Geを含む例文一覧と使い方
該当件数 : 1096件
It is preferable that the alkoxide of the metal is at least alkoxide of one kind of metal selected from a group of Al, Si, Ti, Ga, Ge, Zr, Nb, la, and Ta.例文帳に追加
前記金属のアルコキシドが、Al、Si、Ti、Ga、Ge、Zr、Nb、La及びTaからなる群より選択される少なくとも1種の金属のアルコキシドであるのが好ましい。 - 特許庁
The work function of the gate electrode 31a is controlled by doping P, As or Sb, and the work function of the gate electrode 31b is controlled by adjusting a Ge concentration.例文帳に追加
ゲート電極31aの仕事関数はP、AsまたはSbをドープすることによって制御され、ゲート電極31bの仕事関数はGe濃度を調節することによって制御される。 - 特許庁
In a first method, an Si-Ge mixed crystal layer that becomes a base and a silicon epitaxial film that becomes an emitter are continuously formed, and the silicon epitaxial film is removed by wet etching for forming the emitter.例文帳に追加
第1の方法は、ベースとなるSi−Ge混晶層とエミッタとなるシリコンエピタキシャル膜を連続して成膜し、ウエットエッチングによりシリコンエピタキシャル膜を除去してエミッタを形成する。 - 特許庁
The information recording layer includes a first recording layer containing Au and a second recording layer containing at least one element selected from the group consisting of Si, Ge, C, Sn and Zn.例文帳に追加
上記情報記録層はAuを含む第1記録層及びSi、Ge、C、Sn及びZnよりなる群から選択された一つ以上の元素を含む第2記録層を含む。 - 特許庁
The nonvolatile semiconductor storage device is provided with a silicon substrate 1a, first and second source/drain regions SDLa and SDRa, a charge trap layer CT and a gate electrode layer GE.例文帳に追加
不揮発性半導体記憶装置は、シリコン基板1aと、第1および第2ソース/ドレイン領域SDLa,SDRaと、電荷トラップ層CTと、ゲート電極層GEとを備えている。 - 特許庁
The inorganic recording film is provided with a first recording film containing titanium (Ti) and a second recording film containing an oxide of germanium (Ge) and the transparent conductive film is provided on the side of the second recording film.例文帳に追加
無機記録膜は、チタン(Ti)を含む第1の記録膜と、ゲルマニウム(Ge)の酸化物を含む第2の記録膜とを備え、透明導電膜は、第2の記録膜の側に設けられている。 - 特許庁
Thus, the Ge density of the oxide film interface of the polycrystal silicon-germanium film becomes uniform to reduce lattice distortion and film stress and the reliability of the gate electrode is improved.例文帳に追加
このようにすると、多結晶シリコンゲルマニウム膜の酸化膜界面のGe濃度が均一になり結晶粒内の格子ひずみと膜ストレスが減少し、ゲート電極の信頼性が向上する。 - 特許庁
The memory cell gate electrode GE is formed of a floating gate electrode 32 and control gate electrodes 21 laminated on the upper surface of the electrode 32, and between them via an inter-gate insulation film 33.例文帳に追加
メモリセルゲート電極GEは、浮遊ゲート電極32と、その上面および相互間にゲート間絶縁膜33を介して積層された、制御ゲート電極21とから形成されている。 - 特許庁
To provide a duplex apparatus for switching a path in a gigabit Ethernet (R) passive optical network (GE-PON) system, and a frame format for controlling the same.例文帳に追加
ギガビットイーサネット(登録商標)受動型光ネットワーク(GE−PON)システムでパスの切り替え可能な二重化装置及びその方法、及びその制御のためのフレームフォーマットを提供する。 - 特許庁
In a semiconductor device in which a p-type MIS transistor is formed on a semiconductor substrate, the gate electrode of the MIS transistor contains any of Ta, V, and Nb and Ge.例文帳に追加
半導体基板上にp型MISトランジスタが形成された半導体装置であって、MISトランジスタのゲート電極は、Ta,V,Nbの何れかとGeを含有している。 - 特許庁
'Engaku' and 'dokkaku' are differentiated particularly in the Tendai sect - the former being one enlightened through contemplation on the twelve-linked chain of causation in the world of Buddha and the latter, one who attains enlightenment observing such ge-en as scattering of blossoms and falling leaves (natural phenomena) in the world of no Buddha. 例文帳に追加
