「DEFECT OR」に関連した英語例文の一覧と使い方(39ページ目) - Weblio英語例文検索

Addresses or the like of finally obtained defective pixels are stored in a non-volatile memory 300, and defect correction processing is executed based on information of defective pixels stored in the non-volatile memory when an image is actually outputted.例文帳に追加

そして、最終的に得た欠陥画素のアドレス等を不揮発性メモリ３００に記憶させ、実際の画像出力時に、この不揮発性メモリ３００に記憶した欠陥画素の情報に基づいて欠陥補正処理を実行する。 - 特許庁

The chip selection circuit activates defect detecting and repairing circuits, such as a repair circuit or a test time shortening circuit, when at least one signal out of output signals of the plurality of data input buffer circuits is in a first logic state.例文帳に追加

チップ選択回路は複数のデータ入力バッファ回路の出力信号のうち少なくとも一つが第１論理状態の時、リペア回路またはテストタイム短縮回路のような不良検証及び改善回路を活性化させる。 - 特許庁

To provide a gravure platemaking apparatus for producing a gravure plate for high-quality gravure printing, by which cells formed in a gravure plate to be used for gravure printing can express smooth gradation and the plate has high register accuracy and no defect by dust or the like.例文帳に追加

グラビア印刷に用いるグラビア版のセルの形成が滑らかな階調が表現でき、且つ、高い見当精度とゴミなどによる欠陥の無い高品質のグラビア印刷用のグラビア版を作製するグラビア製版装置を提供する。 - 特許庁

To enable an inspection to check whether defect such as a flaw exists or not on a synthetic resin film main body under a display to be easily performed in a synthetic resin film for packaging on which the display is printed.例文帳に追加

表示が印刷されてなる包装用合成樹脂製フィルムにおいて、表示下の合成樹脂製フィルム本体に傷などの欠陥が存在するか否かを容易に検査しうる包装用合成樹脂製フィルムを提供する。 - 特許庁

To desirably provide a mold for molding a molding rubber and a method for manufacturing a molding rubber molded article made by using the mold effective to prevent a fault due to a defect or the like particularly in the case of manufacturing the molding rubber molded article of a large capacity.例文帳に追加

特に大容量のモールドゴム成型品を製造する際の欠損等による不良の防止にきわめて有効であるモールドゴム成型用金型と、これを用いてなるモールドゴム成型品の製造方法の提供が望まれている。 - 特許庁

To provide an iron member 32 and a soldering robot capable of effectively soldering four or more rows of to be soldered parts, and suppressing generation of a soldering defect which is caused by excess adhesion of solder.例文帳に追加

４列以上のハンダ付け箇所に対するハンダ付けを効率的に行うことができるとともに、過剰なハンダ付着などに起因したハンダ付け不良の発生を抑制することができるコテ部材３２及びハンダ付けロボットを提供する。 - 特許庁

To prevent a display device from decreasing in yield or reliability owing to a defect in contacting of a contact plug connecting mutually different wiring layers to each other in a peripheral driving circuit area which is narrower in wiring width than a display area of the display device.例文帳に追加

表示装置における表示領域よりも配線幅の狭い周辺駆動回路領域において、互いに異なる配線層間を接続するコンタクトプラグの接触不良による歩留りや信頼性の低下を防止する。 - 特許庁

Resist patterns corresponding to at least two exposure shots are extracted, and the resist pattern corresponding to at least one shot is compared with a master pattern as an inspection reference so as to inspect whether a defect is present in the resist pattern or not and to extract a defective portion.例文帳に追加

ここでは、レジストパターンを少なくとも２ショット分取り出し、この内の少なくとも１ショット分のレジストパターンと、検査の基準となるマスタパターンとを比較して上記レジストパターンの欠陥の有無を検査し欠陥個所を抽出する。 - 特許庁

To provide a surface inspection method for a scarfed steel material, capable of certainly detecting a defect such as a non-scarfed part or a molten drip remaining on the surfaces of the steel material whose surfaces are scarfed with high accuracy, and to provide an inspection device used for the same.例文帳に追加

