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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > To sampleに関連した英語例文

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To sampleの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 18250



例文

Thereby, the pretreatment and analysis of the sample can be performed integrally to enable the reduction in time required for sample analysis and the automation of sample analysis.例文帳に追加

これによって、試料の前処理と分析を一体的に行なうことができ、試料分析の短時間化と自動化が可能になる。 - 特許庁

The sample storage section 2 has a sample mounting plate 41 that is constituted by metal apt to reflect the terahertz light and on which the sample is mounted.例文帳に追加

試料収納部2は、テラヘルツ光を反射し易い金属で構成されて試料が載置される試料載置板41を備える。 - 特許庁

To provide an X-ray tube which enables a sample or a sample stand on which the sample is placed to be largely declined even in the exhaust pipe projecting direction.例文帳に追加

排気管が突設された方向にも試料または試料を載持する試料台を大きく傾斜させることができるX線管を提供する。 - 特許庁

To provide an apparatus which prevents the problem of the loss of a reagent or a sample to be measured when a liquid sample in a liquid sample tank is exhausted in an analyzer.例文帳に追加

分析装置において、液体試料タンクの液体試料の枯渇による試薬や測定試料の損失等の問題を防止する装置を提供すること。 - 特許庁

例文

To provide a weather resistance testing apparatus capable of easily confirming the deteriorating state of a sample and attaching and detaching the sample to and from a sample placing table.例文帳に追加

試料の劣化状態の確認と、試料の試料載置台への着脱を容易に行なうことができる耐候性試験装置を提供することを課題とする。 - 特許庁


例文

The sample-dispensing mechanism 11 is constituted so as to make the sample probe move, even to a sample chucking position 25 set outside the upper surface of the housing 1, when seen from above.例文帳に追加

試料分注機構11は上方から見て筐体1上面の外の筐体外試料吸引位置25にも試料プローブを移動させるものである。 - 特許庁

The sample is positioned optionally on a surface of the sample support to make the object cross-sectional surface substantially parallel to the surface of the sample support.例文帳に追加

任意であるが、サンプルは、物体断面表面がサンプル支持体の表面に実質的に平行となるようにサンプル支持体の表面に位置される。 - 特許庁

To fix a thin section sample on a sample holder without tilting a stage and to efficiently prepare a TEM sample in a shorter time with increasing throughput.例文帳に追加

ステージを傾けることなく薄片試料を試料ホルダに固定でき、スループットを高めてより短時間で効率良くTEM試料を作製すること。 - 特許庁

To provide an information processing apparatus for photographing an image whose atmosphere is similar to that of a sample image by using an image recorded by another apparatus for the sample image which the information processing apparatus uses as a sample at its photographing.例文帳に追加

他の装置が記録している画像を、撮影時に見本とする見本画像として、見本画像と雰囲気が近似する画像を撮影する。 - 特許庁

例文

To provide a sample holder where electron beams can be vertically applied to the sample surface even when the surface and the bottom face of the sample are not parallel with each other.例文帳に追加

試料表面と底面とが平行でない場合にも試料表面に垂直に電子ビームを照射できる試料ホルダを提供すること。 - 特許庁

例文

To guarantee a simultaneity, even when exchanging a program structure by relating sample data to a timing code expressing its sample timing, holding the data and deciding the simultaneity of data sampling in mutual sample data based on the timing code.例文帳に追加

データ処理装置において、プログラム作成・変更に際し、演算に用いる複数の計測データ間での同時性の確保を容易とする。 - 特許庁

To provide a sample excavating method which enables the excavation of the side surface of a columnar or rod-shaped sample by utilizing glow discharge, and to provide a sample excavating apparatus.例文帳に追加

グロー放電を利用した円柱状又は棒状の試料の側面の掘削を可能とする試料掘削方法、及び試料掘削装置を提供する。 - 特許庁

To provide a sample injector for a moisture measuring device capable of simply extruding a sample which is a viscous substance, and having the barrel inner surface to which the sample hardly adheres.例文帳に追加

簡単に粘性体である試料を押し出すことができ、バレル内面に試料が付着しにくい水分測定器用の試料インジェクタを提供すること。 - 特許庁

To provide a mask for an ion milling sample manufacturing apparatus, capable of manufacturing a sample having a desired cross section of high positional accuracy, and to provide a sample manufacturing device.例文帳に追加

位置精度の高い所望の断面を有する試料を作製できるイオンミーリング試料作製装置用マスクおよび試料作製装置を提供する。 - 特許庁

To provide a sample processing device which can highly accurately process a sample also in a stopper-closed state, and to provide a sample processing method.例文帳に追加

閉栓状態においても高精度にて検体の処理を行うことができる検体処理装置及び検体処理方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a sample analysis method enables the accurate computation of local pressure applied to a sample even when a calibration curve of the sample is not known.例文帳に追加

