「DEFECT OR」に関連した英語例文の一覧と使い方(40ページ目) - Weblio英語例文検索

Resistance measurement for detecting a partial defect and a joining abnormity or the like of connection holes 8 formed to each layer and an inter-layer insulation layer 6 is carried out twice, with a measurement current of several mA and a measurement current from several tens of times to several hundreds of times of the several mA.例文帳に追加

各層および層間絶縁層６に形成された接続孔８の部分欠損や接合異常などを検出するための抵抗測定の測定電流を数ｍＡとその数十倍から数百倍の２回行う。 - 特許庁

To provide a physical layer interface capable of detecting a transmission defect of the physical layer interface itself or informing of occurrence of a fault of a transmission apparatus body on the TCP/IP protocol basis without the need for installing excess hardware and software to the transmission apparatus body.例文帳に追加

伝送機器本体に過剰なハードウェアおよびソフトウェアを実装することなく、物理層インタフェース自体の伝送不具合の検出、またはＴＣＰ／ＩＰプロトコルベースの伝送機器本体の障害発生の通知ができる。 - 特許庁

To provide a decorative sheet which has an un-cured or semi-cured curable resin layer for forming a hard coat layer and hardly generate an appearance defect even if a thermal cycle test is carried out after laminated on a base body by a post-cure method.例文帳に追加

ハードコート層を形成するための未硬化又は半硬化の硬化性樹脂層を有し、ポストキュア法により基体に貼り合わせた後に冷熱サイクル試験をしても外観不良が生じにくい化粧シートを提供する。 - 特許庁

An ultrasonic signal is imparted to the weld zone, while scanning a line-focusing probe, in the direction crossing at least in the two or more directions on the spot-weld zone, and existence of a defect on the weld zone is inspected from a reflection pattern of the signal.例文帳に追加

スポット溶接部上を少なくとも２方向以上の交差する方向に、線集束探触子を走査しながら該溶接部に超音波信号を与え、その信号の反射パターンから溶接部の欠陥の有無を検査する。 - 特許庁

To provide an aluminum alloy rolled sheet stably exhibiting gray even in the case of a thin anodically oxidized film of about 10 μm, that the defect of stripes is hard to occur, excellent in bending workability and having strength equal to or above that of the conventional material.例文帳に追加

１０μｍ程度の薄い陽極酸化皮膜でも安定に灰色を呈し、しかも筋目不良が生じにくく、曲げ加工性が優れ従来材と同等以上の強度を有するアルミニウム合金圧延板を提供する。 - 特許庁

To provide an actinic ray-sensitive or radiation-sensitive resin composition excellent in roughness characteristics, focus latitude, bridge defect preventing performance and dependency of sensitivity on post exposure baking (PEB) temperature, and a pattern forming method using the composition.例文帳に追加

ラフネス特性、フォーカス余裕度、ブリッジ欠陥性能、及び、感度の露光後加熱（ＰＥＢ）温度依存性に優れた感活性光線性又は感放射線性樹脂組成物、並びに、それを用いたパターン形成方法を提供する。 - 特許庁

To provide a manufacturing process of a semiconductor integrated circuit, to particularly provide a method for manufacturing suitable to reduce a defect, and to flatten a wiring of a copper or an alloy containing the copper as a main body on an insulating film having a low pressure resistance.例文帳に追加

半導体集積回路製造の製造プロセスに関し、特に耐圧性の低い絶縁膜上に銅または銅を主体とする合金の配線を欠陥が少なくかつ平坦にする好適な製造方法を提供すること。 - 特許庁

The inspection device uses a light source arranged so that the light source is close to a Brewster angle where polarization dependence of reflected light becomes largest, and a polarization camera for photographing the reflected light to determine whether the defect is the one on the front surface or on the rear surface.例文帳に追加

反射光の偏光依存性の最も大きくなるブリュースター角に近くなるよう設置した光源と、その反射光を撮影する偏光カメラを用いて、表面の欠陥なのか裏面の欠陥なのかを判別する。 - 特許庁