表面を溶削された鋼材の表面に残留する湯だれや未溶削部などの欠陥を精度良く確実に検出できる溶削済み鋼材の表面検査方法、およびこれに用いる検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a technique for preventing a problem such as deterioration due to a defect of an image or the like due to truncation with a simple circuit even when encoding processing incapable of truncation is used for compression processing of gradation data.例文帳に追加

階調データの圧縮処理に、打ち切りのできない符号化処理を用いた場合であっても、簡単な回路にて、打ち切りによる画像の欠損等による劣化などの問題を防止する為の技術を提供すること。 - 特許庁

In this way, the defect or foreign matter of the groove structure is inspected by optical scatterometry technology.例文帳に追加

スキャトロメトリ法ではプローブ光の入射角を変化させるなど、これまでの磁気ディスク検査装置にはない煩雑な測定が必要であるが、上述したように複数個の光源や光ディテクタを用いる等、測定時間短縮の手段も提供できる。 - 特許庁

To provide a pressure-sensitive adhesive for a pressure-sensitive adhesive layer in a volume hologram laminate without much causing a spotted hologram defect in the volume hologram layer when the volume hologram laminate is stored in a pressurized state as in storage or the like.例文帳に追加

本発明は、保管時等の加圧された状態での保存によっても体積ホログラム層に斑状のホログラム欠陥が生じることの少ない体積ホログラム積層体における粘着剤層用粘着剤の提供を課題とする。 - 特許庁

In some embodiments, the present invention provides the method of repairing a cartilage defect in a patient comprising the step of administering into the cartilage or into the area surrounding the cartilage the composition comprising a therapeutically effective amount of the morphogenic protein.例文帳に追加

いくつかの実施形態では、本発明は、軟骨または軟骨周囲領域に治療有効量の形態形成タンパク質を含む組成物を投与する工程を含む、患者の軟骨欠損の修復方法を提供する。 - 特許庁

To provide a conductive particle which improves a defect of conductive particle for anisotropic conductive connection covered with conventional thermoplastic resin or conventional thermosetting resin, even though the surface is covered with insulation resin.例文帳に追加

絶縁性樹脂で表面が被覆されているにもかかわらず、従来の熱可塑性樹脂や熱硬化性樹脂で被覆された異方性導電接続用導電性粒子の欠点を改善した導電性粒子を提供する。 - 特許庁

To prevent a defect such as a fatigue fracture or cracks in spite of existence of bolts 4a used for connection between a pair of brake disks 2a and a rolling stock wheel 1, and to stabilize a friction state.例文帳に追加

一対のブレーキディスク２ａ、２ａと鉄道車両用車輪１との結合に使用するボルト４ａ、４ａの存在に拘らず、疲労破壊や欠け等の欠陥を生じる事を防止すると共に、摩擦状態を安定させる。 - 特許庁

To eliminate a defect that a heat roller in a fixing device may be easily damaged due to the stuck or contact of toner (toner offset toner) and paper powder transferred from sheets and to prevent the winding of paper around the heat roller easily as compared with a conventional method.例文帳に追加

用紙から転移したトナー（トナーオフセットトナー）や紙粉の堆積、接触により定着装置の加熱ローラが傷付き易いなどの欠点を解消し、用紙の加熱ローラへの巻き付きを、従来に比してより容易に防止する。 - 特許庁

When a plurality of similar defects are detected at the same positions or close positions of a plurality of sheetlike inspection objects, similarly the defect inspection method also excludes the defects by determining that the defects are not caused by inherent matters of the inspection objects.例文帳に追加

欠陥検査方法も同様に、複数枚の検査対象物に亘って、同一又は近似の位置に同様の欠陥が複数検出された場合に、当該欠陥を検査対象物起因の欠陥でないと判断して除外した。 - 特許庁

To provide a sodium-chloride type transition metal carbide single crystal substrate that increases lattice matching property with a (0001) or (000-1) plane of a nitride semiconductor crystal such as GaN and that allows epitaxial growth of a nitride semiconductor crystal with little defect.例文帳に追加

GaNなどの窒化物半導体結晶の(0001)又は(000-1)面との間の格子整合性を高めて、低欠陥の窒化物半導体結晶をエピタキシャル育成可能な岩塩型遷移金属炭化物単結晶基板を提供する。 - 特許庁

