「POINT DEFECT」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

The detection device detects from an obtianed imaged image, defect pixel candidates in each classification, by using each different detection condition in each classification of a point defect or a line defect detected from the imaged image.例文帳に追加

また、検出装置は、取得した撮像画像から、該撮像画像から検出する点欠陥又は線欠陥の種別ごとに異なる検出条件を用いて種別ごとに欠陥画素候補を検出する。 - 特許庁

To provide an optical member inspecting method in which not only the quality point rating is performed with high accuracy to the defect factors classified in specified shapes or the defect factors located in specified areas, but also representing quality point rating to the defect factors of intermediate shapes and the defect factors located in intermediate areas.例文帳に追加

特定形状に分類される不良要因や、特定エリアに位置する不良要因に対する高精度な品質点数化を行うだけでなく、中間形状の不良要因や中間エリアに位置する不良要因にも対応した品質点数化を行う光学部材検査方法を提供すること。 - 特許庁

To provide an active matrix substrate capable of improving manufacturing yield by repairing point defect in the active matrix substrate.例文帳に追加

アクティブマトリクス基板における点欠陥を修正することにより、製造歩留りを向上させる。 - 特許庁

Symmetries in CBED patterns allow the point and space group to be determined in defect-free regions. 例文帳に追加

CBED図形の中の対称性は、欠陥がない領域で点群と空間群が決定されることを可能にする。 - 科学技術論文動詞集

A defect analysis memory retrieved section 3B of a defect analysis memory section 3A provided in a main body 3 of an IC tester continuously retrieves a changing point in data indicating whether each bit is defective or not, to obtain an address corresponding to the changing point from a defect analysis memory 3C.例文帳に追加

ＩＣ試験装置本体３に設けられた不良解析メモリ部３Ａの不良解析メモリ検索部３Ｂにより、各ビットの良否を表すデータの変化点を連続的に検索し、不良解析メモリ３Ｃから前記変化点に対応するアドレスを取得する。 - 特許庁

A positional relation between the point defect 12 and the end part of the waveguide 13 is appropriately set, so that only the resonating light of specified wavelength is taken out from the waveguide 13 at the point defect 12.例文帳に追加

点欠陥１２と導波路１３の端部との位置関係を適切に設定することにより、点欠陥１２において共振する特定の波長の光だけを導波路１３から取り出すことができる。 - 特許庁

To provide a luminance point defect inspection method capable of improving the efficiency of an inspection by preferentially forming an inspection unit area necessary for inspecting the existence of a luminance point defect on an image to be inspected.例文帳に追加

検査対象画像における輝点欠陥の有無の検査に必要な検査単位領域を優先的に形成することによって、検査効率を向上させることができる輝点欠陥検査方法を提供すること。 - 特許庁

The detection device moves between candidates in each classification, a point-defect candidate smaller than a prescribed threshold or a line-defect candidate smaller than a prescribed threshold between the defect pixel candidates detected in each classification.例文帳に追加

そして、検出装置は、種別ごとに検出された欠陥画素候補間で、所定の閾値よりも小さい点欠陥候補や所定の閾値よりも小さい線欠陥候補を、前記種別ごとの候補間で移動する。 - 特許庁

This system is provided with a gap correcting means 103 for correcting a gap portion of a displayed image in the STN liquid crystal display by minimum filter processing, and a defect detecting means 104 for detecting the point defect portion in the STN liquid crystal display to be area-emphasis- processed in the detected point defect portion.例文帳に追加

ミニマムフィルタ処理によってＳＴＮ液晶ディスプレイの表示画像のギャップ部分を補正するギャップ補正手段１０３と、ＳＴＮ液晶ディスプレイの点欠陥部分を検出し、検出された点欠陥部分に面積強調処理を施す欠陥検出手段１０４とを設ける。 - 特許庁

To provide an image defect correction apparatus which makes a white vertical line invisible that is generated by a point defect of a vertical CCD while suppressing the deterioration of substantial resolution.例文帳に追加

垂直ＣＣＤの点欠陥により発生する白縦線を、実質的な解像度の低下を抑えつつ目立たなくすることができる画像欠陥補正装置を提供する。 - 特許庁

To discriminate existence of a defect causing a pixel defect such as a bright point, a bright line or the like, relative to a driving substrate such as a TFT board or the like before integration into a liquid crystal panel.例文帳に追加

