vibration generating device that makes contact with an outer surface of a structure and imparts ultrasonic vibration to the structure; and a surface temperature detecting means for, by the use of an infrared thermographic device and measuring changes in the temperature on a surface to be measured inside the structure. - 特許庁

本発明では、遠隔観測により測定した参照物体の表面温度及び岩盤斜面の各地点の表面温度を用いることで評価精度を高めると共に岩盤斜面の各地点においてきめ細かく評価することが可能な岩盤斜面安定性評価方法及びその装置を提供するものである。例文帳に追加

To provide a rock bed slope stability evaluation method and a device therefor, with evaluation accuracy enhanced by using surface temperature of a reference body measured by remote observation and surface temperature of a rock bed slope at respective points thereof, and with meticulous evaluation performed at respective points of the bed slope. - 特許庁

温度放射平衡の状態にある燃焼窯内においても焼結プロセスが監視可能になるようこの種の方法を実行するために、物理および／または化学プロセス（１２）中に表面放射線（１３）とは異なった放射スペクトルを有する放射線（１４）を放射源（１５）から表面（１０）上に放射させ測定装置（１６）によって測定する。例文帳に追加

In order to execute such the method so as to monitor a sinter process even in a combustion kiln in a temperature radiation equilibrium state, a radiation ray 14 having a radiation spectrum different from a surface radiation ray 13 is radiated from a radiation source 15 onto the surface 10 and is measured by the measurement instrument 16 during the physical and/or chemical process 12. - 特許庁

このため、現像バイアス回路７０ａの発生電圧を表面電位測定回路基準に補正することが可能になり、この補正を適宜行うことによって、複数のバイアス検出部を使用することに起因するばらつき、及び温度変化に伴う検出結果の変化をすべて表面電位測定系基準に補正することが可能となる。例文帳に追加

Therefore, the generated voltage of the developing bias circuit 70a can be corrected into a surface potential measuring circuit reference and this correction is appropriately performed, thereby correcting variations caused by using a plurality of bias detection sections and all changes in a result of detection with temperature changes into a surface potential measuring system reference. - 特許庁

識別される表面測定領域のイメージゾーンの可視および不可視表示の捕捉と、ビデオによる測定領域のパノラマ式表示にわたる温度表示を伴う、熱画像の可視表示と赤外線表示の相対的表示とによって、遠隔面の測定領域の視覚化および表示のためのシステムおよび方法が記載されている。例文帳に追加

A system and a method are described for visualization and for display of remote surface measurement areas by capture of both visible and invisible views of image zones of an identified surface measurement area and the mutual display of visible and infrared views of thermal images with temperature indication across a panoramic view of the measured area by video. - 特許庁

ウエブ状の被乾燥物１２に、レーザー照射手段１４からレーザー光を照射すると共に、該被乾燥物１２の乾燥状態を評価する残留水分量や被乾燥物１２の表面温度を測定手段１１で測定し、その測定値と予め設定した設定値とのズレがなくなるように、レーザー照射手段４のレーザー出力をフィードバック制御するように構成する。例文帳に追加

The laser beam is applied to a web-shaped dried object 12 from a laser irradiation means 14, the quantity of remaining moisture and a surface temperature of the dried object 12 are measured by a measuring means 11 to evaluate a drying condition of the dried object 12, and laser output of the laser irradiation means 4 is feedback-controlled to eliminate the difference between the measured value and a predetermined set value. - 特許庁

光表面起電力を用いたシリコンウエハに含まれる不純物金属濃度の測定において、測定される少数キャリア拡散長とアクティベーションから測定までの経過時間、抵抗率及び温度との間に依存関係がある場合に、それらを考慮した補正を行うことによって、不純物金属濃度を算出する方法を提供する。例文帳に追加

To provide a method for calculating impurity metal concentration by conducting correction considering relationship of dependence, if it exists, among minority carrier diffusing length to be measured, passage time up to measurement from activation, resistivity and temperature in the measurement of concentration of impurity metal included in a silicon wafer using electromotive force at the surface of light. - 特許庁

表面分析装置は、スーパーコンティニューム光を放射する光源１０と、ＳＣ光を測定光と参照光とに分割する光ファイバカプラ１１と、ミラー１２と、ミラー１２を移動させる駆動装置１３と、測定光と参照光との干渉波形を測定する受光手段１４と、干渉波形から測定物の温度および表面状態を分析する干渉波形解析手段１５と、によって構成されている。例文帳に追加

The surface analyzer is constituted of: a light source 10 emitting supercontinuum light; an optical fiber coupler 11 dividing the SC light into measuring light and reference light; a mirror 12; a driving device 13 moving the mirror 12; a light-receiving means 14 measuring an interference waveform between the measuring light and the reference light; and an interference waveform analysis means 15 analyzing a temperature and surface condition of the object to be measured from the interference waveform. - 特許庁

表面に５０μｍ以上の凹凸が観測されないように多数の樹脂微粒子１が並べられた樹脂微粒子１の表面に、接触角測定温度での表面張力が水より大きい液体の液滴２を形成し、液滴２の樹脂微粒子１に対する２０℃における接触角３が１５０°以下である液晶表示用スペーサである。例文帳に追加

The spacer for liquid crystal display is characterized in that a droplet 2 of liquid which has larger surface tension than water at contact-angle measurement temperature is formed on the surfaces of many resin particulates 1 arranged so that unevenness of ≥50 μm on the surfaces thereof are not observed and the contact angle 3 of the droplet 2 to the resin particulates 1 at 20°C is ≤150°. - 特許庁