To provide an optical communication module that suppresses initial stage defect due to contamination of an optical element, that has a high photosensitivity when using a silicon based photo diode or a gallium arsenide based photo diode, and that enables near infrared light to be used for communication.例文帳に追加

光素子の汚染による初期不良を抑え、さらにシリコン系のフォトダイオードやガリウム砒素系のフォトダイオードを用いた場合に受光感度が高い、近赤外の光を通信用に使用可能とする光通信モジュールを提供する。 - 特許庁

To provide the configuration of a semiconductor device for suppressing any influence due to defect factor impurity such as carbon, nitride or oxygen in a semiconductor device including point defects for adjusting a reverse recovery time and a method for manufacturing this semiconductor device.例文帳に追加

逆回復時間を調整するための点欠陥を含む半導体デバイスにおいて、炭素，窒素または酸素などの欠陥要因不純物による影響を抑えるための半導体デバイスの構成とその製造方法を提供する。 - 特許庁

To obtain defect-free, smooth and excellent circumferential weld bead by the pulse arc welding or DC arc welding using non-consumable electrode on a groove joint of thick tubular members in which bead joint for each multilayer sequence welding and each welding pass is required.例文帳に追加

多層盛溶接及び溶接パス毎のビード継ぎが必要な厚板管材の開先継手に対して、非消耗性電極のパルスアーク溶接又は直流アーク溶接により欠陥のない平滑で良好な円周溶接ビードを得る。 - 特許庁

By having the polyimide orientation film on the TFT array board irradiated with the rays of wavelength of 180 nm or shorter, the defect orientation film on the TFT array board can be completely removed, without giving adverse effects to the characteristics of the TFT.例文帳に追加

本願発明の方法によれば、１８０ｎｍ以下の紫外線を照射することで、ＴＦＴ特性に悪い影響を与えることなく、ＴＦＴアレイ基板上の欠陥配向膜を完全に除去することができる。 - 特許庁

To provide a defect part marking method and a device capable of replacing a marker pen and replenishing ink quickly and continuously, when marking a surface or inside flaw position on the surface of an inspection material such as a thin steel plate.例文帳に追加

薄鋼板等の被検査材表面に、表面または内部の疵位置をマーキングするにあたり、迅速かつ連続にマーカーペンの交換またはインクの補充ができる欠陥部マーキング方法および装置を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide a power generating device that prevents driving torque on a driving machine side from being excessive, or, in the event of the occurrence of a defect due to excessiveness of the driving torque, minimizes the influence, and facilitates later maintenance.例文帳に追加

駆動機側の駆動トルクが過大となることを防止し、あるいは、万が一、駆動トルクが過大となりそれによる不具合が発生してもその影響を極力小さくせしめ、後のメンテナンスの容易な発電装置を提供する。 - 特許庁

To provide a synthetic quartz glass substrate having high flatness to perform fine drawing as well as having a substrate surface with less defect and minimal surface roughness, as a synthetic quartz glass substrate for a photomask used in a photolithography process or the like.例文帳に追加

光リソグラフィー法等で使われるフォトマスク用合成石英ガラス基板として、平坦度が良く微細な描画を行うことができ、かつ基板表面が低欠陥で面粗さの小さい合成石英ガラス基板を提供する。 - 特許庁

Reconfiguring the TS signals improves the C/N deterioration to eliminate a defect of applying power amplification to deteriorated signals and retransmitting the amplified deterioration signals even on the occurrence of the deterioration in the signals on a propagation path or from the relaying apparatus.例文帳に追加

ＴＳ信号を再構成することにより、Ｃ／Ｎ劣化を改善し、これにより伝搬路上又は中継装置で信号の劣化が発生しても、これを電力増幅して再送出してしまうような不具合を解消する。 - 特許庁

When experiencing a defect in brake, one of the three-way valves 20 and 22 is switched into the second state and the brake system in downstream is exposed to atmosphere, so that a brake actuator 16 or 18 does not operate.例文帳に追加

そして、ブレーキ失陥を体験するときには、三方向バルブ２０及び２２の一方を第２の状態に切り替え、その下流に位置するブレーキ系統を大気開放してブレーキアクチュエータ１６又は１８が作動しないようにする。 - 特許庁