液晶パネルに組み立てる前の、ＴＦＴ基板等の駆動基板に対して、輝点、輝線等の画素欠陥の原因となる不良の有無を判別できるようにする。 - 特許庁

To provide a defect detection method for matrix structure and defect detection device of matrix structure which make it possible to easily detect point-like defects in matrix structure.例文帳に追加

マトリクス構造における点状の欠陥を容易に検出可能にするマトリクス構造の欠陥検出方法およびマトリクス構造の欠陥検出装置を提供する。 - 特許庁

To reduce the movement of visual point when a visual inspector refers to the inspection information of a surface defect inspection device.例文帳に追加

目視検査員が表面欠陥検査装置の検査情報を参照する場合に視点の移動を少なくする。 - 特許庁

To achieve image quality that cannot visually recognize a pixel (sub-pixel) containing a defective organic EL element as a point defect.例文帳に追加

欠陥化した有機ＥＬ素子を含む画素（副画素）を点欠陥として視認できない画質を実現する。 - 特許庁

A defect size calculation unit 18e calculates spacial coordinates of the base point to perform measurements on the object.例文帳に追加

欠陥サイズ算出部１８ｅは、基準点の空間座標を算出し、被写体に関する計測を行う。 - 特許庁

METHOD AND SYSTEM FOR DETECTING DEFECT BY 8- NEIGHBORHOOD POINT ADJOINING COMPARISON SYSTEM IN IMAGING INSPECTION DEVICE例文帳に追加

撮像検査装置における８近傍点隣接比較方式による欠陥検出方法、欠陥検出システム - 特許庁

In the surface defect evaluation, the surface area defined by a mismatching measurement point group as the surface defect, on the basis of a distribution density of the mismatching measurement point group, including a plurality of measurement points that do not properly correspond to the reference point and adjacent to one another.例文帳に追加

表面欠陥評価において、基準点と適正に対応せず互いに隣接する複数の測定点からなる誤対応測定点群の分布密度に基づいて当該誤対応測定点群によって規定される表面領域を表面欠陥と判定する。 - 特許庁

A macro-image having a plurality of macro-defect parts G_1-G_8 and point display are displayed at the portion on a display screen corresponding to the coordinates (X, Y) of micro-defect parts S_1-S_n in micro-defect map data.例文帳に追加

複数のマクロ欠陥部分Ｇ_１〜Ｇ_８を有するマクロ画像と、ミクロ欠陥マップデータにおけるミクロ欠陥部分Ｓ_１〜Ｓｎの座標（Ｘ，Ｙ）に対応するディスプレイ画面上の部分にポイント表示とを重ね合わせて表示する。 - 特許庁

Meanwhile, if the defect of the material different from the object 12 by mixing, for example, a foreign matter, exists at the examining point, the light is shielded by the foreign matter, and hence the defect is detected as a dark defect having a low light intensity.例文帳に追加

これに対して、例えば異物混入等の、被検査物１２の材質とは異なる材質の欠点が検査点に存在する場合は、それら異物によって光が遮られるため、光強度の低い暗欠点として検出される。 - 特許庁

To provide an apparatus for switching a point tong capable of easily conveying without obstacles even the point tong is provided with a narrow tong with no defect in conventional technology.例文帳に追加

従来技術における欠点のない、特に容易かつ障害のない搬送を狭いトングを備えるポイントトングでも可能にするポイントトング切替え装置を提供する。 - 特許庁

To provide a lithography apparatus which can make a pattern more difficult to be drawn at a defect point by more efficient processing.例文帳に追加

より効率的な処理により、欠陥箇所にパターンが描画されにくくすることが可能な描画装置を提供する。 - 特許庁

More in concrete, a flicker is reduced through the diffraction of the light and the very small defect 5z is made to rise as the bright point.例文帳に追加

より具体的には、光の回折により、チラツキを低減させて微小欠点５ｚを輝点として浮かび上がらせる。 - 特許庁

To obtain an ingot having no point defect agglomerates and exhibiting intrinsic gettering(IG) effect when formed into a wafer.例文帳に追加

点欠陥の凝集体が存在しないことに加えて、シリコンウェーハにした場合にＩＧ効果を有するインゴットを得る。 - 特許庁

A defect management enabled PIRM (100) includes a data storage medium providing a plurality of cross point data storage arrays (302, 304, 306, and 308).例文帳に追加