When data is read out by retry and temperature in writing is the prescribed temperature or less, it is discriminated as non-defect of media, read-out data is not stored in a spare region, but rewritten in the same sector from which read out.例文帳に追加

リトライによってデータが読み出せた場合、温度が書き込み時の温度が所定温度以下の場合は、メディア欠陥ではないと判定し、読み出されたデータは、スペア領域に記憶されることなく、読み出された同一セクタに書き直される。 - 特許庁

To provide an aluminum die casting product and a manufacturing method therefor, and a compressor for freezing or air-conditioning, wherein the loss of air-tightness caused by a shrinkage cavity defect generated in the time of die-casting formation is prevented.例文帳に追加

ダイカスト成形時に発生する引け巣欠陥に起因する機密性の喪失を防止することができる、アルミダイカスト製部品およびその製造方法ならびに冷凍ないし空調用圧縮機を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a manufacturing method with which a generation of such a defect as a crack or the like of a joined part due to a tube expansion is prevented, resulting in a joined body of carbon steel pipes having an excellent mechanical characteristics after expanded, and a tube expansion method for the joined body of the carbon steel pipes.例文帳に追加

拡管にともなう接合部の割れ等欠陥の発生を防止でき、拡管後の機械的性質の優れた炭素鋼管接合体の製造方法および炭素鋼管接合体の拡管方法を提供すること。 - 特許庁

Thereby, defect conditions such as generation of scratches caused by pinch rollers 25, 25 when the tensile force of the metallic belt plate W becomes excessive, or generation of a braking flaw because the tensile force becomes too small, can be avoided.例文帳に追加

これにより、金属帯板Ｗの張力が過大になってデコイラ１２のピンチローラ２５，２５により擦り傷が発生したり、金属帯板Ｗの張力が過小になって折り傷が発生したりする不具合が未然に回避される。 - 特許庁

To provide a single crystal silicon in an ingot or wafer form, which contains an axially symmetric region in which vacancies are the predominant intrinsic point defect and which is substantially free of agglomerated vacancy intrinsic point defects, and to provide a method of producing the same.例文帳に追加

空孔が優勢な真性点欠陥の、凝集空孔真性点欠陥を実質的に有さない軸対称領域を含んで成りインゴットまたはウエハ形態の単結晶シリコン、およびその製造方法を提供する。 - 特許庁

Therefore, the developer 16A accompanied by the photosensitive web 12 never contacts with the fixing solution 20A, and a defect such as bleeding or burr at the silver line edge part of the conductive material by local runaway of developing can be suppressed.例文帳に追加

このため、感光ウエブ１２に同伴した現像液１６Ａが定着液２０Ａに接触することがなく、現像の局部暴走による導電性材料の銀線エッジ部のにじみ、ギザギザ等の欠陥の発生を抑制することができる。 - 特許庁

To provide an image forming device which is prevented from decreasing in its operation rate owing to printing operation disabled by not only an open or short circuit of a temperature detecting circuit itself, but also deterioration of solder in the circuit, a connector defect, etc.例文帳に追加

温度検知回路そのもののオープン，ショートのみならず、回路中の半田の劣化、コネクタ不良などの原因でプリント動作をまったく不許可にしてしまうことによる稼働率の低下を防いだ画像形成装置を提供する。 - 特許庁

To manage a buried pipe sufficiently by surely and directly grasping the occurrence of a defect such as corrosion or a damage of the buried pipe and its generation position, and to perform measurement simply without requiring a load.例文帳に追加

埋設管の腐食や損傷等の欠陥の発生、およびその発生位置を確実に直接的に把握して、その埋設管の管理を十分に行うことができ、また測定も労力を要さず簡単に行うことができるようにする。 - 特許庁

To provide a wire feeder for a welding torch, a wire feeder that can reduce weld defect by smoothing wire passage for a welding torch and preventing spatter from depositing on a nozzle inner face or a tip outer face at the tip end of the torch.例文帳に追加

溶接トーチのワイヤの通過を滑らかにし、またトーチ先端のノズル内面やチップ外面にスパッタが付着するのを防止して溶接不良を減少させることができる溶接トーチのワイヤ供給装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a memory device in which data stored in a memory cell array are compared with test data stored in the memory device or inverted data of the test data to detect defect of the memory device and to provide a parallel bit test method of the memory device.例文帳に追加

