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「DEFECT OR」に関連した英語例文の一覧と使い方(38ページ目) - Weblio英語例文検索


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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > DEFECT ORの意味・解説 > DEFECT ORに関連した英語例文

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DEFECT ORの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 2817



例文

To manufacture a magnetic disk medium with few defects by detecting original defects without detecting a groove of a magnetic film and a pattern of unevenness or the like as a defect in an error inspection process of a step for manufacturing the discrete track magnetic disk medium or a bit patterned magnetic disk medium.例文帳に追加

ディスクリートトラック磁気ディスク媒体またはビットパターンド磁気ディスク媒体の製造段階のエラー検査工程において、磁性膜の溝、凹凸などのパターンを欠陥として検出することなく本来の欠陥を検出し、欠陥の少ない磁気ディスク媒体を製造する。 - 特許庁

To provide a roller guide on the inlet side of a rolling mill or forming machine for shapes with which the vibration of an intermediate material is suppressed, the intermediate material is correctly guided to grooved rolls and defect in rolling or forming is prevented and a method for manufacturing the shapes using the same.例文帳に追加

中間材の振動を押さえて,該中間材を正確に孔型ロールに案内することができ,かつ,圧延もしくは成形の不良を防止することができる形鋼用圧延機又は成形機の入側ローラガイド及びそれを用いた形鋼の製造方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a method for cutting a ceramic honeycomb molding which prevents the occurrence of a defect of the fusion or chipping of a cell, an edge chip, or the like when the ceramic honeycomb molding is cut exactly in a prescribed size, can make chips entering the cell minute, and is excellent in chip removing properties after the cutting and a circular cutting blade.例文帳に追加

セラミックハニカム成形体を所定寸法に正確に切断する際、セルの融着やチッピング、ふち欠け等の欠陥を起さず、且つセル内に入り込む切屑を微細化可能で、切断後の切屑除去性に優れるセラミックハニカム成形体の切断方法及び円形切断刃を提供する。 - 特許庁

To provide a flavor improving method for a gustatory matter or food and drink, solving a defect based on a sensory evaluation, and efficiently selecting a flavor improver to be added to the gustatory matter or food and drink using a light topography apparatus to add a selected flavor improver.例文帳に追加

官能評価等に基づく欠点を解決し、光トポグラフィ装置を使用した味覚物質又は飲食物に添加される風味改良剤を効率的に選択し、選択された風味改良剤を添加する味覚物質又は飲食物の風味改良方法の提供。 - 特許庁

例文

To provide an effective product inspection method and a device capable of filling a content of liquids into a container, and then immediately transferring to a process for inspecting a defect on the container or the content, by removing positively bubbles or water drops existing in the container.例文帳に追加

容器内に存在しうる気泡や水滴を積極的に除去することによって、容器に液体類内容物を充填した後、直ちに容器やその内容物の欠陥を検査する工程に移行することができる効率のよい製品検査方法及び装置を提供すること。 - 特許庁


例文

Plasma is produced over a semiconductor layer 3a by using raw material gas containing impurity elements and compensating gas containing an element as large as or larger than elements constituting the semiconductor device 3a to introduce impurity ions into the semiconductor layer 3a, and also introduce ions for defect formation composed of the element as large as or larger than the elements constituting the semiconductor layer into the semiconductor layer 3a for defect formation.例文帳に追加

半導体層3aの上方で、不純物元素を含む原料ガス、及び半導体層3aを構成する元素と同等以上の大きさの元素を含む補償ガスを用いてプラズマを生成することにより、半導体層3aに不純物イオンを導入すると同時に、半導体層3aに該半導体層を構成する元素と同等以上の大きさの元素からなる欠陥形成用イオンを導入して欠陥を生じさせる。 - 特許庁

The setting of the full format is performed when areas after recorded Lead-Out area become predetermined values or lower due to the change of the recording position of the STA area, or when even if the areas after the Lead-Out area are the predetermined values or higher, there is a defect in the SIP recording position in the full format state.例文帳に追加

Full Format の設定は、STA領域の記録位置の変更により記録されたLead−Out領域以降の領域が所定値未満となる場合または同Lead−Out領域以降が所定値以上であってもFull Format 状態でSIPが記録される位置に欠陥が存在する場合に行う。 - 特許庁

The sound epitaxial layer is obtained by setting the plane orientation to be (100) and specifying a range of an angle tilted in the [001] direction or at θ in the[001] direction to the [100] axis or an angle tilted in the [010] direction or at ψ in the [010] direction to hardly cause the pit defect.例文帳に追加