検量線が未知の試料に対しても、試料に加わる局所的な圧力をより正確に算出することができる試料分析方法を提供する。 - 特許庁

To provide a thin sample piece preparing method capable of accurately performing finishing to object cross section after cutting out a thin sample piece from an object sample.例文帳に追加

対象試料から薄片試料を切り出した後に、正確に対象断面に仕上げ加工を行うことが可能な薄片試料作製方法を提供する。 - 特許庁

To stably obtain the image of a sample by restraining the divergence of focus on the sample to the utmost even if a part where AF does not act on the sample is present.例文帳に追加

標本内に対してAFが動作しないところがあっても、標本に対するピントズレを極力抑えて、安定して標本の画像を得ること。 - 特許庁

To focus on a wide range of a sample with an irregular surface and a structure of the inside of the sample to obtain a clear microscopic image of the sample in a short time.例文帳に追加

表面に凹凸がある試料の広い範囲や試料内部の構造に焦点を合わせて、試料の鮮明な顕微鏡画像を短時間に取得する。 - 特許庁

At this time, the sample to be measured and a standard sample are measured simultaneously by using this gas under identical conditions, and the difference is reflected on the sample to be measured.例文帳に追加

このとき、被測定試料と、標準試料を同時に、同条件のガスを用いて測定し、被測定試料に、その差を反映させる測定方法。 - 特許庁

To provide a biological sample analyzer capable of precisely detecting a biological sample, even if a biological sample analysis plate having dust adhered to the detection passage is used.例文帳に追加

検出流路に塵埃が付着した生体サンプル分析プレートを使用しても生体サンプルを正確に検出できる生体サンプル分析装置を提供する。 - 特許庁

To provide a sample for a microscope capable of adjusting the angle of inclination of a sample with high precision, in a short time, and to provide a sample preparing method and a microscopic observation method.例文帳に追加

試料の傾斜角度を短時間で高精度に調整できる顕微鏡用試料、その作製方法及び顕微鏡観察方法を提供する。 - 特許庁

To provide a sample replacement mechanism capable of preventing damage of a sample-stage support part cooled down to an extremely low temperature at a replacement operation of a sample cooled.例文帳に追加

冷却した試料の交換操作時に、極低温に冷却された試料ステージ支持部の破損を防止できる試料交換機構の提供を目的とする。 - 特許庁

For the Data Source, use the default data source jdbc/sample.The data source jdbc/sample is already configured to connect to the Java DB database that is bundled with the GlassFish application server.例文帳に追加

「データソース」には、デフォルトのデータソース「jdbc/sample」を使用します。 データソース jdbc/sample は、GlassFish アプリケーションサーバーにバンドルされている Java DB データベースに接続するようにすでに設定されています。 - NetBeans

To provide a sample rack supply device supplying sample racks easily in a short time, even if the number of sample racks to be supplied varies.例文帳に追加

供給すべきサンプルラックの数が変化しても該サンプルラックを容易かつ短時間に供給することができるサンプルラック供給装置を提供すること。 - 特許庁

To provide an analyzing sample forming method which enables the formation of an analyzable sample by reducing the damage applied to the film of an analysis sample.例文帳に追加

分析試料の膜に与えるダメージを少なくして分析可能な試料を形成することができる分析試料の形成方法を提供する。 - 特許庁

With a probe 1 brought close to a sample 3, pulse voltage from a pulse power source 11 is impressed on the sample 3 to vaporize atoms in the surface of the sample 3.例文帳に追加

探針1を試料3に接近させた状態で、試料3にパルス電源11からのパルス電圧を印加して試料表面の原子を蒸発させる。 - 特許庁

A delay register 28 and a subtracter 29 operate to detect the trend of transition from an ideal sample value at a precedent sample point to the current ideal sample value.例文帳に追加

遅延レジスタ28及び減算器29は、先行するサンプル点の理想サンプル値から現在の理想サンプル値への変遷傾向を検出するよう動作する。 - 特許庁

To provide a cell sorter and a sample recovery method for selectively recovering a measurement sample without applying a high load to the measurement sample.例文帳に追加

測定サンプルに大きな負荷を与えることなく測定サンプルを選択的に回収することができるセルソータおよびサンプル回収方法を提供する。 - 特許庁

To stably supply a sample to enhance the reproducibility of sample analysis, in an analytical tool provided with a flow passage for moving the sample.例文帳に追加

試料を移動させるための流路を備えた分析用具において、試料を安定して供給できるようにし、試料分析の再現性を向上させる。 - 特許庁

To provide a sample cooling holder such that once the sample cooling holder is attached to an electron microscope, the sample stage of the electron microscope can be positioned.例文帳に追加

電子顕微鏡に試料冷却ホルダーを一度取り付けれるだけで電子顕微鏡の試料台の位置決めを可能にする試料冷却ホルダーを提供する。 - 特許庁

To provide a sample holder for detecting a change in electric characteristics of a sample by light irradiation, and to provide an observation method using the sample holder.例文帳に追加