メモリセルアレイに貯蔵されたデータをメモリ装置の内部に貯蔵されたテストデータまたはテストデータの反転データと比較してメモリ装置の不良を検出するメモリ装置及びこの装置の並列ビットテスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide the length measurement device of a long-length material capable of accurately measuring the carrying amount of the long-length material, detecting the measurement error of a length measurement disk and preventing the perforating position defect of the long-length material or the like.例文帳に追加

長尺材の搬送量を正確に測定するとともに、測長ディスクの測定誤差を検出し得るようにし、長尺材の穿孔位置不良などを未然に防止することができる長尺材の測長装置を提供する。 - 特許庁

Further, a plurality of the polarized-component signals different from each other that are detected by the polarized-light detector are compared in a plurality of chips or in an image in a predetermined region, and then a statistical outlier is inspected as a defect in the sample.例文帳に追加

更に、上記偏光検出部で検出される互いに異なる複数の偏光成分信号を複数チップ間あるいは所定領域の画像内で比較して、統計的な外れ値を試料上の欠陥として検査する。 - 特許庁

The electron beam emitted from an electron gun 11 is throttled narrow and scans a sample formed with a film and detects the defect existing inside the film of the sample by detecting the reflected electrons or the secondary electrons emitted from the scanning point.例文帳に追加

電子銃１１から放出された電子線を細く絞り、膜形成された試料上を走査し、走査点から放出された反射電子又は二次電子を検出して試料の膜内部に存在する欠陥を検出する。 - 特許庁

To provide a simple evaluation method for a defect of a fluoride crystal affecting an optical characteristic, a fluorite of high durability and transmittance required for a vacuum-ultraviolet lithography device or the like, and to provide a manufacturing method therefor.例文帳に追加

光学特性に影響を与えるフッ化物結晶の欠陥の簡便な評価法を提供し、特に真空紫外光リソグラフィ装置などに要求される高耐久・高透過率蛍石、及びその製造法を提供する。 - 特許庁

The part having been unable to be acquired can efficiently be acquired because decode processing is applied to only the part unable to be acquired by applying again scan processing to the part unable to be decoded due to a temporary operation defect or the like of a scanner.例文帳に追加

スキャナ装置の一時的な動作不良などによって復号化できなかった部分について再度スキャン処理を行うことによって取得できない部分だけを復号化処理するので効率良く取得することができる。 - 特許庁

To provide a method and an apparatus for the inspection of a substrate and a cover glass, in which a defect such as a crack or the like on the substrate and a crack on the cover glass covering the substrate can be inspected without dispersion and without visually inspecting the substrate and the cover glass.例文帳に追加

基板のクラック等の欠陥、及び基板を覆うカバ−ガラスのクラックを、該基板及びカバ−ガラスを目視検査することなく、ばらつきなく検出できる、基板とカバ−ガラスの検査方法及び装置を提供することである。 - 特許庁

To provide a defect inspection device of a high resolution realizing the increase of inspection speed in a technology of inspecting defects of patterns, foreign matters, remnants, steps or the like on a wafer in the course of manufacturing process by electron beams.例文帳に追加

半導体装置の製造過程にあるウェハ上パターンの欠陥、異物、残渣および段差等を電子ビームにより検査する技術において、高分解能で、かつ検査速度の高速化を実現する欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method for repairing an electrically semiconductive belt, by which the electrically semiconductive belt can be amended by flattening to a state of no practical problem even when a part having formal defect occurs in a manufacturing stage or the like, and thereby improving the manufacturing yield.例文帳に追加

製造段階等で形状的な欠陥部分が生じても、それを平坦化して実使用上問題ない状態に修正でき、製造の歩留りを向上することができる半導電性ベルトの修正方法を提供する。 - 特許庁

To provide an image forming apparatus which is free of an image defect such as image unevenness or inner absence of an obtained visible image and has long use life by applying a lubricant with superior spreadability over the surface of an image carrier.例文帳に追加