鋼板またはめっき鋼板に樹脂皮膜が形成されている表面処理鋼板であって、前記樹脂皮膜について、粘度グレードＩＳＯ ＶＧ４６０のギヤ油を用いて鋼板表面温度１８０℃で接触角を測定した場合、前記ギヤ油の接触角が１５°以上である耐熱離型性に優れた表面処理鋼板。例文帳に追加

A surface treated steel plate of superior heat-resistant release properties is formed of a steel plate or a plated steel plate with a resin film formed thereon, and the contact angle of gear oil is 15° or more in the case of measuring the contact angle at 180°C steel plate surface temperature by using the gear oil of a viscosity grade of ISO VG460. - 特許庁

連続鋳造機の二次冷却帯での力学的条件と鋼の高温延性低下とに起因して発生する鋳片表面割れを、二次元的な鋳片表面温度の測定を必要とせず、しかも高価な計算装置を使用しなくても適確に予測することのできる表面割れ予測方法を提供する。例文帳に追加

To provide a method for predicting a surface crack where the surface crack of a slab caused by the dynamic conditions in a secondary cooling zone of a continuous casting machine and deterioration in the ductility of a steel at high temperature can be accurately predicted without requiring the two-dimensional measurement of the temperature in the slab surface and also without using an expensive calculating apparatus. - 特許庁

剥離状態のライニング層に起因して発生する、ライニングタンク内表面または外表面への熱伝達速度の不均等による表面温度分布を、赤外線サーモグラフィを用いて測定することにより、該ライニング層の浮き部を検出することを特徴とするライニングタンクの非破壊検査方法。例文帳に追加

The non-destructive inspection method of the lining tank is characterized in that the flotation part of the lining layer is detected by measuring the surface temperature distribution caused by the unequal of the heat conductive speed to the inner or outer surface of the lining tank, which is produced caused by the lining layer remaining peeled off, using infrared thermography. - 特許庁

発電中の太陽電池アレイについて、該太陽電池アレイを構成する太陽電池モジュールの表面の温度分布を太陽電池モジュールの集合体ごとに測定することにより、電気的欠陥を有する太陽電池モジュールを検出する。例文帳に追加

In the solar battery arrays during generating power, the temperature distribution on the surfaces of solar battery modules consisting of the solar battery arrays is measured for each assembly of solar battery modules, thereby detecting the solar battery module having electric defects. - 特許庁

樹脂注型用金型の表面温度を測定することにより、エポキシ樹脂組成物の反応発熱量を計測し、このデータから硬化物の最適脱型時間を算出して加熱制御を行うエポキシ樹脂の注型成形方法を提供する。例文帳に追加

To provide a method of cast-molding an epoxy resin while controlling heating by measuring a surface temperature of a resin casting mold to determine the reaction heating quantity of an epoxy resin composition and calculating optimal demolding time for the hardened product on the basis of resultant data. - 特許庁

表面プラズモンを利用したセンサ素子、特に測定感度に影響を与えることが少なく環境温度の変化を受けにくい、保護層または標的物質に捕捉するための感応層を担持する中間層を備えたセンサ素子及びその製造方法を提供する。例文帳に追加

To provide a sensor element using a surface plasmaon, having an intermediate layer carrying a protective layer or a sensitive layer for capturing target material without any influence on the measuring sensitivity and being susceptible by a change in the environment temperature. - 特許庁

この素子本体支持手段は、保護管部７の内径とほぼ同じ幅寸法の平板状に形成されてその表面に素子本体８、温度測定用白金細線１０及びリード線４を固定した状態で保護管部７内に隙間無く挿入された支持板部９で構成した。例文帳に追加

The element body supporting means is formed of a support plate section 9 that is formed in a flat plate shape of substantially the same width as the inner diameter of the protection pipe section 7 and is inserted into the protection pipe section 7 without clearance while the element body 8, a platinum fine wire 10 for temperature measurement, and the lead wire 4 are fixed to its surface. - 特許庁

さらに、バーンインを行うことにより、不良半導体が発生したとき、不良が発生した半導体装置の不良アドレスを連続的にアクセスし、前記赤外線センサ１ｂより測定された上記半導体装置の表面温度分布から不良半導体装置の不良箇所を特定する。例文帳に追加

By conducting burn-in, a defect address of the semiconductor device in which a defect is generated is accessed continuously, when the defective semiconductor is generated, and a defective portion of the defective semiconductor device is specified based on a surface temperature distribution of the semiconductor device measured by the infrared sensor 1b. - 特許庁

本発明は微小な領域を温度制御する方式、集積回路微細加工技術を用いたいわゆるＭＥＭＳ（Micro Electro Mechanical System）技術を用いて迅速に精度高く蒸気密度を制御し雰囲気の蒸気密度を検出することによって物体表面の脱吸着する物質量を測定することができる。例文帳に追加

To use a method for controlling a temperature of a minute area, the so-called MEMS (micro-electromechanical system), based on an integrated circuit fine processing technology, to control the steam density quickly and accurately, and to measure the amount of a substance to be adsorbed by/desorbed from the surface of an object by detecting the steam density in the atmosphere. - 特許庁

これによって、被測温体９０と接触板３０の接触面積が不足しているか否かを検出することができ、被測温体９０と接触板３０の接触面積の不足による被測温体の表面温度の誤測定を防止することができる。例文帳に追加

Whether there is a shortage of contact area between the object 90 and the contact plate 30 can be thereby detected, and false measurement of the surface temperature of the object caused due to shortage of the contact area between the object 90 and the contact plate 30 is prevented. - 特許庁