「DEFECT OR」に関連した英語例文の一覧と使い方(43ページ目) - Weblio英語例文検索

The machine base control part 96 determines whether or not to allow the piecing device 92 to perform piecing based on a detecting result of the yarn detecting sensor 34 when the yarn is cut by the cutter 10 when a yarn defect is detected by the yarn clearer 11.例文帳に追加

機台制御部９６は、ヤーンクリアラ１１により糸欠陥が検出されてカッター１０により糸が切断されたときに、糸検出センサ３４の検出結果に基づいて、糸継装置９２に糸継を行わせるか否かを判断する。 - 特許庁

To provide an image-forming apparatus for avoiding problems of "toner scattering" or "transfer failure" in performing "frameless print", and for solving problems of image defect and attachment of toner to an edge part caused by shaving off a toner image by a front edge of a transfer material in a conveying direction.例文帳に追加

「縁なし印刷」を行う際に、「トナーの飛び散り」や「転写抜け」の問題を防止しつつ、転写材の搬送方向先端によってトナー像が削り取られることによる画像欠損やエッジ部へのトナーの付着の問題を提供する。 - 特許庁

To overcome the problem in a circuit pattern inspection apparatus using an electrode contactlessly or capacitively coupled to the conductor pattern, wherein it is difficult to determine a defect since an obtained inspection signal value is small if a conductor pattern to be inspected is microfabricated.例文帳に追加

導体パターンに非接触で容量結合した電極を用いた回路パターン検査装置においては、検査対象の導電パターンの微細化が進むと共に、得られる検査信号値が小さくなり、欠陥の判定が難しくなっている。 - 特許庁

Accordingly, an adjacent defective pixel conventionally treated under defect correction or the like as an abnormal pixel can be utilized as a normal pixel, thus enabling improvement of image quality of an obtained radiograph image without losing pixel information of an analyte.例文帳に追加

そのため、異常画素として欠陥補正されるなどして扱われていた隣接欠陥画素を正常画素として利用できるので、被検体の画素情報を失うことなく、取得された放射線画像の画質を向上させることができる。 - 特許庁

To prevent stray light, such as lens-reflected light reaching an image surface from disturbing the inspection sensitivity in a dark field defect detection method by high elevation angle illumination for detecting groove bottom short-circuit defects or scratch, after the completion of etching.例文帳に追加

エッチング完了後の溝底ショート欠陥やスクラッチを検出するための高仰角照明による暗視野欠陥検出方法において、レンズ反射光などの迷光が像面に到達することによる検査感度を阻害することを防止する。 - 特許庁

To provide an etching method for copper or copper alloy that is used for manufacturing a printed wiring board, having a fine wiring pattern, with an excellent yield and without causing a short-circuit defect when executing etching by an etchant containing a banking agent.例文帳に追加

バンキング・エージェントを含むエッチング液によりエッチングを行った場合、微細な配線パターンを有するプリント配線板を、ショート欠陥を発生させることなく、良好な歩留まりで製造する銅又は銅合金のエッチング方法を提供する。 - 特許庁

To provide a nonaqueous electrolyte secondary battery capable of preventing discharge and leakage accompanying gasification of electrolyte at the time of high temperature caused by electrical defect and spouting of the electrolyte accompanying internal pressure rise due to gas generation caused by electrolysis or the like.例文帳に追加

電気的異常による高温時の電解液のガス化に伴う放出及び漏れ、並びに電気分解等によって発生するガスによる内圧上昇に伴う電解液の噴出等を防止する非水電解液二次電池を提供する。 - 特許庁

In the defect detection method for a fuel cell material, defects of the fuel cell materials are detected by using a displacement sensor, a transmission type photoelectric sensor, a CCD (charge-coupled device) line sensor, and/or a reflection-type photoelectric sensor.例文帳に追加

本発明は、変位センサー、透過型光電センサー、ＣＣＤ（チャージ・カップルド・デバイス）ラインセンサーおよび／または反射型光電センサーにより、燃料電池材料の欠陥を検出することを特徴とする燃料電池材料の欠陥検出方法である。 - 特許庁

To provide an electrophoretic display device in which no defect is produced on a picture display by preventing occurrence air voids in a layer of a microcapsule type picture display with microcapsules enclosed therein under the environment of 60°C or higher.例文帳に追加