像担持体の表面に優れた展延性を有する潤滑剤を塗布することにより、得られる可視画像において画像ムラや中ヌケなどの画像欠陥が発生せず、また、使用寿命の長い画像形成装置を提供すること。 - 特許庁

In the above case, even when a defect (a wear or a deformation) is detected in any of the plurality of contact probes 26, it is enough to replace a unit including the defective contact probe 26 so that the maintainability can be improved as compared to the existing ones.例文帳に追加

この場合、複数のコンタクト・プローブ２６のいずれかに不良（摩耗、変形）が発見されても、該不良のコンタクト・プローブ２６が含まれるユニットのみを交換すれば良いため、従来よりもメンテナンス性を向上させることができる。 - 特許庁

Thereby, the block of the FM for which the write instruction for "all zero" has been issued is kept in an erasure state (all one (ALL FFh)), so that the block can be used for relief of a defect block or for writing of data other than "all zero".例文帳に追加

これによって、オールゼロの書き込み命令がなされたＦＭのブロックを消去状態（オールイチ（ＡＬＬ ＦＦｈ））に保てるため、このブロックを、不良ブロックの救済用や、オールゼロ以外の書き込み用で使用することができる。 - 特許庁

(i) In the case where a consumer contract provides that the business operator is responsible to deliver substitute goods without defects or repair the subject when there exists a latent defect in the material subject of the consumer contract 例文帳に追加

一　当該消費者契約において、当該消費者契約の目的物に隠れた瑕疵があるときに、当該事業者が瑕疵のない物をもってこれに代える責任又は当該瑕疵を修補する責任を負うこととされている場合 - 日本法令外国語訳データベースシステム

A laser beam emitted from the light source 510 of a pickup 500 is diffracted to be an RF signal light, a focus signal light, a tracking signal light or a defect detection light by the diffraction grating 522 of a diffraction element 520.例文帳に追加

ピックアップ５００における光源５１０から出射したレーザ光は、回折素子５２０における回折格子５２２によってＲＦ信号光、フォーカス信号光、トラッキング信号光、及び欠陥検出光に回折される。 - 特許庁

In a system like this, laser equipment having a proper pulse frequency and wavelength is selected and an irradiation system or diffusion system using a slit is used to effectively repair a pixel defect of the display device.例文帳に追加

このような方式で、適切なパルス周波数及び波長を有するレーザ装備を選択し、スリットを使用した照射方式または拡散方式を使用することによって、表示装置の画素不良を効果的に修理することができる。 - 特許庁

To uniformly disperse a pigment as a colorant in toner and to obtain an image with sufficient image density and no hollow defect or toner scattering even when the particle diameter of the toner is decreased.例文帳に追加

トナー中に着色剤となる顔料が均一に分散されるようにし、トナーの粒径を小さくした場合においても、十分な画像濃度を有すると共に、中抜けやトナー飛散等のない良好な画像が得られるようにする。 - 特許庁

To provide a center defect reducing method of a continuously cast steel slab at a low cost without performing low-temperature casting with inferior operational consistency or high-temperature soaking diffusion of the slab at excessive cost under the low rolling reduction at the end of solidification with high equipment load.例文帳に追加

操業安定性に欠ける低温鋳造や、設備負荷の高い凝固末期軽圧下、コストが過剰に掛かるスラブ高温均熱拡散を行わず、安価に連続鋳造鋳片の中心欠陥低減方法を提供する。 - 特許庁

To solve a defect that chickens compete with each other with respect to a feed to lower their commercial values or cause large individual differences therebetween, because conventional feeding machines can not simultaneously feed in a wide range.例文帳に追加

解決しようとする問題点は、従来の給餌機によると広い範囲で一斉に給餌できないので、鶏間で飼料をめぐって競争となり、鶏の商品価値を落としたり、著しい個体差を生じさせてしまう点である。 - 特許庁

The defect is introduced in the surface oxide film by allowing the aluminium foil which is useful in etching to be subjected to a bending process or a repetitive bending process suitably at the curvature of 0.5 mm-7 mm by use of bending rollers 2, 2a, and 2b.例文帳に追加