特に天台宗では、仏の世で十二因縁を観じて覚ったものを「縁覚」、無仏の世で飛花落葉などの外縁を観じて覚ったものを「独覚」と区分している。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス
The oldest existing fusuma are those placed on the dividing nai-jin (the inner sanctuary of a shrine or temple) and ge-jin (the outer part of a shrine or temple where ordinary people worship) at the Fudo hall of the Kongobu-ji Temple on Mt. Koya, which was said to be built in 1197. 例文帳に追加
現存最古の襖は、建久8年(1197年)に建立されたと伝えられる、高野山金剛峯寺不動堂の内陣と外陣の境にたてられている襖である。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス
Additionally, in the Buddhist religious services of Nichiren Shoshu sect there is a manner called 'Hiki-daimoku' other than Shodai, in which way each sound is recited longer as 'Na-mu-myo-ho-ren-ge-kyo.' 例文帳に追加
また、日蓮正宗の勤行には、唱題とは別に「引き題目」と呼ばれる作法もあり、この時は「なーむーみょーほーれんーげーきょー」と一音一音が長く引き伸ばされて唱えられる。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス
The alloy moreover contains 25 to 80% Sn and one or more kinds among Ge, Ag, Cu and In by 0.1 to 6% in total, and the balance Zn with inevitable impurities.例文帳に追加
また、更には、25〜80重量%のSnと、Ge、Ag、Cu、Inの1種以上を合計で0.1〜6重量%含み、残部がZn及び不可避不純物からなる。 - 特許庁
When the spent sputtering target contains at least one kind selected from Au, Ag, Ir, Ru, Tb, Ge and Gd, this cutting method is effective.例文帳に追加
前記使用済みスパッタリングターゲットは、Au、Ag、Ir、Ru、Tb、GeおよびGdからなる群より選ばれた1種以上を含む場合に、本発明の切削加工方法が好適である。 - 特許庁
A lead-out opening 16 leading the exhaust gas GE out from the lead-in chamber 15 is formed at a position deviated from an opposing position opposing the exhaust outlet 12 in the heat receiving part 13a.例文帳に追加
また、受熱部13aにおける排気出口12と対向する対向位置から偏位した位置には、排気ガスEGを導入室15から導出する導出口16が形成されている。 - 特許庁
Preferably, the gold alloy bonding wire further contains one or more kinds selected from the group consisting of Be, rare earth elements, Sn and Ge by 0.0001 to <0.015% in total.例文帳に追加
Be、希土類元素、SnおよびGeからなる群より選ばれた1種以上を、合計で0.0001質量%以上0.015質量%未満、さらに含有させることが好ましい。 - 特許庁
In a first process, a GeH_4 gas is supplied from a second supply pipe 11 into the treatment chamber 1 to generate a Ge-metal bond with a metal deposited in the treatment chamber 1.例文帳に追加
第1工程では、第2供給管11からGeH_4ガスを処理室1内に供給して、処理室1内部に付着した金属との間でGe−金属結合を作る。 - 特許庁
The side chain combined with the main chain is a group each independently selected from a group comprising hydrogen, halogen, aliphatic hydrocarbon group, alicyclic hydrocarbon group, and aromatic hydrocarbon group, or is a group each independently selected from a group comprising a polymer chain forming Ge-Ge bond, hydrogen, halogen, aliphatic hydrocarbon group, alicyclic hydrocarbon group, and aromatic hydrocarbon group.例文帳に追加
主鎖に結合する側鎖は、水素、ハロゲン、脂肪族炭化水素基、脂環式炭化水素基および芳香族炭化水素基からなる群からそれぞれ独立して選択される基、あるいは、Ge−Ge結合を形成する高分子鎖、水素、ハロゲン、脂肪族炭化水素基、脂環式炭化水素基および芳香族炭化水素基からなる群からそれぞれ独立して選択される基である。 - 特許庁
This oxide phosphor for an electroluminescence device is obtained by adding an activator of at least one transition metal element to a base material of an oxide of yttrium (Y) or adding, as a luminescence center, at least one of any transition metal elements or rare earth metal elements to a base material of an oxide of Y-Ge-O or Y-Ge-Si-O.例文帳に追加
イットリウム(Y)の酸化物を母体材料とし、付活剤として少なくとも1種以上の遷移金属元素を添加し、又はY−Ge−O系、Y−Ge−Si−O系酸化物を母体材料とし、発光中心材料として少なくとも1種以上の任意の遷移金属元素あるいは希土類金属元素を添加してエレクトロルミネッセンス素子用酸化物蛍光体とする。 - 特許庁