本発明は、６０℃以上の環境下で、マイクロカプセルが封入されたマイクロカプセル型画像表示層の層内のエアボイド発生を防止し、画像表示に欠陥が発生することのない電気泳動表示装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To enable a person to efficiently recognize the location and other information of a defect which is hardly found visually with a transparent film or a translucent film, with a simple structure in a transparent film visual inspection system.例文帳に追加

透明フィルム外観検査システムにおいて、簡単な構成により、透明フィルムや半透明フィルムにおける目視による発見が困難な欠陥に対し、その欠陥場所やその他情報を効率よく人に認識させることができるようにする。 - 特許庁

To provide a continuous casting method with which the development of quality defect in a cast slab caused by inequality cooling is made to reduce by effectively preventing or restraining the clogging in a cooling water piping system, which is examplified by a nozzle clogging.例文帳に追加

ノズル詰まりに代表される冷却水配管系列での詰まりを効果的に防止若しくは抑制することによって、不均一冷却に起因する鋳片品質欠陥の発生を低減するようにした連続鋳造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a welding method for an aluminum material or an aluminum alloy material, wherein a quantity of heat from a laser beam is efficiently supplied to a material to be weld, joint strength is excellent, and a welding defect is not generated.例文帳に追加

本発明はかかる問題点に鑑みてなされたものであって、レーザからの熱量を効率的に被溶接材に供給することができ、継手強度に優れ、溶接欠陥の発生がないアルミニウム又はアルミニウム合金材の溶接方法を提供する。 - 特許庁

However, the application shall be reinstated if, within two months from the expiration of the prescribed period, the applicant so requests and makes a reply to the office action or takes steps to remedy the defect and within the same period pays the prescribed reinstatement fee. 例文帳に追加

ただし，所定期間の満了後2月以内に出願人がそれを請求して庁指令に応答するか又は欠陥を是正する措置を講じ，かつ，同期限内に所定の回復手数料を納付する場合は，出願は回復される。 - 特許庁

To provide an oxygen-free copper rough drawing wire for windings in which surface quality after cold working such as drawing is satisfactory, and the generation of a blister defect or the like can be suppressed, and to provide a method for producing an oxygen-free copper rough drawing wire for windings.例文帳に追加

引き抜き加工等の冷間加工後の表面品質が良好であって、フクレ欠陥等の発生を抑制することが可能な巻線用無酸素銅荒引線及びこの巻線用無酸素銅荒引線の製造方法を提供する。 - 特許庁

To obtain a compound semiconductor substrate that can form a high- resistant compound semiconductor buffer layer of reduced crystal defect on an Si substrate and can provide high-frequency devices, for example, ESFET, HEMT, or the like, of good properties formed thereon.例文帳に追加

Ｓｉ基板上に結晶欠陥の少ない、高抵抗の化合物半導体バッファ層を形成し、その上に形成されるＭＥＳＦＥＴやＨＥＭＴ等の高周波デバイスにおいて良好な特性を持つ化合物半導体基板を提供する。 - 特許庁

To provide a process of manufacturing foamed polyolefinic resin moldings having a good quality such as a less decrease in the strength or lower defect ratios of the moldings as compared with those of virgin polyolefinic resins even when waste polyolefinic resins are utilized for the raw materials.例文帳に追加

本発明は、廃ポリオレフィン系樹脂成形体を利用しても、バージンのポリオレフィン系樹脂と比して強度低下が少なく、成形体の不良率が低い等品質の良好な、発泡ポリオレフィン系樹脂成形体の製造方法を提供すること。 - 特許庁

When any one of luminance conversion mode, red conversion mode and green conversion mode is set, whether the color characteristic of the subject image obtained by photographing causes a cognitive defect for the person defective in color perception or not is determined (steps S204, S209 and S213).例文帳に追加

輝度変換モード、赤変換モード、緑変換モードのいずれかが設定された場合、撮影により得られる被写体像の色特性が色覚障害者に認識障害となっているか判断される（ステップＳ２０４、Ｓ２０９、Ｓ２１３）。 - 特許庁

According to the influence of the defect on a photomask 10 on the operation of the device, inspection areas (e.g. areas A and B) on the photomask are divided into two or more areas and inspection sensitivity is set for each divided inspection area.例文帳に追加

フォトマスク１０上の欠陥がデバイスの動作に与える影響に応じて、フォトマスク上の検査領域（例えば、領域Ａ及び領域Ｂ）を２つ以上の領域に分割し、この分割した各々の検査領域に対して検査感度設定を行う。 - 特許庁