For example, when linear defective patterns 1, 2 and cursor patterns 3, 4 are superimposed, a linear defect is easily distinguished from the cursor or the background picture because the linear defective pattern is superimposed through parts where the cursor pattern is cut off.例文帳に追加

例えば、線欠陥パターン１、２とカーソルパターン３，４を重ね合わせたときに、カーソルパターンが切れている部分を通して、線欠陥パターンを重ね合わせることができるために、線欠陥とカーソルまたは背景画面との区別がつきやすい。 - 特許庁

As a result, the stress applied to the organic EL element due to the application of the inverse bias is reduced, so that it is possible to restrain a change in characteristic of the organic EL element or dark dot defect due to the stress.例文帳に追加

その結果、逆バイアスがかかることによって有機ＥＬ素子に与えられるストレスを軽減できるため、当該ストレスに起因して有機ＥＬ素子の特性が変化したり、滅点となったりするのを抑えることができる。 - 特許庁

To provide an information display device prevented from having an operation defect or getting out of order by securely discharging water from the device even when the device is installed outdoors to be weather beaten, and a large amount of water enters the device.例文帳に追加

屋外に設置されるために雨曝しとなり、大量の水が浸入することになっても、確実に装置外へ排出することで、動作不良を防止すると共に故障を防止することが可能な情報表示装置を提供する。 - 特許庁

To provide a folding-back bladder monitoring system which can early detect the occurrence of abnormality and prevent a failure due to the folding-back defect even when the abnormality occurs in an internal pressure for supplying a bladder or the bladder deteriorates with age.例文帳に追加

ブラダに供給する内圧に異常が発生したり、ブラダが経時変化したりしても、その異常発生を早期に検出し、折返し不良に起因する不良を防止することのできる折返しブラダ監視システムを提供する。 - 特許庁

To provide a silicon epitaxial wafer and a production method therefor, with which the defect level of haze or LPD of an expitaxial layer is reduced and oxygen deposition is controlled in a state before putting into the device process of low temperature and short time.例文帳に追加

低温・短時間化されたデバイスプロセスに投入する前の状態で、エピ層のヘイズ、ＬＰＤ等の欠陥レベルが低減され、かつ酸素析出が制御されたシリコンエピタキシャルウエーハならびにその製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor member whose productivity is excellent and whose quality is high without the influence of any flow pattern defect or COP(crystal originated particles) at the time of obtaining a single crystal semiconductor layer whose crystallinity is excellent on a substrate such as an insulating substrate.例文帳に追加

絶縁性基板等の基体上に結晶性に優れた単結晶半導体層を得るうえで、生産性等に優れ、フローパターンディフェクトやＣＯＰ（Crystal OriginatedParticles）の影響を受けない高品質な半導体部材を提供する。 - 特許庁

A defect in which the edge of the blade is caught in the structure such as concrete when weeding operation is carried out in the corner part of the structure such as concrete or in the corner part between the structure and the ground is solved by additionally providing these corner guides 1.例文帳に追加

これらコーナーガイドの付設により、コンクリート等の構造物の角部や構造物と地面との角部で除草作業をする際、各種の角部で刃先がコンクリート等の構造物に引っ掛かるという欠点を解消した。 - 特許庁

To provide an electrode-wiring material which does not cause a heat defect such as a hillock and a void even when heated to a high temperature of 350°C or higher, has low electric resistance, is inexpensive, has high reliability, and is suitable for densifying an electron device, and to provide a sputtering target.例文帳に追加

３５０℃以上の高温でもヒロックやボイドなどの熱欠陥が発生せず、電気抵抗が低く、安価で信頼性が高く、電子デバイスの高密度化に適した電極配線材料、及び、スパッタリングターゲットを提供する - 特許庁

Or the defective capacitance in the display abnormality of a pixel can be revised, by preparing a switching element for repair in the pixel and by cutting off a defective switching element, when a defect is generated in the switching element and by connecting the switching element for repair, instead of the defective switching element.例文帳に追加