エピタキシャル成膜前にガスエッチングが施されるとピット欠陥が発生し易くなるが、面方位が(100)であり、[100]軸に対して[001]方向または[001]方向に角度θ、[010]方向または[010]方向に角度φとした傾斜角を、特定範囲とすることで、ピット欠陥が発生し難くなり、健全なエピタキシャル層が得られる。 - 特許庁

To provide an effective method for depositing inert polymers and pharmaceutical or biological agents onto a substrate, where the collection process is efficient, the coating produced is conformal, substantially defect-free and uniform, the composition of the coating can be regulated and the morphology and/or secondary structure of the pharmaceutical or biological agents can be controlled.例文帳に追加

不活性ポリマーと医薬又は生物学的製剤とを基材に付着させるための効率の良い方法であって、捕集プロセスは効率的であり、生じるコーティングは表面に沿い(conformal)、実質的に欠点がなく均一であり、コーティングの組成は規制することができ、医薬又は生物学的製剤のモルホロジー及び/又は2次構造は制御可能な方法の提供。 - 特許庁

例文

The optical disk comprises: a recording area which has the data recorded in one or more physical clusters; a defective area in which a defect occurs before or during recording the data in the optical disk capable of recording and/or reproducing the data; and a recording end area having information indicating the end of recording recorded before the defective area.例文帳に追加

光ディスクは、少なくとも1つの物理的クラスタにデータが記録される記録領域と、データを記録及び/または再生できる光ディスクにおいて、データ記録前または使用中に欠陥が生じた欠陥領域と、前記欠陥領域前に記録の終了を示す情報が記録された記録終了領域と、を含むことを特徴とする。 - 特許庁

例文

The method for forming electric wiring or the electrode for the liquid crystal display, which does not have the thermal defect and is superior in adhesiveness, includes: using a copper target having a composition comprising 0.04 to 1 mass% oxygen and the balance Cu with unavoidable impurities; and sputtering the target in an inert gas atmosphere or in an inert gas atmosphere containing 3 vol% or less oxygen.例文帳に追加

酸素:0.04〜1質量%を含有し、残部がCuおよび不可避不純物からなる組成を有する銅ターゲットを用い、不活性ガス雰囲気中または酸素:3体積%以下含んだ不活性ガス雰囲気中でスパッタリングする熱欠陥発生がなくかつ密着性に優れた液晶表示装置用配線または電極の形成方法。 - 特許庁

To avoid the defect that a construction machine carelessly operates when installing or uninstalling a table or when drawing up a document or eating and drinking by use of the table, in the case that the table disposed near an operation seat in use and stored in a storage holder in nonuse is provided in a driver's cab of the construction machine.例文帳に追加

建設機械の運転室に、使用時には運転座席の近傍に配設され、非使用時には収納ホルダーに収納されるテーブルを設けるにあたり、テーブルを取付けたり取外したりするときや、テーブルを用いて書類を作成したり飲食をしたりするときに、建設機械が不用意に作動してしまうような不具合を回避する。 - 特許庁

.Clauses which shield the Vendor from any and all liability to indemnify the consumer for damages caused by a product defect; provided, however, that these clauses would be valid if it is stipulated in such contract that the Vendor should be responsible, when a latent defect is found in the subject item under such contract, to provide replacement or repair such defect (Subparagraph 1, Paragraph 2, Article 8 of said Act) or if a Vendor.s affiliate bearing a certain relation to such Vendor is held responsible (Subparagraph 2, Paragraph 2, Article 8 of said Act). 例文帳に追加

目的物に隠れた瑕疵があるときに、当該瑕疵により消費者に生じた損害を賠償する事業者の責任の全部を免除する条項(ただし、このような条項も同時に当該契約において、当該契約の目的物に隠れた瑕疵があるときに当該事業者が瑕疵のないものをもってこれに代える責任又は当該瑕疵を修補する責任を負うこととされている場合(同法第8条第2項第1号)や、当該事業者と一定の関係にある他の事業者が責任を負うこととされている場合(同法第8条第2項第2号)には、無効とならない - 経済産業省

To provide a method for detecting the defect of a composite hollow fiber membrane for ultrafiltration/microfiltration having a separating function layer on a porous support membrane, capable of easily detecting a defect portion before modulating and capable of automatically and easily attaching or removing a colorable substance in a membrane-forming process.例文帳に追加