複数のクロスポイントデータ記憶アレイ(302,304,306,308)を提供するデータ記憶媒体を含む欠陥管理可能ＰＩＲＭ(100)である。 - 特許庁

To provide a repairing method of a defective part (especially of a wiring for a signal) of a switching element array substrate by which neither a point defect nor a linear defect is generated when display is performed and to provide its substrate structure.例文帳に追加

表示の際に点欠陥も線欠陥も発生させない、スイッチング素子アレイ基板の不良箇所（特に信号用配線の）の修復方法およびその基板構造を提供する。 - 特許庁

To achieve high speed processing by reducing defect decision time of an object, comprising extraction time of a feature point in an image processing part and the defect decision time by a data processing part.例文帳に追加

画像処理部での特徴点の抽出時間とデータ処理部による欠陥判定時間の総和から成る対象物の欠陥判定時間を減少させて高速処理を実現する。 - 特許庁

To provide a defect inspecting apparatus for a display device capable of imaging display of the display device such as a liquid crystal panel and specifying an absolute position of a point defect precisely from an acquired imaged data.例文帳に追加

液晶パネル等の表示装置の表示を撮像し、得られた撮像データから点欠陥の絶対位置を正確に特定することが可能な欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a polarizer plate lamination protection film facilitating detection of bright point defect caused by a polarizer plate and having no bright point defect even when flaws or the like adhere on a surface, and to provide a protection film lamination polarizer plate laminated with the protection film.例文帳に追加

偏光板起因の輝点欠陥検出を容易とし、また、表面に疵等が付着しても輝点欠陥となることがない偏光板積層用保護フィルム、およびその保護フィルムを積層してなる保護フィルム積層偏光板を提供する。 - 特許庁

The first silicon substrate 14 is formed by slicing an ingot wherein there exists no aggregate of a hole type point defect and a silicon type point defect between lattices that are grown by CZ method in an inactive atmosphere containing hydrogen.例文帳に追加

第１シリコン基板１４は、水素を含む不活性雰囲気中でＣＺ法により育成された空孔型点欠陥の凝集体及び格子間シリコン型点欠陥の凝集体がそれぞれ存在しないインゴットをスライスして形成される。 - 特許庁

By assuming a pseudo point defect according to various parameters based on the design of a liquid crystal display device 10, and displaying it by providing this pseudo-corrected pixel part at the time of correcting this point defect with a repair circuit with a step difference to other normal pixel parts, a state of the display of the liquid crystal display device 10 is simulated after correction of the point-like defect.例文帳に追加

液晶表示装置の設計に基づく種々のパラメータに応じて擬似的な点欠陥を想定し、かつ、この点欠陥をリペア回路によって修正した際の擬似的な修正画素部を、他の正常画素部に対し階調差を持たせて表示することにより、点状欠陥を修正した後の液晶表示装置の表示状態をシミュレーションする。 - 特許庁

To provide a digital device that calculates in real time a set point signal particularly intended for use in a unit for generating magnetic field gradient, receives the set point signal as an input, and then sends as an output the set point signal modified such that a defect and a bad influence encountered in processing and/or applying the set point signal are compensated.例文帳に追加

デバイスは、設定点信号を、入力で受信し、その後前記設定点信号の処理および／または適用中に遭遇する欠陥、悪い影響などを補償するように修正される設定点信号を、出力で送出する。 - 特許庁

The surface defect evaluation device evaluates surface defects of a measurement object, on the basis of measurement point data and reference point data, after aligning the measurement point and the reference point, on the basis of the sequential convergence processing for the sequential convergence of the distance between the measurement point of the measurement object and the reference point, corresponding to a reference surface shape of the measurement object.例文帳に追加

測定対象物の測定点と測定対象物の基準表面形状に対応する基準点との間の距離を逐次収束させる逐次収束処理に基づいて前記測定点と前記基準点とを位置合わせした後の測定点データと基準点データとに基づいて測定対象物の表面欠陥を評価する。 - 特許庁

Thus, the black point defect at the edge part of the liquid crystal pixel can be detected accurately, without being affected by the black matrix 12.例文帳に追加