To put it concretely, the hardened layer mainly composed of an amorphous alloy including Au and at least either element of Si and Ge is formed, or the hardened layer mainly composed of an amorphous alloy including Au, at least either element of Si and Ge, and at least one or more kinds of elements among Ag, Cu, Ni, Pd and Pt is formed.例文帳に追加
具体的にはAuにSiまたはGeのうちから少なくとも一方の元素を含有したアモルファス合金を主体とする硬化層あるいは、AuにSiまたはGeのうちから少なくとも一方の元素とAg、Cu、Ni、PdまたはPtのうちから少なくとも1種類以上の元素を含有したアモルファス合金を主体とする硬化層を形成させること。 - 特許庁
When the Ge-doped compound semiconductor such as a Ge-doped GAN layer 4 is formed on an AIN high-temperature buffer layer 2 and an undoped GAN base layer 3 which are stacked on a sapphire substrate 1, an organic germanium compound is used as an impurity source which contains at least one selected from a group composed of tetramethylgermanium and tetraethylgermanium as the additional source of germanium.例文帳に追加
サファイア基板1上にAIN高温緩衝層2,アンドープGAN下地層3とを積層した上にたとえばGeドープGAN層4のようなGeドープ化合物半導体を形成する際に、ゲルマニウム添加源としてテトラメチルゲルマニウムおよびテトラエチルゲルマニウムからなる群から選ばれた少なくとも一種を含む有機ゲルマニウム化合物を不純物源として用いる。 - 特許庁
The semiconductor device including SOI-MISFET comprises an insulating layer 14, a semiconductor layer 13 including Ge formed on the insulating layer 14, a plurality of semiconductor dots 15 formed in the area near the interface with the semiconductor layer 13 in the insulating layer 14 to include higher Ge composition than the semiconductor layer 13, and a MIS transistor formed on the semiconductor layer.例文帳に追加
SOI−MISFETを有する半導体装置において、絶縁層14と、絶縁層14上に形成されたGeを含む半導体層13と、絶縁層14中の半導体層13との界面付近に形成された、半導体層13よりも高いGe組成を有する複数の半導体ドット15と、半導体層に形成されたMISトランジスタとを備えた。 - 特許庁
When a polycrystalline silicon film is formed on a glass substrate 1, a polycrystalline silicon film is formed by a catalytic CVD method by using compound comprising at least one kind of tin (Sn), germanium (Ge) and lead (Pb) as impurity source as raw materials and an impurity added polycrystalline silicon film 2 formed by adding at least one kind of tin (Sn), germanium (Ge) and lead (Pb) is formed.例文帳に追加
ガラス基板1上に多結晶シリコンを成膜するにあたり、不純物源として錫(Sn)、ゲルマニウム(Ge)、鉛(Pb)の少なくとも一種を含む化合物を原料に用いて触媒CVD法により多結晶シリコンを成膜し、錫(Sn)、ゲルマニウム(Ge)、鉛(Pb)の少なくとも一種が添加されてなる不純物添加多結晶シリコン膜2を形成する。 - 特許庁
The second recording layer (3) consists of Ge and contains 0.5 to 10 atomic percent at.% of at least one element selected from Al, Ag, In, Mn, Ni, Zn and Zr.例文帳に追加
第二記録層(3)はGeから成り、Al、Ag、In、Mn、Ni、Zn、Zrの中から選ばれた少なくとも一つの元素を0.5原子%以上10原子%以下の範囲内で含有する。 - 特許庁
The brazing filler metal is composed of a ternary alloy containing Au/Ge/Sn, and, provided that the temperature at which a liquid phase starts to be generated is defined as Ts and the temperature that the liquid phase is perfected is defined as Tl, Tl-Ti satisfies <50 degrees.例文帳に追加
Au/Ge/Snを含む3元合金のロウ材であり、液相が発生しだす温度をTs、完全に液相になる温度をTlとした場合に、Tl−Ti<50度であるロウ材。 - 特許庁
When the heat treatment in the temperature of 700-900°C is applied successively to this, the amorphous region 13 is turned into single crystal state by having single crystal part in the vicinity of the surface of the Ge epitaxial film 11 as seeds.例文帳に追加
これに続いて、700乃至900℃の温度範囲で熱処理を施すと、Geエピタキシャル膜11の表面付近の単結晶部分が種となり、アモルファス領域13が単結晶化する。 - 特許庁