本発明は、多孔質支持膜上に分離機能層を有する限外ろ過/精密ろ過複合中空糸膜の欠陥検出方法において、モジュール化する前に容易に欠陥部分を検出することができ、製膜工程の中で自動的にかつ容易に着色性物質を付着・除去することが可能な限外ろ過/精密ろ過複合中空糸膜の欠陥検出方法を提供する。 - 特許庁

To provide a searching method used for various purposes capable of carrying out automatically defect search in a short time with simple constitution without using detail circuit information, in the case of carrying out the defect search for specifying a function-defective or production-defective portion of a mounting board mounted with an IC and an electronic component.例文帳に追加

IC及び電子部品が実装された実装基板の機能不良あるいは製造不良の箇所を特定する不良探索を行う場合において、詳細な回路情報無しに簡易な装置構成で自動的に短時間で不良探索を行うことができる汎用的な探索手法を実現した実装基板不良探索方法及び実装基板不良探索装置を提供する。 - 特許庁

The counter substrate 4 is provided with a BM wiring 1, to which voltage for normal driving according to driving a TFT element, is applied or which is grounded, a pixel display electrode 3 which is connected with the BM wiring 1 and a BM wiring 2 to which voltage for repairing a defect pixel is applied by being connected with the pixel display electrode 3, when defect is generated.例文帳に追加

そして、対向基板4は、TFT素子の駆動に従って正常駆動するための電圧が印加されるか又は接地されたBM配線1と、このBM配線1と接続された画素表示電極3と、欠陥が生じた場合に画素表示電極3と接続されることにより当該欠陥画素を修正するための電圧が印加されたBM配線2とを備えている。 - 特許庁

To provide a liquid crystal display element using ferroelectric liquid crystal, wherein the display element is excellent in orientation stability, such that a mono-domain orientation of ferroelectric liquid crystal can be obtained without formation of orientation defects such as zigzag defect, hairpin defect and double domain, and the orientation can be maintained even when the temperature is raised to a phase transfer point or higher.例文帳に追加

本発明は、強誘電性液晶を用いた液晶表示素子において、ジグザグ欠陥、へアピン欠陥やダブルドメイン等の配向欠陥が形成されることなく強誘電性液晶のモノドメイン配向を得ることができ、相転移点以上に昇温してもその配向を維持することができる配向安定性に優れた液晶表示素子を提供することを主目的とする。 - 特許庁

Record of an inspection result in the preceding process is displayed on the outside development displayed for the input, and the display of the input of the outside inspection result of the defect in the own process is made different from the display of the inspection result in the preceding process such that the operator can decide whether the defect inputted in the own process is generated in the own process or in the preceding process.例文帳に追加

入力用として表示してなる外観展開図上に、前工程における検査結果の記録を表示しておき、前記オペレータが自工程で入力する欠陥について、自工程で発生したものか、前工程で発生したものかを判別できるように、自工程での欠陥の外観検査結果の入力を、前工程での検査結果の表示とは異なる表示とする。 - 特許庁

To provide a fixing device in which a fixing defect, such as density non-uniformity or image omission does not occur, by making a surface temperature of a fixing belt uniform in the peripheral direction and the lengthwise direction and by uniformly heating a toner image stuck on a surface of a sheet.例文帳に追加

定着ベルトの表面温度を周方向及び長手方向に均一とし、用紙表面に付着しているトナー像を均一に加熱して、濃度ムラ、画像ヌケ等の定着不良を発生させない定着装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method and an apparatus, capable of nondestructively and simply detecting a hetero-crystalline area as a defect occurring in manufacturing a signal crystal metallic material or in use, even when existing in an invisible region.例文帳に追加

単結晶金属材料の製造上あるいは使用中に発生する欠陥としての異結晶域を、目視不可能な領域に存在する場合も含めて、非破壊で、簡便に検出可能な方法および装置を提供する。 - 特許庁

To provide a glass inspection system for detecting particle and defect inside or on a glass sheet (14) using relatively-low cost optical component which easily is integrated into a compact type device easily-deployable to manufacturing environment.例文帳に追加

ガラスシート (14)内または上の粒子及び欠陥を検出するためのガラス検査装置において、製造環境に容易に配備され得るコンパクトな装置に容易に集成することができる比較的低コストの光学コンポーネントを用いる。 - 特許庁