光照射による試料の電気特性の変化を検出することができる試料ホルダ及びこの試料ホルダを用いた観測方法を提供する。 - 特許庁

To observe a sample regardless of combination between a probe and the observation sample, and to execute various measurements without exerting an influence of a noise or the like on the sample.例文帳に追加

プローブと観察試料との組み合わせによらずに試料を観察するとともに、試料にノイズ等の影響を与えることなく種々の測定を行う。 - 特許庁

If the user is permitted to make the request of sample print, a sample print instruction screen is displayed (step S57) to accept the request of sample print (step S58).例文帳に追加

サンプルプリントの要求が許可された使用者であったときは、サンプルプリント指示画面を表示して(ステップS57)、サンプルプリントの要求を受付ける(ステップS58)。 - 特許庁

To provide a sample injector and method for sample injection that can surely inject a sample into an egg without harm to the egg nucleus.例文帳に追加

卵中の核を傷つけることなく、卵へ試料を確実に注入することができる試料注入装置及び試料注入方法を提供すること。 - 特許庁

The device is provided for image recognition of a relative movement between the extraction sample and the sample with high precision, by providing an index to improve the precision of the image recognition on a region of an extraction sample in a sample and other region, or a transporting means to transport the extraction sample, and a sample holder capable retaining the extraction sample.例文帳に追加

本発明は、試料における摘出試料となる領域や、それ以外の領域、若しくは、摘出試料を移送する移送手段や、摘出試料を保持できる試料ホルダに、画像認識の精度を向上させる指標を設け、摘出試料と試料の相対的移動等を高精度に画像認識することに関する。 - 特許庁

In the laser desorption ionization mass spectrometry, the impermeable sample liquid containing a sample is dripped on the membrane to allow the liquid droplet of the sample liquid to be present on the surface of the membrane and this sample liquid is dried to form the crystal of the sample to perform a laser desorption ionization mass spectrometry.例文帳に追加

メンブレン上に、サンプルを含む非浸透性のサンプル液を滴下し、メンブレン表面上に前記サンプル液の液滴を存在させ、サンプル液を乾燥させてメンブレン上にサンプルの結晶を形成させ、レーザー脱離イオン化質量分析を行う方法。 - 特許庁

To provide a sample introduction method and a sample introduction device capable of improving analysis accuracy of a sample analyzer by suppressing fluctuation of an introduction quantity of sample solution into the sample analyzer.例文帳に追加

試料分析装置に対する試料溶液の導入量の変動を抑制して、試料分析装置における分析精度の向上を図り得る試料導入方法及び試料導入装置を提供する。 - 特許庁

The sample 20 is started to be measured after a position of the beam is confirmed and after the sample 20 is moved to a prescribed position with respect to the beam by the rotary sample table 12 and a stage 13.例文帳に追加

光束の位置を確認し、回転試料台12およびステージ13により試料20を光束に対して所定の位置に移動した後、測定を開始する。 - 特許庁

To decrease the amount of data of the form of a sample image.例文帳に追加

見本画像のフォームのデータ量を低減すること。 - 特許庁

To accurately perform the compression test of a fine linear sample.例文帳に追加

細い線状の試料を精度よく圧縮試験する。 - 特許庁

A beam such as a focused ion beam is used to form a groove around the sample by slitting two or more times so as to overlap, and subsequently, the lower side of the sample, is cut to separate the sample.例文帳に追加

集束イオンビームのようなビームを使って複数回の重なり合う切り込みを入れて試料のまわりに溝を作り、次いで当該試料の下を切って切り離す。 - 特許庁

To provide a sample chamber used for gas adsorption tests.例文帳に追加

ガス収着試験に用いる薄膜サンプルチャンバを提供。 - 特許庁

IONIZATION ROOM WHICH HAS TOLERANCE TO REACTIVE SAMPLE例文帳に追加

反応性の試料に対する耐性を有するイオン化室 - 特許庁

A magnetic field is impressed to a sample 11 by a magnet 12.例文帳に追加

磁石12により、試料11に磁界を印加する。 - 特許庁

To provide supply and usage of automatic sample liquid smear equipment.例文帳に追加

自動サンプル塗抹器機の供給とその使用方法。 - 特許庁

To perform analysis without destroying an internal structure of a sample.例文帳に追加

試料の内部構造を破壊することなく分析する。 - 特許庁

To facilitate making a sample for atom probe observation.例文帳に追加

アトムプローブ観察用の試料を容易に作製すること。 - 特許庁

In measuring a sample to be tested, the flatness of the sample is measured to detect a magnitude and a pattern of warping of the sample to be tested.例文帳に追加

検査対象の試料を測定する場合には、検査対象の試料の平坦度を測定し、検査対象の試料の反りの大きさ及び反りのパターンを検出する。 - 特許庁

例文

To detect substances in a sample easily.例文帳に追加

試料中の物質を容易に検出できるようにする。 - 特許庁




  
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