エッチングに供されるアルミニウム箔に、曲げローラ２、２ａ、２ｂなどにより好適には曲率０．５ｍｍ〜７ｍｍで曲げ加工あるいは繰り返し曲げ加工を施してその表面酸化皮膜に欠陥を導入する。 - 特許庁

The defect-checking device obtains a mean luminance value of an image of a size decided based on a repeating pattern or an exposure shot size for a photographs image, and checks the detect based on the mean luminance value and previously decided inspection conditions.例文帳に追加

撮像画像に対して繰返しパターン寸法又は露光ショット寸法に基づいて定められたサイズの画像の平均輝度値を求め、該平均輝度値と予め定められた検査条件とに基づいて欠陥を検査する。 - 特許庁

To provide an optical scanner in which the shielding of laser light due to dust entering into the optical scanner or attaching on a dust proof glass is suppressed and a fatal image defect is suppressed.例文帳に追加

本発明は、塵埃が光学走査装置内に侵入したり防塵ガラスに付着してレーザ光を遮ることを抑制し、重大な画像欠陥を引き起こすことを抑制できる光学走査装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide an image forming apparatus and an image forming method by which an image defect such as void or character scattering is prevented from occurring by improving the transfer property of toner in an image forming system using an intermediate transfer body.例文帳に追加

本発明は、中間転写体を用いた画像形成方式のトナーの転写性を改善し、中抜けや文字チリ等の画像欠陥を発生させない画像形成装置、画像形成方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a reflective paint composition conquering the defect of reduction of reflective ability in a conventional reflective paint composition using aluminum particles or glass beads.例文帳に追加

本発明の目的は、アルミニウム粒子やガラスビーズが使用されている従来の再帰反射性絵具類組成物おける再帰反射性の効果が小さくなる欠点を、克服した再帰反射性絵具類組成物を提供することである。 - 特許庁

To provide a method for forming electric wiring or an electrode for a liquid crystal display, which is made from a copper thin film, is superior in adhesiveness to the surface of a glass substrate and does not have such a thermal defect as a hillock and a void.例文帳に追加

ガラス基板表面に対する密着性に優れ、さらにヒロックおよびボイドなどの熱欠陥が発生することのない銅薄膜からなる液晶表示装置用配線および電極の形成方法を提供する。 - 特許庁

Since the light leakage due to the orientation defect or non-orientation of an oriented film (ORI2) provided around the columnar spacer (SOC) is emitted from the second substrate without passing through the color filter, the decline of the color purity due to the light leakage is evaded.例文帳に追加

柱状スペーサ（ＳＯＣ）の周囲に有する配向膜（ＯＲＩ２）の配向不良や未配向による光漏れはカラーフィルタを通過せずに第２基板から出射するため光漏れによる色純度の低下が回避される。 - 特許庁

When black defects are corrected, assist gas or etching gas is introduced through an etching gas introduction system 6, and only a black defect region 3 is selectively irradiated with an charged particle beam 4 and etched as high as the height of a recess of the original plate for correction.例文帳に追加

黒欠陥修正はエッチング用ガス導入系６からアシストガスまたはエッチングガスを導入し、荷電粒子ビーム４を黒欠陥領域３のみに選択照射して原版の凹部の高さまでエッチングし黒欠陥３を修正する。 - 特許庁

The defect of the refractive index periodic structure or another refractive index periodic structure is introduced into the photonic crystalline structure by the refractive index control means 103, by which a photonic band gap is changed and the state of incident light can be controlled.例文帳に追加

屈折率制御手段１０３により、フォトニック結晶構造中に屈折率周期構造の欠陥或いは別の屈折率周期構造が導入され、フォトニックバンドギャップが変化して入射光の状態を制御できる。 - 特許庁

To provide a method of accurately detecting a defect in a short time even if a component being an inspecting object is a component having a complicated shape or a component having a plurality of kinds of defects.例文帳に追加

検査対象となる部品が複雑な形状を有する部品であったり複数種類の欠陥を有する部品であったりしても、短時間で精度良く欠陥を検出することができる欠陥検出方法を提供すること。 - 特許庁