By scanning the liquid crystal display device with laser beam to illuminate a defective region such as a bright defect or the like, the manufacturing device can decrease the transmittance in the defective region and can manufacture a liquid crystal display device having the defective region hardly visible.例文帳に追加

レーザ光を走査して液晶表示装置の輝点欠陥等の欠陥領域に照射することにより、欠陥領域の透過率を低減し、欠陥領域を目立たなくした液晶表示装置を製造することができる。 - 特許庁

In addition, in case when the light emitting device is applied to an electronic device, the n-type AlN layer extremely superior in electrical conductivity can be obtained thanks to the undoped AlN layer having less defect, so that Schottky barrier height or breakdown voltage can be increased.例文帳に追加

また、電子素子に適用した場合は、欠陥の少ないアンドープAlN層により電気伝導性が極めて優れたn型AlN層が得られるので、ショットキーバリア高さや絶縁破壊電圧を大幅に増加することができる。 - 特許庁

The sensors process the obtained digital images and decide the presence of the defect of the material of the artificial structure according to the specific coordinate position for finding the artificial structure in one or more obtained digital images.例文帳に追加

該センサは、取得されたデジタル画像を処理し、1つ又は複数の取得されたデジタル画像における人口構造物を突き止める所定の座標位置に従い、人口構造物における材料の欠陥の存在を判定する。 - 特許庁

The present invention is characterized in controlling a clouding source substance included in the pellicle to a predetermined value or less, and thereby, even when the clouding source substance becomes a foreign matter on the photomask, the generation of a defect in a product can be prevented.例文帳に追加

本発明は、ペリクルに含有する曇り原因物質が、一定値以下であることを特徴とするため、曇り原因物質がフォトマスク上で異物になったとしても製品に欠陥が起こることを防止することが出来る。 - 特許庁

To provide a silicon carbide power element that has a low ON voltage suppressed over a wide temperature range without being influenced by a crystal defect etc., and has low ON loss and avoids surge breakdown, or a method of manufacturing the same.例文帳に追加

結晶欠陥等の影響を受けることなく広い温度範囲においてオン電圧を抑制し、低オン損失やサージ破壊回避が実現された炭化珪素パワー素子またはその製造方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To improve defect occurring due to the difference in physical properties between stainless steel and resin when stainless steel used for a metal case and resin used for a gasket are integrally bent or blanked out.例文帳に追加

金属ケースに用いるステンレスと、ガスケットに使用する樹脂を一体化した状態で折り曲げ加工および打抜き加工を行う際に、ステンレスと樹脂の物性の相異により生じる不具合を改善することを目的とする。 - 特許庁

To provide a traceability system for bag manufacturing, which determines a cause of a defect from a record in a bag manufacturing process, and can reduce time, labor and a cost of recovering or inspecting a defective product by specifying the range of the defective product.例文帳に追加

袋の製造工程での履歴に基づき、不具合原因を判定する袋製造トレーサビリティシステム、不具合品の範囲を特定でき、回収又は検品の手間やコストを削減できる袋製造トレーサビリティシステムを提供する。 - 特許庁

To solve a problem that when transmitting a test pattern from an LSI tester in the LSI tester or an LSI tester simulation model, which range of an address area in a DUT memory is accessed can not be known and a defect of the test pattern cannot be previously detected.例文帳に追加

LSIテスタ又はLSIテスタシミュレーションモデルでは、LSIテスタ側からテストパターンを送信する際に、DUTメモリのどの範囲のアドレス領域をアクセスしたかを知ることはできず、テストパターンの不備を事前に検出できない。 - 特許庁

To provide a silicon water for semiconductor element of high grade whose crystal characteristics are improved sharply by removing a breaking layer, a crystal defect due to residual abrasive agent, impurity, or the like in a micro-working crack, and a distortion layer, entirely.例文帳に追加

破砕層と共にマイクロ加工クラック内の残存研磨剤や不純物等による結晶欠陥や歪み層を完全に除去し、結晶特性が大幅に改善された高品位の半導体素子用シリコンウェーハを提供する。 - 特許庁

To provide a joining member having an excellent adhesion in which a defect harmful to the heat conductivity is eliminated and a practically sufficient joining strength is provided at the joined zone where such different kind of material as W and Cu or Ni whose heat expansion coefficients are largely different are joined.例文帳に追加

WとCuやNiのように、熱膨張係数の差が大きい異種材料において接合部で熱伝導性有害な欠陥のない密着性に優れ、実用十分な接合強度を有する接合体を提供する。 - 特許庁