Furthermore, when the total amount of Al and the additional elements is 100%, it is desirable that the Al alloy film contains 0.1-1.0 atm% of Ge and 3.0 atm% or lower of Ni as additional elements.例文帳に追加
また、前記Al合金膜は、Alと添加元素の総量を100%とした時、添加元素としてGeを0.1〜1.0原子%、Niを3.0原子%以下含有することが望ましい。 - 特許庁
At least one layer from among the first constituent layer to the X-th constituent layer which is the m-th constituent layer (m is an integer meeting a condition 1≤m≤X), conatins Ge-Sb or Te.例文帳に追加
前記第1構成層〜前記第X構成層のうち少なくとも何れか1つの構成層である第m構成層(mは1≦m≦Xを満たす整数)が、Ge−SbまたはTeを含む。 - 特許庁
A plurality of sets of alternate multilayered films combined with ZnSe or Zns as low-refractive index layers and Ge as high-refractive index layers on a silicon or oxygen-free silicon substrate are formed by ion assisted vapor deposition.例文帳に追加
シリコンまたは無酸素同基材の上に、低屈折率層としてZnSeまたはZnSを、高屈折率層としてGeを組み合わせた交互多層膜を複数組、イオンアシスト蒸着する。 - 特許庁
Double-cored base material 1a is formed from a first core region 10 to which a first dopant Ge raising the refractive index is added, and a second core region 20 consisting of pure SiO2.例文帳に追加
屈折率を上げる第1ドーパントGeが添加された第1コア領域10、及び純粋SiO_2からなる第2コア領域20からなる2重コアを有するコア母材1aを作成する。 - 特許庁
A compound containing at least a functional group represented by the formula: -A-X (A is Si, Ti, Sn, Ge or Zr; X is a halogen) is bonded and fixed to a resin after heat treatment.例文帳に追加
加熱処理後の樹脂に対して、少なくとも−A−X(但し、AはSi、Ti、Sn、Ge若しくはZr、Xはハロゲン基)で示される官能基を有する化合物を結合固定した。 - 特許庁
Then, a GaAs well 106 and a Ge well 110 are formed on the semi-insulation GaAs layer 102b for electrical isolation by thermal oxide and/or flowing oxide (HSQ) 112.例文帳に追加
次いで、半絶縁性GaAs層102bの上にGaAsウエル106及びGeウエル110を形成し、熱酸化物及び/又は流動可能酸化物(HSQ)112によって電気的に分離させる。 - 特許庁
The alloy for hydrogen generation is obtained by adding ≥0.1wt% Al to Ga alloy containing, in Ga, 0.05-1wt% at least one element selected from a group consisting of Ge, Fe, Cu and Sb.例文帳に追加
GaにGe、Fe、Cu、Sbからなる群から選ばれる少なくとも1種以上を0.05〜1wt%含有するGa合金にAlを0.1wt%以上添加してなる水素発生用合金。 - 特許庁
To provide a semiconductor device manufacturing method by which sufficient stress can be applied to a channel region within allowable ranges of concentrations of Ge and C in a mixed crystal layer, and a semiconductor device.例文帳に追加
混晶層中のGe濃度およびC濃度の許容範囲内で、チャネル領域に十分に応力を印加することが可能な半導体装置の製造方法および半導体装置を提供する。 - 特許庁
In one embodiment, a second S/D region is separated from the channel by an offset region, and the photo absorption threshold bias region is the offset region in the Ge layer, after light P-doping.例文帳に追加
一実施形態において、第2のS/D領域は、オフセット領域によりチャネルから引き離され、光吸収しきい値バイアス領域は、濃度の薄いP型ドーピング後のGe層中のオフセット領域である。 - 特許庁
The first region 4g is formed of SiGe having a group IV element, i.e., Si, and a different group IV element, i.e., Ge.例文帳に追加
nチャネルMISFETQnのゲート電極4Nが、少なくとも2種類の第1及び第2四族元素で形成された第1領域4gと第1四族元素で形成された第2領域4nとで構成される。 - 特許庁
Conductive elements (a wiring layer M1(FD) and a conductive layer BC1) perform electric connection between a drain region SD of a transfer transistor Tx and a gate electrode layer GE of an amplifier transistor Ami.例文帳に追加
導電性要素(配線層M1(FD)および導電層BC1)は、転送トランジスタTxのドレイン領域SDと増幅トランジスタAmiのゲート電極層GEとを電気的に接続している。 - 特許庁
The present invention provides the method for depositing or growing the group Ill-nitride layer, e.g. GaN layer 5, on a substrate 1, the substrate 1 comprising at least a Ge surface 3, preferably with hexagonal symmetry.例文帳に追加