または補修用スイッチング素子を画素内に準備しておきスイッチング素子に欠陥が生じた場合欠陥スイッチング素子を切り離し補修用スイッチング素子を接続して画素の表示異常の不具合品を手直しできる。 - 特許庁

To provide the manufacturing method and the frequency adjusting method of a piezoelectric resonator, which can precisely adjust a frequency without the occurrence of the defect of cracks or chippings.例文帳に追加

高い周波数の圧電共振子を製造する場合、セラミック基板の厚みが薄くなるため（ＭＨｚ帯の時、数百μm以下）、ラップ研磨を用いる機械的周波数調整方法では、割れや欠けを生じ、厚み精度０．１％が限界である。 - 特許庁

As a result, a deformation and a failure of the ceramic member 11 started from outer periphery of blazing layer 21 can be prevented, because there are no notched part, no stress concentration, or no filling defect of blazing filler on the outer periphery surface of bonding surface.例文帳に追加

この結果、接合面の外周縁に切欠溝が存在せず、応力集中もロー材層の充填不良箇所もないから、ロー材層２１の外周縁が起点となってその変形やセラミック部材１１の破損も防止できる。 - 特許庁

To provide a polyester film having a good optical performance, without having an unevenness or a defect on using it as a member of an LCD, a PDP (plasma display panel), an organic EL, a projection display, etc., realizing a high luminance, and capable of giving a high quality image.例文帳に追加

ＬＣＤ、ＰＤＰ、有機ＥＬ、プロジェクションディスプレイなどの部材として使用した際に、ムラや欠陥がなく、高度な輝度を実現し、高品質な画像を与えることができる、光学的性能の良好なポリエステルフィルムを提供する。 - 特許庁

Since the viscous material is supplied to the inside of the metallic pipe with nearly a set flow rate just after starting of manufacture, a defect caused by the absence or the shortage of the viscous material is nearly prevented.例文帳に追加

製造開始直後から、金属管の内部に粘性物質をほぼ設定の流量でもって供給することが可能となり、粘性物質が無いあるいは粘性物質の不足による不良発生をほぼ防止することができる。 - 特許庁

To provide an image output device having a speedy fault diagnosis function by making it possible to grasp user's unexpected usage state or the like in a market if the occurrence of defect, in a once marketed device, is reported from the user.例文帳に追加

一旦市場に出た装置において、ユーザから不具合発生の報告があった場合、市場におけるユーザの予期せぬ使用状況等を把握できるようにして、迅速な故障診断機能を持った画像出力装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method and a system for forming a test and a test vector, for confirming performance and operation of simulated VLSI and silicon- based VLSI, and discriminating error and defect in logic layout, circuit spectrum manufacture or the like.例文帳に追加

シミュレートされたVLSI及びシリコンベースのVLSIの性能及び動作を確認し、及びロジック、レイアウト、回路スペクトル、作製その他における誤り及び欠陥を識別するための、テスト及びテストベクトルを生成する方法及びシステムを提供すること。 - 特許庁

When the designed circuit pattern is exposed and transferred on a wafer via an exposing device, a defect occurring systematically dependently on the characteristic or the like of the exposing device is predicted previously by simulation and is stored as hot spot information 7.例文帳に追加

また、露光装置を介して、設計された回路パターンをウエハ上に露光転写する際に、露光装置の特性等によってシステマティックに発生する欠陥を、あらかじめシミュレーションによって予測し、ホットスポット情報７として記憶する。 - 特許庁

To provide an inspection method of a printed board, which enables determination of not only the number of found defects but also whether or not the printed board is defective with consideration of even expansion/contraction rate of the board, in defect inspection of the printed board.例文帳に追加

プリント基板の欠陥検査において、発見された欠陥数のみでなく、基板の伸縮率をも考慮してプリント基板が「不良品」かどうかを判別することが可能なプリント基板の検査方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a method and device of defect inspection for accurately detecting various defects such as various flaws present on an inspection object formed of a sheet-like or plate-like material; and a linear light source device used for it.例文帳に追加

シート状もしくは板状の材料等からなる検査対象物に存在する様々な傷等の欠陥を精度良く検出できる欠陥検査の方法及び装置並びにそれに用いるライン状光源装置を提供する。 - 特許庁