To provide a cylindrical organic photoreceptor having preferable potential stability and generating no image defect such as black spots or halftone image irregularity, and to provide an image forming device using the above organic photoreceptor.例文帳に追加

本発明は、電位安定性の良好な、黒ポチやハーフトーンの画像むら等の画像欠陥を発生しない円筒状の有機感光体を提供することであり、又、該有機感光体を用いた画像形成装置を提供することにある。 - 特許庁

To prevent operation time necessary for correction of a defective pixel from increasing and to securely perform correction such as cutting or short circuiting of a wiring pattern, by avoiding emission of a laser beam to a defect source such as a foreign matter.例文帳に追加

異物などの欠陥源にレーザ光を照射することを回避することによって、欠陥画素の修正に要する作業時間の増大を防止するとともに、配線パターンの切断または短絡などの修正を確実に実行する。 - 特許庁

Thereby, as the seed crystal substrate is removed during growth of the growth material, the generation of a defect in the growth material, caused by the difference between the thermal expansion coefficients or the like of the growth material and the seed crystal substrate 6, is almost suppressed.例文帳に追加

これにより、成長材料の成長時に種結晶基板が除去されるので、成長材料と種結晶基板6の熱膨張係数等の違いに起因して成長材料中に欠陥が生じることは殆どない。 - 特許庁

Thereby, the target patterns AM and the like become irrelevant to an electric field in the vacuum vessel; influence of charge on an electron orbit or discharge generation is prevented; and this high-reliability image display device without causing a display defect is provided.例文帳に追加

これにより、ターゲットパターンAM等は真空容器内部の電界とは無関係となり、帯電による電子軌道への影響、あるいは放電発生が防止され、表示欠陥の発生のない高信頼性の画像表示装置が得られる。 - 特許庁

To provide a display device in which a method of high-speed transmission of display data signal is improved, defect or constraint accompanying the conventional high-speed signal transmission is removed and low cost and high reliability is achieved.例文帳に追加

本発明は表示装置において表示データ信号の高速伝送の方法を改善し、従来の信号伝送の高速化に伴う欠点や制約を除去し、低コストで信頼性の高い表示装置を実現することを目的とする。 - 特許庁

To provide a laminated ceramic capacitor such as chip capacitor or the like, which prevents the occurrence of structural defect upon calcination and is small in the deterioration of electrostatic capacitance value, while having temperature stability of an excellent capacitance value and being excellent in reliability.例文帳に追加

焼成時の構造欠陥の発生を抑制した、静電容量値の低下の小さい、優れた容量値の温度安定性を有し、信頼性に優れたチップコンデンサなどの積層セラミックコンデンサを提供することができる。 - 特許庁

To provide a high strength porous body to obtain a metal ceramic composite material by a pressure infiltration method and to manufacture the metal-ceramic composite material which is inexpensive and has high rigidity without causing crack, the formation of a metal-enriched layer or infiltration defect.例文帳に追加

加圧浸透法により金属−セラミックス複合材料を得るための高強度の多孔体を提供し、クラックやメタルリッチ層、浸透不良が生じず、低コストで剛性の高い金属−セラミックス複合材料の作製を可能とする。 - 特許庁

In setting the characteristics parameters, the leak current due to the internal leak in the TFT is increased by setting the voltage level and/or the timing of application, and any internal defect in the TFT is detected with the increased leak current.例文帳に追加

特性パラメータの設定において電圧値および/又は印加時期を設定することによってTFTの内部リークによるリーク電流を増加させ、増加させたリーク電流によってTFTの内部欠陥を検出する。 - 特許庁

To provide a defect inspection method for an axially symmetric object, which permits handy and quick inspection of defects such as chips or burrs with a higher detection accuracy as caused at a corner part, in the inspection of products with the aim of guaranteeing the quality thereof.例文帳に追加

品質保証を目的とした製品検査において、角部に発生する欠けやバリ等の欠陥を、高検出精度、簡便、かつ迅速に検査することができる軸対称物体の欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a laser beam welding method for producing a shape steel, such as T shape or H shape, obtaining sufficiently stable penetration by eliminating deformed defect, such as bending caused by the welding, while keeping the merit of the laser beam welding method.例文帳に追加

レーザ溶接方法の利点を維持しつつ、溶接による曲がりなどの変形欠点を解消し、十分に安定した溶け込みが得られるT形もしくはH形のような形鋼を製造するレーザ溶接方法を提供する。 - 特許庁