To reduce or eliminate an image defect such as light absence and a black stain due to a deficiency in alignment control power as to an active matrix substrate used for a liquid crystal display device whose pixel electrode such of an IPS(in-plain switching) type, etc., has a wiring structure.例文帳に追加

IPS（イン・プレイン・スイッチング）タイプ等の画素電極が配線構造を持つ液晶表示装置に用いるアクティブマトリクス基板において、配向規制力不足に起因する光ヌケおよび黒シミの画像不良を低減するかまたはなくす。 - 特許庁

The value near the planned head is easily set up, the pressure maintenance becomes easy and the damage and corrosion of each apparatus and piping due to the excess in discharge rate, and the defect such as cooling failure or the like due to the deficiency in discharge rate can be prevented in advance.例文帳に追加

容易に計画揚程に近い値が設定でき、圧力管理が容易となり、吐出量過多に起因する各機器・配管の損傷・腐食や、吐出量過少に起因する冷却不良等の不具合を事前に防ぐことが可能となる。 - 特許庁

To provide a method of joining by which a sound joined part having no defect or near the surface of metal is surely available when metallic members whose melting points are different from each other are joined with a friction stir welding, and a joining tool used for the method.例文帳に追加

融点が互いに異なる金属部材同士を摩擦攪拌接合するに際し、内部や表面付近に欠陥のない健全な接合部を確実に得られる接合方法とこれに用いる接合ツールとこれに用いる接合ツールを提供する。 - 特許庁

To provide a pattern forming method excellent in resolution power such as a minimum dimension free from a bridge defect, roughness performance such as line edge roughness, and dependency on developing time, and to provide an actinic ray-sensitive or radiation-sensitive resin composition and a resist film to be used for the method.例文帳に追加

ブリッジ前寸法等の解像力、ラインエッジラフネス等のラフネス性能、現像時間依存性に優れたパターン形成方法、それに用いられる感活性光線性又は感放射線性樹脂組成物及びレジスト膜を提供する。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a liquid crystal display device by which the liquid crystal display device free from the generation of a display defect due to moisture absorption of a member consisting of an organic polymer or a member having an organic polymer layer on the surface thereof can be obtained.例文帳に追加

有機高分子からなる部材、あるいは表面に有機高分子層を有する部材の吸湿による表示不良を発生することが無い液晶表示素子を得ることができる液晶表示素子の製造方法を提供する。 - 特許庁

To enable reduction of crystal defect of a conventional strain- relaxation buffer layer and a burden on a growing device in III-V compound semiconductor epitaxial wafer having an operative region where a substrate crystal and a grating constant are different equal to or greater than 0.15%.例文帳に追加

基板結晶と格子定数が０．１５％以上異なる動作領域を持つIII−Ｖ族化合物半導体エピタキシャルウェハにおいて、従来の歪緩和バッファ層の結晶の欠点と、成長装置の負担を低減することを可能とする。 - 特許庁

To provide an excellent dry process spacer scattering device by which the frequencies of cleaning and exchange of a scattering pipe can be suppressed and a foreign matter defect on a liquid crystal substrate can be reduced by suppressing accumulation or flocculation of spacers onto the inner wall of the scattering pipe.例文帳に追加

散布配管内壁へのスペーサの堆積、あるいはスペーサの凝集を抑えることで、 散布配管の清掃・交換頻度を抑え、かつ液晶基板の異物不良を低減可能な優れた乾式液晶スペーサ散布装置を提供する。 - 特許庁

To display a total number of points where defects occur, defect information, or the like by utilizing a limited number of display elements which are provided at indoor equipment and which display an operation state in order to quickly and accurately perform repair.例文帳に追加

修理を迅速かつ的確に行えるようにするため、異常が発生している個所の総個所数およびその異常情報等を、室内機に設けられている運転状態を表示する限られた数の表示素子を利用して表示する。 - 特許庁

To prevent occurrence of trouble, such as an insulation defect or disconnection caused by rubbing an inner cable and an outer cable in a printed circuit board having a cabling structured for overlapping a plurality of one-sided flexible substrates.例文帳に追加

片面フレキシブル基板を複数枚重ねる構造のケーブル部を持ったプリント基板における内側のケーブルが外側のケーブルとが、ケーブル同士のこすれによって絶縁不良や断線などの不具合を生じることのないプリント基板を提供すること。 - 特許庁