基板1の上に、例えばGaN層5のような、III族−窒化物層の堆積または成長を行う方法であり、基板1は、少なくともGe表面3、好適には六方対称を有する。 - 特許庁
This exhaust Ge device 10 of an engine 1 in which an NOx storage catalyst 18 is disposed in an exhaust passage 15 has a heat exchanger 30 with a heat storage material which recovers exhaust heat as an energy.例文帳に追加
排気通路15にNOx吸蔵触媒18が配設されたエンジン1の排気Ge装置10であって、排熱をエネルギーとして回収する蓄熱材搭載熱交換器30を備える。 - 特許庁
The method for manufacturing a phase-change memory element including a step that supplies a bivalent first precursor, containing germanium (Ge) onto a lower film, where the phase-change layer is formed is provided.例文帳に追加
相変化層が形成される下部膜上に、ゲルマニウム(Ge)を含む二価の第1前駆体を供給する段階を含むことを特徴とする相変化メモリ素子の製造方法を提供する。 - 特許庁
The piezoelectric porcelain 3, 7 of which the main appearance of crystals is the perovskite composite oxide which contains at least Na and Nb, and contain 0.05-2 wt.% Ge as GeO2 in total weight.例文帳に追加
少なくとも、NaおよびNbを含むペロブスカイト型複合酸化物を主結晶相とする圧電磁器3、7であって、GeをGeO_2換算で全量中0.05〜2重量%含有する。 - 特許庁
The semiconductor device a semiconductor region (10) containing Ge as a major component, an insulating film (11) formed on the semiconductor region, and a metallic film (12) formed on the insulating film.例文帳に追加
Geを主成分とする半導体領域(10)と、前記半導体領域上に形成された絶縁膜(11)と、前記絶縁膜上に形成された金属膜(12)とを具備する半導体装置である。 - 特許庁
The Al alloy film for the wiring film comprises 0.2-1.5 atom% Ge and further 0.2-2.5 atom% Ni as additive elements, while controlling the total of the additive elements to 3.0 atom% or less, and the balance substantially Al.例文帳に追加
添加元素としてGeを0.2〜1.5原子%、さらにNiを0.2〜2.5原子%含み、添加元素の総和が3.0原子%以下、残部実質的にAlからなる配線膜用Al合金膜である。 - 特許庁
When a built-in acceleration field by the inclination of a Ge composition rate is present to a certain degree, electrons injected from the emitter are sufficiently accelerated and the excellent high frequency characteristics are maintained as well.例文帳に追加
Ge組成率を傾斜させていることによる作り付けの加速電界がある程度存在していれば、エミッタから注入された電子を十分に加速でき、高周波特性も良好に維持される。 - 特許庁
And in (4), the compound semiconductor used for the light emitting element described in (1), (2), or (3) in which each concentration of Si, Ge, Mg, Zn, and Cd elements contained in the light emitting layer is below 1×10^19/cm^-3 is provided.例文帳に追加
〔4〕発光層に含まれるSi、Ge、Mg、Zn及びCdの各元素の濃度がいずれも1×10^19cm^-3以下である〔1〕、〔2〕又は〔3〕記載の発光素子用化合物半導体。 - 特許庁
The phase change recording film having a high electric resistance has a composition of 15-30 atm% of Ge, 15-30 atm% of Sb, 1-15 atm% of oxygen, and the remainder of Te and inevitable impurities.例文帳に追加
原子%でGe:15〜30%、Sb:15〜30%を含有し、酸素:1〜15%を含有し、残部がTeおよび不可避不純物からなる組成を有する電気抵抗の高い相変化記録膜。 - 特許庁
The ratio of Ge in the composition of SiGe fine particles 1124 increases continuously from a position contiguous to a p-type silicon substrate 1121 toward a position contiguous to an SiO_2 film 1126.例文帳に追加
SiGe微粒子1124の組成におけるGeの占める割合は、p型シリコン基板1121に隣接する箇所からSiO_2 膜1126に隣接する箇所に向かって、連続して増加している。 - 特許庁
That means, the quantity of electrons to be outputted from the drain D changes due to the input of both application potential to a gate electrode GE and reverse spin quantity to be implanted from the reverse spin implanting section R.例文帳に追加
すなわち、ゲート電極GEへの印加電位と、逆スピン注入部Rから注入される逆向きスピン量の双方の入力によって、ドレインDから出力される電子量が変化する。 - 特許庁
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