そのため、ブラックマトリックス１２による影響を受けることなく、エッジ部分における黒点欠陥を的確に検出できる。 - 特許庁

Consequently, a defect of the wiring pattern 22b can be found and the wiring pattern is eliminated, so that the end point of polishing can be confirmed.例文帳に追加

配線パタ−ン２２ｂの欠陥を見つけることができ配線パタ−ンが無くなることで研磨終点が確認できる。 - 特許庁

To provide a liquid crystal pixel inspection method capable of accurately detecting the black point defect at the edge parts of a liquid crystal pixel.例文帳に追加

液晶画素のエッジ部分における黒点欠陥を的確に検出できる液晶画素検査方法を提供すること。 - 特許庁

The length of monomer may be controlled using a defect formed on the film as an end point of the chain.例文帳に追加

更に、前記薄膜上に形成した欠陥を前記重合分子鎖の終点として前記モノマーの長さを制御してもよい。 - 特許庁

On the contrary, when off-track is not continued in the same point, it is determined as non-defect, off-track conditions are not relaxed.例文帳に追加

逆に、同一箇所でオフトラックが連続しない場合には、欠陥でないと判断し、オフトラック検出条件は緩和しない。 - 特許庁

To solve a defect in the conventional techniques by adopting a configuration of using a high melting point metal as an individual electrode.例文帳に追加

従来技術の欠点を、個別電極として高融点金属を用いる構成を採用することによって解決する。 - 特許庁

When setting the reference motion point of the AF mechanism prior to defect inspection, the transmission image of the mask is imaged, while displacing a focus point of the imaging device in the optical axis direction of the objective lens.例文帳に追加

欠陥検査に先立ってＡＦ機構の基準動作点を設定する際、撮像装置のフォーカス点を対物レンズの光軸方向に変位させながら、マスクの透過画像を撮像する。 - 特許庁

An operation point F(t) of a detection operation for detecting the defect of a moving body 1 is synchronized with a position point G(t(X0)) when the moving body 1 is located at a specific movement position X0.例文帳に追加

動体１の欠陥を検出するための検出動作の動作時点Ｆ（ｔ）とその動体１が特定の運動位置Ｘｏにある時の位置時点Ｇ（ｔ（Ｘｏ））を同期させる。 - 特許庁

To improve yield by calculating the optimal dividing point of a coil from the information of defect of a steel sheet in a process for manufacturing the coil and dividing the coil at this calculated optimal dividing point.例文帳に追加

コイルの製造プロセスにおいて鋼板の欠陥情報からコイルの最適分割点を算出し、この算出した最適分割点で分割することにより、歩留を改善させる。 - 特許庁

To prevent a forming method for an injection-formed material so as to restrain the occurrence of internal defect (particularly, gas defect) in the case of injection-forming molten light metal in the semi-molten state at a temperature less than the melting point or the molten state at a temperature equal to or just above the melting point.例文帳に追加

軽金属溶湯を融点未満の半溶融状態、又は融点乃至融点直上の溶融状態で射出成形する場合において、内部欠陥（特にガス欠陥）の発生が抑止されるような射出成形材の成形方法を提供する。 - 特許庁

To provide a liquid crystal display device for which a point defect caused by a TFT is repaired as a normal pixel and of which the display quality is high, and a method for repairing its defect.例文帳に追加

本発明は、ＴＦＴに起因する点欠陥を正常画素にリペアできるとともに、表示品位の高い液晶表示装置及びその欠陥修復方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

By driving the test transistors 145 without mounting the source driver IC14, an image can be displayed on a display screen 22, and defects such as a point defect, a line defect and color slippage can be easily detected.例文帳に追加

テストトランジスタ１４５を動作させることにより、ソースドライバＩＣ１４を実装せずとも、表示画面２２に画像を表示でき、点欠陥、線欠陥、色ずれなどを容易に検出することができる。 - 特許庁

To provide a liquid crystal display device having such an excellent feature that a problem of a bright point defect due to an electric short circuit between a display electrode and a common electrode on an array substrate to be used for the liquid crystal display device is solved to turn the bright defect to a dark defect.例文帳に追加

液晶表示装置に用いられるアレー基板における表示電極と共通電極との電気的短絡による明点欠陥を解決し、暗点欠陥にできる優れた特徴をもつ液晶表示装置、およびその製造方法を提供すること。 - 特許庁