To provide an image forming method having an excellent effect in continuously preparing a high-quality toner image which is free from fogging or image irregularity and causes no stripe defect even when printing a large number of sheets on an image support of glossiness of 60 to 100.例文帳に追加

光沢度６０〜１００の画像支持体に、カブリや画像ムラが無く、多数枚プリントしてもスジ状欠陥が発生せず高品質のトナー画像を継続して作成することができる優れた効果を有する画像形成方法の提供。 - 特許庁

To provide a thermo-conductive sheet that has flexibility, can follow a special shape of an uneven surface, a bending surface or the like and can secure high thermal conductivity without any defect attributable to addition of a thermoconductive filling material.例文帳に追加

柔軟性があり、凹凸や曲面等の特殊な形状にも追従可能であり、しかも熱伝導性充填材の添加に原因した欠陥を伴うことなく高い熱伝導率を保証することができる熱伝導性シートを提供すること。 - 特許庁

To provide a TFT(thin film transistor) array substrate in which the short circuit failure between adjacent wirings or the like can be recognized in the defect inspecting process of the TFT array substrate and, moreover, a correct inspected result can be obtained when a GS(group separator) short circuit failure is caused.例文帳に追加

ＴＦＴアレイ基板の欠陥検査工程において、隣接する配線間の短絡不良等が認識でき、さらにＧＳショート不良の発生時にも正確な検査結果を得ることができるＴＦＴアレイ基板を提供する。 - 特許庁

To improve the lifetime of a semiconductor device, the lifetime or the mobility of the carrier of the operation of the device to a sufficient value for the practical use of the device, by realizing a crystal growing technique for forming a semiconductor layer in an extremely low defect density.例文帳に追加

半導体層を極めて低い欠陥密度で形成する結晶成長技術を実現し、半導体装置の寿命又はこの動作に係るキャリアの寿命もしくは移動度を当該半導体装置の実用化に十分な値に改善する。 - 特許庁

To provide an information transmission terminal for supporting independence, which a physically or mentally handicapped person as well as an old person having physical defect can easily use and transmit self-will to a desired opposite party at desired time.例文帳に追加

身体的或いは知的障害を有する者や体が不自由な老人等が容易に使用でき、所望の相手に、かつ所望の時に自分の意思を伝達することを可能とした自立支援のための情報伝送用端末機を提供する。 - 特許庁

The presence or absence, and dimensions of the hole-like defect are inspected based on the light intensity of regular reflection light 29 and the irregular reflection light 31 that are displayed on a display means 33 in response to the detection output of the first and second photosensors 30 and 32.例文帳に追加

第１および第２光センサ３０，３２の検出出力に応答して表示手段３３に表示される正反射光２９および乱反射光３１の光強度に基づいて孔状欠陥の有無および寸法を検査する。 - 特許庁

To provide an original reader that prevents foreign matters such as paper powder separated from an original at an ADF(Automatic Document Feeder) provided with an original carrying path directed laterally whose cross section is almost U-shaped from depositing onto a mirror or the like of a scanner thereby avoiding read information from having a defect.例文帳に追加

横向きの略Ｕ字状の原稿搬送路を設けたＡＤＦにおいて、原稿から分離した紙粉等の異物が、スキャナーのミラー等に付着することを防止し、読み取った情報に障害が発生することを防止できるようにする。 - 特許庁

To stably grow an Si single crystal having no defective region by clearly detecting the type of a defective region or a defect-free region of an Si single crystal grown with a certain pull speed profile and feeding back such data for the subsequent pulling.例文帳に追加

ある引き上げ速度プロファイルで育成されたSi単結晶の欠陥領域あるいは無欠陥領域のタイプを明確に検出し、このデータを次の引き上げにフィードバックすることよって、欠陥領域のないSi単結晶を安定して育成する。 - 特許庁

To provide a cargo protective member wherein a shock and vibration can be effectively prevented to keep a cargo from being broken or damaged, movement due to a shift of the cargo is suppressed, and a defect of a precision instrument due to static electricity can be prevented from occurring.例文帳に追加

衝撃や振動を効果的に防止して、荷物の破損や損傷を防止するとともに、荷物のズレによる移動を抑止し、かつ静電気による精密機器の欠陥の発生を防止することができる荷物保護部材を提供すること。 - 特許庁