To provide a liquid crystal display device which can delay or suppress the confirmation of the display defect by energization after a moisture resistance test by preventing the excessive current during voltage impression and solving the problem of the foaming phenomenon and the short.例文帳に追加

電圧印加時の過渡電流を防止して発泡現象やショートの問題を解決し、耐湿試験後の通電による表示不良の確認を遅延させ、あるいは抑制することのできる液晶表示装置を提供する。 - 特許庁

In printed wiring board wiring inspecting equipment performing wiring inspection of a printed wiring board, nets in the two-dimensional or three-dimensional proximity relation are extracted, and inspection is performed by previously restricting a portion on which shortcircuit defect is apt to be generated.例文帳に追加

プリント配線板の布線検査を実施するプリント配線板布線検査装置において、2次元或いは3次元的に近接関係にあるネットを抽出し、短絡不良の発生し易い箇所を予め絞り込み検査する。 - 特許庁

To provide a method for producing a sputtering target where, in a sputtering film deposition stage using an Nb sputtering target, the frequency in the generation of abnormal discharge causing the trouble in a device, the defect in a product or the like can be reduced.例文帳に追加

Nbスパッタリングターゲットを用いたスパッタ成膜工程において、装置トラブルや製品不良等の原因となる異常放電の発生回数を減少させることを可能にしたスパッタリングターゲットの製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide an active ray sensitive or radiation sensitive resin composition capable of improving roughness characteristics, an exposure latitude and a development defect performance, and suppressing a standing wave, and to provide a pattern forming method using the composition.例文帳に追加

ラフネス特性、露光ラチチュード(Exposure Latitude)、及び現像欠陥性能の改善、並びに、定在波の抑制を可能とする感活性光線性又は感放射線性樹脂組成物、並びに、それを用いたパターン形成方法を提供する。 - 特許庁

To provide a one-dimensional array ultrasonic probe or a two-dimensional array ultrasonic probe using a composite piezoelectric member composed of a solid-solution-based piezoelectric-single-crystal and a resin, wherein the ultrasonic probe is fabricated by including a cutting process without causing a working defect when cutting, and to provide a method of manufacturing the ultrasonic probe.例文帳に追加

固溶系圧電単結晶と樹脂との複合圧電体を用いて、切断時の加工不良が生じない一次元及び二次元アレイ超音波プローブ及び当該超音波プローブの製造方法を提供すること。 - 特許庁

Consequently, there is not a risk that the low-melting-point fusible alloy 2 between the pair of lead conductors 1, 1 has a defect in blowout due to a rise in ambient temperature of the temperature fuse or is unevenly distributed on the lead conductor 1 to one side along the width.例文帳に追加

このため、温度ヒューズの周囲の温度上昇によって一対のリード導体1、1間の低融点可溶合金2が溶断不良する虞がなく、リード導体1上において幅方向一方に偏在する虞がない。 - 特許庁

To provide a bed in which a cover of a cloth can be fixed without separately arranging fixing members in a bed frame, there is no problem of an appearance defect even though the cover shrinks by washing or others, and the cover can be easily attached and detached compared to conventional ones.例文帳に追加

ベッドフレームに別途固定部材等を設けることなく布地製のカバーの固定が可能で、洗濯等によりカバーが縮んでも外観不良の問題がなく、従来と比べてカバーの着脱が容易なベッドを提供すること。 - 特許庁

The gene product FabTC3G7 comprises the human Fab and seems to be a molecule which has a possibility for covering a defect caused by administration of the equine antiserum or administration of the human antiserum presently recommended by WHO as a preventive measure against onset of the rabies after exposure to a rabies virus.例文帳に追加

遺伝子産物であるFabTC3G7はヒトFabであり、現在狂犬病ウイルス暴露後発症予防法としてWHOが推奨するウマ抗血清投与またはヒト抗血清投与が持つ欠点を補う可能性のある分子であると思われた。 - 特許庁

例文

To provide an optical delay element having a line defect waveguide structure made of photonic crystal wherein a group refractive index is high and a region where wavelength dispersion is fixed or small of the group refractive index is kept as a band of practical level.例文帳に追加

群屈折率が大きく、かつ、群屈折率の波長分散が一定若しくは小さい領域が実用レベルの帯域で保たれたフォトニック結晶による線欠陥導波路構造を有する光遅延素子を提供する。 - 特許庁




  
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