Since a lower layer electrode 31 formed on the top face of the core 11 is unerringly covered by a light-emitting layer 32 formed on the top face, a defect such as a disconnection or a short circuit can be prevented from occurring in the light-emitting element 30.例文帳に追加

上記構造によれば、コア１１上面に形成される下層電極３１を、その上面に成膜される発光層３２が確実に被覆できるため、発光素子３０に断線や短絡という欠陥が発生することを確実に防止できる。 - 特許庁

The magnetic recording layer 3b which needs to be heated or cooled prior to recording is disposed on one surface of a base material 2 provided with a IC module 4, printings 5a and 5b and the like and coated thereon with a masking layer 7b having high thermal conductivity to eliminate the defect.例文帳に追加

ＩＣモジュール４、印刷５ａ、５ｂ等を備えた基材２の片面に、記録に先立って、加熱もしくは冷却を要する磁気記録層３ｂを有し、その上を熱伝導性の高い隠蔽層７ｂで被覆し、課題を解消することができた。 - 特許庁

To provide a developer replenishing device capable of preventing a defect such as the scattering of developer to the outside of the device, maldistribution, clogging and the sticking of the developer in a circulation carrying path or the unstable detection of a developer residual amount sensor.例文帳に追加

現像剤補給装置において、装置外への現像剤の飛散、循環搬送経路内での現像剤偏りと詰まりや固着、現像剤残量センサーの不安定検出といった欠点を防いだ現像剤補給装置を提供する。 - 特許庁

The device does not generate transfer defect in the case of adopting the recording material P of the small size with high resistance by constituting the transfer system 15, so as to make dynamic impedance per unit length of the transfer nip N2 in the lengthwise direction to be 0.3 MΩ.m or less under all environment.例文帳に追加

転写系１５を、転写ニップＮ２の長手方向の単位長さ当たりの動的インピーダンスが、全環境で０．３ＭΩ・ｍ以上となるようにすることにより、記録材Ｐが高抵抗の小サイズの場合の転写不良が防止される。 - 特許庁

To provide a semiconductor processing apparatus and a diagnostic method for the semiconductor processing apparatus capable of diagnosing a defect of reassembling of a process chamber after wet cleaning or a state of the process chamber such as deposition of reaction products and shaved components.例文帳に追加

ウエットクリーニング後の処理室再組み立ての不都合、あるいは反応生成物の堆積、部品の削れ等の処理室の状況を診断することのできる半導体処理装置及び半導体処理装置の診断方法を提供する。 - 特許庁

The confocal differential interference image shows unevenness change of approximately several nm of a sample surface in the form of a luminance distribution, so a crystal defect appearing on the SiC substrate surface or epitaxial layer surface is detected based upon the luminance distribution.例文帳に追加

共焦点微分干渉画像は、試料表面の数ｎｍ程度の凹凸変化を輝度分布として表すので、SiC基板表面又はエピタキシャル層表面に出現した結晶欠陥を、輝度分布に基づいて検出することができる。 - 特許庁

To provide a group III-V nitride based semiconductor substrate capable of matching lattice constants with an epitaxial growth layer and giving a group III-V nitride based device having little distortion or defect, and to provide a method for inexpensively manufacturing the substrate with high reproducibility.例文帳に追加

エピタキシャル成長層との格子定数がマッチでき、歪みや欠陥の少ないIII-Ｖ族窒化物系デバイスを製造できるIII-Ｖ族窒化物系半導体基板、及びこの基板を安価に再現性良く製造できる製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a composition containing a salt of o-acetylsalicylic acid with a basic amino acid, having improved stability, and thereby having no known defect of o-acetylsalicylic acid salt, concerning to storage and/or sterilization properties.例文帳に追加

本発明の課題は、ｏ-アセチルサリチル酸と塩基性アミン酸との塩を含み、向上した安定性を有し、それゆえ貯蔵および／または滅菌性に関して、今まで知られているｏ-サリチル酸塩の欠点を有さない組成物を製造することである。 - 特許庁

To provide a semiconductor device manufacturing method which includes an etch-back process that prevents the generation of the etching residue of a tungsten film or a titanium nitride film at the time of forming a tungsten plug having a small plug loss and hence can make stable etching possible with less wiring defect.例文帳に追加

プラグロスの小さいタングステンプラグを形成する際に、タングステン膜または窒化チタン膜のエッチング残渣の発生を防止し、配線不良が少なく安定したエッチングを可能にするエッチバック工程を備えた半導体装置の製造方法の提供。 - 特許庁